JPS5998847A - 版胴を位置正確に事後彫刻する方法および装置 - Google Patents

版胴を位置正確に事後彫刻する方法および装置

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本°発明は特許請求の範囲第１項の謂ゆる上位概念に記
載の版胴の位置正確な事後彫刻方法に関する。
西独特許第２３６１９０３号明細書および西独特許願公
開公報第２５１３０４２号明細書には、既に部分的に彫
刻がなされた版胴に、版型の周辺の明確に特定された個
所に事後的に原稿部分を正しく位置整合するように事後
彫刻することが既に記述されている。この種の問題は、
例えば雑誌の１ページが公告部分と記事部分とを有する
ような雑誌の印刷において起る。雑誌を出版する相当前
に公告部分を彫刻し印刷して、試し刷を掲載者に提示し
て品質についての諾否を求めることが行なわれている。
この場合、雑誌Ｏ仕切りの直前に記事部分が事後彫刻さ
れる。
ここで決定的に重要なことは、１つの色組に属する全べ
ての版胴上に既に行なわれている彫刻に対し正確に位置
合せされるように事後彫刻部を位置決めすることである
。
上に述べた２つの特許明細書には、電気機械的な彫刻に
おいて、走査円筒および彫刻版胴に設けられた位置固定
の基準マーク（このマークは版胴の円周に１回だけ現わ
れるのでノースパルスあるいは位置合せ・ξルスと称さ
れることが多い）によって、走査円筒と彫刻版胴との間
の角度変位を測定して、彫刻版胴のための駆動モータの
電圧により上記角度変位が零になるまで駆動パルスを脱
落したりあるいは付加する。この目的で、版胴に連結さ
れているラスタ円板が光電的に走査され、該版胴の各回
転毎に１つの円周パルス（位置合せ・ｅルスとも称され
る）が゛・、 発生されろ。さらに。ラスタ円板は複数のパルスを発生
し、これらパルスで、ＰＬＬ回路により彫刻クロックが
発生され同期がとられろ。
しかしながら、版胴もしくは印刷円筒の電子ビーム彫刻
では、」二記のような操作は不可能である。と言うのは
版胴と同期回転する走査円筒が設けられておらず、彫刻
は走査に対してオフライン、言い換えるならばメモリか
ら出発して行なわれるからである。したがって、再整相
（一致の再設定）のための基準として評価することがで
きる走査円筒に対する角度変位情報を得ることはできな
し・。
よって本発明の課題は、走査過程に関係なく、事後彫刻
に際して彫刻過程を彫刻版胴の表面の予め定められた個
所に位置正確に開始することを可能にする方法を提供す
ることにある。
本発明のこの課題は特許請求の範囲第１項の謂ゆる特徴
部分に記載の構成によって達成されろ。
特許請求の範囲第２項ないし第４項には本発明の有利な
発展実施態様が記述されて（・ろ。
以下、第１図ないし第１６図を参照して本発明の詳細な
説明する。
第１図は断面図で、版胴（印刷円筒）の電子ビーム彫刻
装置を示す。この装置は、駆動装置（図示せず）により
角速度Ｗで矢印（３）て゛回転せしめられる版胴（２）
が収容されている真空容器（１）から構成されている。
版胴（２）に指向される電子ビーム束（５）が発生され
る電子ビーム発生装置（４）（略示するに留めた）が、
気密の容器もしくはノ・ウジング（１）Ｋ連結されてい
る。
版胴と彫刻系との間の軸方向の相対運動が、版胴または
彫刻系の軸方向変位によって実現されろ彫刻機械もしく
は彫刻盤は実際に知られている。本発明はこれら２つの
駆動形式に有利に適用で゛きる。
電子ビーム発生装置（４）の電子光学的構造は図示を省
略し、単に、印刷版表面に電子ビームの集束する集束コ
イル（６）を示すに留めた。
集束および発散により凹みが形成される。集束コイル（
６）の制御は、（米国特許第４３９３２９５号明細細書
に対応する）ドイツ国特許第２９４７４４’４号明細書
に記載の仕方で行なわれる。したがって彫刻制御に関し
てはここでは詳細に説明しない。と言うのは、本発明は
、軸方向および円周方向において彫刻を開始させろパル
スの発生に関するものであるからである。
この・ぐルスを得るために、電子ビーム発生装置は、本
来の彫刻動作前に測定駆動に切換えられる。このことに
関しては追って詳述ずろ。印刷版表面から出る２次電子
ＳＥおよび反射電子ＲＥは、測定抵抗器ＲＭを介して接
地されているリング形状の絞り（７）に達する。絞り（
７）によって発生されろセンサ信号は最大値検出器（８
）に供給され、該検出器（８）の出力信号はアナログー
デイノタル変換器もしくはＡ　／　Ｄ変換器（９）内で
Ａ　／　Ｄ変換後にステップモータ制御回路（１０）に
供給される。さらに整相電子回路（１１）が設けられて
おり、この回路（１１）はマーク検出器（１２）を介し
て絞り（７）に接続８されると共に、他方また版胴２と
同期回転するラスク円板（２１）から位置固定のマーク
（２２）による謂ゆる位置合せ・ξルスもシ＜ハノース
パルスＮＪｏを受ける。さらに整相電子回路（１１）は
、彫刻制御装置（２４）のための周波数を発生するタイ
ミング発生段（２３）に接続されている。整相電子回路
は、ステップモータ制御回路（１０）と同様に、中央制
御コンピュータ（１３）に接続されておって、その出力
端に整相に要求される・ξルスを発生する。
第１ａ図は、原理的には第１図と同じ構成であるが個々
の回路要素をより詳細に示す図である。第１図のステッ
プモータ制御回路（ｌＯ）は、例えば、８０のプログラ
ム可能な入力／出力導体を有するＩｎｔｅ１社のｉ　Ｓ
ＢＣ８０／２４型のコンピュータとすることができるス
テップモータ制御コンピュータ（１０ａ）とドイツ国ミ
ュンヘン所在のＰｈｙｔｒｏｎ社のＣＤ　３Ｑ型とする
ことができるステップモータ電力供給終段（ＩＱｂ）か
らなる。ステップモータ（ｌｏｃ）としては例えばＰｈ
ｙｔｒｏｎ社のＺＳＨ１２５−２００−１５型のステッ
プモータとすることができる。
ステップモータ電力供給段（ｌｏｂ）はクロツク導体Φ
、順／逆制御導体および状態導体を介してステップモー
タ制御コンピュータ（１０ａ）に接続されている。ステ
ップモータ制御コンピュータ（ｌｏａ）は、例えば１２
本の導線から形成することができるデータ導体もしくし
まケーブル（９１）および制御導体（９２）を介し、ｉ
　Ａ　／　Ｄ変換器（９）に接続されて（・る。第１図
の測定徘抗ＲＭは第１ａ図では電流／電圧変換器（１４
）として構成されて（・る。なお、この変換器（１４）
に関しては第１図を参照し追って詳述する。例えばＩｎ
ｔｅｌ社のｉ　ＳＢＣδ６／１２Ａ型の要素（１３ａ）
と例えＩｔｉ　Ｉｎｔｅｌ社のｌ５ＢＣ５１９型のプロ
グラマブルな素子（１３ｂ−）とから構成される中央制
御コンピュータ（１３）は、［Ｉｎｔｅｌ　−Ｍｕｌｔ
ｉ　−Ｂｕｓ　Ｉ　ＥＥＥ　７９６　Ｊ型のデータ母線
（１５）を介してステップモータ制御コンピュータ（１
０ａ）に接続されて（１ろ。
なおこれら個々の要素の回路技術上の詳細に関しては追
って第８図ないし第１１図を参照し詳述する。
第２図は例えば彫刻の開始時に版胴上に設けられる凹み
の軌跡を示す。この凹みの軌跡（ま、印刷版もしくは版
型の縁部ではなく該版型に並置して、または像内容もし
くは印刷に支障を来たさない版型上の個所に彫刻されて
（・る周線上に位置することもできろ。彫刻を行なう前
に、彫刻されていない円筒に、位置合せ・ξルスの罰で
２，３の凹みが欠落して（・るこのような凹みパターン
が設けられる。このようにして、円筒の送り方向および
周辺方向におけろ彫刻開始イ固所もしくは位置が画定さ
れろ。
例えば、値段が事後的に印刷される百貨店のカタログの
製作の場合のように事後彫刻もしくは後彫刻においては
、彫刻機械に版胴を取付けた後に、ラスタ円板の位置合
せノξルスＮｊ０および彫刻開始点Ｇｓが第３図に略示
するように互いに変位し得ろ。この場合Ｎｊｏはラスタ
円板の位置合せノξルスを表わし、そしてＧＳ’ｔ’！
、円筒上における彫刻開始点を表わす。
整相に当っては、既に述べたように電子ビームを測定ゾ
ンデ（探子）として駆動する。即ち、材料処理時の強度
より減少した強度で電子ビームを駆動する。この場合の
ビーム径は凹みの直径と比較して、整相に際して要求さ
れる位置精度（電子ビームによる凹みの分解能）に必要
とされる程度に減少される。この目的で、例えば、ビー
ムスポットは５μｍの直径に設定され、エネルギ密度は
１０４ワツ）　／　ｃｍ　２　　に設定される。
第４図の上部には、電流／電圧変換器（１４）の出力信
号の変化が示されている。図から明らかなように、各凹
み毎に２つのほぼ同じへ最大値を有する対称性の信号が
発生される。この信号の対称性は、凹みが対称であるこ
とならびに測定絞り（７）が電子ビーム（５）を対称的
に取り囲んでいると言う事実から生ずる。したがって、
電子ビームゾンデは、凹みがビーム内に入る際およびビ
ームから出る際に該凹みの壁で同様の信号を発生するこ
とになる。
追って第１２図を参照して述べろ比較器を用いてこの複
信号が評価され、それにより第牛図に矩形信号として示
しである信号が得られ、この矩形信号が、後述するよう
に円周方向における整相過程で評価処理されるのである
。
第５ａ図には、１つの凹みを通る３つの走査軌跡が示さ
れており、第５ｂ図には円筒の軸方向零位置を求めよう
とする場合についての３つの走査軌跡に対応する信号波
形が示されている。
３つの軌跡に対して第５ｂ図に示す信号波形１′、２′
および３′が得られ、これら信号波形は第１図の最大値
検出器（δ）で評価される。最大信号は曲線（２′）か
ら明らかなように、第２番目の軌跡即ち凹みの中心領域
に対応して現れる。
軸方向における整相過程においては、電流−電圧変換器
（１４）の出力の測定値の最大となる計数器状態が求め
られる。
事後彫刻における彫刻位置決めは、この計数器状態に対
して行なわれる。
この過程に関しては、第１２図ないし第１６図を参照し
追って説明する。
既に第４図と関連して述べたように、絞り（７）は、グ
ラビア印刷用の凹みの縁に対応する立上り縁および立下
り縁を有する信号を発生する。第６図は、位置合せ・ξ
ルスＮ、、。前に間隙もしくはギャップを有している凹
みの軌跡を示す。
整相に際しては、第７図に詳細に示すように、ラスク円
板の基準・ξルスＮｊｏかも上記ギャップ後に現われる
最初の凹みによるパルス立上り縁までならびにラスク円
板の位置合せ（ノース）パルスＮｊｏから測定信号の立
下り縁まで、クロック発生器によって発生されるＰＬＬ
クロックの数が計数される。ここで立上り縁マテノ・ξ
ルス計数をＺｌとし、立下り縁までの・ξルス計数なｚ
２とする。この場合Ｚ２はｚｌよりも大きい。整相した
（位相が一致した）位置合せパルスは第７図に示すよう
に、該位置合せ・ξルスから数Ｚ−１／２　（ｚ　＋　
ｚ　）のＰＬＬクロックを計数す２ ることによって得られ、しかる後に本来の整相もしくは
位相一致基準・ξルスＮｊ１が電子回路によって発生さ
れる。この／ξルス、したがってまた対応の計数状態は
記憶されて、円周方向における事後彫刻のための新しい
基準として用いらレル。個々の回路要素を用いてのこの
ノξルスの発生に関しては第１０ａ図に詳細に示されて
おり、そしてこの第１０ａ図については第８図ないし第
１１図と関連して後述する。
第８図は第１ａ図に示した電流／電圧変換器（１４）を
詳細に示す。ゝ第１図ならびに第１ａ図に示されている
絞り（７）の測定電流は、第８図に示すように接続され
ている２つの直列に接続された集積回路■Ｃ１およびＩ
Ｃ２に入力される。回路ＩＣ，としては、Ａｎａｌｏｇ
　Ｄｅｖｉｃｅｓ社の［Ｔｙｐｅ　ＡＤＬＨ３２Ｊを用
いるのが好ましくは、そして回路ＩＣ２としては同上社
の「Ｔｙｐｅ　ＡＤＬＨ３３」とするのが有利である。
以下この回路の動作について詳述する。
本来の測定抵抗ＲＭは、ＩＣおよびＩＣ２からなる直列
回路の出力端と入力端との間の帰還結合路に設けられる
。ＩＣおよびＩＣ２は公知の仕方で、非常に小さい入力
インピーダンスを有する電流／電圧変換器として動作す
る。これにより、第１図に示した測定回路と比較して小
さい時定数が得られる。
段ＩＣ２の出力端には第１図ならびに第１ａ図に示した
マーク検出器（１２）および最大値検出器（８）が接続
されており、そして該工Ｃ２の出力端には第１０ａ図に
示すような出力電圧Ｕ１が発生される。
第９図には最大値検出器（１２）の回路が詳細に示され
ている。電圧Ｕ１は第１の増幅器ＩＣ６で増幅され整流
される。この目的で、ＩＣ６の帰還結合路にはダイオー
ドＤ１およびＤ２が設けられており、ダイオードＤ１は
帰還結合抵抗ＲＫ６と直列に鷺してダイオードＤ２は帰
還抵抗ＲＫ５とＤｌとの直列接続を介して阻止方向に設
けられている。
整流された電圧は、市販されている電子回路素子工Ｃ４
およびＩＣ５からなる積分保持段の入力端に印加される
。積分結果はＡ／Ｄ変換器■Ｃ６に供給される。該変換
器ＩＣ６も積分回路として実現することができる。第９
図の回路は、既述のように市販されている素子から構成
することができ、例えば素子ＩＣ５としてはＡｎａｌｏ
ｇ　Ｄｅｖｉｃｅｓ社の［Ｔｙｐｅ　ＡＤＬＨ３２Ｊと
し、素子ＩＣ４としては３ｉ１ｏｎｉｘ社の［Ｔｙｐｅ
　ＤＧ　３００　Ｊとし、素子ＩＣ５としてはＰＭＩ社
のｒ　Ｔｙｐｅ　ＯＰ　１６　Ｊとし、そして素子■Ｃ
６とし、そして素子ＩＣ６としてはＡｎａｌｏｇ　Ｄｅ
ｖｉｃｅｓ　　社の［Ｔｙｐｅ　ＡＤ　５７４　Ｊを用
いることができる。
積分段■Ｃ４に制御出力ＳＬ１およびＳｂ２を有してお
り、これらを介して、積分、保持（ホールド）および零
リセット（リセット）の機能を選択ずろことができろ。
これら制御導体は、ステップモータならびにステップモ
ータのための制御コンピュータ（ｌｏｇ　）に接続され
ている。
積分、保持およびリセット機能はＭＯＳスイッチ■Ｃ４
を用いて選択される。この選択は、下記の真理値表に対
応して行なろれる。
Ｌ１ＳＬ２ 積分　　　　　　　Ｌ　　　　　Ｈ 保持　　　　　　ＨＬ リセット　　　　　　　　　ＨＨ 第１０図は第１図および第１ａ図に示したマーク検出器
（１２）の詳細を示す。第８図に詳細に示されている電
流／電圧変換器（１４）の出力信号は入力信号Ｕ１とし
て整流器設工Ｃ７に印加される。この整流器は第９図の
整流器段ＩＣ５と同様に構成されている。この段の整流
された出力信号Ｕ２は比較器工Ｃ８で基準電圧ＵＲｅｆ
　　と比較されて、ディジタル出力信号Ｕ５が得られる
。
信号Ｕ１　”　２　’　ＵＲｅｆおよびＵ３は第１０ａ
図に示しである。
基準軌跡（第２図ならびに第６図）における間隙もしく
はギャップ後の第１番目の凹みを検出するために、ディ
ジタル出力信号Ｕ３は遅延段■Ｃ１□に印加される。こ
の遅延段の出力信号は第１０ａ図にＵ４で示しである。
さらに信号Ｕ３はモノフロップＩＣ，Ｋ供給され、該モ
ノフロップの出力信号Ｕ５（第１０ａ図）は上記ギャッ
プに対応する。この信号Ｕ５はさらに他のモノフロップ
■Ｃ１ｏに供給される。この工Ｃ１ｏの時定数は１つの
凹み期間に対応する。この出力信号Ｕ６（第１Ｑａ図）
は遅延段の出力信号Ｕ４と共にアンドゲートＴ１に供給
される。該ゲートＴ１の出力端には。
基準軌跡におけるギャップ後の第１番目の凹みに対応す
る信号Ｕ７（第７図および第１０ａ図の電圧Ｕ７参照）
が現われる。この信号Ｕ７は時間補償素子Ｔ２を介して
モノフロップ■Ｃ１２に印加されると共にインバータＴ
６を介して別のモノフロップＩＣ，、、に供給される。
２つのモノフロップ■Ｃ１２およびｉｃ、６は、第７図
の縁ｚ１および２２に属する２つの針様・ξルスを発生
する。これら・ξルスはマーカ１およびマーカ２で表わ
されており、そして第１０ａ図にＵ９およびＵｌｌで示
されている。
第１０図に示した回路は例えば市販品として入力可能な
要素を用いて構成することができる。
ＩＣ７０Ｐ　　ｌａ　　ＰＭＩ社 ＩＣ８ＬＭ　’３１１　　Ｎａｔｉｏｎａｌ　Ｓｅｍｌ
ｃｏｎｄｕｃｔｏｒ社ＩＣ２７４ＬＳ　Ｉ２２　Ｔｅｘ
ａｓ　Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ社ＩＣ＋０７４−ＬＳ　
　Ｉ２１　Ｔｅｘａｓ　Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ社ＩＣ
１，７４ＬＳ　　３１　　Ｔｅｘａｓ　Ｉｎｓｔｒｕｍ
ｅｎｔｓ社ＩＣ１２７４ＬＳ　　１２１　　Ｔｅｘａｓ
　Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ社ＩＣ１６７４ＬＳ　　１２
１　　Ｔｅｘａｓ　Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔｓ社第１１図
は、ラスク同第１１図図または第３図）の位置合せパル
スＮ　に対し変位された位置Ｏ 基準″ルスＮＪ１を発生する回路装置を示す。この目的
で、最初に計数器状態Ｚ１およびＺ２が求められる。こ
の場合、計数器状態ｚ１はラスク円板の位置合せノξル
スＮｊｏとマーカ１との間のＰＬＬクロック数に対応し
、他方Ｚ２は位置合せ・ξルスＮｊｏとマーカ２との間
のＰＬＬクロック数に対応する。
上の目的でロード可能な２４ビツト計数器■Ｃ１８カ設
けられ、この計数器は３つの８ビット−Ｄ−レジスタ■
Ｃ１５ないしＩＣ１７ならびに３つの８ビット−Ｄ−ラ
ッチに接続されている。２ビツトの２進デコーダＩＣ２
２を介して、レジスタ■Ｃ１，ないしＩＣ１７は逐次制
御コンピュータ（１３ａ）Ｋより制御導体Ｃ１およびＣ
２を介して選択され、そしてデータ出力を介してレジス
タ■、Ｃ１９ないしＩＣ２１のデータのロードおよび読
出しが行われる。
計数器状態Ｚ１およびｚ２は−マーカ１および２ならび
に計数器ＩＣｌ３ならびに２つの計数器群ＩＣｌ３ない
し工Ｃ１７およびＩＣ１，ないしＩＣ２１を用いて得ら
れる。計数器状態Ｚ１は、中央コンピュータ（１３）な
らびにゲートＴ７．Ｔ８およびＴ１２と接続している制
御導体Ｃ６をｒＬＪにセットすることにより得られる。
コンピュータ（１３）ならびにゲートＴ４およびＴ５に
接続されている２つの別の制御導体Ｃ４およびＣ５は、
マーカーおよび２のうちの何れがゲートＴおよびＴ５を
通過すべきかを決定する。
マーカーを選択するためには、制御導体Ｃ４はｒＬＪに
セットされ、制御導体Ｃ５はｒＨＪにセットされる。各
位置合せパルス毎に、レジスターＣ１５ないしＩＣ１７
はゲートＴ７を介して零にセットされ、そして遅延素子
Ｔ６により決定される遅延時間後にレジスターＣ１５な
いしＩＣ１７の内容は計数器ＩＣ１８ＶＣ転送される。
即ちＩ　Ｃ１’ａは各位置合せ・ξルス毎に零にセット
されるのである。
ゲートＴ８を介して計数器■Ｃ１８は順方向計数（アゾ
カララント）に接続され、そしてＰＬＬクロックにより
加算計数を行う。
マーカーが現れると、計数器ＩＣｌ３の内容はＩＣない
し工Ｃ２１に転送され、そしてモノフロラ９ プ■Ｃ２１によって決定される遅延時間後に計数器状態
Ｚ１として中央コンピュータ（１３）Ｋ読込まれる。
同様にして、制御導体Ｃ４を「Ｈ」に、そして制御導体
Ｃ５をｒＬＪにセットすることによりマーカ２で計数器
状態ｚ２が得られる。
計数器状態ｚ１およびＺ２を中央コンピュータ（１３）
に転送した後に、該コンピュータにおいて平均値Ｚが算
出される。次いで、制御導体Ｃ３はコンピュータ（１３
）により［ＨＪに設定される。この結果レジスタＩＣ１
５ないし工Ｃ１７は最早や各位置合せパルス毎に零に七
ツ゛トされることはなく、書込まれた値を保持し、各位
置合せ・ξルス毎にこの値を計数器工Ｃ１８に転送する
。さらに、計数器工Ｃ１８はインバータＴ８を介して逆
方向計数（ダウンカウント）に接続され、計数器ＩＣｌ
３の出力信号（溢れ−リプルキャリー出力）がゲートＴ
１２を通される。同時に、平均値２もコンピュータ（１
３）からレジスタＩＣ１，ないしＩＣ１７にロードされ
る。続く各位置合せパルスＮｊｏ毎にレジスタエＣ１５
ないしＩＣ１７の内容は計数器ＩＣｌ３にロードされ、
各ＰＬＬクロックで減算計数される。計数状態「零」で
、１つのＰＬＬクロック長に対し信号「溢れ」が既述の
如く出力される。この過程は各円筒回転毎に繰返される
。
第１１図に示した回路には、例えば次のような市販品と
して入手可能な素子を用いることができる。
ＩＣｌ３　７４ＬＳ２７３　　Ｔｅｘａｓ　Ｉｎｓｔｒ
ｕｍｅｎｔｓ社ＩＣ＋６　７４ＬＳ２７３　　　　　　
ｔｔＩＣ，７７４ＬＳ２７３　　　　　　／／ＩＣ，８
６Ｘ７４６６９　　　　　　　ｔｔＩＣ１，７４ＬＳ３
７３　　　　　　／／ＩＣ２ｏ　７４ＬＳ３７３　　　
　　　ｔｔＩＣ２１７４Ｌ　Ｓ　３７３　　　　　　ｔ
ｔＩＣ２２７４ＬＳ１５５　　　　　　ｔｔＩＣ２６７
４ＬＳ１２１　　　　　〃 次に、装置のコンピュータプロセスを説明する。既に述
べたように、中央制御コンピュータ（１３）は［Ｉｎｔ
ｅｌ−Ｍｕｌｔｉ−Ｂｕｓ　ＩＥＥＥ　７９５　Ｊを介
してステップモータ制御コンピュータ（１０ａ）に接続
されている。この母線の仕様はＩｎｔｅｌ社のｒ　ＯＥ
　−Ｓｙｓ　ｔｅｍｓ　ハンドブック１９８３Ｊまたは
［Ｎｏ、２１０９４１−００１Ｊ、頁３−１ないし３−
１０に記述されており、この母線は変更無く用いること
ができるので、ここでの説明は省略する。
中央制御コンピュータ（１３）は、コンピュータ制御に
おいてマスターコンピュータとしての働きをなし、そし
てステップモータコンピュータ（ｌｏａ）はスレイブコ
ンピュータとしての働きをなす。データは公知の・・ン
ドシエイジ方式でマスターおよびスレイブコンピュータ
間で転送される。モータ制御コンピュータ（１０ａ）は
中央制御、コンピュータ（１３）から命令コードおよび
・ξラメータ例えば「ステップモータを目標位置に走転
」を伝送され、この場合「ステップモータ走転」が命令
で、「目標位置」が関連の・ξラメータである。
ステップモータコンピュータ（１０ａ　）は命令の実行
後、中央制御コンピュータ（１３）に「状態メソセージ
」例えば「目標位置達成」を送る。
第１２図にはフローチャートの形態で制御コンピュータ
（］、　３　）のプログラムルーチーンが詳細に示しで
ある。このようなコンピュータは、本発明によろ整相電
子系の制御にのみ用いられるばかりではな（、他の制御
機能、例えば電子ビーム銃あるいは装置全体の制御にも
用いられるものであるので、ここでは単に、本発明の実
施にとって重要であるプログラム部分即ちプログラム部
分「ステップモータ制御装置（１０ａ）への命令」、整
相のための出発位置への起動、「制御モータコンビュー
ク１０ａへの命令」、送り方向における整相およびサブ
プログラム「円周方向における整相子に関してのみ図解
しである。
第１３図は別のフローチャートで、本質的に次のノ′ロ
グラム部分からなるステップモータ制御コンピュータ（
ｌｏｇ　）におけるプログラム経過を図解する図である
。即ち、 制御コンピュータ（１３）の指令待ち、指令の解読。
第１４図ないし第１５図と関連しておって詳述する命令
実行プログラムへの分岐、 状態報告もしくはメツセージ。
第１４図には、「整相のための出発位置への起動」プロ
グラムがフローチャートで示されており、このプログラ
ムにおいては次のようなプロセスが含まれる。
モータ位置が整相のための出発位置より大きいかまたは
小さいかに関する質問、 モータの順／逆回転命令（第１ａ図の１０Ｂと１０ｂ間
におけろ順／逆回転導体）、目標位置に達するまで、ス
テップモータに導体９６（第１ａ図）を介しステップモ
ータクロックの供給、および 状態報告。
第１５図にはサブプログラム「送り方向における整相」
がフローチャートどして示されている。このプログラム
の経過に関しては第９図と関連してアナログ／ディジタ
ル交換器Ｉｃ６の読出しまで既に説明１−だ。なお第１
５図の上半分を参照されたい。
別のプログラム部分は第１５図の下側の部分に示されて
おり、このプログラム部分に関しては第５ａ図および第
５ｂ図と関連し以下に説明する。
第５ａ図の軌跡、例えば第１番の軌跡が掃引されると、
この凹みの軌跡の測定信号が積分的に求められて、第９
図のアナログ／ディジタル交換器■Ｃ６でディジタル化
され、そして、以降［０ＡＴＡ　−Ｎ−１，ｊレジスタ
と称する計算レジスタに書込まれる。
ステップモータはモータ制御コンピュータ（１０ａ）か
ら個別ステップ、例えば第５ａ図の第２番目の軌跡を掃
引するための・ξルスを受ける。この軌跡の場合には、
第１番目の軌跡に対して行われたのと同じ命令ステンゾ
シーケンスが実行され、対応の測定値がＤＡＴＡ　−Ｎ
Ｊと称する別の計算レジスタに格納される。これら２っ
の格納された測定値は互いに比較される。
「ＤＡＴＡ　−ＮＪレジスタの内容が「ＤＡＴＡ−Ｎ−
ＩＪレジスタの内容よりも小さい場合には、データー　
Ｎ　Ｖ　、）　スｐの内容がデーターＮ＝１　　レジス
タの内容より小さくなるまで前述の過程が繰返される。
この条件が満されると、状態報知即ち送り方向において
整相ないし位置整合がなされたというメツセージが制御
コンピュータ（１３）Ｋ送られ、データーＮ−１の内容
は別のレジスタ「彫刻開始位置」に転送される。ステッ
プモータのこの計数器状態は次に行われる彫刻のための
軸方向変位のための基準値のスキャナかう得うれる信号
の最大値の位置に対応する。
第１６図には、制御コンピュータ（１３）のサブプログ
ラム「円周方向整相」が示されている。このプログラム
部分については既に第１１図と関連して説明した。した
がって第１６図にはさらに明確を記するために逐次実行
される個々のステップを示した。
本発明は電子ビームを用いての印刷版もしくは版型の彫
刻に限定されるものではない。他の公知の彫刻方式例え
ば電気機械的またはレーザ彫刻など彫刻される凹みの形
状が本質的に同じである彫刻にも適用可能である。また
測定装置として、第１図もしくは第１ａ図の実施例と関
連して述べた電子ビームならびにリング状の絞りおよび
測定抵抗を使用することは必ずしも必須要件ではなく、
他の測定装置例えば本質的に第５図に示したような信号
変化を有する対応の測定信号が彫刻された凹みから得ら
れろ光学的測定装置を用いることも可能である。重要な
のは、測定軌跡内に最大値を検出できることまたは１つ
の凹みの軌跡内のギャップ後に第１番目の凹みを検出で
きろことである。このことは、凹みの縁、凹みの中心ま
たは両者を測定することにより実現できる。この目的に
は、例えば、対応の分解能を有する光学的、容量性また
は誘導性の無接触センサも同様に適している。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の方法を実施するための装置の構成を略
示する図、第１ａ図は第１図に示した装置の構成を詳細
に示すブロックダイアグラム、第２図は彫刻された凹み
の軌跡を示す図、第３図は整相されていない状態におけ
る凹みの軌跡の位置関係を示す図、第４図はセンサ信号
の処理を図解する図、第５ａ図および第５ｂ図は軸方向
における整相のためのセンサ信号の例を示す図、第６図
は円周方向における整相のためのギャップを有する凹み
の軌跡を示す図、第７図は整相のための個々のノξルス
の評価処理を図解する。ｏルス波形図、第８図は「測定
インピーダンス」を実現するための回路の１実施例を示
す回路図、第９図は最大値検出器の回路例を示す回路略
図、第１０図はマーカ検出器の回路構成を示す回路図、
第１０ａ図は第１０図の回路の動作を説明するための詳
細なパルス波形図、第１１図は整相された位置合せパル
スを得るための回路図、第１２図は制御コンピューター
のプログラム経過を説明するためのフローチャートを示
す図、第１３図はステップモータ用コンピュータのプロ
グラム経過を図解するフローチャートを示す図、第１４
図は整相に際して出発位置に起動するためのプログラム
経過を図解するフローチャートを示す図、第１５図は「
送り方向における整相」用サブプログラムを図解するフ
ローチャートを示す図、そして第１６図は「円周方向整
相」用のプログラムを図解するフローチャートを示す図
である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 １、走査されるマークを用いて版胴を位置正確に事後彫
    刻するための方法において、 ａ）彫刻されていない版型の本来の彫刻前に、円周線上
    に、直列に配列された凹みの列を彫刻して、軸方向送り
    ならびに円周方向における事後彫刻の出発点のための基
    準マークとして用い、 ｂ）事後彫刻のために版胴を彫刻機械に張架した後に、
    該版胴を回転して走査手段を該版胴に対し軸方向に前記
    予め彫刻された凹みの軌跡上を移動して、該走査手段か
    ら得られる信号の最大値を求め、凹み軌跡における最大
    値の発生場所を続いて行なわれる彫刻に際し軸方向送り
    のための基準値として固定保持し、 Ｃ）円周線上に前もって彫刻される凹みの列に、凹みが
    存在しない少なくとも１つの画定された間隙を設け、そ
    して ｄ）間隙に続く第１番目の凹みを走査手段で認識して、
    続いて行なわれる事後彫刻に際し円周方向における彫刻
    の開始のための基準位置として評価することを特徴とす
    る版胴な位置正確に事後彫刻する方法。 ２、走査されるマークを用いて版胴を位置正確に事後彫
    刻するための方法において、 ａ）彫刻されていない版型の本来の彫刻前に、円周線上
    忙、直列に配列された凹みの列を彫刻して、軸方向送り
    ならびに円周方向における事後彫刻の出発点のだめの基
    準マークとして用い、 ｂ）事後彫刻のために版胴を彫刻機械に張架した後に、
    該版胴を回転して走査手段を該版胴に対し軸方向に前記
    予め彫刻された凹みの軌跡上を移動して、該走査手段か
    ら得られる信号の最大値を求め、凹み軌跡における最大
    仏の発生場所を続いて行なわれる彫刻に際し軸方向送り
    のための基準値として固定保持し、 Ｃ）円周線上に前もって彫刻される凹みの列に、凹みが
    存在しない少なくとも１つの画定された間隙を設け、そ
    して ｄ）間隙に続く第１番目の凹みを走査手段で認識して、
    続いて行なわれる事後彫刻に際し円周方向における彫刻
    の開始のための基準位置として評価し、又、電子ビーム
    を用いて版胴の彫刻を行なうための装置において、円周
    線上に設けられた凹みの列を走査するために電子ビーム
    を測定探子として用い、該凹みにより反射される電子を
    捕えろために、該電子ビームを取囲み絶縁しく配設され
    た絞りを電子捕捉点の領域に設けたことを特徴とする版
    胴を位置正確に事後彫刻する方法。 ３、位置固定の基準マークを発生するための装置を備え
    た版型彫刻機械を用い版胴を位置正確に事後彫刻するた
    めの装置において、１）版型彫刻機械により発生され１
    つの間隙を有するようにして円周線上に凹み軌跡として
    直列に配列され凹みを検出するための測定装置と、 ２）前記測定装置に接続されて、版胴の軸方向における
    前記凹み軌跡内の凹みの中心位置を求め、事後彫刻のた
    めに軸方向におけろ彫刻装置の起動を決定するための第
    ］の評価回路と、前記測定装置および位置固定の基準マ
    ークを発生するための装置に接続されて、該位置固定の
    マークに対し、前記間隙後に最初に現われる凹みの円周
    方向変位を測定し、以て、円周方向におけろ彫刻の開始
    点を決定するための第２の評価回路とを有すことを特徴
    とする版胴を位置正確に事後彫刻するだめの装置。 ４、電子ビーム発生器を凹みの軌跡を検出するだめの測
    定装置として構成し、該電子ビームを取囲んで絶縁して
    配設されろ絞りを、ビーム衝突点近傍に設けて測定回路
    に接続した特許請求の範囲第３項記載の電子ビーム彫刻
    機械を用いて版胴を位置正確に事後彫刻するための装置
    。
JP58206070A 1982-11-04 1983-11-04 版胴を位置正確に事後彫刻する方法および装置 Granted JPS5998847A (ja)

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