JPS6011172A - 測定出力のピ−ク検出回路 - Google Patents

測定出力のピ−ク検出回路

Info

Publication number
JPS6011172A
JPS6011172A JP11990883A JP11990883A JPS6011172A JP S6011172 A JPS6011172 A JP S6011172A JP 11990883 A JP11990883 A JP 11990883A JP 11990883 A JP11990883 A JP 11990883A JP S6011172 A JPS6011172 A JP S6011172A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
differential
measurement
detection circuit
peak
peak detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11990883A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JPH0475467B2 (cg-RX-API-DMAC7.html
Inventor
Kunihiko Okubo
邦彦 大久保
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Original Assignee
Shimadzu Corp
Shimazu Seisakusho KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp, Shimazu Seisakusho KK filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP11990883A priority Critical patent/JPS6011172A/ja
Publication of JPS6011172A publication Critical patent/JPS6011172A/ja
Publication of JPH0475467B2 publication Critical patent/JPH0475467B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
JP11990883A 1983-06-30 1983-06-30 測定出力のピ−ク検出回路 Granted JPS6011172A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11990883A JPS6011172A (ja) 1983-06-30 1983-06-30 測定出力のピ−ク検出回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11990883A JPS6011172A (ja) 1983-06-30 1983-06-30 測定出力のピ−ク検出回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6011172A true JPS6011172A (ja) 1985-01-21
JPH0475467B2 JPH0475467B2 (cg-RX-API-DMAC7.html) 1992-11-30

Family

ID=14773174

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11990883A Granted JPS6011172A (ja) 1983-06-30 1983-06-30 測定出力のピ−ク検出回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6011172A (cg-RX-API-DMAC7.html)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62231165A (ja) * 1986-03-31 1987-10-09 Shimadzu Corp 測定出力のピ−ク頂点位置検出装置
JPH06160188A (ja) * 1992-11-21 1994-06-07 Horiba Ltd 分光スペクトルのピーク位置を求める方法
US5745369A (en) * 1995-05-30 1998-04-28 Horiba Ltd. Method and apparatus for determining a peak position of a spectrum
CN101849184A (zh) * 2007-12-05 2010-09-29 全技术联合公司 用于分析样本和收集样本流份的方法和装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62231165A (ja) * 1986-03-31 1987-10-09 Shimadzu Corp 測定出力のピ−ク頂点位置検出装置
JPH06160188A (ja) * 1992-11-21 1994-06-07 Horiba Ltd 分光スペクトルのピーク位置を求める方法
US5745369A (en) * 1995-05-30 1998-04-28 Horiba Ltd. Method and apparatus for determining a peak position of a spectrum
CN101849184A (zh) * 2007-12-05 2010-09-29 全技术联合公司 用于分析样本和收集样本流份的方法和装置
JP2010540965A (ja) * 2007-12-05 2010-12-24 オールテック・アソシエイツ・インコーポレーテッド サンプルの画分を収集しサンプルを分析するための方法および装置
JP2013011616A (ja) * 2007-12-05 2013-01-17 Alltech Associates Inc サンプルの画分を収集しサンプルを分析するための方法および装置
JP2013011615A (ja) * 2007-12-05 2013-01-17 Alltech Associates Inc サンプルの画分を収集しサンプルを分析するための方法および装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0475467B2 (cg-RX-API-DMAC7.html) 1992-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS61145457A (ja) クロマトグラフ用データ処理方法
JPH0291565A (ja) ガスクロマトグラフ用データ処理装置
JPS6011172A (ja) 測定出力のピ−ク検出回路
CN118916626A (zh) 一种桥梁拉索基频识别方法、装置、计算机设备及存储介质
JPH0575058B2 (cg-RX-API-DMAC7.html)
JPH04184166A (ja) クロマトグラムピークの成分純度測定装置
JPH09304370A (ja) クロマトグラフデータ処理方法
JP2977373B2 (ja) 光ファイバ温度分布センサ
JPS62172261A (ja) 多波長検出器を用いたクロマトグラムにおけるピ−クスペクトルからのバツクグランドシフトの除去法
SU885871A2 (ru) Автоматическа газоаналитическа система
JP2521903B2 (ja) 測定値の記録方法
JPS63222241A (ja) デ−タ処理方法
JPS63293466A (ja) クロマトグラフ用デ−タ処理装置
SU877349A1 (ru) Устройство дл определени температурной площадки
JP3755025B2 (ja) 探索型の信号検出装置、信号検出方法、信号検出プログラム及びそのプログラムを記録した記録媒体
JP3170815B2 (ja) 磁気再生波形のレベル判定装置
JPS62124450A (ja) Nmrスペクトルの自動ベースラインコレクション方法
JPS5910619Y2 (ja) クロマトグラフのデ−タ処理装置
JPS62231165A (ja) 測定出力のピ−ク頂点位置検出装置
RU2031357C1 (ru) Тензометрическое устройство
JPH0568648B2 (cg-RX-API-DMAC7.html)
JPS59122954A (ja) 自動分析装置
JPS63109368A (ja) ガスクロマトグラフのリスト自動設定方法
SU544975A1 (ru) Устройство дл определени площади хроматографического пика
JPH0797082B2 (ja) 赤外放射分光測定方法及び装置