JPS60207973A - 画像の等高線描画方法 - Google Patents
画像の等高線描画方法Info
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- JPS60207973A JPS60207973A JP59065499A JP6549984A JPS60207973A JP S60207973 A JPS60207973 A JP S60207973A JP 59065499 A JP59065499 A JP 59065499A JP 6549984 A JP6549984 A JP 6549984A JP S60207973 A JPS60207973 A JP S60207973A
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- points
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
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- G06T7/10—Segmentation; Edge detection
- G06T7/12—Edge-based segmentation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10048—Infrared image
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Generation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（発明の技術分野）
この発明は熱弾性効果を用いて画像の等高線を描画する
方法に関する。
方法に関する。
（従来技術の説明）
先ず、この発明の説明に先立ち、−例としして温度分布
画像の等高線を描画する従来の方法につき説明する。
画像の等高線を描画する従来の方法につき説明する。
第一の方法はＩＳＯ表示と称する等高線表示方法である
。この方法はＣＲＴに等高線を表示させるための方法で
、最も簡単な方法である。この方法によれば、第１図に
示すように、比較回路ｌ又はコンピュータによる比較演
算によって、コンピュータによってセットされる等高線
レベル信号Ａと、被検体の温度分布を赤外線測定して得
られたデータＢとの比較を行って、このデータと、等高
線レベル信号とのレベルが等しい時のみ、画像を表示す
るための等高線信号Ｃを発生させる方法である。この方
法は読取画像にノイズが無ければ比較的良好な画像が得
られるが、一般には、測定データの方に回避出来ないノ
イズが含まれているためＳ／Ｎ比が小さく、これがため
、この方法は実用性に欠ける。
。この方法はＣＲＴに等高線を表示させるための方法で
、最も簡単な方法である。この方法によれば、第１図に
示すように、比較回路ｌ又はコンピュータによる比較演
算によって、コンピュータによってセットされる等高線
レベル信号Ａと、被検体の温度分布を赤外線測定して得
られたデータＢとの比較を行って、このデータと、等高
線レベル信号とのレベルが等しい時のみ、画像を表示す
るための等高線信号Ｃを発生させる方法である。この方
法は読取画像にノイズが無ければ比較的良好な画像が得
られるが、一般には、測定データの方に回避出来ないノ
イズが含まれているためＳ／Ｎ比が小さく、これがため
、この方法は実用性に欠ける。
第二の方法として、赤外線測定で得られた読取画像のデ
ータをコンピュータ処理を行って等高線信号を発生し、
プロッタでこの信号に対応して線を順次に描いていく方
法である。この方法では、第２図（Ａ）に示すように、
コンピュータに取込まれているデータを基にして、次の
ような処理を行う、すなわち、ある測定点である現在点
ａを選び出し、この現在点ａのアドレスでのレベルをＤ
しとし、この現在点ａの周囲に、例えば、この点を通る
直交する二つの直線上の４個のそれぞれ別個のアドレス
の点を選び、それぞれのレベルをＤＩ。
ータをコンピュータ処理を行って等高線信号を発生し、
プロッタでこの信号に対応して線を順次に描いていく方
法である。この方法では、第２図（Ａ）に示すように、
コンピュータに取込まれているデータを基にして、次の
ような処理を行う、すなわち、ある測定点である現在点
ａを選び出し、この現在点ａのアドレスでのレベルをＤ
しとし、この現在点ａの周囲に、例えば、この点を通る
直交する二つの直線上の４個のそれぞれ別個のアドレス
の点を選び、それぞれのレベルをＤＩ。
Ｄ ２．Ｄ ３．Ｄ ４ とする、そして、この測定点
のレベルＤＬと、周囲の点のレベルＤＩ−Ｄ４とを比較
し。
のレベルＤＬと、周囲の点のレベルＤＩ−Ｄ４とを比較
し。
ＤＩ ≦ＤＬ ≦Ｄ２
ＤＩ ≧ＤＬ≧Ｄ２
Ｄ３≦ＤＬ≦Ｄ４
Ｄ３≧ＤＬ≧Ｄ４
なる条件のいづれか一つでも満足する点を選び出し、そ
の点Ｐが等高点であると判断してそのアドレスの方向に
一点だけ進める等高線信号を生じてプロッタで線を描く
、この場合、第２図（Ｂ）に示すように、現在点ａを含
む周囲の９個の点につきサーチを行って、上述と同様な
条件を満足する点ｐの方向に線を描くことも行われてい
る。このようなサーチを、コンピュータで順次に行って
、等高線条件を満足する等高点ｉ求めていき、その結果
をプロッタで、第２図（Ｃ）に示すような閉ループの等
高線を描くようになしている。この方法も、前述したＩ
ＳＯ表示方法と同様に、ノイズが大きいと作動しないと
いう欠点があった。
の点Ｐが等高点であると判断してそのアドレスの方向に
一点だけ進める等高線信号を生じてプロッタで線を描く
、この場合、第２図（Ｂ）に示すように、現在点ａを含
む周囲の９個の点につきサーチを行って、上述と同様な
条件を満足する点ｐの方向に線を描くことも行われてい
る。このようなサーチを、コンピュータで順次に行って
、等高線条件を満足する等高点ｉ求めていき、その結果
をプロッタで、第２図（Ｃ）に示すような閉ループの等
高線を描くようになしている。この方法も、前述したＩ
ＳＯ表示方法と同様に、ノイズが大きいと作動しないと
いう欠点があった。
（発明の目的）
この発明のｌ」的はノイズの多い画像についても等高線
の描画を良好に行うことが出来る等高線描画方法を提供
することにある。
の描画を良好に行うことが出来る等高線描画方法を提供
することにある。
（発明の構成）
この目的の達成を図るため、この発明の第一の方法にお
いては、描画すべき等高線の温度レベルをコンピュータ
で設定し、次に、設定された温度レベルと等しいか又は
この温度レベルに近い温度レベルを有するアドレス点を
画像中に探しめ、次に、このアドレス点を基準点として
描画のスタート点を決定し、続いて、このスタート点を
基準点として、その周辺のある範囲内の全ての点から等
高線条件を満足する点をめ、これら等廃線条ヂ１を満足
した点のアドレスを平均化して得た平均化点を描画点と
し、この描画点決定処理を繰り返し行って順次の描画点
を決定することを特徴とする。
いては、描画すべき等高線の温度レベルをコンピュータ
で設定し、次に、設定された温度レベルと等しいか又は
この温度レベルに近い温度レベルを有するアドレス点を
画像中に探しめ、次に、このアドレス点を基準点として
描画のスタート点を決定し、続いて、このスタート点を
基準点として、その周辺のある範囲内の全ての点から等
高線条件を満足する点をめ、これら等廃線条ヂ１を満足
した点のアドレスを平均化して得た平均化点を描画点と
し、この描画点決定処理を繰り返し行って順次の描画点
を決定することを特徴とする。
この発明の第二の方法においては、第一の方法のスター
ト点の決定後、このスタート点を基準点として、その基
準点を含む部分的周囲の一定個数の魚群中に、何個の等
高線条件を満足する点が含まれているかの相関（ａをめ
て最大相関値の方向に描画点を決定し、この描画点決定
処理を繰り返し行って順次の描画点を決定することを特
徴とする。
ト点の決定後、このスタート点を基準点として、その基
準点を含む部分的周囲の一定個数の魚群中に、何個の等
高線条件を満足する点が含まれているかの相関（ａをめ
て最大相関値の方向に描画点を決定し、この描画点決定
処理を繰り返し行って順次の描画点を決定することを特
徴とする。
（実施例の説明）
以下、歯面を参照して、この発明の実施例につき説明す
る。
る。
この発明では、基本的には従来の第二の、線を描く方法
を利用する方法である。
を利用する方法である。
第３図は、この発明の詳細な説明に供する被検体からプ
ロッタまでの装置系を示す線図である。
ロッタまでの装置系を示す線図である。
被検体２の温度分布を赤外線検出器３でラスク走査して
１１定し、その測定により得られた温度データを読取画
像としてコンピュータ４のメモリに；（ｊ込む、この温
度データのそれぞれにはラスク走査の画面の範囲内の対
応したアドレスが割当られている。
１１定し、その測定により得られた温度データを読取画
像としてコンピュータ４のメモリに；（ｊ込む、この温
度データのそれぞれにはラスク走査の画面の範囲内の対
応したアドレスが割当られている。
この発明の方法では、先ず、等高点のトラバースのだめ
のスタート点を決定する。そのため、先ず、得ようとす
る任意の第一等廃線の温度レベルをコンピュータ４によ
り設定する。そして、コンピュータ４の処理で、温度デ
ータの全てにわたって画面の左上側からサーチして第一
等高線の温度レベルと等しいか又はこれに近いレベルの
アドレスを探しめ、この点を見い出した後、この点の周
辺全部の点についてアドレスの平均化を行う（或いは、
データの平均化を行っても良い）、得られた平均値のア
ドレスを第一等高線の描画のスタート点とする。
のスタート点を決定する。そのため、先ず、得ようとす
る任意の第一等廃線の温度レベルをコンピュータ４によ
り設定する。そして、コンピュータ４の処理で、温度デ
ータの全てにわたって画面の左上側からサーチして第一
等高線の温度レベルと等しいか又はこれに近いレベルの
アドレスを探しめ、この点を見い出した後、この点の周
辺全部の点についてアドレスの平均化を行う（或いは、
データの平均化を行っても良い）、得られた平均値のア
ドレスを第一等高線の描画のスタート点とする。
この平均化法によるスタート点の決定は次のようなコン
ピュータ処理によって行う。
ピュータ処理によって行う。
第４図に示すように、上述した第一等高線の温度レベル
ＤＬの点のアドレスを現在点ａとして、このアドレス点
ａを中心としてこのアドレス点ａ及びその周囲を含む、
例えば、２５個のアドレス点に対して、前述と同様な下
記の等高線条件を満足するかどうかを調べる。
ＤＬの点のアドレスを現在点ａとして、このアドレス点
ａを中心としてこのアドレス点ａ及びその周囲を含む、
例えば、２５個のアドレス点に対して、前述と同様な下
記の等高線条件を満足するかどうかを調べる。
Ｄｌ ＜ＤＬ ＜Ｄ２
旧＞ＤＬ ＞Ｄ２
Ｄ３≦ＤＬ≦Ｄ４
Ｄ３≧ＤＬ ＞Ｄ４
Ｄ２４＞ＤＬ ＞Ｄ２５
尚、これらの各点の温度レベルをＤ１〜Ｄ２５とする。
そして、この条件を満足する点がＮ個存在するときは、
この条件を満足する点のアドレスについて平均化を行う
、このようにして得られた平均アドレス点Ｓをスタート
点とし、コンピュータ４からブロック５に信号を出して
このブロック５で描画すべき第一等高線のスタート点を
アドレスＳの点にする。
この条件を満足する点のアドレスについて平均化を行う
、このようにして得られた平均アドレス点Ｓをスタート
点とし、コンピュータ４からブロック５に信号を出して
このブロック５で描画すべき第一等高線のスタート点を
アドレスＳの点にする。
次に、コンピュータ処理に基づいてスター］・点から次
の等高点への描画方法を説明する。
の等高点への描画方法を説明する。
この方法には４通りの方法がある。
ａ）第一の方法は上述した従来の等高線条件をめる方法
である。この方Ｖ、には、 （１）第１図につき説明した最も簡単なＩＳＯ表示方法
と、 （２）第２図（Ａ）〜（Ｃ）で説明した線を描く方法と
がある。この（２）の方法では、第２図（Ｂ）に示すよ
うに、現在点ａの上下の点のアドレスでの等廃線レベル
に関して上述した等高線条件のいずれか一つをみたして
いれば等高点であるとする。
である。この方Ｖ、には、 （１）第１図につき説明した最も簡単なＩＳＯ表示方法
と、 （２）第２図（Ａ）〜（Ｃ）で説明した線を描く方法と
がある。この（２）の方法では、第２図（Ｂ）に示すよ
うに、現在点ａの上下の点のアドレスでの等廃線レベル
に関して上述した等高線条件のいずれか一つをみたして
いれば等高点であるとする。
ｂ）Ｓ／Ｎ比の良好な信号に対する描画点の決定方法。
この方法は第５図に示すように、現在点ａから左右上下
の４点のアドレスについて ＤＩ ＜ＤＬ ＜０２ ＤＩ ＞ＤＬ ＞Ｄ２ Ｄ３ ＜ＤＬ ＜Ｄ４ Ｄ３ ＞ＤＬ ＞Ｄ４ のような等高線条件をめて、現在点ａの直前の点し以外
に一点のみ等高点ｐが見い出された時は、この点Ｐのア
ドレスの方向に描画する方法である。この等高線条件を
満足しない時は、次の方法を用いる。
の４点のアドレスについて ＤＩ ＜ＤＬ ＜０２ ＤＩ ＞ＤＬ ＞Ｄ２ Ｄ３ ＜ＤＬ ＜Ｄ４ Ｄ３ ＞ＤＬ ＞Ｄ４ のような等高線条件をめて、現在点ａの直前の点し以外
に一点のみ等高点ｐが見い出された時は、この点Ｐのア
ドレスの方向に描画する方法である。この等高線条件を
満足しない時は、次の方法を用いる。
Ｃ）平均化による描画点の決定方法。
この方法は前述した第４図を参照して説明した方法と同
じ方法である。第４図に示すように、上述した第一等高
線の温度レベルＤＬの点のアドレス点ａを中心としてこ
のアドレス点ａ及びその周囲を含む、例えば、２５個の
アドレス点に対して、前述と同様に等高線条件を満足す
るかどうかを調べる。そして、この条件を満足する点が
Ｎ個存在するときは、この条件を満足する点のアドレス
について平均化を行ってこの点Ｓを描画点とする。
じ方法である。第４図に示すように、上述した第一等高
線の温度レベルＤＬの点のアドレス点ａを中心としてこ
のアドレス点ａ及びその周囲を含む、例えば、２５個の
アドレス点に対して、前述と同様に等高線条件を満足す
るかどうかを調べる。そして、この条件を満足する点が
Ｎ個存在するときは、この条件を満足する点のアドレス
について平均化を行ってこの点Ｓを描画点とする。
この平均アドレス点Ｓが現在点ａの直前の点す以外の点
の場合には、現在点ａからＳの点に進めこの点を描画点
としてプロッタ５でこの点Ｓに描画する。又、この場合
、平均アドレス点Ｓが現在点ａ又は直前点すと一致した
場合には、描画点を直前点すと、現在点ａとを直線で結
んだ延長線上に一点だけ進めて、上述と同様なアドレス
の平均化処理を行って次の描画点を決定する。
の場合には、現在点ａからＳの点に進めこの点を描画点
としてプロッタ５でこの点Ｓに描画する。又、この場合
、平均アドレス点Ｓが現在点ａ又は直前点すと一致した
場合には、描画点を直前点すと、現在点ａとを直線で結
んだ延長線上に一点だけ進めて、上述と同様なアドレス
の平均化処理を行って次の描画点を決定する。
ｄ）二次元相関による描画点の決定方法。
この方法は第６図（Ａ）〜（Ｅ）及び第７図に示すよう
に、現在点ａを含むその周辺２５点のアドレスの全てに
関して前述と同様な等高線条件をめる。この条件を満足
する点がＮ個存在する場合には、次の方法で描画点を決
定する。すなわち、第６図（Ｂ）に示すように、現在点
ａを含む部分的周囲の範囲内にある一定個数の全てのア
ドレス点。
に、現在点ａを含むその周辺２５点のアドレスの全てに
関して前述と同様な等高線条件をめる。この条件を満足
する点がＮ個存在する場合には、次の方法で描画点を決
定する。すなわち、第６図（Ｂ）に示すように、現在点
ａを含む部分的周囲の範囲内にある一定個数の全てのア
ドレス点。
例えば、現在点ａの右側に位置する８個全てのアドレス
点を除き、残部の全てのアドレス点にマスクをし、この
右側の８個の魚群の中に等高線条件を満足する点か何点
含まれているかの相関をめる。同様にして第６図（Ｃ）
、 （Ｄ）及び（Ｅ）に示すような現在点ａの右側、
上側及び下側の８個の点４Ｔについてもそれぞれ等高線
条件をｙ４Ｍするアドレス点の個数をめる。
点を除き、残部の全てのアドレス点にマスクをし、この
右側の８個の魚群の中に等高線条件を満足する点か何点
含まれているかの相関をめる。同様にして第６図（Ｃ）
、 （Ｄ）及び（Ｅ）に示すような現在点ａの右側、
上側及び下側の８個の点４Ｔについてもそれぞれ等高線
条件をｙ４Ｍするアドレス点の個数をめる。
このようにして請求めた結果を比較して、相関値の最も
大きい、すなわち、等高線条件を満足するアドレス点の
個数の最も多い方向に、描画点を定め、現在点ａからそ
の方向に一点とか二点とか任意のアドレス点だけ描画点
を進める。そして、このような描画点決定処理を繰り返
し行って、順次の描画点を決定していく。
大きい、すなわち、等高線条件を満足するアドレス点の
個数の最も多い方向に、描画点を定め、現在点ａからそ
の方向に一点とか二点とか任意のアドレス点だけ描画点
を進める。そして、このような描画点決定処理を繰り返
し行って、順次の描画点を決定していく。
或いは又、現在点ａに対して４つの方向ではなくて、ｗ
Ｓ７図にＩ−■で示すような８個の方向について、」−
述と同様に相関値の最大の方向をめて描画点を決定する
ことも出来、この場合の方が斜め方向の描画が可能とな
るので、奇麗な線を描くことが出来る。
Ｓ７図にＩ−■で示すような８個の方向について、」−
述と同様に相関値の最大の方向をめて描画点を決定する
ことも出来、この場合の方が斜め方向の描画が可能とな
るので、奇麗な線を描くことが出来る。
このように、この発明によれば、先ず、描こうとする等
高線の温度レベルをコンピュータで指定し、この指定さ
れた温度レベルと等しいか又はこれに近い温度レベルの
現在点をめて、この現在点を晶型にしてこの基準点のあ
る範囲の周囲の全ての点の等高線条件をめる平均化法に
より描画のスタート点を決定する。
高線の温度レベルをコンピュータで指定し、この指定さ
れた温度レベルと等しいか又はこれに近い温度レベルの
現在点をめて、この現在点を晶型にしてこの基準点のあ
る範囲の周囲の全ての点の等高線条件をめる平均化法に
より描画のスタート点を決定する。
続いて、このスタート点を現在点として、その周辺につ
いて全ての等高線条件をめ、満足する点をプロットする
。
いて全ての等高線条件をめ、満足する点をプロットする
。
次に、満足した点のアドレスの平均値をめるか、
又は、満足した点について左右上下等の方向マスクを用
いた相関をめ相関値の最も大きな方向に描画点を定める
。
いた相関をめ相関値の最も大きな方向に描画点を定める
。
このような処理は全てコンピュータで処理出来る。この
コンピュータ処理結果を等高線信号としてＣＲＴ 、プ
ロッタ又はその他の表示装置に送り、等高線の描画を行
う。
コンピュータ処理結果を等高線信号としてＣＲＴ 、プ
ロッタ又はその他の表示装置に送り、等高線の描画を行
う。
この発明による画像の等高線描画方法は応力分４５はも
とよりそれ以外の全ての温度の１１１画像に対して適用
することが出来ること明らかである。
とよりそれ以外の全ての温度の１１１画像に対して適用
することが出来ること明らかである。
（発ＩＪの効果）
１、述した発明からもｑＪらかなように、この発明の画
像の等高線描画方法によれば、平均化法を用いて描こう
とする等高線のスタート点を決定し、この点を基準点と
しその周辺の全ての点から等高線条件を満足する点をめ
て、これらの点のアドレス又はデータの平均値或いは基
準点の上下左右の方向の相関値の最も大きな方向に描画
点を定めるので、応力分布画像のようにノイズの多い画
像についても従来よりも奇麗にかつ良好に等高線を描く
ことが出来る。
像の等高線描画方法によれば、平均化法を用いて描こう
とする等高線のスタート点を決定し、この点を基準点と
しその周辺の全ての点から等高線条件を満足する点をめ
て、これらの点のアドレス又はデータの平均値或いは基
準点の上下左右の方向の相関値の最も大きな方向に描画
点を定めるので、応力分布画像のようにノイズの多い画
像についても従来よりも奇麗にかつ良好に等高線を描く
ことが出来る。
第１図及び第２図（Ａ）〜（Ｃ）は従来の描画方法を説
１町するための線図、 第３図はこの発明の応力分布画像の等高線描画方法にの
説明に供する装置系を示す線図、第４図はこの発明の方
法に用いる平均北方を説明するための線図、 第５図はこの発１５１の方法に用いるＳ／Ｎ比の良好な
信号に対する描画点の決定方法を説明するための線図、 第６図（Ａ）〜（Ｅ）及び第７図はこの発明に用いる二
次元相関による描画点の決定方法を説明するための線図
である。 １・・・比較回路、 ２・・・被検体 ３・・・赤外線検出器、４・・・コンピュータ５・・・
表示装置、 ６・・・等高線図ａ・・・現在点（又は基
準点） ｂ・・・（現在点の）直前点 Ｓ・・・スタート点（又は描画点）。 特許出願人 日本電子株式会社 第１図 一ヘノ 第３図 第４図 ロロロロロ ロロロロロ づ”１°）”５１４ ３ υ４ 第７１４ 第６ｑ （Ａ） ロロロロロ ロロロロロ ロロロロロ （Ｂノ ロロ 四日 四日 （１）） ロロロロロ ロロロロロ ＃′−ａ （Ｃ） 日日 日日 日日 （Ｅ） ｄ′ ロロロロロ 口口口口口
１町するための線図、 第３図はこの発明の応力分布画像の等高線描画方法にの
説明に供する装置系を示す線図、第４図はこの発明の方
法に用いる平均北方を説明するための線図、 第５図はこの発１５１の方法に用いるＳ／Ｎ比の良好な
信号に対する描画点の決定方法を説明するための線図、 第６図（Ａ）〜（Ｅ）及び第７図はこの発明に用いる二
次元相関による描画点の決定方法を説明するための線図
である。 １・・・比較回路、 ２・・・被検体 ３・・・赤外線検出器、４・・・コンピュータ５・・・
表示装置、 ６・・・等高線図ａ・・・現在点（又は基
準点） ｂ・・・（現在点の）直前点 Ｓ・・・スタート点（又は描画点）。 特許出願人 日本電子株式会社 第１図 一ヘノ 第３図 第４図 ロロロロロ ロロロロロ づ”１°）”５１４ ３ υ４ 第７１４ 第６ｑ （Ａ） ロロロロロ ロロロロロ ロロロロロ （Ｂノ ロロ 四日 四日 （１）） ロロロロロ ロロロロロ ＃′−ａ （Ｃ） 日日 日日 日日 （Ｅ） ｄ′ ロロロロロ 口口口口口
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被検体を赤外線検出器で走査してコンピュータに書
込まれた温度分布データに基づいてコンピュータ処理に
より画像の等高線を描画するに忠り、 描画すべき等高線の温度レベルをコンピュータで設定し
。 設定された温度レベルと等しいか又はこの温度レベルに
近い温度レベルを有するアドレス点を画像中に探しめ、 このアドレス点を基準点として描画のスタート点を決定
し、 続いて、このスタート点を基準点として、その周辺のあ
る範囲内の全ての点から等高線条件を満足する点をめ、
これら等高線条件を満足した点のアドレスを平均化して
得た平均化点を描画点とし、この描画点決定処理を繰り
返し行って順次の描画点を決定すること を特徴とする画像の等高線描画方法。 ２、特許請求の範囲第１項記載の画像の等高線描画方法
において、前記スタート点の決定は、ｆｌｉＪ記アドレ
アドレス点点としこの基準点の周囲のある範囲内の全て
の点から等高線条件を満足する点をめ、これら等高線条
件を満足した点のアドレス又は温度レベルを平均化して
得た平均化点を描画のスタート点と決定して行うことを
特徴とする画像の等高線描画方法。 ３、被検体を赤外線検出器で走査してコンピュータに書
込まれた温度分布データに基づいてコンピュータ処理に
より画像の等高線を描画するに当り、 描画すべき等高線の温度レベルをコンピュータで、設定
し、 設定された温度レベルと等しいか又はこの温度レベルに
近い温度レベルを有するアドレス点を画像中に探しめ、 このアドレス点を基準点として描画のスタート点を決定
し、 続いて、このスタート点を基準点として、その基準点を
含む部分的周囲の一定個数の魚群中に。 何個の等高線条刊を満足する点が含まれているかの相関
値をめて最大相関イ１の方向に描画点を決定し、この描
画点決定奮理を繰り返し行って順次の描画点を決定する
こと を特徴とする画像の等高線描画方法。 ４、特許請求の範囲第３項記載の画像の等高線描画方法
において、前記スタート点の決定は、前記アドレス点を
基準点としこの基準点の周囲のある範囲内の全ての点か
ら等高線条件を満足する点をめ、これら等高線条件を満
足した点のアドレス又は温度レベルを平均化して得た平
均化点を描画のスタート点と決定して行うことを特徴と
する画像の等高線描画方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59065499A JPS60207973A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 画像の等高線描画方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59065499A JPS60207973A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 画像の等高線描画方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60207973A true JPS60207973A (ja) | 1985-10-19 |
| JPH0227707B2 JPH0227707B2 (ja) | 1990-06-19 |
Family
ID=13288838
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59065499A Granted JPS60207973A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 画像の等高線描画方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60207973A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0621215U (ja) * | 1992-03-30 | 1994-03-18 | 株式会社トーキン | コモンモードコイル用ボビン |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5837682A (ja) * | 1981-08-29 | 1983-03-04 | 株式会社島津製作所 | 等高線作図装置 |
-
1984
- 1984-03-31 JP JP59065499A patent/JPS60207973A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5837682A (ja) * | 1981-08-29 | 1983-03-04 | 株式会社島津製作所 | 等高線作図装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0227707B2 (ja) | 1990-06-19 |
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