JPS60120264A - 表面電位計 - Google Patents

表面電位計

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JPS60120264A
JPS60120264A JP58228382A JP22838283A JPS60120264A JP S60120264 A JPS60120264 A JP S60120264A JP 58228382 A JP58228382 A JP 58228382A JP 22838283 A JP22838283 A JP 22838283A JP S60120264 A JPS60120264 A JP S60120264A
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JP
Japan
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electrode
vibrator
measuring
measured
substrate
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JP58228382A
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Tadashi Ishikawa
正 石川
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は被測定体の表面電位を測定する表面電位計に係
り、さらに詳しくは、複写機等の感光体表面の電位を検
知し、交流信号として取り出す表面電位計に関するもの
である。
一般に、電子複写機等に使用される光導電物質を使用し
た感光体は、経時変化等による感度シフトが生じ易く、
感光体表面電位を制御する手段を付加して表面電位を常
時一定範囲内に設定することか望ましい。そのため、感
光体表面電位を測定する表面電位計が必要である。
表面電位計としては、被測定体とそれに正対した電位測
定電極との間に生じる電界を断続的に遮蔽することで、
被測定体表面と測定電極の差電圧に比例した振幅を持つ
交流信号を測定電極に誘起させ、測定するものが知られ
ている。
上記のような表面電位計は、電位測定電極と測定回路部
、及び測定電極と被測定体間を断続的に遮蔽するチョッ
プ部から構成される0両者は外部電界の影響、ノイズを
防止するため、金属のシールドにお−われている。この
金属シールドには感光体の被測定部と対向した位置に、
電位測定の測定窓が形成されており、この測定窓を通し
て感光体の電位が測定される。チョップ部は直流モータ
を使用するもの(特開昭54−8447号公報)がある
が、小型・簡単に作成できることで圧電素子を使用する
ものが提案されている。
しかし一般に、測定電極に誘起される交流信号は非常に
微小であり測定電極付近、特に測定電極前面に帯電物質
が付着し、又は測定電極前面付近か帯電すると、大きな
測定誤差要因となる。
本発明の目的は電極前面付近のインピーダンスを下げ、
帯電物質が付着してもその影響を緩和し又は、測定電極
前面付近が帯電しないような構造の表面電位計を提供す
ることにある。
上記目的を達成するため、本発明は検知面付近の表面電
位計基板の、少なくとも被測定体の検知面と対向する端
面を導電化又は非帯電処理したことを特徴とする表面電
位計を提供するものである。
以下、附図を参照しつつ本発明の詳細な説明する。第1
図は、組立完成状態の表面電位計の実例の被検知面側か
ら見た断面図で、図にお(嘱で。
1は外部シールド、2は内部シールド、3は測定電極、
4は基板、5は振動子、6は検知体としての圧電素子、
7は圧電チョッパを支える基台である。外部シールドに
は、測定電極に対応する位置に測定窓が形成されており
、測定窓を通して、図に対して手前に配置される被測定
体との間に生じた電界がシールド内に入り測定電極に到
達するが、外部シールドl内の他の部位には外部シール
ドlがネジ止めにより、基板に取り付けられ、基板のア
ースパターンと接触しているため影響を及ぼさない。
さらに内部シールド2が測定電極3、及び測定回路をお
−う、これはチョップ部の圧電素子6の駆動信号に比し
、測定電極3に誘起された交流電位信号が微少すぎるた
め、外部シールドlで外来の電界、ノイズは抑制できて
も、圧電振動子の駆動信号の電位信号への影響は抑制で
きないため、内部シールド2により、上記影響の抑制が
可能となる。
第2図はチョップ部だけを取り出した正面図で、第3図
は上面図である。振動子は第2図で5のように二股に分
かれており、各々支点側に圧電素子6が導電性接着剤で
接着されている。圧電振動子5の支点はピン状になって
第3図のように基台7に埋め込まれ、第2図に示すよう
に下方に折曲げられ、外部に露出している。またリード
ピン8.9も第2図のように基台7に埋め込まれ、同図
において下方に折曲げられ基台から外部に露出している
。圧電素子からのリード線10.10は第2図のように
リードピン8.9にそれぞれハンダ付される。また振動
子5のリードピンはアースされる。圧電素子6は厚み方
向すなわち第2図で上下方向に電圧を印加すると1面方
向の歪を発生する。そのため圧電素子あ歪により、振動
子の各辺は第2図で上下方向の振動を起こす、振動子5
の各自由端は第1図で測定電極3と平行になって電極3
を遮蔽できるような形状になっている。振動子5自体は
アースされて電極3の直前で振動するため、被測定体か
ら測定窓を通して電極3に電界がか−る総面積が変動1
.振動子5の振動周波数と同じ周波数で、被測定体と電
極3間の電位差に比例した振幅をもつ交流信号が電極3
に誘起される。
このチョップ部は1例えば第2図のA−A’間で基台7
を分割しておき、振動子5.リードピン8.9を第3図
では下方より7aに挿入し、第2図で見て下方に折曲げ
、第3図において7bを上方より接着することで形成さ
れる。このような構成ならば、従来のようにチョップ部
をネジ止めし、リードピンを手I\ンダによりI\ンダ
付けしていた作業を、他のトランジスタ、抵抗等と共に
チョップ部を基板4上に搭載し、/\ンダ槽に通すだけ
で一度にチョップ部の基板への固着、プリントツクター
ンへの接続が行なえる。
この表面電位計の切断平面図の第4図におし1て、外部
シールド1は、測定電極3が被測定部と対向した位置に
おいて電位測定!!1′を有し、基板4に形成された検
知回路11は、内部シールド2によって遮蔽されている
。ここに、測定電極3と被測定体(この図において下方
に位置する)との間に形成された電界を断続的に遮蔽す
る位置に振動子5を含むチョップ部が配設される。
上記構造の表面電位計において、基板4には、一般にガ
ラス、エポキシ、ベークライト等の材料が用いられるが
、基板製造及び加工上で基板端部に基板の繊維が露出す
ることがある。基板は絶縁性物質であるため、露出した
部位は帯電しやすく、また帯電するとその電荷は逃げに
くい。その結果測定電極との間に電界が生じ、振動子に
て断続するため大きな測定誤差が生じる。
この不具合を解消するために、本実施例では、第5図に
示すように測定電極前面付近の表面電位計基板4の被測
定体の検知面に対向する端面14を低インピーダンスに
するため、スルーホール処理、又は導電性塗料の塗布、
又は導電性材料で遮蔽部材を作成し、基板製造後、当該
装置にこれを嵌装する。
以上の如く構成することにより、検知体の測定電極の被
測定体に対向する前面付近への帯電物質の付着、又は測
定電極前面付近の帯電が避けられ、表面電位の測定誤差
発生の解消に顕著な効果を奏する。
本発明は、上述したように帯電部(測定部付近における
)に導電化(アース又は導電剤供給、付与により)又は
非帯電の処理を施こすことで。
測定誤差を大幅に減少できたものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、組立完成状態の既知の表面電位計の被測定体
側から見た断面図、第2図は、第1図の電位計のチゴッ
プ部のみを取り出した正面図、第3図は、第2図のチョ
ップ部の上面図、第4図は、前記表面電位計の切断平面
図、第5図は、本発明による遮蔽処理を施された表面電
位計の外部シールドを除去した状態の測定電極近傍の斜
視図を示す。 l ・・・外部シールド 1′・・・測定窓2 ・・・
内部シールド 3 ・・・測定電極4 ・・・基板 5
 ・・・振動子 6 ・・・圧電素子 7 ・・・基台 8 ・・・リードピン 9 ・・・リードビン10 ・
・・リード線 11 ・・・検知回路12 ・・・基板
端部遮蔽部分 第1図 第2図 wA3図 第 5 囚 手続補正書(刃側 昭和58年3月を日 特許庁長官 殿 l、事件の表示 昭和58年 特許願 第228382
号2、発明の名称 表面電位計 3、補正をする者 事件との関係 出願人 (+00)キャノン株式会社 4、代理人 住所 東京都港区赤坂1丁目9番20号5、補正命令の
日付 発送日:昭和59年2月28日 6、補正の対象

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)被測定体と正対する検知面を有する検知体と、前記
    検知面と前記被測定体間に形成された電界を断続的に遮
    断する振動子を含む表面電位計において、前記検知体を
    担持する基板の、少なくとも被測定体と対向する前記検
    知面付近の端部が、導電化又は非帯電処理されることを
    特徴とする表面電位計。 2)前記導電化又は非帯電処理される基板端部が、スル
    ーホール処理される特許請求の範囲第1項記載の表面電
    位計。 3)前記導電化又は非帯電処理される基板端部が、4電
    性塗料で塗布される特許請求の範囲第1項記載の表面電
    位計。 4)前記導電化又は非帯電処理される基板端部が、導電
    性物質の遮蔽部材を嵌装される特許請求の範囲第1項記
    載の表面電位計。
JP58228382A 1983-12-05 1983-12-05 表面電位計 Expired - Lifetime JPH0616060B2 (ja)

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JP58228382A JPH0616060B2 (ja) 1983-12-05 1983-12-05 表面電位計

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JP58228382A JPH0616060B2 (ja) 1983-12-05 1983-12-05 表面電位計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60120264A true JPS60120264A (ja) 1985-06-27
JPH0616060B2 JPH0616060B2 (ja) 1994-03-02

Family

ID=16875588

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JP58228382A Expired - Lifetime JPH0616060B2 (ja) 1983-12-05 1983-12-05 表面電位計

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115335711A (zh) * 2020-03-26 2022-11-11 国家航空航天研究所 电场检测器

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6310534U (ja) * 1986-07-08 1988-01-23

Patent Citations (1)

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JPS6310534U (ja) * 1986-07-08 1988-01-23

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CN115335711A (zh) * 2020-03-26 2022-11-11 国家航空航天研究所 电场检测器

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JPH0616060B2 (ja) 1994-03-02

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