JPS60106122A - 電解コンデンサ - Google Patents
電解コンデンサInfo
- Publication number
- JPS60106122A JPS60106122A JP21526483A JP21526483A JPS60106122A JP S60106122 A JPS60106122 A JP S60106122A JP 21526483 A JP21526483 A JP 21526483A JP 21526483 A JP21526483 A JP 21526483A JP S60106122 A JPS60106122 A JP S60106122A
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- JP
- Japan
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- corrosion
- hydrotalcite
- spacer paper
- electrolytic
- paper
- Prior art date
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- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Insulating Bodies (AREA)
- Electric Double-Layer Capacitors Or The Like (AREA)
- Electrophonic Musical Instruments (AREA)
- Primary Cells (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は電解コンデンサ、特にスペーサ紙を改良した電
解コンデンサに係る。
解コンデンサに係る。
［発明の技術的背狽とその問題点］
電解」ンデンシ等の電子部品は、最近その完成後におい
てハロゲン化炭化水素系統の洗浄剤で洗浄されることが
多くなって来た。
てハロゲン化炭化水素系統の洗浄剤で洗浄されることが
多くなって来た。
而して、従来の一般用電解コンデンリーでは、洗）争１
５にゴム栓部からの透過、端子部の隙間等からの侵入等
によって洗浄剤がコンデンサ内部に侵入し、これが内部
で加水分解等の反応を起してハロゲンイオンを生成する
。このハロゲンイオンは、陽極箔を腐蝕させコンデンサ
としての機能を失わせることとなる。
５にゴム栓部からの透過、端子部の隙間等からの侵入等
によって洗浄剤がコンデンサ内部に侵入し、これが内部
で加水分解等の反応を起してハロゲンイオンを生成する
。このハロゲンイオンは、陽極箔を腐蝕させコンデンサ
としての機能を失わせることとなる。
ハロゲン化炭化水素系統で洗浄を施される一部の電解コ
ンデンサでは、ハロゲンイオンによる前記の腐蝕を防止
づるため、ベースト電解液中に液体陰イオン交換体であ
るアルカノールアミン等を混入しているが、このよ１う
にしても腐蝕を完全に防止し得ないた【プでなく、この
ようにしたコンデンサは使用電圧範囲が限られる欠点が
あった。
ンデンサでは、ハロゲンイオンによる前記の腐蝕を防止
づるため、ベースト電解液中に液体陰イオン交換体であ
るアルカノールアミン等を混入しているが、このよ１う
にしても腐蝕を完全に防止し得ないた【プでなく、この
ようにしたコンデンサは使用電圧範囲が限られる欠点が
あった。
［発明の目的コ
本発明は上記の事情に基ぎなされたもので、内部に侵入
した洗浄剤によるｌｌ１ｌ醜を防止し１！１、しかもそ
の防止手段により使用電圧範囲が制限されない電解コン
デンサを得ることを目的としＣいる。
した洗浄剤によるｌｌ１ｌ醜を防止し１！１、しかもそ
の防止手段により使用電圧範囲が制限されない電解コン
デンサを得ることを目的としＣいる。
［発明の概要］
本発明の電解」ンデンザは、陽４ｆｉ箔、Ｉ１３極箔間
転介在されるスペーサ紙に１ ｃｍ２当り０．５ｍｑ以
上のハイドロタルシイ１〜を担持さＵたことを特徴とす
る。
転介在されるスペーサ紙に１ ｃｍ２当り０．５ｍｑ以
上のハイドロタルシイ１〜を担持さＵたことを特徴とす
る。
［発明の実施例］
本発明の電解コンデンサは、陽極箔、陰極箔間に介在さ
Ｕるスペーサ紙として、（１）ハイドロタルリ“イトを
溶剤中に分散させこれをスペーサ紙に塗布した後溶剤を
蒸散させ乾燥したもの（ハイドロタルリーイ１〜塗布ス
ペーリー紙） 、（２）スペーサ紙製造時にスペーサ紙
の繊維とハイドロタル−サイ：・を混合し抄紙したもの
（ハイドロタルサイト混抄スペーサ紙） 、（３）ハイ
ドロタルサイ１−を溶剤中に分散さけその中にスペーサ
紙を浸漬した後乾燥させたもの（ハイドロタルサイト含
浸スペーサ紙）を使用゛りる。但し、スペーサ紙ｌ ｃ
ｍ２当り０．５ｍｇ以上のハイドロタルサイ１〜を含む
ものとする。洗浄剤による宙ｗ４−］ンデンリ−の腐蝕
（よ、次の順序で生じる。
Ｕるスペーサ紙として、（１）ハイドロタルリ“イトを
溶剤中に分散させこれをスペーサ紙に塗布した後溶剤を
蒸散させ乾燥したもの（ハイドロタルリーイ１〜塗布ス
ペーリー紙） 、（２）スペーサ紙製造時にスペーサ紙
の繊維とハイドロタル−サイ：・を混合し抄紙したもの
（ハイドロタルサイト混抄スペーサ紙） 、（３）ハイ
ドロタルサイ１−を溶剤中に分散さけその中にスペーサ
紙を浸漬した後乾燥させたもの（ハイドロタルサイト含
浸スペーサ紙）を使用゛りる。但し、スペーサ紙ｌ ｃ
ｍ２当り０．５ｍｇ以上のハイドロタルサイ１〜を含む
ものとする。洗浄剤による宙ｗ４−］ンデンリ−の腐蝕
（よ、次の順序で生じる。
すなわら、
（１） ゴム栓部からの透過や、端子部の隙間からの侵
入による］ンデンザ内部への洗ｆｆＩ剤の侵入、（２）
洗浄剤の加水分解によるハロゲンイオンの生成、 （３） ハロゲンイオンによる陽極箔の酸化皮膜の腐蝕
。
入による］ンデンザ内部への洗ｆｆＩ剤の侵入、（２）
洗浄剤の加水分解によるハロゲンイオンの生成、 （３） ハロゲンイオンによる陽極箔の酸化皮膜の腐蝕
。
ところで、本発明においては、スペーり紙にハイドロタ
ルサイトを担持させている。ハイドロタルサイトは、以
下に塩素イオンについて例示したようにして、前記（２
）で生成したハロゲンイオンを取込み、前記（３）の反
応を生じさμないようにするものである。従って、腐蝕
を生じることはない。
ルサイトを担持させている。ハイドロタルサイトは、以
下に塩素イオンについて例示したようにして、前記（２
）で生成したハロゲンイオンを取込み、前記（３）の反
応を生じさμないようにするものである。従って、腐蝕
を生じることはない。
また、コンデンサの製造工程中に何らかの原因で混入し
たハロゲンイオンも同様にして取りこまれるので、それ
による腐蝕も生じない。
たハロゲンイオンも同様にして取りこまれるので、それ
による腐蝕も生じない。
下式は、ハイドロタルサイトと塩素イオンの反応例を示
す。 。
す。 。
Ｍｇ ４．５Ａ１２ （Ｏｆ−１） １３ｃＯ３・ ３
． ５Ｈ２０＋２ｌ−１ｃＩを使用し本発明により構成
した電解コンデンジと、従来のスペーサ紙を用いて構成
した電解コンデンサとの試験結果を示す。
． ５Ｈ２０＋２ｌ−１ｃＩを使用し本発明により構成
した電解コンデンジと、従来のスペーサ紙を用いて構成
した電解コンデンサとの試験結果を示す。
試料：型 式・・・リード線間一方向型定４８電Ｌ［・
・・１００■ 容 量・・・１ μＦ 外 形・・・５φ／ｍｍｘ １ １ １ ／ｎｖ箇 数
・・・１００ 洗）争条１’１： ′ｌ、 １．１１〜リクロロエタン
蒸気洗）争５分 試験条件＝１０５℃定格電圧印加寿命試験評価項目：静
電容量、ｔａｎδ（損失角正接）、腐蝕発生数 なＪ３、試料は下記のＡ〜Ｄの／Ｉ秒δ１００箇を準備
した。
・・１００■ 容 量・・・１ μＦ 外 形・・・５φ／ｍｍｘ １ １ １ ／ｎｖ箇 数
・・・１００ 洗）争条１’１： ′ｌ、 １．１１〜リクロロエタン
蒸気洗）争５分 試験条件＝１０５℃定格電圧印加寿命試験評価項目：静
電容量、ｔａｎδ（損失角正接）、腐蝕発生数 なＪ３、試料は下記のＡ〜Ｄの／Ｉ秒δ１００箇を準備
した。
第１図は時間−静電容量変化率を示ｔｌ特性曲線図、第
２図は時間−損失角正接を示す特性曲線、第３図は時間
−漏れ電流を示す特性曲線図である。
２図は時間−損失角正接を示す特性曲線、第３図は時間
−漏れ電流を示す特性曲線図である。
これらの図は、静電容量変化率、損失角正接、漏れ電流
等は１０００時間程度の試験では、試料Ａ−，−ｎ Ｔ
−Ｆ’ ｌＸ出１ｘいｔ と７Ａわかる一第４図は時間
経過と腐蝕発生数２の関係を示している。この図からハ
イドロタルサイト０の試料Ａ（従来品）では、試験量始
時から腐蝕が発生し始め、５００時間経過後には全数に
腐蝕が発生し、ハイドロタルサイｌ−０，２ｍ（＋の試
料Ｂでは、試験ＩＪｆｌ始４！２５０時間経過してｇ蝕
が発生し始め１０００時間経過後には７０％に１腐蝕が
発生することがわかる。これに対し、ハイドロタルサイ
ト０ 、５ ｍｇ／ｃｍ２以上の試料Ｃ，ＤでＧ；を腐
蝕）発生はＯである。
等は１０００時間程度の試験では、試料Ａ−，−ｎ Ｔ
−Ｆ’ ｌＸ出１ｘいｔ と７Ａわかる一第４図は時間
経過と腐蝕発生数２の関係を示している。この図からハ
イドロタルサイト０の試料Ａ（従来品）では、試験量始
時から腐蝕が発生し始め、５００時間経過後には全数に
腐蝕が発生し、ハイドロタルサイｌ−０，２ｍ（＋の試
料Ｂでは、試験ＩＪｆｌ始４！２５０時間経過してｇ蝕
が発生し始め１０００時間経過後には７０％に１腐蝕が
発生することがわかる。これに対し、ハイドロタルサイ
ト０ 、５ ｍｇ／ｃｍ２以上の試料Ｃ，ＤでＧ；を腐
蝕）発生はＯである。
このことは、静電容量、損失角正接、漏出電流では試料
Ｃ，Ｄと差のなかった試料Ａ、Ｂも何れはコンデンサと
しての機能を失うに至ることを意味する。
Ｃ，Ｄと差のなかった試料Ａ、Ｂも何れはコンデンサと
しての機能を失うに至ることを意味する。
従って、本発明では塗布、含浸、混抄等の何れかの手段
によって、０ 、５ ｍｇ／ ｃｍ２以上のハイドロタ
ルサイｊ−を担持さゼたスペーり紙を使用して、内部に
侵入した洗浄剤による腐蝕を防止することができる。
によって、０ 、５ ｍｇ／ ｃｍ２以上のハイドロタ
ルサイｊ−を担持さゼたスペーり紙を使用して、内部に
侵入した洗浄剤による腐蝕を防止することができる。
［発明の効果］
本発明によれば、第４図に示す−ように内部に侵入した
ハロゲン化炭化水素系統の洗浄剤ににる陽極箔の腐蝕は
完全に防止され、電解コンデンサの信頼↑１は著しく高
められる。
ハロゲン化炭化水素系統の洗浄剤ににる陽極箔の腐蝕は
完全に防止され、電解コンデンサの信頼↑１は著しく高
められる。
第１図は寿命試験に；３３ ＆ｊる詩間−静電容吊変化
率を承り特性曲線図、第２図は時間−ＪＤＩ失角正角正
接Ｊ特１！１−曲図線、第３図は詩間−漏出電流を示す
特性曲線図、第４図は時間−腐蝕発生数を示す特性曲線
図である。 特許出願人 マル」ン電子株式会社 第１図 第２５ 第３図 第４図 θ ５ｃｔｔ ｔｔψｌ
率を承り特性曲線図、第２図は時間−ＪＤＩ失角正角正
接Ｊ特１！１−曲図線、第３図は詩間−漏出電流を示す
特性曲線図、第４図は時間−腐蝕発生数を示す特性曲線
図である。 特許出願人 マル」ン電子株式会社 第１図 第２５ 第３図 第４図 θ ５ｃｔｔ ｔｔψｌ
Claims (1)
- 陽極箔、陰極箔間に介在されるスペーサ紙にｉ ｃｍ２
当り０．５１１１（１以上のハイドロタルサイトを担持
さＵたことを特徴とヅる電解コンデンサ″。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21526483A JPS60106122A (ja) | 1983-11-15 | 1983-11-15 | 電解コンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21526483A JPS60106122A (ja) | 1983-11-15 | 1983-11-15 | 電解コンデンサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60106122A true JPS60106122A (ja) | 1985-06-11 |
| JPS6350848B2 JPS6350848B2 (ja) | 1988-10-12 |
Family
ID=16669426
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21526483A Granted JPS60106122A (ja) | 1983-11-15 | 1983-11-15 | 電解コンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60106122A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8714031B2 (en) | 2009-06-25 | 2014-05-06 | Nestec S.A. | Flowmeter materials for a beverage machine |
| US8789429B2 (en) | 2009-06-25 | 2014-07-29 | Nestec S.A. | Flowmeter structure for a beverage machine |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2507269Y2 (ja) * | 1990-06-27 | 1996-08-14 | 東海ゴム工業株式会社 | セラミツクス装飾板 |
-
1983
- 1983-11-15 JP JP21526483A patent/JPS60106122A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8714031B2 (en) | 2009-06-25 | 2014-05-06 | Nestec S.A. | Flowmeter materials for a beverage machine |
| US8789429B2 (en) | 2009-06-25 | 2014-07-29 | Nestec S.A. | Flowmeter structure for a beverage machine |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6350848B2 (ja) | 1988-10-12 |
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