JPS60200149A - X線透視検査装置用試料皿 - Google Patents

X線透視検査装置用試料皿

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JPS60200149A
JPS60200149A JP59055987A JP5598784A JPS60200149A JP S60200149 A JPS60200149 A JP S60200149A JP 59055987 A JP59055987 A JP 59055987A JP 5598784 A JP5598784 A JP 5598784A JP S60200149 A JPS60200149 A JP S60200149A
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JP
Japan
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ray
section
sections
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Pending
Application number
JP59055987A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshihiro Iyori
伊従 恵大
Hiroshi Shimizu
宏 清水
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Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS60200149A publication Critical patent/JPS60200149A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/043Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using fluoroscopic examination, with visual observation or video transmission of fluoroscopic images

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、例えばICなどの小物電気部品を拡大して透
視検査するX線透視検査装置に用いる、前記電気部品な
どを配列載置する試料皿に関するものである。
〔発明の背景〕
ICなどの小物電気部品を検査する装置の1つにX線透
視検査装部がある。これに、卯、1図に示すように、複
数の試料(図示せず)が配列載置された試料皿1の試料
配列面(底面)を上下より挟んでX@管装置2とpbo
ビジコン撮像管などからなるTVカメラ3の対(以下、
X線’fl−TV左カメラという)を設け、試料皿1’
YX−Yテーブル4で移動させると共にXi管装置2を
作動させてX線ケ照射し、前記複数の試料の透視像(そ
の−例を第2図に示す)を順次TVモニタ5に拡大して
映し出し、各試料を検査するものである。この場合、X
1Fl管装置2の制御はX線制御装置6で、X−Yテー
ブル4の制御はX−Y制御スイッチ7で、各々行われる
。また、X線g装置2、TVカメラ3、x−yテーブル
4は(従って試ネ目1111も)、扉8aを備えたX線
防護箱8内に配設されている。
ところで前記試料皿1は、ベークライトやカービンファ
イバ板で作成されており、その上に試料を配列載置して
いるが、従来、各試料の検査に際して、TVモニタ5に
いま映し出され検査されている試料が試料皿1上のどの
位置にあるものなのかの識別については、外部から試料
又は試料皿1の不良試料載置個所などにマークを付す必
要があった。このため、不良試料が見つかる度にX線を
遮断し、該当個所にマークを付さなければならず面倒で
ある。一般には、第1図に示すように試料皿1は防護箱
8内に入っているため、上述マークを付す作業は、まず
X線をしゃ断し、扉8aを開け、マーフケ付し、扉8a
i閉めて終了するもので、その後、X線を照射し、検査
を続け、再び不良試料が見つかったとき、同様の作業を
繰り返すことになる。従って検査が著しく面倒で、長い
時間を要することとなり、従来、この点についての改善
が要望されていた。
〔発明の目的〕
本発明は上記のような要望に鑑みてなされたもので、不
良試料が見つかったときのマークを付す作業が省略でき
、従って多数の試料の検査が極めて簡単かつ短時間で行
い得るX線透視横置装置用試料皿を提供することを目的
とする。
〔発明の概要〕
本発明は、複数の試料の配列面を挟んでX線管−TV左
カメラを設け、これら試料配列面及びX線管−TVカメ
ラ対対相相対的移動させると共に前記X線管よりX線を
照射して前記複数の試料の透視像を順次TVモニタに映
し出し、各試料を検査するX線透視検査装置−において
、前記複数の試料を配列載置するものであってその試料
配列面に、試料配列区画を表示するための分割線と、こ
の分割線により表示された各区画内に各区画を識別する
ための識別表示とが、X線非透過性の物質で描かれてな
り、前記区画と区画識別が試料の透視像と共にTVモニ
タに映し出されるようにしたものである。
〔発明の実施例〕
以下第3図及び第4図を参照して本発明の詳細な説明す
る。第3図は本発明によるX線透視検査装置用試料皿の
一実施例を示す斜視図で、図中11は図示しない試料を
配列載置する試料配列面、】2はこの配列面11に適宜
量隔置いて格子状に描かれた分割線で、この分割線】2
により試料配列区画13が表示される。14は、その各
区画13内の例えば隅部に描かれた、各区画13を識別
するための識別表示、例えば1から区画13の総数と同
じ数、ここでは15までの数字表示である。この場合、
上記分割線12及び表示14は、器材のようにX線の透
過しやずい物質とは異なり、X線非透過性の物質、例え
ば含鉛塗料などを用いて描かれている。
次に、このような試料皿を用いてX線透視検査装置で試
料ビ検査する場合につき第1図を併用して説明する。ま
ず、本発明試料皿の配列面11の適宜の区画13又は全
ての区画13に試料(図示せず)音配列載置し、次にこ
れを防護箱8内のX−Yテーブル4上に置き、以下、前
述と同様にX−Yテーブル4及びX#管装置2を作動さ
せ、各試料の透視像を順次−TVモニタ5で拡大して映
し出し、各試料を検査するものである。
第4図は本発明試料皿を用いた場合のTVモニタに映し
出された試料透視像の一例を示す図で、図中5aはTV
モニタ画面、12aけ分割線形、14aは数字表示(識
別表示)影、15fd透視像である。
この第4図から分かるように、画面5a中には透視像1
5の他に分割線形12a及び数字表示影14aも映し出
されることになる。従って、透視像15として映し出さ
れた試料が不良であると判定された場合には、それが載
置され区画13ケ防護箱8外部のTVモニタ画面5aに
映し出された数字表示影14aによって知ることができ
る。知り得た不良試料が載置された区画13の数字表示
14Y逐−控えておけば、全試料の検査終了後、防護箱
8から試料皿を取り出して該当する区画13の不良試料
を除去するなどの処分がまとめて行い得ることになる。
なお、上述実施例では、区画13の識別表示を数字表示
14としたが、アルファベット、ドツトマークなど、各
区画を視覚的に識別できる表示であれば、そのいずれで
もよい。また、この表示の大きさや区画13内の位置、
分割線12の太さや間隔さらには区画13の形状などは
、検査される試料の大きさ、形状などにより適宜設定す
ることができる。
また、上述実施例では、皿形状ケ四角形の平板状とした
が、これのみに限定されないことはいうまでもない。
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明は、複数の試料の配列面を挟ん
でX#il’ff−TVカメラ対を設け、これら試料配
列面及びX線管−TVカメラ対を相対的に移動させると
共に前記X線管よりX線を照射して前記複数の試料の透
視像を順次TVモニタに映し出し、各試料を検査するX
線透視検査装置において、前記複数の試料を配列載置す
るものであってその試料配列面に、試料配列区画を表示
するための分割線と、この分割線により表示された各区
画内に各区画を識別するための識別表示とが、X線非透
過性の物質で描かれてなるので、試料の透視像と共にそ
の試料が載置された配列面上の区画の識別表示影もTV
モニタに映し出される。従って不良と判定された試料の
載置区画が外部から知り得ることと1より、不良試料の
識別が全試料の検査終了後にまとめて行うことができる
。このため、従来のマークを付す作業が不要となり、多
数の試料の検査が極めて簡単かつ短時間で行うことがで
きるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は一般的なX線透視検査装置の概略を示す斜視図
、第2図は従来の試料皿を用いて得られた透視像の一例
を示す図、第3図は本発明によるX線透視検査装置用試
料皿の一実施例を示す斜視図、第4図は同試料皿乞用い
て得られた透視像の一例を示す図である。 1・・・試料皿、2・・・X線管装置、3・・・TV右
カメラ4・・・X−Yテーブル、5・・・TVモニタ、
11・・・試料配列面、12・・・分割線、13・・・
試料配列区画、14・・・数字表示(識別表示)、15
・・・透視像。 特許出願人 株式会社日立メデイコ 代理人弁理士 秋 本 正 実

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数の試料の配列面を挟んでX線管−TV左カメラを設
    け、これら試料配列面及びX線管−TV左カメラを相対
    的に移動させると共に前記X′m管よりXmを照射して
    前記複数の試料の透視像ケ順次TVモニタに映し出し、
    各試料を検査するX@透視検査装置において、前記複数
    の試料を配列載置するものであってその試料配列面に、
    試料配列区画ン表示するための分割線と、この分割線に
    より表示された各区画内に各区画を識別する7jめの識
    別表示とが、X線非透過性の物質で描かれてなることケ
    特徴とするX線透視検査装置用試料On。
JP59055987A 1984-03-26 1984-03-26 X線透視検査装置用試料皿 Pending JPS60200149A (ja)

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