JPS6010493A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPS6010493A
JPS6010493A JP58115887A JP11588783A JPS6010493A JP S6010493 A JPS6010493 A JP S6010493A JP 58115887 A JP58115887 A JP 58115887A JP 11588783 A JP11588783 A JP 11588783A JP S6010493 A JPS6010493 A JP S6010493A
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Yoshihiro Takemae
義博 竹前
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Fujitsu Ltd
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    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明は、半導体記憶装置に関し、特に簡単な回路構成
によシ各メモリセルをシリアルにかつ高速度でアクセス
できるようにした記憶装置に関する。
技術の背景 例えばダイナミックランダムアクセスメモリ等の半導体
記憶装置においては、オートリフレッシュ時能あるいは
ニブルモードによる読み出し機能等が設けられたものが
あシ、これらの機能を実現するためには各メモリセルの
データを順次シリアルにアクセスする機能が必要とされ
る。そして、この場合、シリアルアクセスは高速度で行
なわれることが必要であると共に、シリアルアクセスの
ために使用される回路部分が少なくしたがってシリアル
アクセス時における消費電力が少ないことが必要とされ
る。
従来技術と問題点 従来、オートリ7レツシニ機能を有するタ゛イナミック
ランダムアクセスメモリ装置においては、オートリフレ
ッシュ時はリフレッシュアドレスカウンタ出力をアドレ
ス切換回路を介して通常動作用のアドレスバッファに入
力し、さらにローデコーダすなわちワードデコーダによ
って目的とする1本のワード線を選択してリフレッシュ
動作を行なっていた。
ところが、このような従来形のメモリ装置においては、
オートリフレ、シネ時にも通常の動作と同様にアドレス
切換回路、アドレスバッファおよびローデコーダを動作
させていたため、オートリフレッシ−のためにかなシの
電力を消費し、かつオートリフレッシ−動作の速度を通
常のアクセス動作の速度より高速化することは不可能と
カリ、したがりて、記憶装置全体の動作速度をよシ高速
化することが不可能であるという不都合があった。
また、シリアルアクセスを行なうメモリ装置としてニゾ
ルモードによる動作が可能なものがあるが、従来形のニ
ブルモード機能を有するメモリ装置においては、複数の
メモリセルからのデータを複数本のデータバスを介して
データレジスタに並列に転送し、このデータレジスタに
格納された複数ビットのデータをシリアルに出力してい
た。
しかしながら、このようなメモリ装置においては、1回
のアクセスによって読み出されるデータのビット数を多
くする必要がある場合には、データバスの本数およびデ
ータレジスタのビット数ヲ増大する必要があシ、ハード
ウェア量が極めて多くなるという不都合があった。
発明の目的 本発明の目的は、前述の従来形における問題点に鑑み、
半導体記憶装置において、アドレスデコーダと並列的に
シフトレジスタを設は該シフトレジスタから順次選択信
号を印加するという病態に基づき、簡単な回路構成によ
り、シリアルアクセスが高速度で行なわれるようにする
と共にシリアルアクセス時の消費電力を軽減することに
おる。
発明の構成 そしてこの目的は、本発明によれば、行選択線および列
選択線を選択してメモリセルを選択することによりデー
タの入出力を行なう構成を具備し、少なくとも行選択線
または列選択線の一方を順次選択するシフトレジスタを
設けることによシメモリセルのデータをシリアルに入力
及び/又は出力できるようにしたことを特徴とする半導
体記憶装置を提供することによって達成される。
発明の実施例 以下図面によシ本発明の実施例を従来例と比較しながら
説明する。
第1図は、従来形のオートリフレッシュ機能を有するダ
イナミックランダムアクセスメモリの構成を部分的に示
す。同図において、メモリセルアレイ1は複数のワード
線WLおよび複数のビット線BLの交差部に配列された
複数のメモリセルMeによって構成されたものである。
2はワード線を選択するローデコーダ、3はローデコー
ダ2に反転および非反転アドレス信号A、^を入力する
アドレスバッファ、4はローデコーダ2にワードドライ
ブ信号WDを印加するワードドライブ回路である。5は
アドレス切換回路、6はローイネーブル回路、7はり7
レツシ一イネーブル回路で117.8はリフレッシュア
ドレスカウンタである0なお1第1図においては、コラ
ムデコーダその他の部分は省略されている。
第1図において、通常のアクセス動作の場合は、ローア
ドレスストローブ信号RASが低レベルになシ、ローイ
ネーブル回路6からワードドライブ回路4およびアドレ
スバッファ3にローイネーブル信号RF r R”2が
印加される。この時、リフVヮシュ信号RFS)lは高
レベルとなっておシ、リフレッ泳イネーブル回路7から
はりフレッシェイネーブル信号REF 、 REFは出
力されない。このため、アドレス切シ換え回路5は外部
アドレス信号へ〇。
をアドレスバッファ3に入力するように切シ換えられて
いる。そして、アドレスバッファ3はこの入力された外
部アドレス信号AEXTの各ビットの非反転および反転
アドレス信号A、Aをローデコーダ2に入力する。また
、ローイネーブル信号RB。
REによってワードドライブ回路4が作動しワードドラ
イブ信号WDを発生してローデコーダ2に入力する。ロ
ーデコーダ2は入力された非反転および反転アドレス信
号A、Aをデコードしてワード線WLを選択し、選択さ
れたワード線WLにワードドライブ信号WDを印加する
。これにょシ、選択されたワード線WLと図示しないコ
ラムデコーダ等によって選択されたビット線BLとに接
続されたメモリセルMCにアクセスが行なわれる。
これに対して、オートリフレッシュ時はりフレッシー信
号RFSHが低レベルになる。これKよシ、ワードドラ
イブ回路4およびアドレスバッファ3は前記と同様の動
作を行なうが、リフレッシュイネーブル回路7はリフレ
ッシュ信号RFSHが低レベルであるためリフレッシュ
イネーブル信号RFE。
RFEをアクティブにしてアドレス切シ換え回路5に印
加する。これによシ、アドレス切シ換え回路5はリフレ
ッシュアドレスカウンタ8からのリフレッシュアドレス
Aゆ、ヲアドレスパッファ3に入力するように切シ換え
られる。したがって、アドレスバッファ3はリフレッシ
ュアドレスAR1!F’の各ビットの非反転および反転
アドレス信号A、Aを作成してローデコーダ2に印加す
る。リフレッ江アドレスカウンタ8はリフレッシュアド
レス信号Aよ、を順次更新しているため、ローデコーダ
2によって各ワード線WLが順次選択され、ワード線ご
とにリフレッシュ動作が行なわれる。
ところが、第1図の従来形の記憶装置においては、オー
トリフレ、シ一時にも通常の動作と同様にアドレス切換
回路5、アドレスバッファ3およびローデコーダ2等を
動作させていたため前述のような不都合があった。
第2図は、このような従来形の不都合を解消するために
考案された本発明の1実施例に係わる半導体記憶装置を
部分的に示す。同図において、メモリセルアレイ1、ア
ドレスバッファ3およびりフレッシュイネーブル回路7
は第1図の装置に用いられているものと同じでアシ同一
参照数字で示されている。参照数字9は、ローデコーダ
およびリフレッシュアドレスレジスタとしてのシフトレ
ジスタを含む語選択回路である。ワードドライブ回路1
0は、ローイネーブル回路11から入力されるローイネ
ーブル信号RE 、 REの他にリフレッシュイネーブ
ル回路7から入力されるリフレッシ−イネーブル信号R
FE 、 RFEによりて制御され、語選択回路9にワ
ードドライブ信号WDを供給するものである。また、ロ
ーイネーブル回路11は、ローアドレスストローブ信号
RASの入力に応じてローイネーブル信号RE 、 R
Eを出力するものである。なお、語選択回路9内のりフ
レッシーアドレスレジスタはローデコーダと並列的に設
けられておシ、例えばワード線WLと同じ段数を有し各
段が各々のワード線に対応している。そして、該リフレ
ッシエアドレスレジスタはいわゆるリングカウンタ形式
で動作し、全ビットのうちで1ビ、トのみが@1#であ
シ他はすべて′0#となっている。この@1#でおる1
ビツトによって目的とする1本のワード線を順次選択す
ることによジオ−トリフレッシュ動作を行なう。
第2図の記憶装置においては、通常のアクセス動作が行
表われる場合には、ローアドレスストローブ信号RAS
が低レベルにされ、リフレアシ瓢信・・−号RFS11
は高レベルに保持される。これによシ、ローイネーブル
回路11からローイネーブル信号RK 、 Rgが出力
されてワードドライブ回路10およびアドレスバッファ
3に印加される。これによシ、アドレスバッファ3が活
性化され、該アドレスバッファ3に入力される外部アド
レス信号AEXTの各ビットに対応する非反転および反
転アドレス信号A、Aが作成されて語選択回路9に入力
される。また、ワードドライブ回路10も活性化されて
ワードドライブ信号WDが作成され語選択回路9に印加
される。語選択回路9において内部のローデコーダが入
力された非反転および反転アドレス信号A、Aをデコー
ドし、1本のワード線WLを選択して該ワード線にワー
ドドライブ信号WDを印加する。また、図示しないコラ
ムデコーダによってレット線BLが選択され、選択され
たワード線WLおよび選択されたビット線BLに接続さ
れたメモリセルMCにアクセスが行なわれデータの読み
出しまたは書き込みが行なわれる。
これに対して、オートリフレッシュ時には、リフレッシ
ュ信号RF 8Hが低レベルとされリフレッシュイネー
ブル回路7からリフレッシエイネーブル信号RFID 
、 RFE がワードドライブ回路10および語選択回
路9に印加される。これによシ、ワードドライブ回路1
0はワードドライブ信号WDを作成し語選択回路9に印
加する。また、語選択回路9はリフレッシュイネーブル
信号RFE、RFIの印加によジローデコーダからの信
号に代えて内部のシフトレジスタからの信号によってワ
ード線WLを選択し選択したワード線WLにワードドラ
イブ信号WDを印加する。これによシ、ワード線WLの
リフレッシュ動作が行なわれる。そして、該シフトレジ
スタすなわちリフレッシュアドレスレジスタにおいては
データ1が順次シフトされて各ワード線WLが順次リフ
レッシ−される。
第3図は、語選択回路9内に設けられたワード線1本分
に対応する回路の詳細を示す。同図の回路は、ローデコ
ーダを構成するノアゲート12、リフレッシエアドレス
レジスタを構成する1段分のりフレッシコ、アドレスレ
ジスタ回路13、そしてトランジスタQx 、Q*およ
びQ3を具備する。
第3図の回路においては、通常のアクセス動作時にはリ
フレッシュイネーブル信号RFEが低レベル、反転リフ
レッシュイネ−グル信号RFEが高レベルとなる。これ
によシ、トランジスタQ1がカットオンし、トランジス
タQ2がオンとなる。したがって、ローデコーダ回路の
ノアゲート12の出力がトランジスタQ2を介してトラ
ンジスタQ3のゲートに印加される。これによシ、トラ
ンジスタQ3がオンとなりワードドライブ信号WDが選
択ワード線WLに印加される。これに対して、オートリ
フレッシ一時にはリフレッシュイネーブル信号RFEが
高レベル、反転リフレッシュイネ−グル信号RFEが低
レベルとなシ、トランジスタQtがオン、トランジスタ
Q雪がオフとなる。したがって、リフレッシュアドレス
レジスタ回路13からの信号がトランジスタQlを介し
てトランジスタQsのゲートに印加され、咳リフレッシ
ュアドレスレジスタ回路13の出力が@1#の場合はト
ランジスタQ3がオンとなってワードドライブ信号WD
がワード線WLに印加される。もし、リフレッシ−アド
レスレジスタ回路13の出力が“O#であれば、トラン
ジスタQ3がオフのままとなシ対応ワード線WLにはワ
ードドライブ信号WDが印加されない。このようにして
、リフレッシュアドレスレジスタの各段の内出力が11
#でおるワード線WLのみが選択され順次リフレッシュ
動作が行なわれる。
上述のように、第2図および第3図を参照して説明した
記憶装置においては、リフレッシュ動作時はアドレスバ
ッファおよびワードデコーダは動作の必要がなくかつワ
ード線の選択信号はリフレッシュアドレスレジスタから
直接ワード線に印加されるため高速動作が期待できると
共に消費電力を軽減することが可能に々る。また、語選
択回路9において用いられているリフレッシュアドレス
レジスタすなわちシフトレジスタはランダムなデータを
転送するものではなく、1ビツトの1#のみを順次転送
するリングカウンタ形式の回路であるため、従来の一般
的なシフトレジスタよシも大幅に回路構成を簡略化する
ことが可能である。
第4図は、従来形のニブルモード機能を有するダイナミ
ックランダムアクセスメモリの概略の構成を示す。同図
において、14は例えば256×256ビツトのメモリ
セルがマトリックス状に配列されたメモリセルアレイ、
15は入出力ゲート、16はコラムデコーダ、17は例
えば4ビ、トのデータレジスタ、18は4ビ、トのシフ
トレジスタ、そして19は出力バッファである。また、
入出力ゲート15とデータレジスタ17とは例えば4本
並列の信号線から成るデータバス20によって接続され
ている。
第4図の記憶装置においては、図示しないローデコーダ
によって1本のワード線が選択され、かつコラムデコー
ダ16によって例えば4本のビット線が選択される。つ
1シそれら選択ビット線に接続された入出力ゲート15
中の各トランスファ・ゲート4個が駆動される。これに
よシ、メモリセルアレイ14から4ビツトのデータが入
出力ゲート15によって読み出され、データバスDBを
介して並列にデータレジスタ17に転送される。そして
、データレジスタ17に転送された4ビット並列のデー
タはシフトレジスタ18から発生される転送パルスによ
シシリアルに出力され出力バッファ19を介してデータ
出力り。1.として読み出される。このような構成によ
シ、メモリセルアレイ14を1回アクセスするのみで4
ビツトのデータが読み出され、この4ビツトのデータを
順次シリアルに出力するから、1ビツトずつアクセスす
る場合に比べてよシ高速度でデータ読み出しを行なうこ
とができる。このような動作態様をニブルモードと称し
ておシ、画像メモリ等のシリアルなデータを高速度で読
み出す必要がある記憶装置に用いられている。
ところが、第4図の記憶装置においては、1回のアクセ
スで読み出されるデータのビット数を例えば8ビツトあ
るいは16ビツトさらには256ビツト等のように増大
する必要がある場合には、データバス20およびデータ
レジスタ17等のビット数を増大する必要があシ、ハー
ドウェア量が極めて多くなるという不都合があった。
第5図は、本発明の実施例に係わる半導体記憶装置とし
ての、ニブルモード機能を有するメモリ装置の構成を示
す。同図において、メモリセルアレイ14および出カバ
、ファ19は第4図の装置のものと同じでアシ、同じ参
照数字で示されている。そして、第5図のメモリ装置が
第4図のものと異なる点は、第5図のメモリ装置におい
ては入出力ゲート21と出カバ、ファ19とを接続する
データバス24が1本即ち1ビツト分しか設けられてい
ない点およびコラムデコーダ22と並列的にシフトレジ
スタ23が設けられている点である。
シフトレジスタ23は第2図の記憶装置に用いられてい
るリフレッシュアドレスレジスタと同様に、リングカウ
ンタ形式のものが用いられ、例えば256段の内の1段
のみが“1′を出力し他の段はすべて′θ″を出力する
ようにされる。
第5図のメモリ装置においては、通常のアクセス動作の
場合は、図示しないローデコーダによって1本のワード
線が選択され、コラムデコーダ22によって該選択ワー
ド線に接続された複数のメモリセルの内の1ビ、トが選
択され、入出力グー)21.7’−タパス24およヒ出
カパッ7ア19を介してデータ出力り。U、として取シ
出される。
これに対して、シリアル読み出しを行なう場合は図示し
ないローデコーダによって1本のワード線が選択され、
シフトレジスタ23からの信号によって1本のビット線
が選択される。これにょシlビット分のデータが入出力
ゲート21、データバス24および出力バッファ19を
介シてデータ出力り。UTとして取シ出される。そして
、図示しないローデコーダが1本のワード線を選択して
いる状態で、シフトレジスタ23のデータ″11#が順
次シフトされ選択ワード線に接続されたメモリセルから
のデータが順次同様にしてシリアルに読み出される。
第5図に示すような構成を用いることにょシ、データバ
スの本数およびデータレジスタのビット数に制限される
ことなく多数のビットのデータをシリアルにアクセスす
ることが可能になる。なお。
第5図の回路においてはデータバス24等を含む出力デ
ータの転送経路は1系統であると説明したが、例えばデ
ータバス等を2系統設けることによってデータ読出速度
をよシ高速化することも可能である。
発明の効果 このように、本発明によれば、コラム選択線またはロー
選択線を順次選択するシフトレジスタを設け、シリアル
アクセス時には該シフトレジスタから選択信号を順次供
給するようKしたから、簡単な回路構成によシ高速度で
シリアルアクセスを行なうととが可能になシ、シリアル
アクセス時の消費電力を軽減することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来形のオートリフレッシ−機能を有する半導
体記憶装置の構成を示すブロック回路図、第2図は本発
明の1実施例に係わるオートリフレッシ−機能を有する
半導体記憶装置の構成を示すブロック回路図、第3図は
第2図における語選択回路の詳細を示すブロック回路図
、第4図は従来形のニブルモード機能を有する半導体記
憶装置の構成を示すブロック回路図、第5図は本発明の
実施例に係わるニブルモード機能を有する半導体記憶装
置の構成を示すブロック回路図である。 1.14・・・メモリセルアレイ、2・・・ローデコー
ダ、3・・・アドレス切換回路4 、10−・・ワード
ドライブ回路、5・・・アドレス切換回路、6.11・
・・ローイネーブル回路、7・・・リフレッシュイネー
ブル回路、8・・・リフレッシュアドレスカウンタ、9
・・・語選択回路、12・・・NORゲート回路、13
・・・リフレッシュアドレスレジスタ回路、15.21
・・・入出力ゲー)、16.22・・・コラムデコーダ
、17・・・データレジスタ、18・・・シフトレジス
タ、19・・・出力バッファ、20.24・・・データ
バス、23・・・シフトレジスタ、WL・・・ワード線
、BL・・・ピット線、MC・・・メモリセル、Ql 
+ Qs * Qs ・・・トランジスタ。 特許出願人 富士通株式会社 特許出願代理人 弁理士 青 木 朗 弁理士 西 舘 和 之 弁理士 内 1)幸 男 弁理士 山 口 昭 之

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 行選択線および列選択線を選択してメモリセルを選択す
    ることにょフデータの人出刃を行なう構成を具備し、少
    なくとも行選択線または列選択線の一方を順次選択する
    シフトレジスタを設けることによりメモリセルのデータ
    をシリアルに入力及び/又は出力できるようにしたこと
    を特徴とする半導体記憶装置。
JP58115887A 1983-06-29 1983-06-29 半導体記憶装置 Granted JPS6010493A (ja)

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JP58115887A JPS6010493A (ja) 1983-06-29 1983-06-29 半導体記憶装置

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JP58115887A JPS6010493A (ja) 1983-06-29 1983-06-29 半導体記憶装置

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JPH0430119B2 JPH0430119B2 (ja) 1992-05-20

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