JPS60205637A - Data processor - Google Patents
Data processorInfo
- Publication number
- JPS60205637A JPS60205637A JP59061527A JP6152784A JPS60205637A JP S60205637 A JPS60205637 A JP S60205637A JP 59061527 A JP59061527 A JP 59061527A JP 6152784 A JP6152784 A JP 6152784A JP S60205637 A JPS60205637 A JP S60205637A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- fault
- error
- functional circuit
- functional
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/261—Functional testing by simulating additional hardware, e.g. fault simulation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明はデータ処理装置、特に、各々が故障チェック機
能を有する複数個の機能回路から構成され該複数機能回
路のうちの少なくとも1つを除く前記機能回路が共通バ
スに接続されたデータ処理装置における擬似故障データ
の伝搬制御に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Technical Field) The present invention relates to a data processing device, and more particularly, to a data processing device comprising a plurality of functional circuits each having a failure checking function, the functional circuits excluding at least one of the plurality of functional circuits. relates to propagation control of pseudo-failure data in data processing devices connected to a common bus.
(技術の背景)
比較的大規模な中央処理装置等のデータ処理装置は、そ
の処理動作の高速化、並列化、設計期間の短縮化および
保守性の向上化を図るため、演算ユニツ)、先Jtl制
御ユニット、シーケンシャル制御ユニット、アドレス変
換ユニットおよび故障診断ユニット等のように、複数個
の機能回路に分割して構成されることが多い。これらの
各機能回路は、たとえばシーケンシャル制御ユニットの
ような一部の機能回路を除いては共通バスに接続され、
また、一般には、それぞれが故障チェック機能を有して
いる。(Technical background) Relatively large-scale data processing devices such as central processing units are designed to speed up processing operations, parallelize processing operations, shorten design periods, and improve maintainability. It is often configured by being divided into a plurality of functional circuits, such as a JTL control unit, a sequential control unit, an address translation unit, and a fault diagnosis unit. Each of these functional circuits is connected to a common bus, except for some functional circuits such as the sequential control unit.
In addition, each of them generally has a failure checking function.
これらの故障チェック機能は、機能回路の動作時におけ
る動作の正当性をチェックするだけでなく、動作開始に
先立ち、擬似故障データを使用してハードウェア、ファ
ームウェアおよびソフトウェアを予めチェックし、各々
の正当性を保障するのにも使用される。擬似故障データ
によるチェックは、そのために具備すべき手段が簡単で
あシかつチェックの波及範囲が充分であることが望まれ
る。These fault checking functions not only check the correctness of the operation of the functional circuit during operation, but also check the correctness of each hardware, firmware, and software using simulated fault data before starting operation. It is also used to guarantee sex. It is desired that the check using pseudo-fault data be simple and have a sufficient range of influence.
(従来技術)
従来のこの種の第1のデータ処理装置は、各々がハリテ
ィチェック機能を有する複数個の機能回路と、該各機症
回路におけるパリティチェックに基づく故障報告を排他
的に格納するための故障格納レジスタとを有し、マイク
ロプログラムによって発生させた擬似故障報告を故障格
納レジスタに直接セットして当該機能回路で故障が発生
したかのように見せかけている。(Prior Art) A first conventional data processing device of this type exclusively stores a plurality of functional circuits each having a parity check function and a failure report based on the parity check in each of the functional circuits. A pseudo fault report generated by a microprogram is directly set in the fault storage register to make it appear as if a fault has occurred in the functional circuit.
このような第1の従来構成においては、擬似故障報告は
当該機能回路からのものでないため、当該機能回路には
擬似故障データが無く、故障の波及範囲が狭く、実際の
故障に備えられるだけの充分なシミーレージ目ンができ
ないという次点がある。In such a first conventional configuration, since the pseudo-fault report is not from the functional circuit, the functional circuit has no pseudo-fault data, the range of fault spread is narrow, and there is not enough data to prepare for an actual fault. The runner-up is not being able to do a sufficient shimmy range.
従来のこの種の第2のデータ処理装置は・各々がパリテ
ィチェック機能を有しかつ一部レジスタへのパリティビ
ットをマイクロプログラムによって反転できるようにし
た複数個の機能回路と、該各機症囲路におけるパリティ
チェックに基づく故障報告を排他的に格納するための故
障格納レジスタとを有し、マイクロプログラムによって
前記レジスタに擬似故障データをセットし、この擬似故
障データに基づく当該機能回路からの故障報告を故障格
納レジスタにセットするようにしている。A conventional second data processing device of this type includes: a plurality of functional circuits each having a parity check function and in which parity bits in some registers can be inverted by a microprogram; a fault storage register for exclusively storing fault reports based on parity checks in the circuit, pseudo fault data is set in the register by a microprogram, and fault reports are generated from the functional circuit based on this pseudo fault data. is set in the fault storage register.
このような第2の従来構成においては、チェックの波及
範囲は拡大できるが、ハードウェア量が増加するという
欠点がある。In such a second conventional configuration, the scope of the check can be expanded, but there is a drawback that the amount of hardware increases.
(発明の目的)
本発明の目的は、僅少なハードウェアの追加のみによっ
て擬似故障データによるエラーチェックの波及範囲を拡
大できるようにしたデータ処理装置を提供することにあ
る。(Object of the Invention) An object of the present invention is to provide a data processing device that can expand the range of error checking using pseudo failure data by adding only a small amount of hardware.
(発明の構成)
本発明の装置は、各々が故障チェック機能を有する複数
個の機能回路から構成され該複数機能回路のうちの少な
くとも1つを除く前記機能回路が共通バスに接続された
データ処理装置において、擬似故障データを発生させて
前記共通バスに送出させることのできる第1機能回路と
、前記擬似故障データを他に選出すべきパスを有する第
2機能回路と・
該第2機能回路から前記擬似故障データを受け取シかつ
前記共通バスに接続されない第3機能回路と・
前記第1機能回路、前記第2機能回路または前記第3機
能回路における前記各故障チェックに基づく故障報告を
登録するための故障格納レジスタと、
前記第2機能回路からの前記故障報告を前記故障格納レ
ジスタに登録することを抑止することのできる故障登録
抑止回路
と金有することを特徴とする。(Structure of the Invention) The device of the present invention is a data processing device comprising a plurality of functional circuits each having a failure checking function, and in which the functional circuits except at least one of the plurality of functional circuits are connected to a common bus. In the device, a first functional circuit capable of generating pseudo-fault data and sending it to the common bus; a second functional circuit having a path from which the pseudo-fault data is to be selected; and from the second functional circuit. a third functional circuit that receives the simulated failure data and is not connected to the common bus; and - registers a failure report based on each of the failure checks in the first functional circuit, the second functional circuit, or the third functional circuit; The present invention is characterized by comprising: a fault storage register; and a fault registration suppression circuit capable of suppressing registration of the fault report from the second functional circuit in the fault storage register.
(実施例)
次に本発明の実施例について図面を参照して詳細に説明
する。(Example) Next, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.
第1図を参照すると、本実施例は共通バス5に接続され
た第1機能回路1および第2機能回路2と、共通バス5
には接続されない2つの第3機能回路3および4とから
構成されている。第1機能回路1と第2機能回路2は、
演算ユニット、先取多制御ユニットおよびアドレス変換
ユニy ) ノウちのいずれであってもよく、また第3
機能回路は3シーケンシヤル制御ユニツト等、第3機能
回路4は故障診断ユニットであり、本中央処理装置を構
成する図示省略した他の機能回路も第1機能回路、第2
機能回路または第3機能回路のいずれかに分類できる。Referring to FIG. 1, this embodiment includes a first functional circuit 1 and a second functional circuit 2 connected to a common bus 5,
It is composed of two third functional circuits 3 and 4 that are not connected to. The first functional circuit 1 and the second functional circuit 2 are
The arithmetic unit, preemption control unit, and address conversion unit may be any one of the above units, or the third
The functional circuits include a 3-sequential control unit, etc., the third functional circuit 4 is a fault diagnosis unit, and other functional circuits (not shown) constituting this central processing unit are also the first functional circuit, the second functional circuit, etc.
It can be classified as either a functional circuit or a tertiary functional circuit.
第1機能回路1はレジスタ11と、パリティチェック回
路12と、7リツプフロツプ13と、排他的論理和回路
14とを含み、第2機能囲路2と第3機能回路3はそれ
ぞれレジスタ21およびパリティチェック回路22とレ
ジスタ31およびパリティチェック回路を含み1第4機
能回路4はエラー格納レジスタ41と、書込制御回路4
2と17リツプフロツプ43と、論理積回路44とを含
んでいる。The first functional circuit 1 includes a register 11, a parity check circuit 12, a 7-lip flop 13, and an exclusive OR circuit 14, and the second functional circuit 2 and the third functional circuit 3 each include a register 21 and a parity check circuit 14. A fourth functional circuit 4 including a circuit 22, a register 31, and a parity check circuit includes an error storage register 41 and a write control circuit 4.
2 and 17 lip-flops 43 and an AND circuit 44.
レジスタ11とレジスタ21のそれぞれは共通バス5に
、またレジスタ31はレジスタ21にそれぞれ直結され
ているような既存のレジスタであシ、本発明を実施する
ために設けられたものではない。レジスタ11はマイク
ロプログラムMPによって、擬似エラーを発生させるた
めのデータを入力することができ、またフリップフロッ
プX3と43はマイクロプログラムMPによってセット
/リセット可能である。The registers 11 and 21 are existing registers that are directly connected to the common bus 5, and the register 31 is directly connected to the register 21, and are not provided for implementing the present invention. The register 11 can input data for generating a pseudo error by the microprogram MP, and the flip-flops X3 and 43 can be set/reset by the microprogram MP.
パリティチェック回路12.22および32は、それぞ
れレジスタ11.21および31の保持内容に基づいて
パリティチェックを行ない、その結果はエラー格納レジ
スタ41に、書込制御回路42とフリップ70ツブ43
との制御のもとに書き込まれる。書込制御回路42はエ
ラー格納レジスタ41の保持内容を調べて、パリティエ
ラーの発生を告げるいずれかのパリティチェック結果が
既に格納されているときには、このパリ7テイチエツク
結果がクリアされるまでは、新たなパリティチェック結
果は書き込ませないように動作する。たyし、フリップ
フロップ43がセット状態のときには、パリティチェッ
ク回路22におけるパリティチェック結果は、エラー格
納レジスタ41の保持内容の如何にか\わらずエラー格
納レジスタ41に書き込まれることはない。Parity check circuits 12.22 and 32 perform parity checks based on the contents held in registers 11.21 and 31, respectively, and the results are stored in error storage register 41 by write control circuit 42 and flip 70 tube 43.
written under the control of The write control circuit 42 checks the contents held in the error storage register 41, and if any parity check result indicating the occurrence of a parity error has already been stored, a new parity check result is not stored until this parity check result is cleared. The parity check result is not written. However, when the flip-flop 43 is in the set state, the parity check result in the parity check circuit 22 is not written to the error storage register 41, regardless of the contents held in the error storage register 41.
レジスタ11の保持内容は、パリティピットを除いては
そのま\共通パス5に出力される。共通パス5上に出力
されるパリティピットは、レジスタ11のパリティビッ
トと7リツプフロツプ13の出力とが、排他的論理和回
路14において排他的論理和演算され、その演算結果と
して共通バス5に出力される。The contents held in the register 11 are output to the common path 5 as they are except for the parity pit. The parity pit output onto the common path 5 is obtained by performing an exclusive OR operation on the parity bit of the register 11 and the output of the 7-lip flop 13 in an exclusive OR circuit 14, and outputting the result to the common bus 5. Ru.
さて、擬似エラーデータを使用して各機能回路に擬似パ
リティエラーを発生させる場合について説明する。Now, a case will be described in which a pseudo parity error is generated in each functional circuit using pseudo error data.
先ず、マイクロプログラム制御回路(図示省略)からの
指示によって、レジスタ11に正しいパリティビットを
有するデータを入力し、かっフリッ7”70ツブ13を
セット状態にする。この結果によって、パリティピット
は排他的論理和回路14において反転し、第1機能回路
1からはパリティエラーを発生させるような擬似エラー
データが共通バス5に出力される。First, according to instructions from a microprogram control circuit (not shown), data with a correct parity bit is input to the register 11, and the flip 7"70 tab 13 is set. As a result, the parity pit is exclusive. The logical sum circuit 14 inverts the data, and the first functional circuit 1 outputs pseudo error data to the common bus 5 that causes a parity error.
共通バス54C出力された擬似エラーデータは、共通バ
ス5に接続されているすべての第2機能回路2および第
2機能回路2に接続されている第3機能回路3に入力す
るとともに、第1機能回路1において擬似パリティエラ
〜を発生させるときには、マイクロプログラムMPによ
って、レジスタ11に入力させることのできるパス(図
示省略)もある。The pseudo error data outputted from the common bus 54C is input to all the second functional circuits 2 connected to the common bus 5 and the third functional circuit 3 connected to the second functional circuits 2, and is also input to the first functional circuit 3. When generating a pseudo parity error in the circuit 1, there is also a path (not shown) that can be input to the register 11 by the microprogram MP.
このようにして、第1機能回路1.第2機能回路2およ
び第3機能回路3に人力した擬似エラーデータは、それ
ぞれレジスタ11.21および31を介して、それぞれ
パリティチェック回路12゜22および32においてパ
リティチモツクされる。In this way, the first functional circuit 1. The pseudo error data inputted into the second functional circuit 2 and the third functional circuit 3 are checked for parity in parity check circuits 12, 22 and 32, respectively, via registers 11, 21 and 31, respectively.
パリティチェックの対象となる擬似エラーデータのパリ
ティビットは、先に排他的論理和回路14において反転
されているため、パリティチェックによって、パリティ
エラーの発生を告げるパリティチェック結果が出力され
る。Since the parity bit of the pseudo error data to be subjected to the parity check has been previously inverted in the exclusive OR circuit 14, the parity check outputs a parity check result indicating the occurrence of a parity error.
いずれのパリティチェック結果もエラー格納レジスタ4
1に入力可能であるが、書込制御回路42は、先着順に
1つのパリティチェしり結果のみをエラー格納レジスタ
41に登録させるように動作する。前述のような擬似エ
ラーデータの伝搬パスのため、エラー格納レジスタ41
に一番早く届くのけ、パリティチェック回路12からの
パリティチェック結果か、またはフリップフロップ43
がリセット状態のときのパリティチェック回路22から
のパリティチェック結果かである。Both parity check results are stored in error storage register 4.
However, the write control circuit 42 operates to register only one parity check result in the error storage register 41 on a first-come, first-served basis. For the propagation path of the pseudo error data as described above, the error storage register 41
Whichever comes first is the parity check result from the parity check circuit 12 or the flip-flop 43.
Is this the parity check result from the parity check circuit 22 when is in the reset state?
第1機能回路1においてパリティエラーが発生したとし
てエラーシミュレーションを行なうときには、共通バス
5上の擬似エラーデータをマイクロプログラムによって
レジスタ11にのみ入力し、レジスタ21には入力させ
ないようにする。この結果によって、パリティチェック
回路12からのパリティチェック結果をエラー格納レジ
スタ41に登録することができる。When performing an error simulation assuming that a parity error has occurred in the first functional circuit 1, the pseudo error data on the common bus 5 is inputted only to the register 11 by a microprogram, and is not inputted to the register 21. Based on this result, the parity check result from the parity check circuit 12 can be registered in the error storage register 41.
第2機能回路2においてパリティエラーが発生したとし
てエラーシミュレーションを行なうときには、共通バス
5上の擬似エラーデータをマイクロプログラムによって
レジスタ21にのみ入力しレジスタ11には入力さ、せ
ないようにし、かつ7リツプ70ツブ43をリセット状
態にする。この結果によって、パリティチェック回路2
2からのパリティチェック結果は、論理積回路44を経
て、エラー格納レジスタ41に登録されることになる。When performing an error simulation assuming that a parity error has occurred in the second functional circuit 2, the pseudo error data on the common bus 5 is inputted only to the register 21 by a microprogram and not inputted to the register 11, and The lip 70 knob 43 is put into a reset state. Based on this result, the parity check circuit 2
The parity check result from 2 is registered in the error storage register 41 via the AND circuit 44.
また、第3機能回路3においてパリティエラーが発生し
たとしてエラーシミュレーションを行なうときには、共
通バス5上の擬似エラーデータをマイクロプログラムに
よってレジスタ11に入力させないようにし、かつフリ
ップフロップ431にセット状態にする。この結果によ
って、パリティチェック回路22からのパリティチェッ
ク結果は、論理積回路44においてその通過を阻止され
、パリティチェック回路32からのパリティチェック結
果をエラー格納レジスタ41に登録することができるよ
うになる。Further, when performing an error simulation assuming that a parity error has occurred in the third functional circuit 3, the pseudo error data on the common bus 5 is prevented from being input to the register 11 by a microprogram, and the flip-flop 431 is set to a set state. As a result, the parity check result from the parity check circuit 22 is prevented from passing through the AND circuit 44, and the parity check result from the parity check circuit 32 can be registered in the error storage register 41.
上述のようにして、いずれからのパリティチェック結果
がエラー格納レジスタ41に登録されると、該登録内容
に基づいて、ハードウェア、7了−ムラエアおよびソフ
トウェアのチェックがマイクロプログラムMPによって
行なわれる。As described above, when the parity check results from any one are registered in the error storage register 41, the microprogram MP checks the hardware, the error code, and the software based on the registered contents.
第1図に示した本実施例においては、第1機能回路1.
第2機能回路2および第3機能回路3は、図面の簡単化
のために、それぞれ1つずつしか示していないが、それ
ぞれが複数個あってもよい。In the present embodiment shown in FIG. 1, the first functional circuit 1.
Although only one second functional circuit 2 and one third functional circuit 3 are shown to simplify the drawing, there may be a plurality of each.
また、第3機能回路4は、共通バス5と接続することに
よシ、第1機能回路または第2機能回路として構成する
ようにしてもよい。Further, the third functional circuit 4 may be configured as a first functional circuit or a second functional circuit by being connected to the common bus 5.
(発明の効果)
本発明によれば、以上のような構成の採用によって、僅
少なハードウェアの追加のみで擬似故障データによるエ
ラーチェックの波及範囲を拡大できるようになる。(Effects of the Invention) According to the present invention, by employing the above-described configuration, it is possible to expand the range of error checking using pseudo-fault data with only a small addition of hardware.
第1図は本発明の一実施例を示す。
1・・・第1機能回路、2・・・・・・第2機能回路・
3゜4・・・第3機能回路、5・・・共通バス、11
、21 、31・・・レジスタ、12.22.32・・
・パリティチェック回路、13.43・・・フリップフ
ロップ、14・・・排他的論理和回路、41・・・エラ
ー格納レジスタ、42第1図FIG. 1 shows an embodiment of the invention. 1...First functional circuit, 2...Second functional circuit.
3゜4...Third functional circuit, 5...Common bus, 11
, 21 , 31... register, 12.22.32...
- Parity check circuit, 13. 43... Flip-flop, 14... Exclusive OR circuit, 41... Error storage register, 42 Fig. 1
Claims (1)
構成され該複数機能回路のうちの少なくとも1つを除く
前記機能回路が共通バスに接続されたデータ処理装置に
おいて、 擬似故障データを発生させて前記共通バスに送出させる
ことのできる第1機能回路と、前記擬似故障データを他
に選出すべきパスを有する第2機能回路と、 該第2機能回路から前記擬似故障データを受けとシかつ
前記共通バスに接続されない第3機能回路と・ 前記第1機能回路、前記第2機能回路または前記第3機
能回路における前記各故障チェックに基づく故障報告を
登録するための故障格納レジスタと・ 前記第2機能回路からの前記故障報告を前記故障格納レ
ジスタに登録することを抑止することのできる故障登録
抑止回路 とを有することを特徴とするデータ処理装置。[Scope of Claims] A data processing device comprising a plurality of functional circuits each having a failure checking function, and in which functional circuits other than at least one of the plurality of functional circuits are connected to a common bus, comprising: a first functional circuit capable of generating data and transmitting it to the common bus; a second functional circuit having a path from which the pseudo-fault data is to be selected; and a second functional circuit capable of transmitting the pseudo-fault data from the second functional circuit. a third functional circuit that is not connected to the common bus; and a fault storage register for registering a fault report based on each of the fault checks in the first functional circuit, the second functional circuit, or the third functional circuit. and a fault registration suppression circuit capable of suppressing registration of the fault report from the second functional circuit in the fault storage register.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59061527A JPS60205637A (en) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | Data processor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59061527A JPS60205637A (en) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | Data processor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60205637A true JPS60205637A (en) | 1985-10-17 |
Family
ID=13173660
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59061527A Pending JPS60205637A (en) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | Data processor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60205637A (en) |
-
1984
- 1984-03-29 JP JP59061527A patent/JPS60205637A/en active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10539614B2 (en) | Circuit design verification in a hardware accelerated simulation environment using breakpoints | |
KR870000114B1 (en) | Data processing system | |
JPS63200249A (en) | Pseudo fault generating system for cache memory device | |
US10747601B2 (en) | Failure estimation in circuits | |
JPS60205637A (en) | Data processor | |
US10523186B1 (en) | Vulnerability determination in circuits | |
JPS6027423B2 (en) | Pseudo-intermittent error check code generator | |
JP3156249B2 (en) | Diagnosis method of fault detection circuit | |
JPS63200250A (en) | Pseudo fault generating system for cache memory device | |
JPS60101649A (en) | Diagnosis device of electronic computer | |
JPH0512047A (en) | Error detecting circuit | |
JPS6322342B2 (en) | ||
JPS6247750A (en) | Storage device | |
JPS59129995A (en) | Storage device | |
JPH0474254A (en) | Microprocessor diagnostic system | |
JPS61136147A (en) | Cache memory controller | |
JPS6039249A (en) | Operation device | |
JPS6355477A (en) | Operation testing circuit | |
JPH08161150A (en) | Electronic calculating device | |
JPS5947654A (en) | Microprogram controller | |
JPH0638239B2 (en) | Error correction mechanism | |
JPS6123245A (en) | Artificial fault generator | |
JPS61228366A (en) | System for checking erroneous operation of lsi | |
JPS61175752A (en) | Data processor | |
JPS5821174A (en) | Inspecting circuit |