JPS60145537A - 光学式情報記録方式及びその装置 - Google Patents
光学式情報記録方式及びその装置Info
- Publication number
- JPS60145537A JPS60145537A JP217284A JP217284A JPS60145537A JP S60145537 A JPS60145537 A JP S60145537A JP 217284 A JP217284 A JP 217284A JP 217284 A JP217284 A JP 217284A JP S60145537 A JPS60145537 A JP S60145537A
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- JP
- Japan
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- recording
- light beam
- bit
- medium
- reflected light
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/0045—Recording
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1879—Direct read-after-write methods
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、光学式情報記録において、記録すべき情報が
正確に記録されたか否かを検知する方式及びその装置に
関するものである。
正確に記録されたか否かを検知する方式及びその装置に
関するものである。
（従来技術）
従来、光学式ＩＩ−報記録方式及び製置において、記録
媒体の欠陥により、記録情報が損なわれるのを防ぐため
に、エラー・コレクティング−コード（ＥＣＣ’）を伺
加したり、１本の光ヒー！、を用いたリード中ホワイル
Ｏライト（Ｒｅａｄｗｈｉｌｅｗｒｉｔｅ ）ないし、
２本の光ヒームな用いたダイレクト−リード拳アフタ・
ライト（ＤＲＡＷ）により記録情報の確認をする機能を
有した方式及び装置が検討ないし試作されている。これ
らの方法を用いることにより、エラーレートを格段に向
上させている。特に１本の光ビームでリード・ホワイル
Ｑライトの機能を有することは、実時間で記録情報の確
認ができ、また光ヘツド構成上も２本の光ビームな使用
する方法に比べ簡単であり、有利である。
媒体の欠陥により、記録情報が損なわれるのを防ぐため
に、エラー・コレクティング−コード（ＥＣＣ’）を伺
加したり、１本の光ヒー！、を用いたリード中ホワイル
Ｏライト（Ｒｅａｄｗｈｉｌｅｗｒｉｔｅ ）ないし、
２本の光ヒームな用いたダイレクト−リード拳アフタ・
ライト（ＤＲＡＷ）により記録情報の確認をする機能を
有した方式及び装置が検討ないし試作されている。これ
らの方法を用いることにより、エラーレートを格段に向
上させている。特に１本の光ビームでリード・ホワイル
Ｑライトの機能を有することは、実時間で記録情報の確
認ができ、また光ヘツド構成上も２本の光ビームな使用
する方法に比べ簡単であり、有利である。
そこで従来のり一ド・ホワイル・ライトでは、第１図に
示すような光学系を用いて、記録情報の゛確認を行なっ
ている。以下に第１図の説明とその記録情報の確認の方
法九ついて述べる。
示すような光学系を用いて、記録情報の゛確認を行なっ
ている。以下に第１図の説明とその記録情報の確認の方
法九ついて述べる。
第１図において、ディジタル情報源１から送出されたデ
ータは、変調回路２によって変調され、半導体レーザ駆
動回路３及び半導体レーザ４により、パルス変調された
レーザ光となる。このレーザ光はレンズ５、偏光ビーム
スプリッタ６、λ／４板７、反射ミラー８、集光レンズ
９を通って、元ディスク１０上の記録媒体１１に１〜２
μｍ８度に集光する。光ディスク１０は、記録媒体とし
て用いられる金員（Ｂ ｔ、 Ａ４＠ 、カルコケンガ
ラス材料（Ａｓ、 Ｇｅ、 Ｔｅ、Ｓｅ等）、有機色素
材料（フタロシアニン色素、ナフトキ／ン色素等）等力
、ガラス、アクリル等のディスク上ｔｃ １００〜ｔｏ
ｏｏＡ程度の単層薄膜あるいは多層薄膜として蒸射、ス
パッタ、ＣＶＤ等の通常知られている成膜方法により成
膜されている。記録媒体への情報記録は、レーザ集光ス
ポットにより反射率の変化するビット記録を行ない、こ
のビットの有無によって行なう。このとき、レーザ集光
スポットによる反射率の変化するヒツト記録は、媒体に
穴を形成するもの、媒体の表面層と基板ないし表向層と
他の層との間にガスを有することにより表面層がふくら
みバブル状となるもの、媒体の光学定０が変化するもの
であり、この変化によりビット記録前の反射率が増加も
しくは低下することによりビット記録情報とするもので
ある。記録時及び丹生時の光ディスクｌＯからの反射光
は同じ光路をたどり、偏光ビームスプリッタ６によって
分離されて光検出器１２へ導ひかれ、情報信号を検出す
る。このときフォーカスエラー信号、トラッキングエラ
ー信号を検出するだめの光学系が付加され、更にエラー
信号検出器から情報信号を得てもかまわない。
ータは、変調回路２によって変調され、半導体レーザ駆
動回路３及び半導体レーザ４により、パルス変調された
レーザ光となる。このレーザ光はレンズ５、偏光ビーム
スプリッタ６、λ／４板７、反射ミラー８、集光レンズ
９を通って、元ディスク１０上の記録媒体１１に１〜２
μｍ８度に集光する。光ディスク１０は、記録媒体とし
て用いられる金員（Ｂ ｔ、 Ａ４＠ 、カルコケンガ
ラス材料（Ａｓ、 Ｇｅ、 Ｔｅ、Ｓｅ等）、有機色素
材料（フタロシアニン色素、ナフトキ／ン色素等）等力
、ガラス、アクリル等のディスク上ｔｃ １００〜ｔｏ
ｏｏＡ程度の単層薄膜あるいは多層薄膜として蒸射、ス
パッタ、ＣＶＤ等の通常知られている成膜方法により成
膜されている。記録媒体への情報記録は、レーザ集光ス
ポットにより反射率の変化するビット記録を行ない、こ
のビットの有無によって行なう。このとき、レーザ集光
スポットによる反射率の変化するヒツト記録は、媒体に
穴を形成するもの、媒体の表面層と基板ないし表向層と
他の層との間にガスを有することにより表面層がふくら
みバブル状となるもの、媒体の光学定０が変化するもの
であり、この変化によりビット記録前の反射率が増加も
しくは低下することによりビット記録情報とするもので
ある。記録時及び丹生時の光ディスクｌＯからの反射光
は同じ光路をたどり、偏光ビームスプリッタ６によって
分離されて光検出器１２へ導ひかれ、情報信号を検出す
る。このときフォーカスエラー信号、トラッキングエラ
ー信号を検出するだめの光学系が付加され、更にエラー
信号検出器から情報信号を得てもかまわない。
光検出器１２により検出された情報信号はプリアンプ１
３、ビット記録確認の検出回路１４で記録情報の確認を
行なう。この記録情報確認のだめの方法としては、例え
ば特開昭５５−８９９１９により公知である。この発明
では記録光ビームパルス照射開始後の媒体からの反射光
を検出し、この検出レベルが媒体のビット記録開始に費
す時間Ｔ秒はある検出レベルを持ち、Ｔ秒経過後媒体の
ビット記録が始まり前記検出レベルから変化する現象を
利用し、記録光ビームパルス照射開始１秒経過後の媒体
光ビーム反射光の変化を検出することＫよりビット記録
の確認を行なっている。このときビット記録が行なわれ
ない場合には記録ビームパルス照射開始１秒経過後の媒
体光ビーム反射光の変化が生じないため、ビット記録エ
ラ・−を検出できるＯ （Ｋ来技術の問題） しかしながら、従来の記録情報の７Ｇ後では、一定スラ
イスレベルで反射光の変化を検出しているため、記録媒
体の初期反射率及び記録光ビームパワーが一定でなけれ
ば、ビット記録エラー検出が誤動作するため、記録媒体
の生産工程等において初期反射率が変化した場合もしく
は、記録時に記録光ビームを可変した場合において、安
定に記録情報のｌｉ＋−認を行なうことは不可能である
という欠点を有している。
３、ビット記録確認の検出回路１４で記録情報の確認を
行なう。この記録情報確認のだめの方法としては、例え
ば特開昭５５−８９９１９により公知である。この発明
では記録光ビームパルス照射開始後の媒体からの反射光
を検出し、この検出レベルが媒体のビット記録開始に費
す時間Ｔ秒はある検出レベルを持ち、Ｔ秒経過後媒体の
ビット記録が始まり前記検出レベルから変化する現象を
利用し、記録光ビームパルス照射開始１秒経過後の媒体
光ビーム反射光の変化を検出することＫよりビット記録
の確認を行なっている。このときビット記録が行なわれ
ない場合には記録ビームパルス照射開始１秒経過後の媒
体光ビーム反射光の変化が生じないため、ビット記録エ
ラ・−を検出できるＯ （Ｋ来技術の問題） しかしながら、従来の記録情報の７Ｇ後では、一定スラ
イスレベルで反射光の変化を検出しているため、記録媒
体の初期反射率及び記録光ビームパワーが一定でなけれ
ば、ビット記録エラー検出が誤動作するため、記録媒体
の生産工程等において初期反射率が変化した場合もしく
は、記録時に記録光ビームを可変した場合において、安
定に記録情報のｌｉ＋−認を行なうことは不可能である
という欠点を有している。
（発明の目的）
本発明の目的は、このような従来の欠点を除去し、記録
媒体の初期反射率の変動もしくは、記録光ビームパワー
の変化に対して、安定に記録ＷｒｌＩＮの確認を行なう
記録方式及びその装儀を提供することにある。
媒体の初期反射率の変動もしくは、記録光ビームパワー
の変化に対して、安定に記録ＷｒｌＩＮの確認を行なう
記録方式及びその装儀を提供することにある。
（発明の構成）
本発明は、記録すべき情報にノ、（いて変調された光ビ
ームで、光ビームと相対的に移動する記録媒体上に情報
を反射率の変化する形態で記録］−１記録元ビームパル
ス照射中での媒体の光ビーム反射光量変化を検出するこ
とにより、ビット記録の有無を検知する光学式情報記録
方式において、記録光ビームパルス照射開始直後のビッ
ト未記録時の媒体光ビーム反射光量を基準とし、基準に
対するビット記録中の媒体光ビーム反射光量変化率を検
出し、ビット記録の有無を検知することを特徴とする光
学情報記録方式及び光学的に情報を記録再生する装置に
おいて、記録媒体からの反射光を一気信号に変換する変
換手段と、ｍＩ記変換手段の出力を、記録光ビーム照射
開始直後のビット未記録時にサンプルホールドする保持
手段と、ビット記録中Ｗ前記変換手段の出力と前記保持
手段の出力の比率を検出する検出手段を１する光学式情
報記録装置である。
ームで、光ビームと相対的に移動する記録媒体上に情報
を反射率の変化する形態で記録］−１記録元ビームパル
ス照射中での媒体の光ビーム反射光量変化を検出するこ
とにより、ビット記録の有無を検知する光学式情報記録
方式において、記録光ビームパルス照射開始直後のビッ
ト未記録時の媒体光ビーム反射光量を基準とし、基準に
対するビット記録中の媒体光ビーム反射光量変化率を検
出し、ビット記録の有無を検知することを特徴とする光
学情報記録方式及び光学的に情報を記録再生する装置に
おいて、記録媒体からの反射光を一気信号に変換する変
換手段と、ｍＩ記変換手段の出力を、記録光ビーム照射
開始直後のビット未記録時にサンプルホールドする保持
手段と、ビット記録中Ｗ前記変換手段の出力と前記保持
手段の出力の比率を検出する検出手段を１する光学式情
報記録装置である。
（構成の詳細な説明）
以下図面をた照して本発明を６１．細に説明する。
第２図は本発明の光学式情報記録方式を実施する装置の
一例を示す線図である。光学系は第１図と同様のもので
あり、第２図２１〜２８はビット記録確認のための回路
部分である。
一例を示す線図である。光学系は第１図と同様のもので
あり、第２図２１〜２８はビット記録確認のための回路
部分である。
ここで、記録媒体からの反射光を一気信号に変／２
換する変換手段として光検出ηより構成され、変換手段
の出力を記録光ビーム照射開始直後のビット未記録時に
サンプルホールドする保持手段としてアナログゲート２
１．ホールドコンデンサ２２゜アンプ２３．コンパレー
タ２６．パルス蝿生回路２７゜より構成されビット記録
中に変換手段の出力と保持手段の出力の比率を検出する
検出手段として、アッテネータ２４．コンパレータ２５
．ロジックケート２８より構成されている。
の出力を記録光ビーム照射開始直後のビット未記録時に
サンプルホールドする保持手段としてアナログゲート２
１．ホールドコンデンサ２２゜アンプ２３．コンパレー
タ２６．パルス蝿生回路２７゜より構成されビット記録
中に変換手段の出力と保持手段の出力の比率を検出する
検出手段として、アッテネータ２４．コンパレータ２５
．ロジックケート２８より構成されている。
以下ビット記録時に反射率が低下する場合について説明
する。第３図匹）は記録光ビームパルスを示し、第３１
田）は、記録時における反射光量の変化を示す。このと
き第３図（８）の※印は、媒体の欠陥等によりビット記
録が不完全な部分を示す。正常にピント記録された場合
には、記録光ビームパルス発生直後から１秒間だけ反射
光量はピーク値を持ち、１秒経過後ヒツト記録により、
ピーク値の１／２〜１／３程度に反射光量は低下する。
する。第３図匹）は記録光ビームパルスを示し、第３１
田）は、記録時における反射光量の変化を示す。このと
き第３図（８）の※印は、媒体の欠陥等によりビット記
録が不完全な部分を示す。正常にピント記録された場合
には、記録光ビームパルス発生直後から１秒間だけ反射
光量はピーク値を持ち、１秒経過後ヒツト記録により、
ピーク値の１／２〜１／３程度に反射光量は低下する。
また、ビット記録が不完全である場合には、記録光ビー
ムパルス発生１秒ＩＰｆ：通抜の反射光量の低下は生じ
ない。この現象を利用したビット記録確認の方法は前述
のよう忙公知であるが、本発明では記録光ビームパルス
発生直後１秒間の反射光量を基準とし、基準に対する記
録光ビームパルス発生Ｔ秒経過後の反射光量低下率を検
出することによりビット記録を確認することを特徴とし
ており、以下にその説明を行なう。第３図（Ｂ）は反射
光量の変化を示すが、これは光検出器１２．プリアンプ
１３で検出した信号と比例する。このプリアンプ１３の
出力信号は、記録光ビームパルス発生を検出するコンパ
レータ２６により、立上がりを検出され第３図（ｃ）Ｋ
示すサンプルホールド用信号を発生するためのパルス発
生回路２７を経て、サンプルホールド用のアナログゲー
ト２１をコントロールする。第３図ｔｃ）の高レベルは
アナログケート２１のオフ（サンプルホールド回路のホ
ールド動作）を示し、低レベルはアナログゲート２１０
オン（サンプルホールド回路のサンプリング動作）を示
す。
ムパルス発生１秒ＩＰｆ：通抜の反射光量の低下は生じ
ない。この現象を利用したビット記録確認の方法は前述
のよう忙公知であるが、本発明では記録光ビームパルス
発生直後１秒間の反射光量を基準とし、基準に対する記
録光ビームパルス発生Ｔ秒経過後の反射光量低下率を検
出することによりビット記録を確認することを特徴とし
ており、以下にその説明を行なう。第３図（Ｂ）は反射
光量の変化を示すが、これは光検出器１２．プリアンプ
１３で検出した信号と比例する。このプリアンプ１３の
出力信号は、記録光ビームパルス発生を検出するコンパ
レータ２６により、立上がりを検出され第３図（ｃ）Ｋ
示すサンプルホールド用信号を発生するためのパルス発
生回路２７を経て、サンプルホールド用のアナログゲー
ト２１をコントロールする。第３図ｔｃ）の高レベルは
アナログケート２１のオフ（サンプルホールド回路のホ
ールド動作）を示し、低レベルはアナログゲート２１０
オン（サンプルホールド回路のサンプリング動作）を示
す。
これによりプリアンプ１３の出力信号（第３図（８））
はホールドコンデンサ２２、アンプ２３によりサンプル
ホールドされ、第３図（Ｉ））に示す波形となる。
はホールドコンデンサ２２、アンプ２３によりサンプル
ホールドされ、第３図（Ｉ））に示す波形となる。
ビット記録による媒体光ビーム反射光？低下検出の閾値
レベルとなるように、アッテネータ２４でサンプルホー
ルドしたｉｉＬ圧を分圧し、″これを基準レベルとした
コンパレータ２５でプリアンプ１３の出力を比較する。
レベルとなるように、アッテネータ２４でサンプルホー
ルドしたｉｉＬ圧を分圧し、″これを基準レベルとした
コンパレータ２５でプリアンプ１３の出力を比較する。
コンパレータ２５の出方を第３図ＥＨＣ示す。この出力
をパルス発生回路２７．ロジックケート２８により、記
録光ビームパルス発生Ｔ秒経過後のビット記録確認のた
めの時間だけ抽出する。このときのパルス発生回路２７
の（Ｆｊ号と、ケート２８の出力信号をそれぞれ第３図
便′）、Ｃ） Ｋ示す。ケート２８の出力によりヒツト
記録エラーを検出できる。このとき、ザンプリンタホー
ルド回路を構成するアナログケート２１、ホールドコン
デンサ２２、アンプ２３によりｉ；録光ビームパルス発
生直後Ｔ秒間のピーク値となる１６号レベルの検出を行
ない、これを基ｆ（Ｊ、レベルとして、記録パルス発生
Ｔ秒紗通抜の信号レベル低下率（Ｒ体光ビーム反射光量
低下率に相当）′を検出しているため、媒体の初期反射
率の変動もしくは記録光ビームパヮーの変化に対して、
安定にヒント記録の確認ケ行なうことが可能となる。
をパルス発生回路２７．ロジックケート２８により、記
録光ビームパルス発生Ｔ秒経過後のビット記録確認のた
めの時間だけ抽出する。このときのパルス発生回路２７
の（Ｆｊ号と、ケート２８の出力信号をそれぞれ第３図
便′）、Ｃ） Ｋ示す。ケート２８の出力によりヒツト
記録エラーを検出できる。このとき、ザンプリンタホー
ルド回路を構成するアナログケート２１、ホールドコン
デンサ２２、アンプ２３によりｉ；録光ビームパルス発
生直後Ｔ秒間のピーク値となる１６号レベルの検出を行
ない、これを基ｆ（Ｊ、レベルとして、記録パルス発生
Ｔ秒紗通抜の信号レベル低下率（Ｒ体光ビーム反射光量
低下率に相当）′を検出しているため、媒体の初期反射
率の変動もしくは記録光ビームパヮーの変化に対して、
安定にヒント記録の確認ケ行なうことが可能となる。
以上、ビット記録時に反射率が低下する場合について説
明したが、ビット記録時に反射率が増加する場合九つい
ても同様にビット記録の確認を行テネータ２４のトータ
ルケインによって行な〜・、コンパレークの極性をビッ
トｄ〔ｌ録時に反射率カー低下する場合と逆極性にする
ことにより、ビット記録の確認ができる。
明したが、ビット記録時に反射率が増加する場合九つい
ても同様にビット記録の確認を行テネータ２４のトータ
ルケインによって行な〜・、コンパレークの極性をビッ
トｄ〔ｌ録時に反射率カー低下する場合と逆極性にする
ことにより、ビット記録の確認ができる。
なお、本発明は上述した例のみに限定されるものではな
く、幾多の変更または変形が可能である。
く、幾多の変更または変形が可能である。
例えばパルス発生回路２７より発生するケート信号を、
変調回路２から発生したり、サンプルホールド回路出力
（アンプ２３）より、記録光ビームパルス発生直後のレ
ベルが媒体設計マージンを越えている場合を即座に記録
エラーとして検出したり、ヒツト記録をしない部分での
エキス）う／（ルスを検出したりすることができる。
変調回路２から発生したり、サンプルホールド回路出力
（アンプ２３）より、記録光ビームパルス発生直後のレ
ベルが媒体設計マージンを越えている場合を即座に記録
エラーとして検出したり、ヒツト記録をしない部分での
エキス）う／（ルスを検出したりすることができる。
（発明の効果）
以上詳細に説明したように、本発明では１本の光ビーム
で初期反射率の変動もしくは記録光ビームパワーの変化
に対し、安定にビット記録の確認を実時間で行なうこと
ができる。更に８′を極的に、ビット記録時の反射率変
化の極性が同一で同程度の変化率であれば、初期反射率
の異なった記録媒体のビット記録の確認も可能である。
で初期反射率の変動もしくは記録光ビームパワーの変化
に対し、安定にビット記録の確認を実時間で行なうこと
ができる。更に８′を極的に、ビット記録時の反射率変
化の極性が同一で同程度の変化率であれば、初期反射率
の異なった記録媒体のビット記録の確認も可能である。
４、図面のｌ＋ｎ 、Ｑｉな欧、間
第１図は従来のビット形成確認を行なう場合の光学式情
報記録装置の栴成を示す線図、第２図は本発明の光学式
情報記録方式を実施する装置の一例の構成図を示す線図
、第３図（３）〜←）は同じく動作の説明をするための
線図である。
報記録装置の栴成を示す線図、第２図は本発明の光学式
情報記録方式を実施する装置の一例の構成図を示す線図
、第３図（３）〜←）は同じく動作の説明をするための
線図である。
′ｌ・・・・・・ディジタル情報源、２・・・・・・変
調回路、３・・・・・・半導体レーザ駆動回路、４・・
・・・・半導体レーザ。
調回路、３・・・・・・半導体レーザ駆動回路、４・・
・・・・半導体レーザ。
５・・・・・・レンズ、６・・・・・・偏光ビームスプ
リッタ、７１．・・・・λ／４板、８・・・・・・反射
ミラー、９・・・・・・集光レンズ、１０・・・・・・
光ディスク、１１・・・・・・記録媒体、１２・・・・
・・光検出器、１３・・・・・・プリアンプ、１４・・
・・・・エラー検出回路、２１・・・・・・アナログケ
′−ト、２２・・・・・・ホールドフンテンサ、２３・
・・・・・アンプ、２４・・・・・・アッテネータ、２
５・・・・・・コンパレーク、２６・・・・・・コンパ
レータ、２７・・・・・・ノ（パルス発生回路、２８・
・・・・・ｐシックケート。
リッタ、７１．・・・・λ／４板、８・・・・・・反射
ミラー、９・・・・・・集光レンズ、１０・・・・・・
光ディスク、１１・・・・・・記録媒体、１２・・・・
・・光検出器、１３・・・・・・プリアンプ、１４・・
・・・・エラー検出回路、２１・・・・・・アナログケ
′−ト、２２・・・・・・ホールドフンテンサ、２３・
・・・・・アンプ、２４・・・・・・アッテネータ、２
５・・・・・・コンパレーク、２６・・・・・・コンパ
レータ、２７・・・・・・ノ（パルス発生回路、２８・
・・・・・ｐシックケート。
Claims (2)
- （１）記録すべき情報に基づいて変調された光ビームで
、光ビームと相対的に移動する記録媒体上に情報を反射
率の変化する形態で第１１録し、記録光ビームパルス照
射中での媒体の光ビーム反射光量変化を検出することに
よりビット記録の有無を検知する光学式情報記録方式に
おいて、記録光ビームパルス照射開始直後のビット未記
録時の媒体光ビーム反射光鼠とし、前記基準に対するビ
ット記録ノー 中の媒体光ビーム反射光量：変化率を検出し、ビット記
録の有無な検知することを特徴とする光学式情報記録方
式。 - （２）光学的Ｋ ｔ＋Ｖ報を記録４１８生する装置ｆＩ
Ｃおいて、記録媒体からの反射光を電気（ｆｆ号に変換
する変換手段と、前記変換手段の出力を、記録光ビーム
照射開始直後のビット未記録時延サンプルホールドする
保持手段と、ビット記録中に前記変換手段の出力と前記
保持手段の出力の比率を検出する検出手段な■する光学
式情報記録装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP217284A JPS60145537A (ja) | 1984-01-10 | 1984-01-10 | 光学式情報記録方式及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP217284A JPS60145537A (ja) | 1984-01-10 | 1984-01-10 | 光学式情報記録方式及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60145537A true JPS60145537A (ja) | 1985-08-01 |
Family
ID=11521943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP217284A Pending JPS60145537A (ja) | 1984-01-10 | 1984-01-10 | 光学式情報記録方式及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60145537A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2563037A1 (fr) * | 1984-04-13 | 1985-10-18 | Mitsubishi Electric Corp | Systeme d'enregistrement d'information |
| EP0425048A2 (en) * | 1989-10-27 | 1991-05-02 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Apparatus for verification of data established on a record carrier during write |
| JPH03269826A (ja) * | 1990-03-19 | 1991-12-02 | Toshiba Corp | 相変化光ディスク装置 |
| US5798993A (en) * | 1995-05-29 | 1998-08-25 | Nec Corporation | System and method for simultaneously verifying optical data writing and optical data writing medium for use therein |
| US6252844B1 (en) | 1996-09-13 | 2001-06-26 | Nec Corporation | Phase-change type optical recording medium and method of optically recording with the same |
Citations (2)
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| JPS5792438A (en) * | 1980-11-28 | 1982-06-09 | Ricoh Co Ltd | Recording method by laser beam |
-
1984
- 1984-01-10 JP JP217284A patent/JPS60145537A/ja active Pending
Patent Citations (2)
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