JPS60152912A - 温度補償回路 - Google Patents

温度補償回路

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Publication number
JPS60152912A
JPS60152912A JP59008825A JP882584A JPS60152912A JP S60152912 A JPS60152912 A JP S60152912A JP 59008825 A JP59008825 A JP 59008825A JP 882584 A JP882584 A JP 882584A JP S60152912 A JPS60152912 A JP S60152912A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
resistor
circuit
terminal
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP59008825A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsutomu Ishihara
力 石原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP59008825A priority Critical patent/JPS60152912A/ja
Publication of JPS60152912A publication Critical patent/JPS60152912A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D3/00Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
    • G01D3/028Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure
    • G01D3/036Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、半導体変換器の温度上昇にともなう出力感度
の変化を補償する温度補償回路に関し、特に半導体検知
素子から成る検出回路に適当な温度特性を有する電圧を
供給するようにした温度補償回路に関する。
従来、半導体変換器として、半導体ピエゾ抵抗素子を用
いた圧力変換器がよく知られている。該ピエゾ抵抗素子
のゲージ率は一般に負の温度特性を示し、該ピエゾ抵抗
素子のブリッジ回路から成る変換器の圧力感度は周囲温
度の上昇に伴ない低下する。この感度低下を補償する感
度温度補償法として、従来、半導体ピエゾ抵抗素子(一
般に拡散層抵抗が利用される)の抵抗値が一般に正の温
度特性を示すことを利用して、ブリッジ回路と電圧源の
間に直列に適当な値の抵抗を挿入し、周囲温度が上昇し
た場合にブリッジ回路の励起端子間に加わる電圧が上昇
するようにして圧力感度の低下を補償する方法が採られ
ている。第1図にそのような温度補償回路の構成例を示
す。図においてと旦」−はピエゾ抵抗素子1. 2. 
3. 4から成るブリッジ回路、5は定電圧源、6はブ
リッジ回路100と定電圧源5の間に直列に挿入された
補償用抵抗である。
しかしながら、第1図に示した補償回路では、補償用抵
抗6の抵抗値によシ温度特性だけでなく常温でブリッジ
回路に供給される電圧もまた変化するため、温度補償と
常温での圧力感度とをそれぞれ独立には調整できないと
いう欠点があった。
一方、上記電圧駆動方式に対し、電源を定電流源とし、
ゲージ率温度係数β(負の値)の絶対値と抵抗温度係数
αが同程度(α+β=0)のピエゾ抵抗素子を用いる(
定電流駆動方式の場合の感度温度係数はα+βに等しい
)感度温度補償法があるが、一般に定電流源は定電圧源
に比べ(1)構成ならびに入手が困難(2)周辺回路と
電源を共用できない(3)IC化に不向き、等の制約を
もっておシ、定電流源の使用は圧力変換器の汎用性を妨
げる欠点となっていた。
本発明の目的は、以上述べた如き従来技術の欠点を除去
した温度補償回路を提供することにある。
本発明によれば、検知対象の変化に応答して抵抗値変化
を示す半導体検知素子を含む検出回路と、非反転側入力
端子が第1の直流電圧に接続され、反転側入力端子が抵
抗を介して第2の直流電圧に接続された演算増幅器とを
備え、前記検出回路の励起端子がそれぞれ前記演算増幅
器の非反転側入力端子と出力端子に接続されたことを特
徴とする温度補償回路が得られる。
以下、実施例により本発明の詳細な説明する。
第2図は本発明の第1の実施例を示す図である。
図において、100は第1図に示したと同じくピエゾ抵
抗素子1,2,3,4から成るプ1ルッジ回路、20は
演算増幅器、21は該演算増幅器30の非反転側入力端
子に接続された第1の電圧源、22は第2の電圧源、2
3は該電圧源22と演算増幅器20の反転側入力端子と
の間に接続された抵抗であり、ブリッジ回路100の励
起端子24及び25が演算増幅器30の反転側入力端子
及び出力端子にそれぞれ接続されている。
本実施例におけるブリッジ回路100と抵抗23は、演
算増幅器30の出力電圧の一部を反転側入力端子に戻す
いわゆる負帰還回路を構成している。
したがって、いまブリッジ回路の励起端子24゜25間
からみた抵抗値(一般には各ピエゾ抵抗素子の抵抗値に
等しい)をRG、抵抗23の抵抗値をRとし、電圧源2
1及び22の電圧をそれぞれEl及びE、とすると、励
起端子24及び25はそれぞれEl及びBs+(RG/
R)・(El−FXx)にバイアスされることになシ、
この結果、ブリッジ回路100に供給される電圧veは
次式で与えられることになる。
RG ve=−11i−(El−E、)(1)例においてブリ
ッジ回路100に供給される電圧veはピエゾ抵抗素子
の抵抗温度係数αと同一の温度係数をもつことになシ、
ゲージ率温度係数β(負の値)の絶対値と抵抗温度係数
αが同程度のピエゾ抵抗素子を用いることによシブリッ
ジ回路100の出力端子26.27間には温度補償され
た出力感度が得られる。すなわち、本実施例によれば種
々の制約を有する定電流源を使用することなく、定電流
駆動方式による感度温度補償効果と同一の効果を達成す
ることができる。さらに、本実施例では、抵抗23の抵
抗値Rあるいは電圧源21と22の電圧差(BIEt)
を適当に調整することにより、温度補償とは独立に常温
での圧力感度を調整することができるので、第1図に示
した従来の補償回路の欠点が完全に解消される。
したがって、本実施例によれば、上記従来技術の欠点が
ことごとく解消され、かつ構成も簡単な優れた温度補償
回路が得られる。
なお、上記実施例では、ゲージ率温度係数と抵抗温度係
数が同程度であるピエゾ抵抗素子を用いたが、両者の値
が異なるピエゾ抵抗素子を用いる場合にも同様に本発明
の概念は適用可能である。
そのような場合の構成の一例を第3図に示す。すなわち
、第3図は本発明の第2の実施例を示す図で基本的には
第2図とほぼ同一構成であるが、ブリッジ回路100を
構成するピエゾ抵抗素子としては抵抗温度係数αがゲー
ジ率温度係数βの絶対値より大きいものが用いられてお
り、ブリッジ回路上立身の励起端子24.25間に並列
に抵抗30が接続されている。該並列抵抗30は、励起
端子24及び25間の抵抗値Rhの抵抗温度係数をピエ
ゾ抵抗素子個有の抵抗温度係数よシ低下させ、実質的に
ゲージ率温度係数と同程度にするために適当な値に調整
され、感度温度補償を達成する。本実施例においても、
圧力感度は、並列抵抗30の調整による温度補償の後、
電圧源21と22の電圧差を調整することによ多温度補
償とは独立に設定できるので、温度補償後の圧力感度の
調整によ多温度特性が損なわれる恐れは全くない。
また上記2実施例では、ピエゾ抵抗素子の抵抗値変化を
取υ出す検出回路としてブリッジ回路を用いる場合の例
を示したが、検出回路は単にこれに限る本のではなく、
例えば抵抗分圧回路による検出回路を用いたものでもよ
い。そのような構成の一例を第4図に示す。すなわち、
第4図は本発明の第3の実施例を示す図で、基本的には
第2図とほぼ同一構成であるが、ブリッジ回路100の
かわりにピエゾ抵抗素子41,42から成る分圧形検出
回路200が用いられている。
なお、上記各実施例では2つの電圧源21及び22を用
いたが、これらのいずれか一方は省略して接地レベルと
することが可能である。また電圧源21及び22はかな
らずしも純粋の電圧源である必要はなく抵抗分圧によっ
て発生した分圧直流電圧であってもよい。
以上、ピエゾ抵抗素子を用いた圧力変換器の場合を例に
本発明を説明しだが、本発明は圧力変換器のみならず、
検知対象の変化に応答して抵抗値変化を示す半導体検知
素子を用いる半導体変換器の温度補償回路に広く適用で
きる。
このような本発明によれば、定電流源を使用しないので
構成が簡単で周辺回路との共合性がよく、かつ温度補償
と出力感度をそれぞれ独立に調整し得る機構を備えた優
れた温度補償回路が実現される。
【図面の簡単な説明】
第1図は半導体変換器の温度補償回路の従来例を示す図
、第2図は本発明の一実施例を示す図、第3図は本発明
の第2の実施例を示す図、第4図は本発明の第3の実施
例を示す図である。 100・・・ブリッジ回路 1、2.3.4・・・半導体ピエゾ抵抗素子5・・・定
電圧源 6・・・温度補償用抵抗 20・・・演算増幅器 21、22・・・電圧源 23・・・抵抗 24 、25・・・ブリッジ回路励起端子26 、27
・・・ブリッジ回路出力端子30・・・抵抗 200・・・分圧形検出回路 41 、42・・・ピエゾ抵抗素子 43・・・出力端子 ′p理人ヅ1゛理土 内 原 晋 オ 1 図 オ 2 図 26 オ 3 図 0

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 検知対象の変化に応答して抵抗値変化を示す半導体検知
    素子を含む検出回路と、非反転側入力端子が第1の直流
    電圧に接続され、反転側入力端子が抵抗を介して第2の
    直流電圧に接続された演算増幅器とを備え、前記検出回
    路の励起端子がそれぞれ前記演算増幅器の非反転側入力
    端子と出力端子に接続されたことを特徴とする温度補償
    回路。
JP59008825A 1984-01-20 1984-01-20 温度補償回路 Pending JPS60152912A (ja)

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JP59008825A JPS60152912A (ja) 1984-01-20 1984-01-20 温度補償回路

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JPS60152912A true JPS60152912A (ja) 1985-08-12

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JP59008825A Pending JPS60152912A (ja) 1984-01-20 1984-01-20 温度補償回路

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JP (1) JPS60152912A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2671518A1 (fr) * 1991-01-12 1992-07-17 Westland Aerostructures Ltd Systeme de mesure de pression et de temperature de pneumatique.
FR2751407A1 (fr) * 1996-07-16 1998-01-23 Motorola Semiconducteurs Detecteur et procede permettant de detecter un seuil predetermine pour un parametre

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2671518A1 (fr) * 1991-01-12 1992-07-17 Westland Aerostructures Ltd Systeme de mesure de pression et de temperature de pneumatique.
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