JPS60184456A - 連続鋳造における熱間鋳片の処理方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は連続鋳造直後の熱間鋳片を直送圧延する際の熱
間鋳片の処理方法に関する。

（従来技術） 近年、連続鋳造によって製造された鋳片は、省エネルギ
ー、省力化等の観点から、熱間状態で圧延工程に直送す
る方法が採用されつつあることはよく知られている。

このように熱間状態の鋳片を圧延工程に直送して成品を
製造する際には、この鋳片に発生している疵の種類、大
きさ９位置を検知して早期に熱間千人により除去するか
、あるいは、疵の発生状態によっては、層化する等の圧
延時の有害度の判定を速やかに行なって圧延後の不良成
品発生を防止することが必須となっている。

連続鋳造では、溶鋼をモールド内に注入し、連鋳機内で
冷却して凝固を完了させるために、凝固過程での相変態
による収縮及び、溶鋼静圧、矯正力等によって鋳片位置
別に種々の表面疵が発生する。この内有害な疵の主なも
のは、第１図に示す如く、エツジ割れ１．タテ割れ２．
ヨコ割れ３゜ピンホール４等があシ、シかも、鋳片の割
れの開口幅は、非常に小さく、圧延工場で発生する平担
で幅広い疵とは形状が異なり、疵の検出が容易でない。

従って、従来よシ例えば、特開昭５４−６０２２８号公
報に開示された如く、熱間スラブをデスケーラ−により
高圧水でデスケーリングして後に、走査する方法（以下
単に高圧デスク法と称する）、あるいは特開昭５３−１
３５３７７号公報に開示された如く、交流電流をコイル
巻線に流して交番磁界を発生させて疵を検出する方式（
以下渦電流式と称する）の装置を用いて、熱間鋳片の振
ｐ分けを行なっている。

しかし、前述した如き従来の疵検用法は、熱間鋳片の直
送圧延の際の疵検用法としては、以下に述べる理由から
十分とは言い難い。

まず、高圧デスク法は、既存のスケールを全て除去する
ために、再酸化スケールが生成し検出許容時間に制約が
あり、また、デスケ用水中の不純物の析出等により、誤
検出が生ずるとともに、鋳片エッヂ部は、例えばオツシ
レーションあるいは、凝固収縮の不均一等により、凹凸
状の形状となっているために、エッヂ部は不感帯となり
疵の検出が不可能となる等の欠点を有している。

一方渦電流式は、被検査面から一定の距離に検出コイル
を設置して走査し、インピーダンスの変化により疵を検
出するもので、特に割れ疵のように表面積に対して深さ
方向の拡シを持った疵に有利であるが、熱間鋳片の如く
、該鋳片温度が磁気変態点温度（鋼の場合は約７００〜
８００℃）以上の場合は、疵の検出が不可能となり、ま
た鋳片の幅方向にかなりの温度差がある場合には、この
温度差によりインピーダンスの変化が明確に生じないた
めに、誤検出を招くことから、熱間鋳片を圧延工程に直
送できず冷片で十分手入を行なって後に供給するために
省エネルギーあるいは省力化等の経済損失を余儀なくさ
れている。

（発明の目的） 本発明は、前述した如き従来の疵検用法の欠点を解消し
、同一鋳片のあらゆる部位での疵の検出を精度よく行い
、しかも検出の際に検出許容時間が長く、簡単な設備を
用いて安価に行ない得るとともに、検出種度の向上によ
り、圧延後の成品疵発生を抑止して成品歩留、省エネル
ギー等を図ることを目的とする。

（発明の構成） 本発明は、熱間鋳片のエッヂ部を渦電流式疵検出器で走
査し、広面をブラシ研磨して、光学式疵検用益にて走査
し、次いで該疵の検出値を標準疵判定値と比較識別して
後に、精整ルートを決定する熱間鋳片の処理方法である
。

以下本発明による熱間鋳片の処理方法についてさらに述
べる。

本発明者等は、連続鋳造によシ得られた鋳片の性状と該
鋳片に発生した疵の種類９部位等を考慮して、前述した
如き疵検用益を用いて実験を行なった結果、もつとも疵
検用精度の高い検出法を見い出したことＫよって、該熱
間鋳片を疵の程度に応じて圧延工程に直送するか、ある
いは熱間千人を行なうか等の精整ルートを決定して、圧
延工程に鋳片を熱間で、しかも、無欠陥で供給すること
を成し得た。

即ち、連続鋳造によ勺得られた熱間鋳片は、該鋳片の広
面長手方向において、かなシの温度差が生じていること
、および、鋳片コーナ部から広面長手方向に２００ｗ以
内の広面と狭面とを含めた部位（以下単にエッヂ部と称
する）は、鋳片表面のオツシレーション、あるいは、凝
固収縮不均一等により、凹凸が形成されていることを見
い出した。さらにこの温度差、および形状不良は、例え
ばレーザービーム、水銀灯とＩ　ＴＶ、あるいは写真法
等の光学式疵検用益で走査した場合には、ニップ部に当
る位置に異常検出が発生して、実際の鋳片に疵がないに
もかかわらず検出値は疵がある値を示すことを知得した
。

また、単に検出コイルの電磁力等による例えは、直交イ
ンピーダンス、交叉コイル、ロータリーディスク等の渦
電流式疵検出器で走査する際には、広面長手方向の温度
差が大きいために誤検出が発生して広面全部の疵の検出
が不可能となる。特に渦電流式においては、鋳片温度が
鋼の磁気変態点外である７００〜８００℃を除く範囲で
、しかもスケールの磁気変態点外である５８０℃以上で
行進直後の鋳片の広面は７００℃以上であり、逆にニッ
プ部は十分冷却されて鋼の磁気変態点外である７００℃
以下となっておシ、前述の鋼とスケールの磁気変態点か
らニップ部か広面のいずれかの温度が常に外れているこ
と等を繰り返し実験で知見した。

而して本発明は、熱間鋳片の広面は温度差に影響されな
い光学式の疵検出器で走査し、一方、エッヂ部は鋳片形
状に左右されない渦電流式疵検吊器で走査することによ
って、該熱間鋳片に生成した全部位の疵を高精度で且つ
安定して検出し、各各単独か、あるいは総合の検出値と
、あらかじめ経験でめた疵の筒数、大きさ等により設置
された疵の標準判定値とを比較して後に、熱聞手入れの
程度、もしくは圧延直送等の精整ルートを決定すること
を可能にし得たことにある。

ここで、渦電流式疵検吊器で走査するエッヂ部は、鋳片
コーナーから広面長手方向に２００間より大きくなると
、該鋳片の広面長手方向は温度差が大きくなっているこ
とから誤検出を生ずる。

また、本発明においては、熱間鋳片自体の温度がニップ
部と広面とでは常に異なることから、例えば一般に用い
られている均一保熱もしくは、均一冷却装置を設けてい
ない場合には、まず渦電流式検出器でニップ部を走査し
て後に、ブラシ研磨して表面に付着したスケール、燐酸
塩等の除去と表面凹凸を平滑にして後に、光学式疵検出
語にて走査することが鋳造直後の鋳片温度の分布状態か
らして望ましく、安定した検出精度と直送する熱間鋳片
温度を極めて高い状態で後工程（圧延）に供給できる。

また、光学式疵検出語で熱間鋳片の広面を走査する際に
は、前処理として従来の高圧デスク、もしくはホットス
カーフ等を行うと、再酸化スケールの生成と燐酸塩の析
出、あるいは、溶剤による表面凹凸の形成等による誤検
出を生じるので、ブラシによる表面研磨がもつとも好ま
しく、極めて高い安定した疵の検出精度が得られる。

（実施例） 次に、本発明による熱間鋳片の処理方法の一実、Ｍ例ρ
いて述べる。

第１図は前述したように連続鋳造による鋳片の有害疵の
一例を示し、第２図は、本発明による熱間鋳片の処理方
法の一実施例を示す。

まず、鋳片１４は既知の如く取鍋５からタンディツシュ
６を経てモールド７に注入され、該モールド内−次冷却
で凝固を開始し、スプレー水９の散水により二次冷却帯
１８でロール８で支持されなから連鋳機本体１０で凝固
を終えて機外に引き抜かれて機端出側に設けられたエツ
ジ用の例えば、直交インピーダンス、交叉コイル、ロー
タリーディスク等の渦電流式疵検吊器１２で走査する。

この際、被検材の磁気変態点での走査を回避する為、連
鋳機本体１０におけるスプレー水９によって、あらかじ
め鋳片表面温度を制御すると共に、渦電流式疵検吊器の
前方に配置された表面温度計１１で疵探傷可否情報を渦
電流式疵検吊器１２にフィードバックしておシ、該鋳片
１４の温度が高い場合は、前記のスプレー水９を増加し
て所定の温度まで下げる。

エツジ部１９の探傷が終了した鋳片は、酸素ガスカッタ
ー１３で切断された後、ブラシ研磨機１５で研磨され、
断面マーキング１６を終えて後、鋳片表面温度が９００
℃以下になった位置で、例えばレーザービーム、水銀灯
とＩＴＶ　等の光学式疵検出語１７で走査される。

ニップ専用の渦電流式疵検吊器１２と光学式疵検出語１
７とで得た疵検査情報は、計算機（図示せず）で鋳片部
位毎に処理され、スラブ分岐点Ｃに至るまでに鋳片１４
の′４１１１整ルートが決定される。

許容疵範囲内のものは、圧延工程への直送ラインＤに、
また軽微熱間手入を要するものは、熱間マシンスカーフ
ライン］ｌｉｔ［、さらに重度の疵に関しては更生切断
、及び冷片千人ラインＦ等に自動的に分岐されることに
よって、迅速かつ簡素化された精整プロセスを完了し、
圧延ラインに多くの熱間状態の鋳片１４をよシ高温で、
しかも無欠陥で供給できる。

次に、３５０ｔ　の連鋳機で、Ａｔ−に鋼の熱間鋳片を
熱延工場に直送した場合の具体例で、本発明法を従来法
と比較して表−１に示す。

表−１かられかるように、従来の渦電流式あるいは光学
式の疵検出器を夫々単独に用いた場合には、鋳片の性状
や研磨不良による影響から誤検出が多く、結果として成
品歩留が悪化している。これに対して本発明法では、疵
の検出積度が極めて高く、シかも安定しているため邑誤
検出が殆んど１なく、成品歩留も極めて良好であり、圧
延疵を除くと欠陥は全くなく、加熱ガス量も大巾に節減
され、且つ手入工程もかなり集約化された。

１ 注）＊１は鋳片形状の内特に鋳片のそシ返りに対する影
響＊２は従来法においては殆んど冷片にて手入後に圧延
するため、加熱ガス量が極めて増加するので冷片との比
較を示１他の項目は敢えて熱間処理した際の成績を示す
。

＊８は圧延疵（圧延により発生するもの）を含む値を示
す。

２ （発明の効果） 以上述べた如く本発明による熱間鋳片の処理方法を用い
ることによシ、従来は疵の誤検出による過剰手入による
損失、あるいは疵の見落しによる圧延波の成品不良の多
発等から、冷片処理しかできなかった連続鋳片を熱間で
、しかも無欠陥状態にて圧延を可能にできるとともに、
極めて成品歩留も高く、且つ、省エネルギー化を達成す
ることができる。また、従来の疵検用器を各々の条件に
応じて適用する簡単な方法でもって、鋳片の性状の影響
を受けることなく鋳片全部位の疵を高精度でしかも安定
して検出し、疵の程度に応じた最適の手入を行なうこと
カ゛′できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は連続鋳造による鋳片の有害疵の一例を示す斜視
図、第２図は本発明による熱間鋳片の処理方法の一実施
例を示す概略説明図である。 １・・・ニップ割れ、２・・・タテ割れ、３・・・ヨコ
割れ、４・・・ピンホール、５・・・溶鋼取鍋、６・・
・連鋳タンディツシュ、７・・・連鋳モールド、８・・
・ロール、９・・・スプレー水、１０・・・連鋳機本体
、１１・・・表面温度計、１２・・・渦電流式疵検用器
、１３・・・酸素ガスカッター、１４・・・熱間鋳片、
１５・・・ブラシ研磨機、１６・・・鋳片断面マーキン
グ装置、１７・・・光学式疵検用器、Ａ・・・鋳片引抜
き方向、Ｂ・・・連鋳モールド振動機、０・・・連鋳ス
ラブ精整ルート分岐点、Ｄ・・・熱間鋳片直送ライン、
Ｅ・・・熱間マシンスカーフライン、Ｆ・・・更生切断
及び冷片千人ライン。 代理人　弁理士　秋　沢　政　光 他２名

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １（１）連続鋳造によシ得られた熱間鋳片のエッヂ部を
   渦電流式疵検出語で走査するとともに、ブラシ研磨した
   該熱間鋳片の広面を光学式疵検重器で走査し、次いで、
   該疵の検出値を標準疵判定値と比較識別して後に、精整
   ルートを決定することを特徴とした連続鋳造における熱
   間鋳片の処理方法。