JPS599540A - ミクロト−ム - Google Patents
ミクロト−ムInfo
- Publication number
- JPS599540A JPS599540A JP58113003A JP11300383A JPS599540A JP S599540 A JPS599540 A JP S599540A JP 58113003 A JP58113003 A JP 58113003A JP 11300383 A JP11300383 A JP 11300383A JP S599540 A JPS599540 A JP S599540A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- light source
- microtome
- light
- item
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/04—Devices for withdrawing samples in the solid state, e.g. by cutting
- G01N1/06—Devices for withdrawing samples in the solid state, e.g. by cutting providing a thin slice, e.g. microtome
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/04—Devices for withdrawing samples in the solid state, e.g. by cutting
- G01N1/06—Devices for withdrawing samples in the solid state, e.g. by cutting providing a thin slice, e.g. microtome
- G01N2001/068—Illumination means
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T83/00—Cutting
- Y10T83/222—With receptacle or support for cut product
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はミクロトーム、特にナイフに対して移動できる
g科保持器、該保持器に設けられた試料保持用の固定孔
と試料を照明する光源とを有するウルトラミクロトーム
に関連する。
g科保持器、該保持器に設けられた試料保持用の固定孔
と試料を照明する光源とを有するウルトラミクロトーム
に関連する。
多くの試料は天然の形帽と状暢では薄片に切断すること
ができない。多くの場合、この11ilのg科の作成C
ヒ)&び動物の諸器官0例えば肝臓、肺臓又は脳髄の薄
片1体液の遠心分離残留物、植物小片、#生物1組織片
など)が必要である。この試料作成には通電、アルデヒ
ド及び/又は重金−による安定化処理、これに続く試料
の脱水とプラスチック材料1適普エポキシド又はポリエ
ステルのような透明又は半透明材料)中の埋込が行われ
る。
ができない。多くの場合、この11ilのg科の作成C
ヒ)&び動物の諸器官0例えば肝臓、肺臓又は脳髄の薄
片1体液の遠心分離残留物、植物小片、#生物1組織片
など)が必要である。この試料作成には通電、アルデヒ
ド及び/又は重金−による安定化処理、これに続く試料
の脱水とプラスチック材料1適普エポキシド又はポリエ
ステルのような透明又は半透明材料)中の埋込が行われ
る。
上記の処理で潜られた円柱状、扁平状又は角柱状の1試
料ブロツク1は切断が容易に行われるように整形した後
、試料保持器に固定され。
料ブロツク1は切断が容易に行われるように整形した後
、試料保持器に固定され。
顧am又は゛鑞子顧#鏡で検鏡するため薄片に切(3)
断される。この切断操作は適材、金属、ガラス又lcよ
ダイヤモンドで作られたナイフで行われる。
ダイヤモンドで作られたナイフで行われる。
上記の試料−ナイフ区域を非膚に精密にth!察するこ
とはぼクロドーム、特にウルトラミクロトーム内で完全
な試料切片を作るのに非#Vc1要な条件である。特に
この櫓の切断操作の成否は試料ブロックの正確な区域選
定に依存する。
とはぼクロドーム、特にウルトラミクロトーム内で完全
な試料切片を作るのに非#Vc1要な条件である。特に
この櫓の切断操作の成否は試料ブロックの正確な区域選
定に依存する。
この目的で特にウルトラミクロトームの場合には、立体
顧歓鏡と光源を設け、この前者は試料−ナイフ区域を覗
察するため、又後11Fiこの区域を照明するためのも
のでちる。この光源は試料−ナイフ区域の上方、醍び/
又は下方に設けられ、又ナイフ切断縁、及び/又は切断
すべき試料ブロックの表面にできるだけ整列するように
調節可能のものが多い。
顧歓鏡と光源を設け、この前者は試料−ナイフ区域を覗
察するため、又後11Fiこの区域を照明するためのも
のでちる。この光源は試料−ナイフ区域の上方、醍び/
又は下方に設けられ、又ナイフ切断縁、及び/又は切断
すべき試料ブロックの表面にできるだけ整列するように
調節可能のものが多い。
現在までのところ試料−ナイフ区域を精密に岨察できる
完全な装置は漫られていない。従って試料の内部構面1
表面構造組部、又は非店に小型の対象物は、所望の細部
を発見で良るほど明白には表示されないからl!1!乍
者は試料ブロワ(4) りの正しい所望区域を選択することかで色ない。
完全な装置は漫られていない。従って試料の内部構面1
表面構造組部、又は非店に小型の対象物は、所望の細部
を発見で良るほど明白には表示されないからl!1!乍
者は試料ブロワ(4) りの正しい所望区域を選択することかで色ない。
場合によってはトリミング、即ち試料ブロック整形様作
問に試料の所望区域が間然に切断で失われ、切片表面に
非所望区域のみを含むのみならず、切断操作を妨書する
物質(例えば硬質含有物、切断が困難なコラーゲン繊維
又は脂肪細胞)を含むことがある。一般に使用されてい
る試料上方の低温燈その他の光lll1iVcよる入射
光照明も、下方からの試料−ナイフ1区域照明にしばし
ば使用される暗視野照明C低レベル照明)も試料の所1
区域の判別に光分な照明法ではない。
問に試料の所望区域が間然に切断で失われ、切片表面に
非所望区域のみを含むのみならず、切断操作を妨書する
物質(例えば硬質含有物、切断が困難なコラーゲン繊維
又は脂肪細胞)を含むことがある。一般に使用されてい
る試料上方の低温燈その他の光lll1iVcよる入射
光照明も、下方からの試料−ナイフ1区域照明にしばし
ば使用される暗視野照明C低レベル照明)も試料の所1
区域の判別に光分な照明法ではない。
唯一つの有効な方法は、試料を保持器に固定したまま整
形し、この整形間に反射鏡装置CI′組織爾察鳴1 )
icよって前方から礪察する方法である。
形し、この整形間に反射鏡装置CI′組織爾察鳴1 )
icよって前方から礪察する方法である。
又光fAC入射光1園明及び/又は低レベル照明)の調
整、又は光源に対する試料固定が試料の最411@明を
与えたとしても、最適品質の切片を得るため試料のナイ
フに対する位置を変麩することは極めて困難な操作であ
る。これは所望の精密−察を維持するためにはIll明
の再、!IIIが必要なためである。このような状態は
0例えば0回転位置を調整するため試料保持器を、いわ
ゆるセグメントアーク、即ち扇形部材と組合わt。
整、又は光源に対する試料固定が試料の最411@明を
与えたとしても、最適品質の切片を得るため試料のナイ
フに対する位置を変麩することは極めて困難な操作であ
る。これは所望の精密−察を維持するためにはIll明
の再、!IIIが必要なためである。このような状態は
0例えば0回転位置を調整するため試料保持器を、いわ
ゆるセグメントアーク、即ち扇形部材と組合わt。
ナイフのほぼ切断縁上にあるピボット軸の周りで水平に
保持器を旋回する場合に起こる。
保持器を旋回する場合に起こる。
本発明の目的は前記の111薇を克服し、改良した照明
装置を有するミクロトーム、特にウルトラミクロトーム
を提供することにあり、この照明装置によって試料の細
部組織が従来よ抄もはるかに効果的に綱察でき、同時に
試料の位置を変麩する場合に再S*の必要を要しない照
明装置が帰られる。
装置を有するミクロトーム、特にウルトラミクロトーム
を提供することにあり、この照明装置によって試料の細
部組織が従来よ抄もはるかに効果的に綱察でき、同時に
試料の位置を変麩する場合に再S*の必要を要しない照
明装置が帰られる。
他の一目的は、試料の所望切断区域を選択したり、又試
料の不必要区域を規則正しく除去したりする場合に、試
料のあらゆる区域TIcI組礒−察器“として容易かつ
有効に使用できるものを提供することにある。
料の不必要区域を規則正しく除去したりする場合に、試
料のあらゆる区域TIcI組礒−察器“として容易かつ
有効に使用できるものを提供することにある。
本発明によるミクロトームは、ナイフVC対して停動で
きる試料保持器を含み、#保持器にはg科を保持する固
定孔、及び核保持器の固定孔内に配置された試料1園明
用光源が設けられる。
きる試料保持器を含み、#保持器にはg科を保持する固
定孔、及び核保持器の固定孔内に配置された試料1園明
用光源が設けられる。
例えば光−として小型フィラメント電球が試料保持器の
固定孔内に配置され、この電球は試料ブロックが固定さ
れたiま光が該ブロックを通るように設けられる。
固定孔内に配置され、この電球は試料ブロックが固定さ
れたiま光が該ブロックを通るように設けられる。
1紀の装置の驚くべき発見は、材料の埋込に使用される
a明又は$透明物質のため試料の内部組織が明瞭に見ら
れることである。光源は固定孔の底部又はその後端0例
えば扇形部材内に設けられ、試料ブロックが固定されて
いる時は光源はこのブロックの後方にあるから光は固定
孔の縦軸方向にブロックをIIflaする。しかしもし
光源を固定孔のW壁に設け、所定の1度で試料ブロック
を照射すれば内側から試料を照射することもできる。本
発明の別の実施例では光源として固定孔内の偏向鏡を使
用し、この鏡は固定孔の外部にあるランプの光を試料ブ
ロックに(7) 照射する。この実施例では所定温度以上の試料の加熱を
防止し、この温度は冷凍試料で作業する場合に考慮すべ
齢要因である。更に別の実施例ではファイバー型ライト
ガイド又は類似装置を通して光を導入することによって
試料の加熱が防止でき、光を発射するライトガイド端部
は固定孔内又は固定孔の周壁に配置し染中光線を試料ブ
ロックに1θ射する。場合によっては熱障壁としてフィ
ルタを固定孔内の光m(フィラメント電球、偏向鏡、フ
ァイバー型ライトガイド端部)と試料ブロックとの間に
設けることもできる。
a明又は$透明物質のため試料の内部組織が明瞭に見ら
れることである。光源は固定孔の底部又はその後端0例
えば扇形部材内に設けられ、試料ブロックが固定されて
いる時は光源はこのブロックの後方にあるから光は固定
孔の縦軸方向にブロックをIIflaする。しかしもし
光源を固定孔のW壁に設け、所定の1度で試料ブロック
を照射すれば内側から試料を照射することもできる。本
発明の別の実施例では光源として固定孔内の偏向鏡を使
用し、この鏡は固定孔の外部にあるランプの光を試料ブ
ロックに(7) 照射する。この実施例では所定温度以上の試料の加熱を
防止し、この温度は冷凍試料で作業する場合に考慮すべ
齢要因である。更に別の実施例ではファイバー型ライト
ガイド又は類似装置を通して光を導入することによって
試料の加熱が防止でき、光を発射するライトガイド端部
は固定孔内又は固定孔の周壁に配置し染中光線を試料ブ
ロックに1θ射する。場合によっては熱障壁としてフィ
ルタを固定孔内の光m(フィラメント電球、偏向鏡、フ
ァイバー型ライトガイド端部)と試料ブロックとの間に
設けることもできる。
本発明の範囲内で、試料ブロックの内部照明は他の照明
源を使用した場合にもこれと独立してオン・オフの切換
が可能で、この切換は適当なスイッチで行われる。又本
発明によれば、入射光源、及び/又は低レベル光源、及
び内部照明の適当な組合亡はハンドル及び組合せスイッ
チで指定し、?JII数のスイッチを別々に操作するこ
となく櫨々の組合せ照明を行うことが可能で(8) ある。
源を使用した場合にもこれと独立してオン・オフの切換
が可能で、この切換は適当なスイッチで行われる。又本
発明によれば、入射光源、及び/又は低レベル光源、及
び内部照明の適当な組合亡はハンドル及び組合せスイッ
チで指定し、?JII数のスイッチを別々に操作するこ
となく櫨々の組合せ照明を行うことが可能で(8) ある。
光源は試料保持器内に設けられるからこの保持器と賎に
移動し、従ってナイフに対する試料の副筋のための仔は
の保持器a整運動に従って移動する。このためf!l
tば扇形部材上の試料保持器のピボット調整運動間、こ
の運動範囲の大きさに無関係に賓に照明の性質は不変に
維持される。
移動し、従ってナイフに対する試料の副筋のための仔は
の保持器a整運動に従って移動する。このためf!l
tば扇形部材上の試料保持器のピボット調整運動間、こ
の運動範囲の大きさに無関係に賓に照明の性質は不変に
維持される。
wcl(8)に示すウルトラミクロトームは上下に動く
試料アーム1を有する。試料又は標本3の保持器2は試
料アーム1の前端に取付けられ。
試料アーム1を有する。試料又は標本3の保持器2は試
料アーム1の前端に取付けられ。
試料3は保持器2&C固着され、該保持器2は。
ナイフ5の切断縁に対するg科3の用度位置。
即ち回転位置を変えるため揺動可能にセグメントアーク
、即ち扇形部材4に固着される。この扇形部材4のため
試料保持器2は、ナイフの切断縁上の仮想的ピボット点
の周9で角度1i11盛。
、即ち扇形部材4に固着される。この扇形部材4のため
試料保持器2は、ナイフの切断縁上の仮想的ピボット点
の周9で角度1i11盛。
即ち揺動回転できる。
岨察用の立体顕微@16が試料3とナイフの区域の上方
に設けられる。いわゆる“組礒處察器1と呼ばれる偏向
鏡61が立体顕微鏡6の光路内に配置され、このII覗
察器1によって試料の整形のため試料3の端面を威察し
検査することができる。第1崗f(示すウルトラミクロ
トームは公知型式のものであるから構造の詳細な説明は
省略する。
に設けられる。いわゆる“組礒處察器1と呼ばれる偏向
鏡61が立体顕微鏡6の光路内に配置され、このII覗
察器1によって試料の整形のため試料3の端面を威察し
検査することができる。第1崗f(示すウルトラミクロ
トームは公知型式のものであるから構造の詳細な説明は
省略する。
第2図に示されるように、試料保持器2は扇形部材4に
固定され、又二重矢印で示される方向に1反調整ができ
る。
固定され、又二重矢印で示される方向に1反調整ができ
る。
ジャーナル軸型突起7が扇形部材4の後面。
又はg料保持器2の後面に配電される。この突起7は試
料アーム1の8に押込まれ、この孔の中でロック12じ
9てよって固定される。
料アーム1の8に押込まれ、この孔の中でロック12じ
9てよって固定される。
試料保持器2の前端には試料固定用の固定孔10が設け
られ、試料3はパラフィン又はプラスチックのような透
明物質で作られた試料ブロック31内に埋込まれている
。固定孔1oは光分な深さを有し、試料ブロック3′を
この孔内に固定しても空間11が残る。この空間11は
試料ブロック3′と固定孔の底部との間の空間である。
られ、試料3はパラフィン又はプラスチックのような透
明物質で作られた試料ブロック31内に埋込まれている
。固定孔1oは光分な深さを有し、試料ブロック3′を
この孔内に固定しても空間11が残る。この空間11は
試料ブロック3′と固定孔の底部との間の空間である。
この空間内には光#i12が設けられ、この光源は小型
フィラメント型電球である。光′MA12は。
フィラメント型電球である。光′MA12は。
固定孔10の底部に設けられた電球保持器13に取付け
られる。
られる。
篭球保持l!S13に給電する電線(図面省略)は。
扇形部材14の外部又は内部から突起7の端部の接触端
14に達する。接触端14は、4JC科了−五の孔8内
にある対応接点15と電気接続する。116は接は15
を電源(図面省略)6C接続する。
14に達する。接触端14は、4JC科了−五の孔8内
にある対応接点15と電気接続する。116は接は15
を電源(図面省略)6C接続する。
1加電源17を試料保持器2の上方に、又低レベル電源
18を下方に設けることができる@試料3Ijtび/又
μウルトジミクロトームの試料−ナイフ区域に対−fる
最適照明はこれらの′電源。
18を下方に設けることができる@試料3Ijtび/又
μウルトジミクロトームの試料−ナイフ区域に対−fる
最適照明はこれらの′電源。
及びI&LIM12による試料の直接照明の組合せによ
って侮られる。
って侮られる。
第3図の試料保持′a2は、第2121と類(以でかつ
同一の1#照蚊字を有する多くの類似部品を含んでいる
。しかし第3図の実に倒では、第2図の実施例で使用さ
れる電球120代りに、固定孔10の空間1]内に1−
向鏡2oが設けられる。
同一の1#照蚊字を有する多くの類似部品を含んでいる
。しかし第3図の実に倒では、第2図の実施例で使用さ
れる電球120代りに、固定孔10の空間1]内に1−
向鏡2oが設けられる。
反射422を有するフィラメント型醒球21けファイバ
ー型ライトガイド23によって一部−20[光を送り、
このライトガイドの端部は試料保持器2の横孔24内に
固定される。−向鏡20は電球21の光を90″−向し
試料ブロック3+を1(θ明する。薄いクリスタルガラ
ス板のような吸熱スクリーン25が(転)向fi20と
試料ブロック31との間に設けられる。このスクリーン
は熱放射による試料ブロック3+の加熱を阻止する。
ー型ライトガイド23によって一部−20[光を送り、
このライトガイドの端部は試料保持器2の横孔24内に
固定される。−向鏡20は電球21の光を90″−向し
試料ブロック3+を1(θ明する。薄いクリスタルガラ
ス板のような吸熱スクリーン25が(転)向fi20と
試料ブロック31との間に設けられる。このスクリーン
は熱放射による試料ブロック3+の加熱を阻止する。
「もちろん耐熱スクリーン又は熱フィルタは。
試料ブロック3′を熱放射から保護する必要がある場合
は第2因の実施例でも使用でき、これは低温で作業する
際特に重要である。) ファイバー型ライトガイド23は比較的低損失で光を伝
導するから、フィラメント型電球21はウルトラミクロ
トーム上に配置することができ、又ライトガイド23の
長さは充分に長くして試料アームlの運動、又は扇形部
材4上の試料保持器2の調整運動を妨害しないようにす
ることができる。
は第2因の実施例でも使用でき、これは低温で作業する
際特に重要である。) ファイバー型ライトガイド23は比較的低損失で光を伝
導するから、フィラメント型電球21はウルトラミクロ
トーム上に配置することができ、又ライトガイド23の
長さは充分に長くして試料アームlの運動、又は扇形部
材4上の試料保持器2の調整運動を妨害しないようにす
ることができる。
本発明の範囲内で、上記の各実施例には棟々の変型が可
能である。例えば、小型電球12゜又は喘向鏡20は固
定孔10の低長部、従って空間11の低長部、又は固定
孔の底部の後方の扇形部材内に配flftすることもで
きる。しかし光源の光は、試料ブロック3′の透明性又
は半透明性により試料の内部組蟻が示されるように入射
しなければならない。
能である。例えば、小型電球12゜又は喘向鏡20は固
定孔10の低長部、従って空間11の低長部、又は固定
孔の底部の後方の扇形部材内に配flftすることもで
きる。しかし光源の光は、試料ブロック3′の透明性又
は半透明性により試料の内部組蟻が示されるように入射
しなければならない。
第1図は一部断面で示されるウルトラミクロトームの側
面幅木区;麻2因は本発明による試料保持器で第1図の
ウルトラミクロトームに使用される保持器の縦断面詳細
図で1第3図Fi第2図の試料保持器の変型実施例を示
す。 1・・・試料アーム、 2・・・試料保持器、 3
・・・試料。 4・・・扇形部材、 5・・・ナイフ、 6・・・
偏向鏡。 7・・・突起、 9・・・ロックねじ、 10・
・・固定孔。
面幅木区;麻2因は本発明による試料保持器で第1図の
ウルトラミクロトームに使用される保持器の縦断面詳細
図で1第3図Fi第2図の試料保持器の変型実施例を示
す。 1・・・試料アーム、 2・・・試料保持器、 3
・・・試料。 4・・・扇形部材、 5・・・ナイフ、 6・・・
偏向鏡。 7・・・突起、 9・・・ロックねじ、 10・
・・固定孔。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 ナイフVC対して運動される試料保持器を有する
ミクロトームで、彼試料保持器は試料を保持する固定孔
と試料を照明する光源とを有し。 波光源は試料保持器の上記固定孔の内部に配置されてい
るミクロトーム。 λ 上記第1項記載のミクロトームで、光源が試料後方
の固定孔底部に配置されているミクロトーム。 1 上記第1項記載のミクロトームで、ミクロトームの
試料−ナイフ区域を上部から照明するため少くとも1蘭
の追加光源が設けられているミクロ ドーム。 4、 上記第1項記載のミクロトームで、光源カ小型フ
ィラメント電球であるオクロト←ム。 5、 上記第1項記載のミクロトームで、光源が一向境
を有し、該−回mKは試料保持器の外部に配置された照
明−から光が曲射されるミクロトーム。 6、 上記@5項記載のミクロトームで、a<料保持器
の固定孔に開放する横孔内にファイバー型式のライトガ
イドの端部が固着され、蚊ライトガイドはi園明源の光
を一向鋺に投射するミクロトーム。 7、 上記第1項記載のミクロトームで、試料と光源と
の間に、透過性と吸熱性を有するスクリーンが設けられ
ているミクロトーム。 8、 上記第1項記載のミクロトームで、試料保持器が
ナイフ切断縁上の仮想ピボット点の周りで回転1114
節できるミクロトーム。 9、上記第3項記載のミクロトームで、少くとも1閲の
追加光源とは独立に切υ換見られる切換装置が光源に設
けられているミクロトーム。 10、上記第3項記載のミクロトームで、少くとも1−
の追加光源と組合わせて切p換えられる切換装置が光源
に設けられているミクロトーム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3224449 | 1982-06-30 | ||
DE32244495 | 1982-06-30 | ||
DE32359519 | 1982-09-29 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS599540A true JPS599540A (ja) | 1984-01-18 |
Family
ID=6167242
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58113003A Pending JPS599540A (ja) | 1982-06-30 | 1983-06-24 | ミクロト−ム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4511224A (ja) |
JP (1) | JPS599540A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007212387A (ja) * | 2006-02-13 | 2007-08-23 | Seiko Instruments Inc | 薄切片作製装置及び薄切片作製方法 |
JP2008020293A (ja) * | 2006-07-12 | 2008-01-31 | Seiko Instruments Inc | 薄切片作製装置及び薄切片作製方法 |
JP2009271049A (ja) * | 2004-01-22 | 2009-11-19 | Sakura Finetex Usa Inc | マルチ軸ワークピースチャック |
JP2019534461A (ja) * | 2016-11-14 | 2019-11-28 | サクラ ファインテック ユー.エス.エー., インコーポレイテッド | ミクロトーム |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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