JPS6016583A - たばこ加工工業の棒状製品の被覆を光学的に検査する装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野： 本発明は製品を１列に検査ゾーンを通して軸と直角方向
に輸送するだめの回転する輸送装置および検査ゾーンに
対して配置した光学的検査機構を有し、光学的検査機構
か検査ゾーンを通過する各製品のＩＩＩＩＩＩと平行の
周面部分を照明する照明装置および製品表面で反射した
光を検知するため照明された製品表面の棟／Ｚの長さ部
分に対応して配置した１列のオデトエＬ／りトロニソ、
り検知素子を有するオプトエレクトロニックセンサ装置
からなる、たばこ加工工業の棒状製品の被覆を光学的に
検査する装置に関する。

たし４−こ加工工業の棒状製品とは本発明の場合たはこ
、たはこ代用品：ｔ６よびフィルタ材料から製造したシ
ガレット、フィルタンガレット等の製品を表わす。した
がって以下に単にシガレットという場合他の製品も含ま
れる。

従来の技術および発明が解決しようとする問題点ニ シガレットはその製造過程の終りに製造に基く欠陥を検
出し、欠陥シガレットを選別するため、通常圧縮空気に
よる最終検査が行われる。

しかしこのような圧縮空気検査装置によれはすべての欠
陥は検出されない。すなわちしはししま被覆に欠陥が見
えるにもかかわらず、これ′１０Ｊ′＝圧縮空気検査で
は検知されず、かつ検知することができない。たとえば
この欠陥が１出然にたばこ繊維によって気密に蔽われた
被覆中の孔である場合、この孔は圧縮空気により検知で
きな（・。

継目部に介在するたばこ屑も圧縮望気により検出できな
い。フィルタシガレットの場合たとえば不完全に接着し
た巻紙片および突出する紙片も圧縮空気検査によれば検
出されなし・。湾曲したまたは凹んだシガレットも圧縮
空気検査て゛（ま欠陥品として検知されない。

孔、斑点、接着剤残置またはスタンプ印刷の脱落もしく
は欠陥のようなシガレット被接の目に認めうる欠陥を検
出するため、シガレット棒な個々のシガレットに切断す
る前に光学的に検査することは公知である。しかしこの
検査は製造過程の早期に行われるので、分ｙ＋［したｆ
ｆＷ／ｚのシガレットに初めて発生ずる被覆の欠陥は検
出することができない。これ（ま付加的検査装置で検出
しなけれはならない。

西独公開特許公報第２８４０６１７号によって軸と直角
に輸送する個々のまたはダブルシガレットの表面を光学
的（（走査するこのような検査装置が公知である。これ
によれは７ガレソトは順次検査ゾーンに送られ、ここで
静止して１回その縦軸を中心に３６００回転される。こ
の場合シガレットの全長にわたつ−（拡がる周面部分が
照明され、反射光が光電検知器で測定される。シガレッ
トの全周面を走査しうるように、シガレットをその縦軸
を中心に回転することが盛装であり、これは大きい機械
的負荷を意味（２、それによって再びシガレットの損謁
をきたすことがある。

西独公開特許公報第３Ｃ１０１４０号によって軸と直角
に送るシガレットの表面を光学的に走査する他の光学的
検査装置が公知である。この場合各ンガレソトの１つの
周面部分が検査ゾーン通過の間照明され、ラインカメラ
によって走査される。この装置によれはシガレットの全
周面を検査することができない。それゆえこの装置によ
れは検査したシガレットの無欠陥性を信頼性をもって断
定することができない。シガレット全体を検査しなけれ
ばならない場合、ここでもシガレットをその縦軸を中心
に回転することが必要である。しかしこれを可能にする
装置はこの公報には示されていない。

本発明の目的は製品をできるだけ注意深く取扱いながら
製品全表面の状態に関する信頼しうる情報が保証される
、たはこ加工工業の棒状製品を光学的に検査する改善さ
れた検査装置を得ることである。

問題点を解決するだめの手段二 この目的は本発明により検査ゾーンが少なくとも１つの
第１および第２倹査・ア−ンシ有し、各検査ゾーンに対
して少なくとも１つの光学検査機構が配置され、第１検
査・ゾーンを通過する際かげになった製品の周面部分が
第２倹奔ゾーンを通過する際光学検査機構に而すること
によって解決される。とくに木兄ψ］によれば各検査ゾ
ーンに対して少なくとも２つの光学検査機構が配［Ｕさ
れ、これらが検査ゾーンを通過する製品の隣接する軸平
行の周面部分を照１力および走査する。本発明のとくに
有利な実施例によれは各倹企ゾーンに苅して２つの光学
検査機構が互し・に約９０°の角距離で、かつ製品の輸
送面に対し約４５°の角度で、製品の輸送面内を走る軸
平行の共通の交線に対して半径方向に配ｆｈ゛される。

このような装置によれは１つの検査ゾーンの検査機構に
面する製品全表面の完全な走査が製品表面におけるほぼ
同じ反射東件のもとに可能て゛ある。製品周縁範囲の欠
陥がほとんどまたはまったく検出し得ない接線方向にか
すめる入射光の反射測定は装置のこの形成によれは必要
がない。

製品の全表面すなわち第１検査ゾーンでかくれた製品の
面も光学的に走査しうるように、本発明の他の形成によ
れは奇数の移行部を有する２つの離れたコンベアが備え
られ、その際第１険育ゾーンが第１コンベアに配置され
、第２検査ゾーンが第２コンベアに配置される。有利に
第１および第２検査ゾーンは直接前後に続く２つのコン
ベアに配置され、各検査ゾーンに対して少な（とも２つ
の光学検査機構が配置される。

この方法で第１コンベアの検査ゾーンで製品表面の１つ
の半分か、第２コンベアの第２険査ソゝ−ンで製品表面
のそのときまでかくれていた半分が検査される。

照明装置としてとくに検査すべき製品と平行に配置した
先棒が備えられ、この先棒はただ１つの光源または１列
の個々の光源からなることができる。

照明装置から製品表面へ、および製品表面から光学検査
機構へできるだけ高い強度の光の伝達を保証するため、
本発明によれは照明装置から発する光を検査ゾーンな通
過する製品の対応する周面へ集光する光学系を備え、さ
らに製品表面で反射した光をオプトエレクトロニソクセ
ンザ装隘へ集光する第２光学系が備えられる。

第２光学系は製品表面の照明された周面部分の種々の長
さ部分で反射した光をオフ０トエレクトロニツクセンサ
装置の種々の検知素子へ集光する。このようにして検査
装置の高い位置分解能が達成される。できるだけ良好な
光の集束および集光を達成するため、光学系としてとく
に光学レンズおよびミラー系を備え、照明装置″から発
する光の光路および製品表面で反射した光の光路は一部
いっしょに導かれる。この方法で装置の非常にコンパク
トな構造的形成および光の最適の案内が達成される。

先棒から発する光は本発明によりシガレット全長にわた
って拡がる狭い製品周面部分へ集光する。この場合光は
光カーテンを形成し、製品はそれぞれの検査ゾーンを送
られる際この光カーテンを通過する。その際シガレット
の各所望の周面部分が順次線状に走査される。しかし本
発明によれば１つの検査ゾーン内の１つの光学検査機構
に対応する製品の全周面を完全に照明し、この周面部分
で反射した光をオゾトエレクトロニソクセンサ装置の検
知素子の列へ集光することもできる。しかしこの場合オ
プトエレクトロ二ック検知素子からなる２次元的アレイ
として形成したオフ０トエレクトロニツクセンサ装置が
有利である。光学系は検査ゾーンを通過する製品の照ｌ
Ｉｌされた周面部分の２次元的結像をアレイ上へつくる
ように形成される。この像はその際線状に走査および評
価される。オフ０トエレクトロ二ツク検知素子からなる
２次元的アレイ上に製品の照明された周面部分を２次元
的に結像する場合のため、本発明によれはさらにレンズ
およびミラー系は結像倍率を少なくとも１つの次元で変
化する手段を備える。この方法で有利な結像倍率を得る
ことができる。結像倍率を変化するため、照明装置から
発した光を検査ゾーンを通過する製品の周面部分へ集光
し、製品表面で反射した光をオフ０トエレクトロニノク
センサ装置へ集光するだめのレンズおよｉＱ’　ミラー
系は円筒レンズを有することができる。

各検査機構のすべての検知素子は共通の評価回路へ接続
し、この回路は検知素子から製品表面で反射した光の強
度に応じて発する１ｌｔｌｌ定信号が所定の標準値信号
と異なる際、制Ｈ信号な発生ずるための少なくとも１つ
の比較素子を有する。

本発明により有利に棒状製品の表Ｊ口の完全な光学的検
査か可能になり、小さい構造費用でつねに製品の注意深
い取扱いが保証される。本発明による表面検査は孔、汚
れ、斑点、接着剤残置および印刷の脱落または欠陥のよ
うな欠陥だけでなく、変形、製品の正しく・または欠陥
ある組立、折曲りだフィルタ、巻紙のひだ、巻紙の突出
片および突出する紙のかどに関する情報が得られる。そ
れゆえ本発明の装置によりたばこ加工工業の軸と直角に
送られる棒状製品の包括的表面検査が可ｋｇになる。

実施例： 第１図には本発明による光学的検査装置の原理的構造が
略示される。１および２で溝ロールの形の２つの回転す
るコンベアが表わされる。

各コンベアはその周縁に公知のように軸平行の溝３を有
し、そのうち簡単のためそれぞれ２つだけが示される。

図示されていない公知の接続手段を介して荷へ導かれる
吸引空気によって、溝３に倹丘ずべき棒状製品４たとえ
はフィルタンガレットか保持され、軸と直角に矢印で示
す方向に送られる。移行部６で製品４は公知の方法で第
１コンベア１かも第２コンベア２へ移行する。

検査ずべき製品４は第１コンベア１上で検査ゾーン７を
通過し、このゾーンへ第１光学検査装置８が配置される
。検査すべき製品４が第２コンベア２上で通過ずろ第２
倹査ゾーン９へ第２光学検査装置８が同様に配置される
。本発明の提案による検査ゾーンの第１および第２検査
ゾーンへの分割−により第１検査デー７７を通過する際
製品表面の第１光学倹査装置８に面する半分１２の検査
後、第１コンベア１上の輸送の際かくれた部分１２′の
周面を、第２コンベア２上で第２検査ゾーン９を通過す
る際第２光学検査装置ＢＫ向けて走査することが保証さ
れる。

このように製品表面の完全な光学的検査が本発明の提案
による装置によって可能である。第１図は直接隣接した
配置で第１および第２コンベアを示す。しかし本発明に
よる装置の目的はこれら２つのコンベアの間に奇数の移
行部６かある限す、コンベア１および２が直接前後に・
続かない場合も充足される。この場合も検査ずべぎ製品
１のコンベア１上でかくれた表面半分ばコンベア２上で
外側に面し、光学的走査が可能である。

各光学検査装置８はそれぞれの検査ゾーンへ配置した２
つの光学検査機構１３および１３′からなり、その構造
は同じなので、第１図ではその細部は同じ参照番号な備
える。各光学検査機構は検査ずべき製品の軸と平行に配
置した先棒１４の形の照明装置を有し、この先棒は１つ
の長く拡がる光源または１列に隣接配置した個々の光源
からなる。レンズ１６および半透ミラー１７によって先
棒１４から発した光は検査すべぎ製品の露出した表面の
隣接する周面部分１２ａまたは１２ｂ・＼当る。光路の
側面を仕切るためスリット絞り１１が備えられる。

周面部分１２ａおよび１２ｂで反射した光の強さを測定
するためオプトエレクトロニソクセンザ装置１８を備え
、光は半透ミラー１７を通過した後レンズ１９によりこ
の素子へ集光される。光源から発した光および反射され
た光はこの場合半透ミラーと製品表面の間はいっしょに
導かれ、それによってとくに好ましい反射条件か得られ
る。半透ミラー１７は小部分の光を反射し、大部分を透
過するように形成される。このようにして反射光の大部
分はオゾトエレクトロニソクセンサ装置１Ｂに達し、そ
れによつ−（検査装置の感度が上昇する。同時に照明装
置から発した光の大部分が半透ミラーでの透過のため製
品表面に達しないことは少なくとも一部出力の高い照明
装置を使用することによって補償することができる。

第６図に示ずようにセンサ装置１８は１列のオゾトエレ
クトロニソク検知素子１８ａ〜１８ｈからなり、この列
は第３図には検査ずべきフィルタシガレットとして示さ
れる検査ずべき製品４の軸と平行に走る。第６図はさら
に個々のオテトエレクトロニツク検知素子１８ａ〜１８
ｈがそれぞれレンズ装置１９および検査ずべき製品４の
長さにわたって拡がる共通の半透ミラー１７を介して、
検査ずへき製品４の照明された周面部分の隣接する長さ
部分４ａ〜４ｈに対して配置されることも示す１．長さ
部分４ａ〜４ｈは検査ずべぎ製品４の全長にわたる隙間
のない検査を保証するためその境界は少し重なることが
できる。検査ずべぎ製品４を分割する長さ部分の政およ
びそれによってあらかじめ与えられる線状センサ装置１
８の検知素子の数がほぼ本発明の検査装置の分解能およ
び感度を決定する。

光学検査機構１３および１３′のミラーおよびレンズ系
とそれぞれの検査ゾーンの間に光学レンズおよびミラー
系の汚れを防ぐ透明窓２１がある。

第２図には検査ずべき製品４の検査ゾーン７または９を
通る輸送軌道か略示される。光学検査機構１３および１
３′は第１図で説明したように形成される。この機構は
製品軸と平行の先棒１４を有し、その光しまレンズ１６
および半透ミラー１７を介して検査ゾーン７に達する。

反射された光は半透ミラー１７で一部反射され、レンズ
系１９によりセンナ裟晶１８に集光する。

この場合もセンサ装置は第６図に示すように検査すべき
製品４の軸と平行に配置したそれぞれ１列の検知素子で
ある。光学検査（幾構１３および１３′の光路２２およ
び２２′は製品４の輸送面２４内の軸と平行の線２３で
交わる２つの光カーテンを形成する。第２図には製品の
輸送面は１ｍ単のため平面に示される。しかし第１図に
示すように輸送面はコンベア１および２０周部面応じて
湾曲して走る。

第１および２図は光学検査機構１３および１３′のとく
に有利な配置を示し、倹’ｆｉ・Ｂ　４：＃　ｉｌｌ：
互いに約９０°の角距離で、製品の輸送面に苅し約４５
°の角度で、製品の輸送面にある１１１１平行の共通の
交＃Ｉ２３に対して半径方向に配置される。

この配置によって第１Ｍに示すように各光学検査機構１
３および１３′が製品表面のコンベア１上で゛露出する
表面１２の半分を包囲する局面部分１２ａまたは１２ｂ
を走査することか達成される。検査すべき製品のコンベ
ア１上で・か（れり表１ｕ１２’はコンベア２で外１１
１１１を向キ、ソコテ本発明により第２光学倹査装胎８
によって光学的に走査される。検査ずべ％ｐ品の表Ｗ１
欠陥が接線方向にかすめる光線入射のためまったくまた
はごく少ししか測定可能の反射変化に作用しない周縁範
囲は測定に介入しない。各検査機構１３および１３′は
検査ずべき製品の、反射の差が製品表面の状態に関する
確実な情報を可能にする局面部分のみを走査する。

第２図は検査すべき製品４の検査ゾーン７を通る運動経
過を示す。運動は矢印によって示す方向へ進む。検査す
べき製品４の輸送面を表わす線の下にある部分はそれぞ
れのコンベア装置の溝内にあるので、光学検査機構１３
および１３′で走査されない。

第２図に鎖線で示す位置Ａで検査すべぎ製品４はちょう
ど第１倹査機ｆ１１１３の光路２２へ入り、その表面は
光学検査機構１３の先棒１４から発する光を反射し始め
る。センサ装置１８のずべての検知素子１８ａ〜１８ｈ
が光路へ入った製品４からの反射光を同時に受光する場
合、製品はその所望の円筒形を有する。製品４の形が円
筒形からずれている場合、検知素子１８ａ〜１８ｈのう
ちの数個は他より遅れて受光し、これが所定の限界匝を
超える場合欠陥信号が発せられる。このようにして湾曲
または変形した製品は本発明の装置によって検知し、選
別することができる。

検査すべき製品４が第２図に破線で示す位置Ｂに達する
と、反射測定にとくに適する局面部分１２ａが光学検査
機構１３の光路２２へ入る。

それによってこの局面部分１２ａで反射した光の強度測
定が始まり、その直孔、汚れ、接着剤残置等の欠陥が確
実に検出される。

同時に位＃Ｂの製品４は光学検査機構１３′の光路２２
′へ入る。ここで周面部分１２ｂはただちに光学検査機
構１３′の検知素子１８ａ〜１８ｈの測定範囲へ達する
ので、この位置Ｂでもただちに反射ｄ１１］定か始まり
、局面部分１２ｂの表面欠陥が検出される。

検査ずべき製品４の実線で示す位置Ｃは第１図に示すコ
ンベア１および２上の検査ゾーン７および９の製品位置
に相当する。この位置で先棒１４から発した垂直に入射
する光は垂直に反射される。ここて光学検査機構に対す
る製品表面の反射能は最大である。

次の破線で示す位置りで製品４は第１検査機構１３の光
路２２から出る。同時に周面部分１２ｂは第２検査機構
１３′の光路範囲２２′を去る。

最後の鎖線で示す位置Ｅで製品４は第２光学検査機構１
３′の光路２２′からも出る。ここでセンサ装置１８の
ずべての検知素子１８ａ〜１８ｈがもはや同時に反射光
、を受光しない場合、検査した製品４はこの位置でその
所定の円筒形を有する。製品の形が円筒形からずれてい
る場合すなわち製品が湾曲しまたはこの位置で凹みを有
する場合、検知素子１８ａ〜１８ｈは異なる時間で製品
表面の反射の終了を記録し、相当する欠陥信号を発する
。

頂点で重なってもよい周面部分１２ａおよび１２ｂは検
査ずべぎ製品のコンベア１上で輸送する間露出する全表
面を包括するので、検査ゾーン７の通過により製品表面
の１つの半分の光学走査が可能になる。コンベア１上の
輸送の間かくれた他の半分の表面を検査するため、検査
すべき製品は移行部６を介して第２コンベアに引渡され
、ここで・この部分の表面が露出し、第２倹査ゾーン通
過の際同様の方法で走査される。

第４図は本発明の装置の他の実施例を示す。

この場合もコンベア１（または２）は軸平行の溝３を備
え、この中で検査すべき製品４は軸と直角方向に検査ゾ
ーン７（または９）を通１７て送られる。第１および２
図で説明したように形成しうる図示されていない照明装
置はそれぞれ溝内で露出している製品表面の周面部分１
２ａまたは１２ｂを照明する。センサ装置として多数の
並列オシドエレクトロニック検知素子からなる２次元的
に形成した検知素子アレイ２６が備えられる。第５ａお
よび５ｂ図には並列オプトエレクトロニック検知素子２
７からなるこのような検知素子アレイ２６が示される。

製品表面の周面部分１２ａおよび１　’２　ｂで反射さ
れた光を検知素子アレイ２６へ集光するレンズ系１９に
もっばら球面レンズを使用する場合、検知素子アレイ２
６へ倹介すべぎ製品のそれぞれの周面部分の第５ａ図に
示す結像２８が発生ずる。

周面部分の点状欠陥はこの結像に暗い斑点２９として現
れる。レンズ系１９に円筒レンズを使用すれは１方向に
結像倍率が変化するので、検知素子アレイ２６上に検査
ずべぎ製品の１つの次元に拡大した結像３１が現れる。

製品の表面に点状に現れる欠陥は円筒レンズ開用の直線
３２として結像し、これは反射測定の際もちろん大きい
信号を発する。それゆえ検知素子アレイを円筒レンズと
ともに使用すれは本発明の装置の測定精度上昇が可能で
ある。第４図には１７で同様半透ミラーが示され、この
ミラーは図示されていない光（′ｌ’ｌｊがら発する光
を周面部分１２ａおよび１２ｂの方向へ向ける。

第６図にはオシドエレクトロニック検知素子１８ａ〜１
８ｈがら発する信号の評価装置が著しく簡単化して示さ
れる。各検知素子１８ａ〜１８ｈの出力は磯椋のリズム
に応じてクロックディスク３６を介して共通のクロック
発信器３４からクロックを受ける限界値素子３３ａ〜３
３ｈと結合する。すべての限界１直素子３３ａ〜３３ｈ
の出力は共通のオアヶゞ−ト３７の入力側と結合し、オ
アヶゞ−トの出力は同様クロック発信器からクロックを
受けるシフトレジスタ３８の入力側と結合する。ソフト
レジスタ３８の出力は増幅器３９を介して吹出弁４２の
電圃作動器′白４１と結合する。検知素子１８ａ〜１８
　ｂの１つの測定信号が後置の限界値素子３３ａ〜３３
１）によつ−Ｃあらがじめ与えられた限界値を上または
下へ超えると、それぞれの限界値素子３３ａ〜３３ｈの
出力に欠陥信号が現れ、この信号はオアヶゞ−ト３７を
介してシフトレジスタ３８の入力端に達する。ここでこ
の欠陥イー号は欠陥ありと認めた製品が排出部に達する
まで遅延される。この瞬間に電（ｉＢ作動器官４１はシ
フトレジスタから発する欠陥信号により増幅器３９を介
して励起されるので、吹出弁４２が開き、欠陥製品は排
出される。多数のオフ０トエレクトロニツク倹知素子１
８ａ〜１８ｈが同時に欠陥信号を発する場合同じ経過が
生ずる。

発明の効果： 前記説明から明らかなように本発明の装置によって、軸
と直角方向に輸送する製品の全表面を隙間なく光学的に
走査することができる。この場合暗く現れる孔および斑
点汚れ、明るく現れる接着剤残渣および欠陥スタンプ印
刷のような表面自体の欠陥が検出されるだけでなく、表
面走査を介して製品の形も検査することができる。湾曲
した、折れたおよびつぶれた製品ならびに突出する巻紙
片および突出する紙のかども本発明の装置により検出さ
れる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による光学的検査装置の原理を示す図、
第２図は検査すべぎ製品の検査ゾーンの通過状態を示す
図、第６図は本発明による光学的検査装置の評価部の原
理を示す図、第４図はもう１つの実施例の原理を示す図
、第５Ａ図および第５Ｂ図は２次元アレイ上の製品の像
を示す図、第６図は１列のオプトエレクトロ二ツぐ検知
素子を有するセンサ装置のための評価回路図である。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、　製品を１列に検査ゾーンを通して軸と直角方向に
   輸送するだめの回転する輸送装置および検査ゾーンに対
   して配置した光学的検査機構を有し、光学的検査機構が
   検査ゾーンを通過する各製品の軸と平行の周面部分を照
   明する照明装置および製品表面で反射した光を検知する
   ため照明された製品表面の種々の長さ部分に対応して配
   置した１列のオプトエレクトロニック検知素子を有する
   オプトエレクトロニックセンサ装置からなる、たはこ加
   工工業の棒状製品の被接を光学的に検査する装置におい
   て、検査ゾーンが少なくとも１つの第１および第２検査
   ゾーン（７，９）を有し、各検査ゾーン（７，９）に対
   して少な（とも１つの光学的検査＠構（１３，１３’）
   が配置され、第１＠査ゾーン（７）を通過する際遮蔽さ
   れた製品（４）の周面部分（１２’）が第２検査ゾーン
   （９）を通過する際光学的検査機構（１３，１３’）に
   而することを特徴とするたばこ加工工業の棒状製品の被
   接を光学的に検査する装置。 ２、各検査ゾーン（７，９）にλ・」シて少なくとも２
   つの光学検査機構（１３，１３’）が輸送面（２４）Ｋ
   対し異なる角度のもとに配置され、この機構が検査ゾー
   ンを通過する製品（４）の軸と平行の隣接する周面部分
   （１２ａ。 １２ｂ）を照明および走査する特許請求の範囲第１項記
   載の装置。 ６、各検査ゾーン（７，９）に対して２つの光学検査機
   構（１３，１３’）が互いに９０°の角距離および製品
   の輸送面に対し４５°の角度で、製品の輸送面内にある
   軸と平行の共通の交線（２３）に対して半径方向に配置
   されている特許請求の範囲第１項または第２項記載の装
   置。 ４、奇数の移行部（６）を有する２つの離れたコンベア
   （１，２）を備え、第１検査ゾーン（７）が第１コンベ
   ア（１）に、第２検査ゾーン（９）が第２コンベア（２
   ）に配置されている特許請求の範囲第１項から第６項ま
   でのいずれか１項に記載の装置。 ５゜照明装置（１４）として検査すべき製品（４）と平
   行に配置した先棒を備えて（・る特許請求の範囲第１項
   から第４項までのいずれか１項に記載の装置。 ６、　照明装置（１４）から発する光を検査ゾーン（７
   ，９）を通過する製品（４）のそれぞれの周面部分（１
   ２ａ、１２ｂ）へ集光する第１光学系（１６，１７）お
   よび製品表面（１２）で反射した光をオフ０トエレクト
   ロニツクセンザ装＃（１８）へ集光する第２光学系（１
   ７，１９）を備えている特許請求の範囲第１項から第５
   項までのいずれか１項に記載の装置。 ７、　第２光学系（１７，１９）ａ″−製品表面の照明
   した周面部分（１２ａ、１２ｂ）の種々の長さ部分（４
   ａ〜４ｈ）で反射した光をオフ０トエレクトロニツクセ
   ンサ装置（１Ｂ　）ノ種種の検知素子（１８ａ〜１８ｈ
   ）へ集光するように形成および配置されている特許請求
   の範囲第６小記載の装置。 ８、　光学系として光学レンズおよびミラー系（１６，
   １７，１９）を備え、照明装置（１４）から発した光お
   よび製品表面（１２）で反射した光の光路（２２，２２
   ’）が部分的に一致している特許請求の範囲第１項から
   第７項までのいずれか１項に記載の裟櫛。 ９Ｊトエレクトロニツクセンサｔ［（１８）がオフ０ト
   エレクトロ二ソク検知素子（２７）の２次元的プレイ（
   ２６）として形成さＪｔ。 光学系（１７，’１９）かこのアレイへ検査ゾーン（７
   ，９）を通過する製品（４）の照明された周面部分（１
   ２ａ、１２ｂ）σ）２次元的結像（２８，３１）をつく
   る特許請求の範囲第１項から第８項までのいずれか１項
   に記載の装置。 ｉｏ、レンズおよびミラー系（１６，１７，１９）が少
   なくとも１つの次元の結１象倍率を変化する装置を含む
   特許請求の範囲第９項記載の装置。 １１、照明装置（１４）から発した光を検査ゾーン（７
   ，９）を通過する製品（４）の周面部分（１２ａ、１２
   ｂ）へ集光し、製品表面（１２）で反射した光をオフト
   エレクトロニツクセンザ装置（１８）へ集光するレンズ
   およびミラー系（１６，１７，１９）が円筒レンズ（１
   ９）を有する特許請求の範囲第１項から第１０項までの
   いずれか１項に記載の装置。 １２、各検査を幾構（１，３，１３’）のすべての検知
   素子（１８ａ〜１８ｈ）か共通の評価装置に接続され、
   この評価装置が、検知素子から製品表面（１２）で反射
   した光の強度に応じて発する測定信号が所定の標準値信
   号と異なる際制御信号を発するため、少なくとも１つの
   比較素子（３３ａ〜３３ｈ）を有する特許請求の範囲第
   １項から第１１項までのいずれか１項に記載の装置。