JPS60203806A - フイルム類の偏肉測定方法 - Google Patents
フイルム類の偏肉測定方法Info
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- JPS60203806A JPS60203806A JP6155084A JP6155084A JPS60203806A JP S60203806 A JPS60203806 A JP S60203806A JP 6155084 A JP6155084 A JP 6155084A JP 6155084 A JP6155084 A JP 6155084A JP S60203806 A JPS60203806 A JP S60203806A
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- Japan
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- film
- thickness
- measuring
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- films
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0691—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of objects while moving
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はフィルム類の偏肉測定方法に関し、更に詳しく
は、特に連続走行中のフィルム類の厚み分布を連続的に
測定するのに好適な測定方法に関するものである。
は、特に連続走行中のフィルム類の厚み分布を連続的に
測定するのに好適な測定方法に関するものである。
従来、連続的に走行しているフィルム等の厚みを測定装
置としては、赤外線膜厚計、β線膜厚計、静電容量式膜
厚針等が実用に供されているが、それぞれ固有の問題を
内包している。即ち、赤外線膜厚計の場合はフィルムの
充填剤、顔料等の種類や量により赤外線透過量が減衰し
、測定が不正確又は不可能となるばかりでなく、透明フ
ィルムに限られるという問題がある。β線膜厚計は放射
線を使用するため安全管理に注意を払う必要があり、静
電容量式膜厚針は高精度の測定を行なうためには実質的
に検出部とフィルムとが接触するため、フィルムに傷を
つける恐れがある。
置としては、赤外線膜厚計、β線膜厚計、静電容量式膜
厚針等が実用に供されているが、それぞれ固有の問題を
内包している。即ち、赤外線膜厚計の場合はフィルムの
充填剤、顔料等の種類や量により赤外線透過量が減衰し
、測定が不正確又は不可能となるばかりでなく、透明フ
ィルムに限られるという問題がある。β線膜厚計は放射
線を使用するため安全管理に注意を払う必要があり、静
電容量式膜厚針は高精度の測定を行なうためには実質的
に検出部とフィルムとが接触するため、フィルムに傷を
つける恐れがある。
また、インフレーション法フィルム製造装置において、
ブロー状態での厚み測定装置として赤外線膜厚針が知ら
れている。しかし乍ら、該膜厚計は先述の如く透明フィ
ルムについては特に問題ないが、充填剤や顔料を多量に
含む着色フィルムの場合には測定不可能となる憾みがあ
る。
ブロー状態での厚み測定装置として赤外線膜厚針が知ら
れている。しかし乍ら、該膜厚計は先述の如く透明フィ
ルムについては特に問題ないが、充填剤や顔料を多量に
含む着色フィルムの場合には測定不可能となる憾みがあ
る。
本発明はかかる実情に鑑み、上記欠点を解消すべく鋭意
研究の結果為されたもので、１０８ｍ以下の薄いフィル
ムから１００μｍを越えるフィルムまで、連続的に走行
するフィルムの厚み分布をオンラインで連続的に、且つ
精度良く測定する方法を提供するものである。
研究の結果為されたもので、１０８ｍ以下の薄いフィル
ムから１００μｍを越えるフィルムまで、連続的に走行
するフィルムの厚み分布をオンラインで連続的に、且つ
精度良く測定する方法を提供するものである。
即ち、本発明はフィルム類の温度分布を測定することに
より該フィルム類の厚み分布を検知することを特徴とす
る偏肉測定方法を内容とするものである。
より該フィルム類の厚み分布を検知することを特徴とす
る偏肉測定方法を内容とするものである。
本発明において、温度測定場所としてはフィルムの加熱
又は冷却が実質的に行なわれている領域であれば特に制
限されないが、例えばＴ型ダイス、インフレーションダ
イスの場合には吐出部近傍、またカレンダーロールの場
合は冷却ロールに入る前の位置が好適である。
又は冷却が実質的に行なわれている領域であれば特に制
限されないが、例えばＴ型ダイス、インフレーションダ
イスの場合には吐出部近傍、またカレンダーロールの場
合は冷却ロールに入る前の位置が好適である。
本発明における温度測定手段としては、フィルムに傷を
つけたりシワを発生させることがない非接触式のものが
好ましく、例えば光高温計や放射温度Ｂ１が含まれ、就
中、赤外線放射温度計が好適である。
つけたりシワを発生させることがない非接触式のものが
好ましく、例えば光高温計や放射温度Ｂ１が含まれ、就
中、赤外線放射温度計が好適である。
本発明の測定原理は以下の如く推測される。即ち、連続
走行中のフィルムが加熱又は冷却される領域において、
加熱又は冷却源がフィルムの厚み変化を測定したい方向
に対して均一であり、且つ経時的に一定であると、該フ
ィルムの微小部分の温度はその熱容量に反比例して変化
する。従って、フィルムの温度分布を測定することによ
りフィルムの厚み分布を検知することが可能である。更
に一定条件下でのフィルムの温度と厚みとの相関を実験
的にめておくことにより、フィルムの厚みそのものを知
ることもできる。
走行中のフィルムが加熱又は冷却される領域において、
加熱又は冷却源がフィルムの厚み変化を測定したい方向
に対して均一であり、且つ経時的に一定であると、該フ
ィルムの微小部分の温度はその熱容量に反比例して変化
する。従って、フィルムの温度分布を測定することによ
りフィルムの厚み分布を検知することが可能である。更
に一定条件下でのフィルムの温度と厚みとの相関を実験
的にめておくことにより、フィルムの厚みそのものを知
ることもできる。
以下、本発明を実施態様を示す図面に基づいて説明する
と、第１図は本発明測定方法をイノフレージョン法フィ
ルム製造プロセスに適用した例である。
と、第１図は本発明測定方法をイノフレージョン法フィ
ルム製造プロセスに適用した例である。
同図において、ダイス（１）よりフィルム（２）が押出
され、引取りロール（３）により引き上げられ、巻取り
ロール（８）により巻き取られる。
され、引取りロール（３）により引き上げられ、巻取り
ロール（８）により巻き取られる。
この間において、通常の方法でダイス出口より冷却され
乍ら、所望の厚みと巾になるように延伸さレル。ダイス
（１）の出口近傍でフィルム（２）の温度が赤外線温度
針（４）により連続的に測定される。本例にあっては測
定結果はコンピューター（５）により処理され、コンピ
ューター画面（６）上に表示されると共に、プリンター
（７）に打出されるように構成されている。尚、温度測
定位置は第１図に示すダイス出口に限定されず、フィル
ムの厚み変化を知りたい方向に対して温度分布が存在す
る場所であればどこでも良いが、インフレーションの場
合はダイス出口より約３０ｍｍ〜約１０００ｍｍの範囲
が好ましい。上記範囲よりも小さくなるとダイス出口直
後であるため温度分布が小さく、逆に大きくなるとフィ
ルム全面に亘って温度が均等に近づき温度分布が小さく
なるため測定精度が悪（なる。上記範囲において、フィ
ルム温度と厚さとの関係を観察したところ、各測定位置
で非雷に良好な相関が確認された。（ダイス出口より５
００ｍｍの位置でのフィルム温度と１７さとの相関関係
を第２図に示した。
乍ら、所望の厚みと巾になるように延伸さレル。ダイス
（１）の出口近傍でフィルム（２）の温度が赤外線温度
針（４）により連続的に測定される。本例にあっては測
定結果はコンピューター（５）により処理され、コンピ
ューター画面（６）上に表示されると共に、プリンター
（７）に打出されるように構成されている。尚、温度測
定位置は第１図に示すダイス出口に限定されず、フィル
ムの厚み変化を知りたい方向に対して温度分布が存在す
る場所であればどこでも良いが、インフレーションの場
合はダイス出口より約３０ｍｍ〜約１０００ｍｍの範囲
が好ましい。上記範囲よりも小さくなるとダイス出口直
後であるため温度分布が小さく、逆に大きくなるとフィ
ルム全面に亘って温度が均等に近づき温度分布が小さく
なるため測定精度が悪（なる。上記範囲において、フィ
ルム温度と厚さとの関係を観察したところ、各測定位置
で非雷に良好な相関が確認された。（ダイス出口より５
００ｍｍの位置でのフィルム温度と１７さとの相関関係
を第２図に示した。
本発明の測定方法は上記１゛型ダイス、インフレーショ
ンダイス、カレンダー法によるフィルム形１量りの場合
に適用されるのみならず、既に形成済みのフィルムにも
好適に適用することができる。即ち、一旦巻き取ったフ
ィルムを検反する等の目的でフィルムを再巻き取りする
際、適度に加熱又は冷却してフィルムの温度分布を測定
し、厚さ分布を検知することができる。第３図はかかる
場合の一例を示すもので、フィルム（２）は巻取り機（
８）により巻き取られる途中で加熱装置（９）により中
全体に亘って均一に加熱され、温度分布が中方向に走査
される赤外線放射温度計（４）によって測定される。
ンダイス、カレンダー法によるフィルム形１量りの場合
に適用されるのみならず、既に形成済みのフィルムにも
好適に適用することができる。即ち、一旦巻き取ったフ
ィルムを検反する等の目的でフィルムを再巻き取りする
際、適度に加熱又は冷却してフィルムの温度分布を測定
し、厚さ分布を検知することができる。第３図はかかる
場合の一例を示すもので、フィルム（２）は巻取り機（
８）により巻き取られる途中で加熱装置（９）により中
全体に亘って均一に加熱され、温度分布が中方向に走査
される赤外線放射温度計（４）によって測定される。
叙上の通り、本発明によれば連続的に走行するフィルム
の厚み変化を非接触で、従ってフィルムに傷をつける惧
れなく、連続的にしかも精度良く測定することが可能で
ある。また本発明はフィルムの片面より温度を測定する
だけで厚み変化を知ることができるので、装置が簡単で
設備費が安価であり、その有用性は頗る高いものである
。
の厚み変化を非接触で、従ってフィルムに傷をつける惧
れなく、連続的にしかも精度良く測定することが可能で
ある。また本発明はフィルムの片面より温度を測定する
だけで厚み変化を知ることができるので、装置が簡単で
設備費が安価であり、その有用性は頗る高いものである
。
以下、実施例を挙げて本発明を更に詳細に説明するが、
本発明は何らこれにより制限を受りるものではない。
本発明は何らこれにより制限を受りるものではない。
実施例１
第１図に示した如き装置を用い、ポリメタクリル酸エス
テル系フィルム（ブチルアクリレート７０重量％とメチ
ルメタクリレート３０重量％より成る共重合弾性体３０
重量部に、メチルメタクリレート８５重量％とブチルア
クリレート１５重量％より成る単量体混合物の７０重量
部をグラフト重合させた樹脂）を製造するインフレーシ
ョン法ダイスの出口より５００ｍｍの位置に赤外線放射
温度計「サーモスポット」 〔日本電気三栄０１製〕を
配置し、フィルムの中方向の温度分布を測定した。
テル系フィルム（ブチルアクリレート７０重量％とメチ
ルメタクリレート３０重量％より成る共重合弾性体３０
重量部に、メチルメタクリレート８５重量％とブチルア
クリレート１５重量％より成る単量体混合物の７０重量
部をグラフト重合させた樹脂）を製造するインフレーシ
ョン法ダイスの出口より５００ｍｍの位置に赤外線放射
温度計「サーモスポット」 〔日本電気三栄０１製〕を
配置し、フィルムの中方向の温度分布を測定した。
尚、このときのダイス口径５００ｍｍφ、クリアランス
Ｏ，Ｂｍｍ、ダイス温度２００℃、フィルム速度２０ｍ
／分であった。
Ｏ，Ｂｍｍ、ダイス温度２００℃、フィルム速度２０ｍ
／分であった。
得られたフィルム中方向の温度分布をプリントしたもの
を第４図（ａ）に示した。同時に電磁マイクロゲージ法
によりめた厚み分布を同図（ｂ）に示した。両者は良好
な一致を示した。
を第４図（ａ）に示した。同時に電磁マイクロゲージ法
によりめた厚み分布を同図（ｂ）に示した。両者は良好
な一致を示した。
第１図は本発明の実施例を示す概要図、第２図はフィル
ム温度と厚さとの関係を示すカーブ、第３図は俺の実施
例を示す概要図、第４図は実施例１で測定した温度分布
と厚み分布のカーブである。 １・・ダイス、 ２・・フィルム ３・・引取りロール、 ４・・赤外線温度δ１５・・コ
ンピューター、 ６・・コンピューター画面７・・プリ
ンター、８・・巻取りロール９・・加熱装置、
ム温度と厚さとの関係を示すカーブ、第３図は俺の実施
例を示す概要図、第４図は実施例１で測定した温度分布
と厚み分布のカーブである。 １・・ダイス、 ２・・フィルム ３・・引取りロール、 ４・・赤外線温度δ１５・・コ
ンピューター、 ６・・コンピューター画面７・・プリ
ンター、８・・巻取りロール９・・加熱装置、
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、フィルム類の温度分布を測定することにより該フィ
ルム類の厚み分布を検知することを特徴とする偏肉測定
方法。 ２、加熱又は冷却が実質的に行なわれている領域におけ
るフィルム類の温度分布を測定する特許請求の範囲第１
項記載の方法。 ３、温度測定手段が非接触式温度針である特許請求の範
囲第１項又は第２項記載の方法。 ４、非接触式温度計が赤外線放射温度針である特許請求
の範囲第３項記載の方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6155084A JPS60203806A (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | フイルム類の偏肉測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6155084A JPS60203806A (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | フイルム類の偏肉測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60203806A true JPS60203806A (ja) | 1985-10-15 |
Family
ID=13174336
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6155084A Pending JPS60203806A (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | フイルム類の偏肉測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60203806A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102014000269A1 (de) * | 2014-01-09 | 2015-07-09 | Vdeh-Betriebsforschungsinstitut Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln der Planheit beim Behandeln eines bandförmigen Guts |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5175495A (en) * | 1974-12-25 | 1976-06-30 | Hitachi Shipbuilding Eng Co | Hakumakutono hinshitsukensanohohoto sochi |
| JPS57206804A (en) * | 1981-06-15 | 1982-12-18 | Japan Sensaa Corp:Kk | Measuring method and device for temperature correcting type film thickness |
| JPS58117425A (ja) * | 1981-11-25 | 1983-07-13 | ファ−ク・ク−ゲルフイツシエル・ゲオルク・シエ−フエル・コマンデイ−トゲゼルシヤフト・アウフ・アクチエン | 温度分布を測定するための方法および装置 |
-
1984
- 1984-03-28 JP JP6155084A patent/JPS60203806A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5175495A (en) * | 1974-12-25 | 1976-06-30 | Hitachi Shipbuilding Eng Co | Hakumakutono hinshitsukensanohohoto sochi |
| JPS57206804A (en) * | 1981-06-15 | 1982-12-18 | Japan Sensaa Corp:Kk | Measuring method and device for temperature correcting type film thickness |
| JPS58117425A (ja) * | 1981-11-25 | 1983-07-13 | ファ−ク・ク−ゲルフイツシエル・ゲオルク・シエ−フエル・コマンデイ−トゲゼルシヤフト・アウフ・アクチエン | 温度分布を測定するための方法および装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102014000269A1 (de) * | 2014-01-09 | 2015-07-09 | Vdeh-Betriebsforschungsinstitut Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln der Planheit beim Behandeln eines bandförmigen Guts |
| DE102014000269B4 (de) | 2014-01-09 | 2023-05-04 | Vdeh-Betriebsforschungsinstitut Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Ermitteln der Planheit beim Behandeln eines bandförmigen Guts |
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