JPS60185293A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置Info
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- JPS60185293A JPS60185293A JP59039839A JP3983984A JPS60185293A JP S60185293 A JPS60185293 A JP S60185293A JP 59039839 A JP59039839 A JP 59039839A JP 3983984 A JP3983984 A JP 3983984A JP S60185293 A JPS60185293 A JP S60185293A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野 ゛
本発明は、半導体記憶装置特に、セル対向電極のうちセ
ル・トランジスタとは反対側の電極電圧を電源電圧の中
間電圧にした1トランジスタ1キヤパシタ型のダイナミ
ックメモリに関する。
ル・トランジスタとは反対側の電極電圧を電源電圧の中
間電圧にした1トランジスタ1キヤパシタ型のダイナミ
ックメモリに関する。
従来技術と問題点
ダイナミックメモリのメモリセルは第1図に示すように
トランスファゲートとなるMOS)ランジスタQとデー
タ記憶部となるMOSキャパシタCからなるのが普通で
ある。キャパシタCは半導体基板表面の絶縁膜を誘電体
、該絶縁膜下の半導体基板が一方の電極、該絶縁膜上の
メタル又は多結晶シリコン膜が他方の電極(対向電極c
pという)となって構成される。対向電極CPには正電
圧を印加し、該電極CPの下部のP型半導体基板の表面
部をn反転させて、該n反転領域を上記一方の電極Pと
して用いる例が多い。正電圧はメモリチップの電#Vc
cからとる。
トランスファゲートとなるMOS)ランジスタQとデー
タ記憶部となるMOSキャパシタCからなるのが普通で
ある。キャパシタCは半導体基板表面の絶縁膜を誘電体
、該絶縁膜下の半導体基板が一方の電極、該絶縁膜上の
メタル又は多結晶シリコン膜が他方の電極(対向電極c
pという)となって構成される。対向電極CPには正電
圧を印加し、該電極CPの下部のP型半導体基板の表面
部をn反転させて、該n反転領域を上記一方の電極Pと
して用いる例が多い。正電圧はメモリチップの電#Vc
cからとる。
半導体メモリは益々高集積化されているが、集積度が高
められる程セルサイズは微小になり、つれて前記絶縁膜
の厚みは薄くなる。前記一方の電極Pは書込みデータが
“1″か0”かに従っては一゛0かVccとなるが、対
向電極CPにVccを印加する方式では絶縁膜に0また
はVccが加わり、絶縁膜が薄いと強い電界が該絶縁膜
に作用することになって、長期間使用すると該絶縁膜が
絶縁不良になる恐れがある。
められる程セルサイズは微小になり、つれて前記絶縁膜
の厚みは薄くなる。前記一方の電極Pは書込みデータが
“1″か0”かに従っては一゛0かVccとなるが、対
向電極CPにVccを印加する方式では絶縁膜に0また
はVccが加わり、絶縁膜が薄いと強い電界が該絶縁膜
に作用することになって、長期間使用すると該絶縁膜が
絶縁不良になる恐れがある。
そこで対向電極CPに、通常は5■である電源Vccの
中間電圧例えば2.5vを印加することが考えられてい
る。このようにすれば一方の電極はOVまたは5Vであ
るから、絶縁膜に加わる電圧はいずれの場合も2.5V
となり、Vccを加える場合の半分になる。中間電位を
得るに簡単な方法は抵抗分圧回路を用いる方法であり、
第2図にその例を示す。R1,R2はその分圧用の抵抗
で電源VccとVss(グランド)間に接続され、その
直列接続点Nから中間電圧Vを出力する。R1=R2な
らV = V cc/ 2である。
中間電圧例えば2.5vを印加することが考えられてい
る。このようにすれば一方の電極はOVまたは5Vであ
るから、絶縁膜に加わる電圧はいずれの場合も2.5V
となり、Vccを加える場合の半分になる。中間電位を
得るに簡単な方法は抵抗分圧回路を用いる方法であり、
第2図にその例を示す。R1,R2はその分圧用の抵抗
で電源VccとVss(グランド)間に接続され、その
直列接続点Nから中間電圧Vを出力する。R1=R2な
らV = V cc/ 2である。
中間電位Vを出力するこの抵抗分圧回路は電源V cc
、V ss間に固定的に接続されているので常時消費電
力があり、これを僅少にすべく抵抗R1゜R2は数10
OKΩなどの高抵抗にされる。しかし高抵抗であると、
電位■を供給される負荷即ち前記対向電極が持つ静電容
量くこれは全セルに共通なので大きな値を持つ)と大き
なCR時定数を作り、電源Vccが変動したときまたは
電源を投入したとき電位■がそれに追従するのが遅(な
る。
、V ss間に固定的に接続されているので常時消費電
力があり、これを僅少にすべく抵抗R1゜R2は数10
OKΩなどの高抵抗にされる。しかし高抵抗であると、
電位■を供給される負荷即ち前記対向電極が持つ静電容
量くこれは全セルに共通なので大きな値を持つ)と大き
なCR時定数を作り、電源Vccが変動したときまたは
電源を投入したとき電位■がそれに追従するのが遅(な
る。
V=Vcc/2としてVccが変っても■がそれに追従
しないと前記絶縁膜に加わる電圧はV cc/ 2では
なく、それより大になるものが生じる。これでは中間電
位採用による絶縁劣化防止効果か減殺されてしまう。
しないと前記絶縁膜に加わる電圧はV cc/ 2では
なく、それより大になるものが生じる。これでは中間電
位採用による絶縁劣化防止効果か減殺されてしまう。
そこで抵抗R1,R2をトランジスタに置き換え、これ
をオンオフ制御することにより連応性のある中間電圧発
生回路を先に開発した。第3図はその概要を示し、Q
I−Q aは中間電位■を出力する分圧回路を構成する
MOS)ランジスタであり、A I、 A 2はこれら
のMO3+−ランジスタのゲート制御電圧を供給する増
幅回路である。増幅回路A1.A2はフリップフロップ
回路であってQll 、Ql2及びQl6.Q’17は
そのドライバMOSトランジスタ、QIO、Ql5は該
フリップフロップ回路を動作または非動作状態にするM
OS)ランジスタ、Ql3.Ql4及びQl8゜Ql9
はトランスファゲートとなるMO3I−ランジスタであ
る。R3−R5は電源Vcc、Vss間に接続された分
圧用の抵抗で、その直列接続点から中間電位V1及びV
2を出力する。勿論VCC>Vl>V2>VSSであり
、そしてVl、V2はVccが正常゛なとき所望の■に
対してV + >V>V 2に選ぶ。
をオンオフ制御することにより連応性のある中間電圧発
生回路を先に開発した。第3図はその概要を示し、Q
I−Q aは中間電位■を出力する分圧回路を構成する
MOS)ランジスタであり、A I、 A 2はこれら
のMO3+−ランジスタのゲート制御電圧を供給する増
幅回路である。増幅回路A1.A2はフリップフロップ
回路であってQll 、Ql2及びQl6.Q’17は
そのドライバMOSトランジスタ、QIO、Ql5は該
フリップフロップ回路を動作または非動作状態にするM
OS)ランジスタ、Ql3.Ql4及びQl8゜Ql9
はトランスファゲートとなるMO3I−ランジスタであ
る。R3−R5は電源Vcc、Vss間に接続された分
圧用の抵抗で、その直列接続点から中間電位V1及びV
2を出力する。勿論VCC>Vl>V2>VSSであり
、そしてVl、V2はVccが正常゛なとき所望の■に
対してV + >V>V 2に選ぶ。
増幅回路A+、A2はVlとV、V2とV (7) t
r(ハイ)、L(ロー)をチェックするもので、周期的
にクロックψ0をHにしてトランジスタQ13゜Ql4
およびQl8.Ql9をオンにし、Vl。
r(ハイ)、L(ロー)をチェックするもので、周期的
にクロックψ0をHにしてトランジスタQ13゜Ql4
およびQl8.Ql9をオンにし、Vl。
V、V2の電位関係を取り込む。正常状態ではVl〉■
であるから増幅回路A+ではQ12オン、Q I Iオ
フ、増幅回路A2ではV2<VであるからQ!6オン、
QI7オフとなる。こ\でクロックφ0をHにするとト
ランジスタQIO、Ql5はオンとなり、増幅回路A1
.A2はアクティブとなって出力■はH1出力■はし、
出力■ばL、出力■はHになる。これらの出力■〜■ば
図示のように!・ランジスクQ1〜Q4に加わり、この
結果Q1オン、Q3オフ、Q2オフ、Q4オンとなり、
出力端NはV cc、V ssいずれへも接続されず、
フローティングになる。なおtlraはφ0の反転であ
るからφo=Hのとき@o=Lとなり、1ヘランジスク
Q13 、Ql4 、Ql8 、Ql9はオフである。
であるから増幅回路A+ではQ12オン、Q I Iオ
フ、増幅回路A2ではV2<VであるからQ!6オン、
QI7オフとなる。こ\でクロックφ0をHにするとト
ランジスタQIO、Ql5はオンとなり、増幅回路A1
.A2はアクティブとなって出力■はH1出力■はし、
出力■ばL、出力■はHになる。これらの出力■〜■ば
図示のように!・ランジスクQ1〜Q4に加わり、この
結果Q1オン、Q3オフ、Q2オフ、Q4オンとなり、
出力端NはV cc、V ssいずれへも接続されず、
フローティングになる。なおtlraはφ0の反転であ
るからφo=Hのとき@o=Lとなり、1ヘランジスク
Q13 、Ql4 、Ql8 、Ql9はオフである。
次にVcc及び又は■に変動があってVl〉V2〉■に
なると、即ち中間電位■が相対的に下ると、増幅回路A
1側は正常状態と同じであるが、増幅回路A2側ではQ
17オン、QI6オフ、出力■がH1出力■がLとなり
、分圧用トランジスタはQlがオン、Q2かオン、Q3
がオフ、Q4がオフとなり、出力端NはVccへ接続さ
れて中間電位Vを引き上げる。この結果、又はこれとは
別に、v>v l >V 2になると増幅回路A2は正
常状態と同じであるが増幅回路A1ではQll がオン
、Ql2がオフ、出力■がし、出力■がHになる。
なると、即ち中間電位■が相対的に下ると、増幅回路A
1側は正常状態と同じであるが、増幅回路A2側ではQ
17オン、QI6オフ、出力■がH1出力■がLとなり
、分圧用トランジスタはQlがオン、Q2かオン、Q3
がオフ、Q4がオフとなり、出力端NはVccへ接続さ
れて中間電位Vを引き上げる。この結果、又はこれとは
別に、v>v l >V 2になると増幅回路A2は正
常状態と同じであるが増幅回路A1ではQll がオン
、Ql2がオフ、出力■がし、出力■がHになる。
そこでQ1オフ、Q2オフ、Q3オン、Q4オンとなり
、出力端NはVssへ引き下げられる。
、出力端NはVssへ引き下げられる。
こうして本回路ではVl>V>V2なら中間電位Vを非
調整、V>Vl>V2なら引き下げ、Vl> V 2
> Vなら引き上げ、該Vを■1と■2の間に制御する
。トランジスタQ、+ ” Q 4のgmを人にすれば
この制御は速やかに行なわれ、そしてVが所望状態にあ
ればQ I−04はいずれかがオフでこれらのトランジ
スタからなる直列接続回路ばVccからVssへ向う電
流を流さず、従って素晴電力消費はない。抵抗R3〜R
5は単に分圧するだけで、大きな容量がつくこともない
から高抵抗でよく、従って電力消費は僅少である。しか
しながら増幅回路AI、A2がダイナミック回路であっ
て、クロックφ0.φ0などを必要とし、動作も安定し
にくいという問題がある。
調整、V>Vl>V2なら引き下げ、Vl> V 2
> Vなら引き上げ、該Vを■1と■2の間に制御する
。トランジスタQ、+ ” Q 4のgmを人にすれば
この制御は速やかに行なわれ、そしてVが所望状態にあ
ればQ I−04はいずれかがオフでこれらのトランジ
スタからなる直列接続回路ばVccからVssへ向う電
流を流さず、従って素晴電力消費はない。抵抗R3〜R
5は単に分圧するだけで、大きな容量がつくこともない
から高抵抗でよく、従って電力消費は僅少である。しか
しながら増幅回路AI、A2がダイナミック回路であっ
て、クロックφ0.φ0などを必要とし、動作も安定し
にくいという問題がある。
発明の目的
それ数本発明はクロックなどは必要とせず、動作を安定
な、勿論連応性のある中間電位発生回路を提供しようと
するものである。
な、勿論連応性のある中間電位発生回路を提供しようと
するものである。
発明の構成
本発明は、1トランジスタ1キヤパシタ型のグイナミソ
クメモリセルの該キャパシタの対向電極のうちメモリセ
ル・トランジスタとは反対側の電極に、電源電圧の中間
の電圧を供給する中間電位発生回路を備える半導体記憶
装置において、該中間電位発生回路を、電源間に直列に
接続されて電源電圧の分割電圧を該中間電圧として出力
する複数個のトランジスタを有する駆動部と、電源電圧
の分割電圧を基準電圧として出力する基準電圧発生部と
、前記中間電圧を該基準電圧と比較してその差に従って
駆動部のトランジスタをオンオフ制御する出力を生じる
スタティックな増幅及びレヘルシフト部とで構成したこ
とを特徴とするが、次に実施例を参照しながらこれを説
明する。
クメモリセルの該キャパシタの対向電極のうちメモリセ
ル・トランジスタとは反対側の電極に、電源電圧の中間
の電圧を供給する中間電位発生回路を備える半導体記憶
装置において、該中間電位発生回路を、電源間に直列に
接続されて電源電圧の分割電圧を該中間電圧として出力
する複数個のトランジスタを有する駆動部と、電源電圧
の分割電圧を基準電圧として出力する基準電圧発生部と
、前記中間電圧を該基準電圧と比較してその差に従って
駆動部のトランジスタをオンオフ制御する出力を生じる
スタティックな増幅及びレヘルシフト部とで構成したこ
とを特徴とするが、次に実施例を参照しながらこれを説
明する。
発明の実施例
第4図は本発明の実施例を示し、Q45.Q46が中間
電位■を出力するMOS)ランジスタ、Q21゜Q22
・・・・・・Q44が該トランジスタQ45.Q46の
ゲート制御電圧を供給する増幅部、R11,’R12は
基準電圧Vsを発生する抵抗である。増幅部は駆動部の
出力電圧Vが、基準電圧発生部の出力基準電圧Vsに等
しくなるように制御するもので、縦続接続された複数段
の差動アンプAll 、Al1゜・・・・・・と出力側
のインバータI’l、12からなる。
電位■を出力するMOS)ランジスタ、Q21゜Q22
・・・・・・Q44が該トランジスタQ45.Q46の
ゲート制御電圧を供給する増幅部、R11,’R12は
基準電圧Vsを発生する抵抗である。増幅部は駆動部の
出力電圧Vが、基準電圧発生部の出力基準電圧Vsに等
しくなるように制御するもので、縦続接続された複数段
の差動アンプAll 、Al1゜・・・・・・と出力側
のインバータI’l、12からなる。
初段差動アンプAll の一方の入力はVs、他方の入
力はVであり、これらの差の正、逆出力を次段の差動ア
ンプAI2に入力する。以下同様であり、最後は一対の
インバータIt、I2に加わってその一対の出力がMO
3I−ランジスクQ45゜Q46のゲートに加わる。制
御は、V>VsならトランジスタQ45がオフ、Q46
がオン、■〉VsならトランジスタQ45がオン、Q4
6がオフ、こうしてV=Vsにする、というものである
。
力はVであり、これらの差の正、逆出力を次段の差動ア
ンプAI2に入力する。以下同様であり、最後は一対の
インバータIt、I2に加わってその一対の出力がMO
3I−ランジスクQ45゜Q46のゲートに加わる。制
御は、V>VsならトランジスタQ45がオフ、Q46
がオン、■〉VsならトランジスタQ45がオン、Q4
6がオフ、こうしてV=Vsにする、というものである
。
増幅部に多段の差動アンプを用いるのは、駆動部を制御
する電圧、Hレベル側はVccでトランジスタQ45を
充分にオンするもの、またLレベル側はVssでトラン
ジスタQ46を充分にオフするものが望ましいので、差
電圧Vs−V、V−Vsをこれらのレヘルまで持ってく
るためである。このレヘルシフトの目的で、差動アンプ
A11.△12・・・・・・の共通ソース負荷トランジ
スタQ25 、Q30 。
する電圧、Hレベル側はVccでトランジスタQ45を
充分にオンするもの、またLレベル側はVssでトラン
ジスタQ46を充分にオフするものが望ましいので、差
電圧Vs−V、V−Vsをこれらのレヘルまで持ってく
るためである。このレヘルシフトの目的で、差動アンプ
A11.△12・・・・・・の共通ソース負荷トランジ
スタQ25 、Q30 。
・・・・・・は、L/W!J]ちゲート幅/ゲート長を
大にして大gm化する。
大にして大gm化する。
中間電圧Vは前述の対向電極cpへ供給されるが、この
電圧供給系はメモリのワード線及びビット線などと交差
し、これらからの誘導電圧で常に短かい周期で変動して
いる。この変動に対しては電圧調整の必要はない。コン
デンサCIは該電圧調整をさせないようにするもので、
VをVsへ負帰還し短かい周期の変動には増幅部か応動
しないようにする。このコンデンサC1は高抵抗R11
゜RI2と時定数を作るか、上記目的に必要な容量値は
数pF程度(時定数でサイクルタイム程度)の微少なも
のでよい(CPに付く容量は数千pF)ので、該時定数
は問題にならない。
電圧供給系はメモリのワード線及びビット線などと交差
し、これらからの誘導電圧で常に短かい周期で変動して
いる。この変動に対しては電圧調整の必要はない。コン
デンサCIは該電圧調整をさせないようにするもので、
VをVsへ負帰還し短かい周期の変動には増幅部か応動
しないようにする。このコンデンサC1は高抵抗R11
゜RI2と時定数を作るか、上記目的に必要な容量値は
数pF程度(時定数でサイクルタイム程度)の微少なも
のでよい(CPに付く容量は数千pF)ので、該時定数
は問題にならない。
この回路では増幅部はスタティックアンプであって、ク
ロックは必要とせず、また回路も安定している。またス
タティック回路のため広い電源範囲で安定に動作する事
も特長の1つである。
ロックは必要とせず、また回路も安定している。またス
タティック回路のため広い電源範囲で安定に動作する事
も特長の1つである。
第5図は本発明の他の実施例を示す。本例では第3図と
同様に中間電圧■を基準電圧■1と■2の間に収める制
御を行なう。但し、増幅部はグイナミソク回路ではなく
スタティック回路である。
同様に中間電圧■を基準電圧■1と■2の間に収める制
御を行なう。但し、増幅部はグイナミソク回路ではなく
スタティック回路である。
この図で第3図および第4図と同じ部分には同じ符号が
付してあり、これらを対比すれば明らかなように駆動部
および基準電圧発生部は第3図と同じ、増幅部は第4図
を2組備えている。トランジスタQ21 、Q22 、
・・・・・・Q44からなる回路AUがその一方の1
組であり、トランジスタQ5】。
付してあり、これらを対比すれば明らかなように駆動部
および基準電圧発生部は第3図と同じ、増幅部は第4図
を2組備えている。トランジスタQ21 、Q22 、
・・・・・・Q44からなる回路AUがその一方の1
組であり、トランジスタQ5】。
Q52.・・・・・・Q7.4からなる回路ADが他方
の1組である。回路AUは電圧■1と■を比較し、回路
ADは電圧V2とVを比較する。正常状態ではVl>V
>’V2であり、このとき回路AUの出力■はH5■は
り、■はり、■はHとなり、トランジスタQ45がオン
、Q75がオフ、Q 46がオフ、Q76がオンとなり
、出力端Nは電源VccへもVssへも接続されない。
の1組である。回路AUは電圧■1と■を比較し、回路
ADは電圧V2とVを比較する。正常状態ではVl>V
>’V2であり、このとき回路AUの出力■はH5■は
り、■はり、■はHとなり、トランジスタQ45がオン
、Q75がオフ、Q 46がオフ、Q76がオンとなり
、出力端Nは電源VccへもVssへも接続されない。
出力電圧■が相対的に下ってV + > V 2 >
Vとなると回路AUの出力は不要であるが回路ADの出
力は■がH1■がLとなり、トランジスタQ45がオン
、Q75がオン、Q46がオフ、Q76がオフとなり、
出力端NはVccヘプルアンプされ、出力電圧■が上昇
する。
Vとなると回路AUの出力は不要であるが回路ADの出
力は■がH1■がLとなり、トランジスタQ45がオン
、Q75がオン、Q46がオフ、Q76がオフとなり、
出力端NはVccヘプルアンプされ、出力電圧■が上昇
する。
出力電圧■が上ってV>Vl>V2になると回路ADの
出力は正常状態のときと変らないが、回路AUの出力は
■がり、■が土となり、トランジスタQ45がオフ、Q
75がオフ、Q46がオン、Q76がオンとなり、出力
端NはVssヘプルダウンされる。
出力は正常状態のときと変らないが、回路AUの出力は
■がり、■が土となり、トランジスタQ45がオフ、Q
75がオフ、Q46がオン、Q76がオンとなり、出力
端NはVssヘプルダウンされる。
第6図は本発明の更に他の実施例を示す。この図は基準
電圧発生部と、増幅部の初段のみを示すが、増幅部の初
段以降および駆動部は第5図と同じである。第5図では
出力電圧VをVl>V>V2になるように制御し、この
ため2つの基準電圧V+。
電圧発生部と、増幅部の初段のみを示すが、増幅部の初
段以降および駆動部は第5図と同じである。第5図では
出力電圧VをVl>V>V2になるように制御し、この
ため2つの基準電圧V+。
■2を出力する抵抗分圧器を使用するが、第6図では第
4図と同様に1つの基準電圧Vsを出力する抵抗分圧回
路を使用し、しかもv 、 >v>v 2になるような
制御を行なう。このため第6図では増幅部AU、ADの
初段差動アンプのトランジスタQ23とQ24 、Q
53とQ54にはその闇値電圧vthに差を持たせる。
4図と同様に1つの基準電圧Vsを出力する抵抗分圧回
路を使用し、しかもv 、 >v>v 2になるような
制御を行なう。このため第6図では増幅部AU、ADの
初段差動アンプのトランジスタQ23とQ24 、Q
53とQ54にはその闇値電圧vthに差を持たせる。
即ちトランジスタQ24のvthをトランジスタQ23
のvthより高くづ“ると、V>Vsでないとバランス
しないから基準電圧Vsを高くした(V、+にした)の
と等価である。
のvthより高くづ“ると、V>Vsでないとバランス
しないから基準電圧Vsを高くした(V、+にした)の
と等価である。
またトランジスタQ53のvthをトランジスタG15
aのvthより高くすると■くvSでバランスするから
基準電圧Vsを低くした(V2にした)のと等価であり
、結局この第6図の回路も出力電圧VをV + >V>
V 2にする制御を行なう。
aのvthより高くすると■くvSでバランスするから
基準電圧Vsを低くした(V2にした)のと等価であり
、結局この第6図の回路も出力電圧VをV + >V>
V 2にする制御を行なう。
出力電圧■をv1〜■2の範囲内に収める、即ちVが該
範囲内なら制御せず、該範囲を越えると制御する方式は
、消費電力を小にする点で有9JJである。
範囲内なら制御せず、該範囲を越えると制御する方式は
、消費電力を小にする点で有9JJである。
発明の詳細
な説明したように本発明では中間電位発生回路にトラン
ジスタを用い、該中間電位が所望値になるように該トラ
ンジスタを制御する回路にスタティックな増幅およびレ
ベルシフト回路を用いたので、クロックなどが不要な、
安定性のよい、連応性のある、そして低消費電力の該中
間電位出力回路を提供することができる。
ジスタを用い、該中間電位が所望値になるように該トラ
ンジスタを制御する回路にスタティックな増幅およびレ
ベルシフト回路を用いたので、クロックなどが不要な、
安定性のよい、連応性のある、そして低消費電力の該中
間電位出力回路を提供することができる。
第1図はグイナミソクメモリの回路図、第2図は対向電
極に印加する中間電圧を出力する回路例を示す回路図、
第3図は既提案の中間電位発生回路を示す回路図、第4
図〜第6図は本発明の実施例を示す回路図である。 図面でCPは対向電極、■は中間電圧、Q45゜Q46
、Q75 、Q?’6は駆動部のトランジスタ、Rz
、RI2. R3−R5は基準電圧発生部の分圧抵抗
、Q21 、Q22・・・・・・Q44.Q5+ 。 Q52.・・・・・・Q?4は増幅及びレベルシフト部
のトランジスタである。 出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 青 柳 稔
極に印加する中間電圧を出力する回路例を示す回路図、
第3図は既提案の中間電位発生回路を示す回路図、第4
図〜第6図は本発明の実施例を示す回路図である。 図面でCPは対向電極、■は中間電圧、Q45゜Q46
、Q75 、Q?’6は駆動部のトランジスタ、Rz
、RI2. R3−R5は基準電圧発生部の分圧抵抗
、Q21 、Q22・・・・・・Q44.Q5+ 。 Q52.・・・・・・Q?4は増幅及びレベルシフト部
のトランジスタである。 出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 青 柳 稔
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1トランジスタ1キヤパシタ型のダイナミックメモリセ
ルの該キャパシタの対向電極のうちメモリセル・トラン
ジスタとは反対側の電極に、電源電圧の中間の電圧を供
給する中間電位発生回路を備え、 該中間電位発生回路を、電源間に直列に接続されて電源
電圧の分割電圧を該中間電圧として出力する複数個のト
ランジスタを有する駆動部と、電源電圧の分割電圧を基
準電圧として出力する基準電圧発生部と、前記中間電圧
を該基準電圧と比較してその差に従って駆動部のトラン
ジスタをオンオフ制御する出力を生じるスタティックな
増幅及びレベルシフト部とで構成したことを特徴とする
′半導体記憶装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59039839A JPS60185293A (ja) | 1984-03-02 | 1984-03-02 | 半導体記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59039839A JPS60185293A (ja) | 1984-03-02 | 1984-03-02 | 半導体記憶装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60185293A true JPS60185293A (ja) | 1985-09-20 |
JPH0514996B2 JPH0514996B2 (ja) | 1993-02-26 |
Family
ID=12564130
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59039839A Granted JPS60185293A (ja) | 1984-03-02 | 1984-03-02 | 半導体記憶装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60185293A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6284490A (ja) * | 1985-10-09 | 1987-04-17 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JPS63140486A (ja) * | 1986-12-03 | 1988-06-13 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5730193A (en) * | 1980-07-30 | 1982-02-18 | Fujitsu Ltd | Semiconductor storage device |
JPS5733488A (en) * | 1980-06-12 | 1982-02-23 | Rca Corp | Voltage dividing circuit |
-
1984
- 1984-03-02 JP JP59039839A patent/JPS60185293A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5733488A (en) * | 1980-06-12 | 1982-02-23 | Rca Corp | Voltage dividing circuit |
JPS5730193A (en) * | 1980-07-30 | 1982-02-18 | Fujitsu Ltd | Semiconductor storage device |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6284490A (ja) * | 1985-10-09 | 1987-04-17 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JPS63140486A (ja) * | 1986-12-03 | 1988-06-13 | Hitachi Ltd | 半導体装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0514996B2 (ja) | 1993-02-26 |
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