JPS60138477A - 多導体電気機器の電気試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は多数個の口出導体が三角形の頂点に位置するよ
うに配設された電気機器の絶縁性能１試験を容易にする
ものに関する。

〔従来技術〕

ケース内に数１０〜数１００個の棒状の導体が絶縁して
配設された電気機器の各導体間の絶縁耐力試験や絶縁抵
抗測定をする場合、例えば導体が接続された日出導体の
それぞれに試験用のリード線をクリップ等で結線し、こ
のリード線を隣接の各導体が同じグループに含まれない
ようにグループを構成し、それぞれ異なるグループ間に
電圧を印加して試験していた。ところで、このように試
験するには課電の都度グループを組替え結線しなければ
ならず、作業が面倒や で、多くの手間をやし、導体が多ければ多い程△ その煩わしさが増す。

〔発明の目的、要旨〕

本発明は上述に鑑み、多導体電気機器の絶縁性能の試験
が簡便に行える電気試験方法を提供するもので、多数個
の日出導体が三角形の頂点に位置するごとく配設された
電気機器用の電気試験方法であって、前記多数個の一口
出導体のそれぞれに対応して嵌合する多数個のコンタク
トが配設されたアダプタ及び前記コンタクトに接続され
た切換回路を有し、該切換回路は、三角形の総ての辺方
向にｎ個数隔てた位置にあるコンタクトを繰返し接続し
て１つのグループを形成し、同様に残りのコンタクトを
それぞれ接続して全体で（ｎ＋１）個のグループを形成
すると共に、これら各グループを組合せ隣接するコンタ
クト間に課′賀するものである。

〔実施例〕

以下、図面を路照して本発明の実施例を詳細に説明する
。

第１図及び第２図は本発明の実施例の結線図である。第
１図において、１は端子盤１１にそれぞれ多数個のコン
タク）Ａ、Ｂ、Ｃ及びＤか三角形の頂点に位置するより
に植設されたアダプタである。各コンタクトＡ１Ｂ、Ｃ
及びＤはその一方端部が端子盤１１０片側面において、
図示しない被試験電気機器のそれぞれの日出導体が嵌挿
できるように、筒状側壁にスリ割りか形成されたソケッ
ト状にされている。また、各コンタクトＡ、Ｂ、Ｃ及び
Ｄの他方端部は、三角形のすへての辺方向（矢印Ｘ、Ｙ
及びＺで示す方向）に、各コンタクト１個隔てた位置の
各コンタクト同志がグループを構成するように、各コン
タクトＡ、Ｂ、Ｃ及びＤ毎に結線されており、各コンタ
クトＡ、Ｂ、Ｃ及びＤは、端子盤１１に設けられたそれ
ぞれの端子ａｔ　、　ｂｔ、Ｃ及びｄｔに結線されてい
る。

２は例えば２極双投形スイツチを用いたグループ組合せ
スイッチであり、上記４種類の各コンタクトＡ、Ｂ、Ｃ
及びＤのうち２種類宛の各コンタクトを組合せて列を形
成する。グループ組合せスイッチ２によって形成された
列は、例えば２極双投形スイツチを用いた切換スイッチ
６によって絶縁耐力試験器や絶縁抵抗測定器等の試験装
置Ｓの高電位側の試験器端子Ｔ１あるいは接地端子Ｔ２
に接続される。

以下、手順に従い、本実施例の試験方法な詳述する。

（１）　まず、グループ組合せスイッチ２の切換接点２
１及び２２を接点２１ｘ及び２２ｘに投入、切換スイッ
チ６の切換接点６１及び３２を接点３１１−及び３２１
？こ投入する。切換接点２１によって端子Ｂｔは、端子
Ａｔと共に、試験器端子Ｔ１に結線され、切換接点２２
によって端子Ｄｊは端子Ｃｔと共に切換スイッチ３の切
換接点３１及び接点！＋１１を介して接地端子Ｔ２に結
線される。而して、各コンタクトＡとＢとは切換接点２
１により結線され、各コンタクトＣとＤとは切換接点２
２により結線されて、それぞれ矢印×で示す方向に列を
形成する。これらの異なる２つの列は矢印２で示す方向
に交互に並び、端子盤１１上の各コンタクト即ち、被試
験電気機器の各導体は２群に分けられ、そこで、２群間
の絶縁性能が試験される。

（１１）　ついで、切換スイッチ３をそのままにして、
グループ組合せスイッチ２の切換接点２１及び２２をそ
れぞれ接点２１ｙ、２２ｙに投入する。

端子Ａｔは切換接点２１によって端子Ｄｔと結線された
うえで試験器端子Ｔ１に結線され、端子Ｃｔは切換接点
２２によって、端子Ｂｔと結線されたうえで切換接点３
１及び接点３１１を介し、接地端子Ｔ２に結線される。

而して各コンタクトＡとＤとは切換接点２１によって結
線され、また各コンタクトＢとＣとは切換接点２２Ｖこ
よって結線され、それぞれ矢印Ｙで示す方向に列を形成
される。そして、これら異なる２つの列は矢印２で示す
方向に交互に並ひ端子盤１１上の各コンタクト、即ち被
試験電気機器の各導体は２群に分けられ、そこで、２群
間の絶縁性能が試験される。

上述（１）項及び（１１）項の手順によって、隣接する
各コンタクト間に電圧が印加され、それらの絶縁性能は
すべて試験されるが、すべてのコンタクトニ高電圧゛を
印加して試験する場合は（ｉｌｌ）項による。

（ＩｉＱ　切換スイッチ３の切換接点５１及び６２を接
点５１２及び５２２に投入する。グループ組合せスイッ
チ２は任意の方向へ投入すればよく、本説明では切換接
点２１及び２２を接点２１ｙ及び２２ｙに投入した場合
を示す。

端子ＡＴは切換接点２１によって結線された端子ＤＴと
共に試験器端子Ｔ１に結線され、また端子Ｃｔは切換接
点２２によって結線された端子Ｂｔと共ンこ接点６２２
、切換接点５２を介して、接地端子Ｔ１に結線される。

接地端子Ｔ２は、図示しない被試験電気機器の金属ケー
ス等が結線される端子盤１１の接地端子ｅと共に接地さ
れており、すべてのコンタクトＡ、Ｂ、Ｃ及びＤに嵌合
された導体と金属ケースとの間の絶縁性能が試験される
。

上述のように１本実施例においては三角形の頂点に位置
するように配設された多数個のコンタクトを、三角形の
すべての辺方向に１個隔てた位置のコンタクトを繰返し
結線してＡ、Ｂ、Ｃ及びＤの４個のグループを形成し、
三角形のそれぞれ異なる２辺、Ｘ方向の列とｙ　１方向
の列の方向について、その１辺方向毎にコンタクトを２
列に分けて列間の絶縁性能を試験するようにしたので、
切換スイッチを１回操作するだけで、隣接する各コンタ
クト間の絶縁性能が試験でき、さらにすべてのコンタク
トに電位が印加されるように試験する場合を含めても、
その試験の手間は著しく軽減できる。

第２図は本発明の他の実施例の結線図で、図中、５は、
端子盤５１にそれぞれ多数個のコンタクトＦ、Ｇ、Ｈ，
Ｊ、に１Ｌ、ＭＳＮ。

及びＰが三角形の頂点に位置するように植設端子盤５１
０片側面において、図示しない被試験電気機器のそれぞ
れの口出、導体が嵌挿できるように筒状側壁にスリ割り
が形成されたソケット状にされ、端子盤５１に貫装され
ている。これらの各コンタクトＦ、Ｇ、Ｈ，Ｊ、Ｋ、Ｌ
、Ｍ、Ｎ及びＰの他方端部は、三角形のすべての辺方向
（矢印Ｘ、Ｙ及び２で示す方向）に、配設されているコ
ンタクトの２個隔テた位置のコンタクト同志、例えば各
コンタクトＦは繰返し各コンタクトＧ、Ｈ，Ｊ。

Ｋ、Ｍ及びＰ等のうちの２個のコンタクトを隔てた位置
のそれぞれのコンタクトＦか結線され、端子盤５１に植
設されているそれぞれの端子Ｆｔ、Ｈｔ、Ｊ５、Ｋｔ、
Ｌ１２、Ｍｔ、Ｎｔ及びＰｔに結線されている。

６は双投形切換スイッチを６極連動にしたグループ組合
せスイッチ、７．はロータリースイッチ７１．７２及び
７３を連動させた切換スイッチである。端子Ｆ、は、切
換接点６１及び６２、接点７１１．７２５及び７５２に
結線され、端子Ｊ、は切換接点６３及び６４、切換接点
７１０及び７２０並びに絶縁耐力試験器や絶縁抵抗測定
器等の試験装置Ｓの高電位が印加される端子Ｔに結線さ
れ、また、端子Ｍ。

は切換接点６５及び６６、接点７１２．７１３及び７６
１に結線されている。そして、切換接点７３０は端子盤
５１に設けられた被試験電気機器の金属ケースが接続さ
れる端子ｅ２及び接地端子Ｔユと共に接地されている。

接点６１Ｘ及び６５ｙは端子Ｇ、に、接点６２ｘ及び６
３ｙは端子Ｈしこ、接点６３ｘ及び６１ｙは端子に、に
、接点６４ｘ及び６６ｙは端子Ｌｔに、接点６５ｘ及び
６４ｙは端子Ｎｊに、そして接点６６及び６２ｙは端子
ｐｔにそれぞれ結線されている。

以下、手順に従い、本実施例の試験方法を詳述する。

（１）　まず、グループ組合せスイ・ソチ６を矢印Ｘで
示す方向に投入すると共に、切換スイッチ７の各切換接
点７１０．７２０及び７３０を接点７１１．７２１及び
７６１に合わせる。

端子Ｆｔは切換接点６１及び６２によって、端子へ及び
Ｈｔと共に切換接点７１０、接点７１１により試験器端
子Ｔ１に結線され、端子Ｊ、は切換接点６３及び６４に
よって端子Ｋｔ及びＬｔと試験器端子Ｔに結線される。

１ また、端子Ｍ、は切換接点６５、接点６６、切換接点６
６、接点６６Ｘを介して端子ＮいＰｔと共に切換接点７
３０、接点７６１によって接地端子Ｔ２と結線される。

而して矢印Ｘで示す方向に列をなす各コンタクトＦ、Ｇ
及びＨ及び同じくＸで示す方向に列をなす各コンタク）
Ｊ、Ｋ及びＬ、同じくＸで示す方向に列をなす各コンタ
クトＭ、Ｎ、Ｋ及びし、同じくＸで示す方向に列をなす
各コンタクトＭＮ及びＰとの絶縁性能が試験される。

（１１）　ついで、グループ組合せスイッチ事６を上記
（１）項と同じ状態に投入したまま、切換スイッチ７の
切換接点７１０．７２０及び７６０を接点７１２．７２
２及び７６２に合わせる。

端子Ｊｔは切換接点６５及び６４によって結線される端
子Ｋｔ及びり、と共に試験器端子Ｔ１に結線され、切換
接点６５及び６６によって、端子Ｍｔと結線される端子
Ｎｔ及びＰｔは切換接点７１０、接点７１２により試験
器端子Ｔｌに結線される。従って、試験器端子Ｔ、に結
線される各コンタクトＪ、に、Ｌ、各コンタクトＭ、Ｎ
、及びＰとは、矢印Ｘで示す方向の列としてそれぞれ形
成される。また切換接点６１及び６２によって端子Ｇ及
びＨと結線１　１ される端子Ｆが、切換接点７６０、接点７３２によって
接地端子Ｔに結線される各コンタク）’Ｆ、Ｇ及びＨは
矢印×で示す方向の列として形成される。而して、各コ
ンタク）ＪＳＫ及びＬと各コンタクトＭ、Ｎ及びＰとの
二列と、各コンタクトＦ、Ｇ及びＨの列との間の絶縁性
能が試験される。

上述ｑ（１）及び（１１）項の２回の手順は、矢印Ｘで
示す方向の３列、即ち各コンタク）Ｆ、Ｇ及びＨの列、
各コンタクトＪ、Ｋ及びＬの列、そして、各コンタクト
Ｍ、Ｎ及びＰの列の中央の列（各コンタクトＪ、Ｋ及び
Ｌ）を残る２列のうちのいずれかに結線して２回の試験
をすることにより、矢印Ｘで示す方向の列間の絶縁性能
を試験するものである。

（ｉｌｌ）　つぎに、グループ組合せスイーソチ６を矢
印ｙで示す方向に投入すると共に、切換スイッチ７の切
換接点７１０．７２０及び７３０を、それぞれ接点７１
１．７２１及び７６１に合わせる。

切換接点６１及び６２によって、端子Ｋｔ及びＰｔに結
線される端子Ｆ、は、切換接点７１０接点７１１によっ
て試験器端子ＴＩに結線され、また、切換接点６３及び
６４によって、端子Ｈ，Ｎ及びＪは、矢印Ｙで示す方向
に並ぶ２列として構成される。そして、切換接点６５及
び６６によって端子Ｇｔ及びＬｔと共に端子Ｍｔは、切
換接点７６０、接点７６１によって接地端子Ｔ２に結線
され、各コンタクトＧ、Ｌ及びＭは接地端子で２に結線
された矢印Ｙで示す方向の列として構成される。そこで
、各コンタクトに、Ｐ及びＦ、各コンタクトＨ，Ｎ及び
Ｊとの２列と、各コンタクトＧ、Ｌ及びＭの列との間の
絶縁性能が試験される。

７１０．７２０及び７３０をそれぞれ接点７１２．７２
２及び７６２に合わせる。

切換接点６５及び６６によって端子Ｍｔに結線される端
子Ｇｆ及びＩ４は切換接点７１０、接点７１２Ｖこより
試験器端子Ｔ１に結線され、また、切換接点６３及び６
４によって端子Ｈｔ及びＮｊに結線される端子Ｊｔは試
験器ＴＩに結線される。そして、切換接点６１及び６２
にＸつて結線される端子Ｋｔ及びＰｔと端子Ｆｔとが切
換接点７６０、接点７３２によって接地端子Ｔ２に結線
される。而して、各コンタクトＭ、Ｇ及びＬ並びに各コ
ンタク）Ｈ，Ｎ及びＪは、それぞれ矢印Ｙで示す方向の
列として形成され、同方向に並ぶグループが形成される
各コンタク）Ｆ、Ｋ及びＰの列との間の絶縁性能が試験
される。

上記Ｑｉｉ）項及びＯφ項の２回の手順は、それぞれ矢
印Ｙで示す方向の列、即ち、各コンタク）Ｆ、Ｋ及びＰ
のグループ、各コンタク）Ｊ、Ｎ及びＨの列、並びに各
コンタクトＭ、Ｇ及びＬの列の中央に位置する列、即ち
、各コンタク）Ｊ、Ｎ及び■（の列を、残る２列のうち
のいずれかに順次切換え、結線して２つの列と１つの列
との間で２回の試験をすることにより、矢印Ｙで示す方
向の列間のそれぞれのコンタクト間の絶縁性能を試験す
る。

而して、上記（１）〜（ＩＶ）項の手順によりすべての
コンタクト間に電圧が印加され、絶縁性能が試験される
。

ところで、上述（１）〜（１ψ項に示す手順においては
互いに隣接するコンタクト間に電位が与えられるが、そ
れぞれのコンタクトの中には、高電位あるいは接地電位
の何れか一方だけが印加されるので、すべてのコンタク
トに高電位を印加する場合には、つぎの手順（■）を行
なう。

（ｖ）切換スイッチ７の切換接点７１０．７２０及び７
３０をそれぞれ接点７１６．７２３及び７６６に合わせ
る。（グループ組合せスイッチ６は矢印Ｘあるいはｙを
任意の方向に投入。ここでは、矢印Ｘの方向に投入した
場合で説明する。） 端子Ｇｔ及び町は切換接点６１及び６２によって端子Ｆ
ｔと結線されたうえ、接点７２３、切換接点７２０によ
って、また、端子Ｎｔ及びＰｔは切換接点６５及び６６
によって端子Ｍｔと結線されたうえで、接点７１６、切
換接点７１０によって、共に試験器端子Ｔ１に結線され
、切換接点６３及び６４によって端子Ｊｔと結線された
端子に、及びＬｔが試験器端子Ｔ１に接続される。そし
て、端子ｅ２と共に試験器端子Ｔ２を接地して、試験用
端子ＴＩに接続したすべてのコンタクトに課電して、被
試験器の金属ケースと各導体間の絶縁性能が試験される
。

なお、上述説明は、被試験電気機器の各日出導体に嵌合
するように、アダプタに配設されたコンタクトを、三角
形のすべての辺方向にｎ個数隔て、即ち繰返し１個隔て
、あるいは繰返し２個隔てて位置するコンタクトを結線
してグループ４個（（ｎ＋１）’　；ｎ＝１のとき）あ
るいは９個（（ｎ＋１）ｊｎ、＝２のとき）を構成し、
これらのグループを適宜組合せて、三角形の辺方向に列
を成して並ぶようにすると共に２群に分け、これら２群
間に電圧を印加し、隣接コンタクト間の絶縁性能を２回
、あるいは４回のスイッチ切換操作するようにした場合
を示した。

而して本発明によれば、三角形の頂点に位置するように
配設された多数個のコンタクトを繰返し奇数個（１，３
，５，・・・ｎｌ）等間隔に位置するコンタクトを結線
するときは、（ｎ１’　＋　１　）２個のグループを構
成し、（、ｎ１＋１　）２が必ず偶数となるのでグルー
プを最終的に２列に分けて、この列間に電位を印加する
ようにすれば隣接するコンタクト間の絶縁性能を合計２
回（全コンタクトと金属ケースとの間の絶縁性能試験を
含めると３回）の最小スイッチ切換操作で行なうことが
できる。また、同様に配設されたコンタクトを、即ち、
繰返し偶数個（２、４、６・・・・・ｎｏ）等間隔に位
置するコンタクトを結線するときは（ｎｏ　＋１　）２
個のグループを構成する。このときは、（ｎ。

＋１）個が必ず奇数となるので、奇数個の列が構成され
、この奇数列を組合せ替えすることによって、最終的に
２列に分け、この２列間に印加する手順を２回に分けて
行なう。そして、これを三角形の適宜２辺方向について
行なう。従って、合わせて４回の手順で各コンタクト間
の試験ができ、そして全コンタクトに高電位を印加して
接地電位にした金属ケースとの間の絶縁性能を試験する
手順を含め、５回ですべての試験を行なうことができる
。

また、コンタクトは、被試験電気機器の口出導体に摺接
嵌合できるものに代え、リード線にクリップ等番固着し
たものでもよい。

〔効果〕

上述のように、本発明の電気試験方法によれば、三角形
の頂点に位置するようにされた被試験電気機器の日出導
体のそれぞれに嵌合するようにしたコンタクトが植設さ
れたアダプタを被試験電気機器に取付け、三角形のすべ
ての辺方向にｎ個数等間隔隔てた位置のコンタクトを接
続してグループを構成し、同様Ｖこ構成された他のグル
ープ共々２群に分けて、スイッチによりこれらの群間に
′課電するようにしたから、グループの組替えによる作
業時間が、通常１回の試験の課電時間が１分間を要する
絶縁耐力試験や絶縁抵抗測定などは大きく短縮される。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は本発明の実施例の結線図である。 図において、１及び５はアダプタ、２及び６はグループ
組合せスイッチ、３及び７は切換スイッチ、Ａ、Ｂ　１
　Ｃ，Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ　１　Ｈ１Ｊ、Ｋ。 Ｌ、Ｍ、Ｎ及びＰはそれぞれ被試験電気機器に嵌合する
コンタクトである。 特許出願人 大１日本電線株式会社 頽者懺輔役青山幸雄 ◇ 究／図 臂２図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 多数個の日出導体が三角形の頂点に位置するごとく配設
   された電気機器用の電気試験方法であって、前記多数個
   の日出導体のそれぞれに対応して嵌合する多数個のコン
   タクトが配設されたアダプタ及び前記コンタクトに接続
   された切換回路を有し、該切換回路は、三角形の総ての
   辺方向にｎ個数隔てた位置にあるコンタクトを接続して
   １つのグループを形成し、同様に残りのコンタクトをそ
   れぞれ接続して全体で（ｎ＋１）個のグループを形成す
   ると共に、これら各グループを組合せ隣接するコンタク
   ト間に課電することを特徴とする多導体電気機器の電気
   試験方法。