JPS599540A - ミクロト−ム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はミクロトーム、特にナイフに対して移動できる
ｇ科保持器、該保持器に設けられた試料保持用の固定孔
と試料を照明する光源とを有するウルトラミクロトーム
に関連する。

多くの試料は天然の形帽と状暢では薄片に切断すること
ができない。多くの場合、この１１ｉｌのｇ科の作成Ｃ
ヒ）＆び動物の諸器官０例えば肝臓、肺臓又は脳髄の薄
片１体液の遠心分離残留物、植物小片、＃生物１組織片
など）が必要である。この試料作成には通電、アルデヒ
ド及び／又は重金−による安定化処理、これに続く試料
の脱水とプラスチック材料１適普エポキシド又はポリエ
ステルのような透明又は半透明材料）中の埋込が行われ
る。

上記の処理で潜られた円柱状、扁平状又は角柱状の１試
料ブロツク１は切断が容易に行われるように整形した後
、試料保持器に固定され。

顧ａｍ又は゛鑞子顧＃鏡で検鏡するため薄片に切（３） 断される。この切断操作は適材、金属、ガラス又ｌｃよ
ダイヤモンドで作られたナイフで行われる。

上記の試料−ナイフ区域を非膚に精密にｔｈ！察するこ
とはぼクロドーム、特にウルトラミクロトーム内で完全
な試料切片を作るのに非＃Ｖｃ１要な条件である。特に
この櫓の切断操作の成否は試料ブロックの正確な区域選
定に依存する。

この目的で特にウルトラミクロトームの場合には、立体
顧歓鏡と光源を設け、この前者は試料−ナイフ区域を覗
察するため、又後１１Ｆｉこの区域を照明するためのも
のでちる。この光源は試料−ナイフ区域の上方、醍び／
又は下方に設けられ、又ナイフ切断縁、及び／又は切断
すべき試料ブロックの表面にできるだけ整列するように
調節可能のものが多い。

現在までのところ試料−ナイフ区域を精密に岨察できる
完全な装置は漫られていない。従って試料の内部構面１
表面構造組部、又は非店に小型の対象物は、所望の細部
を発見で良るほど明白には表示されないからｌ！１！乍
者は試料ブロワ（４） りの正しい所望区域を選択することかで色ない。

場合によってはトリミング、即ち試料ブロック整形様作
問に試料の所望区域が間然に切断で失われ、切片表面に
非所望区域のみを含むのみならず、切断操作を妨書する
物質（例えば硬質含有物、切断が困難なコラーゲン繊維
又は脂肪細胞）を含むことがある。一般に使用されてい
る試料上方の低温燈その他の光ｌｌｌ１ｉＶｃよる入射
光照明も、下方からの試料−ナイフ１区域照明にしばし
ば使用される暗視野照明Ｃ低レベル照明）も試料の所１
区域の判別に光分な照明法ではない。

唯一つの有効な方法は、試料を保持器に固定したまま整
形し、この整形間に反射鏡装置ＣＩ′組織爾察鳴１　）
　ｉｃよって前方から礪察する方法である。

又光ｆＡＣ入射光１園明及び／又は低レベル照明）の調
整、又は光源に対する試料固定が試料の最４１１＠明を
与えたとしても、最適品質の切片を得るため試料のナイ
フに対する位置を変麩することは極めて困難な操作であ
る。これは所望の精密−察を維持するためにはＩｌｌ明
の再、！ＩＩＩが必要なためである。このような状態は
０例えば０回転位置を調整するため試料保持器を、いわ
ゆるセグメントアーク、即ち扇形部材と組合わｔ。

ナイフのほぼ切断縁上にあるピボット軸の周りで水平に
保持器を旋回する場合に起こる。

本発明の目的は前記の１１１薇を克服し、改良した照明
装置を有するミクロトーム、特にウルトラミクロトーム
を提供することにあり、この照明装置によって試料の細
部組織が従来よ抄もはるかに効果的に綱察でき、同時に
試料の位置を変麩する場合に再Ｓ＊の必要を要しない照
明装置が帰られる。

他の一目的は、試料の所望切断区域を選択したり、又試
料の不必要区域を規則正しく除去したりする場合に、試
料のあらゆる区域ＴＩｃＩ組礒−察器“として容易かつ
有効に使用できるものを提供することにある。

本発明によるミクロトームは、ナイフＶＣ対して停動で
きる試料保持器を含み、＃保持器にはｇ科を保持する固
定孔、及び核保持器の固定孔内に配置された試料１園明
用光源が設けられる。

例えば光−として小型フィラメント電球が試料保持器の
固定孔内に配置され、この電球は試料ブロックが固定さ
れたｉま光が該ブロックを通るように設けられる。

１紀の装置の驚くべき発見は、材料の埋込に使用される
ａ明又は＄透明物質のため試料の内部組織が明瞭に見ら
れることである。光源は固定孔の底部又はその後端０例
えば扇形部材内に設けられ、試料ブロックが固定されて
いる時は光源はこのブロックの後方にあるから光は固定
孔の縦軸方向にブロックをＩＩｆｌａする。しかしもし
光源を固定孔のＷ壁に設け、所定の１度で試料ブロック
を照射すれば内側から試料を照射することもできる。本
発明の別の実施例では光源として固定孔内の偏向鏡を使
用し、この鏡は固定孔の外部にあるランプの光を試料ブ
ロックに（７） 照射する。この実施例では所定温度以上の試料の加熱を
防止し、この温度は冷凍試料で作業する場合に考慮すべ
齢要因である。更に別の実施例ではファイバー型ライト
ガイド又は類似装置を通して光を導入することによって
試料の加熱が防止でき、光を発射するライトガイド端部
は固定孔内又は固定孔の周壁に配置し染中光線を試料ブ
ロックに１θ射する。場合によっては熱障壁としてフィ
ルタを固定孔内の光ｍ（フィラメント電球、偏向鏡、フ
ァイバー型ライトガイド端部）と試料ブロックとの間に
設けることもできる。

本発明の範囲内で、試料ブロックの内部照明は他の照明
源を使用した場合にもこれと独立してオン・オフの切換
が可能で、この切換は適当なスイッチで行われる。又本
発明によれば、入射光源、及び／又は低レベル光源、及
び内部照明の適当な組合亡はハンドル及び組合せスイッ
チで指定し、？ＪＩＩ数のスイッチを別々に操作するこ
となく櫨々の組合せ照明を行うことが可能で（８） ある。

光源は試料保持器内に設けられるからこの保持器と賎に
移動し、従ってナイフに対する試料の副筋のための仔は
の保持器ａ整運動に従って移動する。このためｆ！ｌ　
ｔば扇形部材上の試料保持器のピボット調整運動間、こ
の運動範囲の大きさに無関係に賓に照明の性質は不変に
維持される。

ｗｃｌ（８）に示すウルトラミクロトームは上下に動く
試料アーム１を有する。試料又は標本３の保持器２は試
料アーム１の前端に取付けられ。

試料３は保持器２＆Ｃ固着され、該保持器２は。

ナイフ５の切断縁に対するｇ科３の用度位置。

即ち回転位置を変えるため揺動可能にセグメントアーク
、即ち扇形部材４に固着される。この扇形部材４のため
試料保持器２は、ナイフの切断縁上の仮想的ピボット点
の周９で角度１ｉ１１盛。

即ち揺動回転できる。

岨察用の立体顕微＠１６が試料３とナイフの区域の上方
に設けられる。いわゆる“組礒處察器１と呼ばれる偏向
鏡６１が立体顕微鏡６の光路内に配置され、このＩＩ覗
察器１によって試料の整形のため試料３の端面を威察し
検査することができる。第１崗ｆ（示すウルトラミクロ
トームは公知型式のものであるから構造の詳細な説明は
省略する。

第２図に示されるように、試料保持器２は扇形部材４に
固定され、又二重矢印で示される方向に１反調整ができ
る。

ジャーナル軸型突起７が扇形部材４の後面。

又はｇ料保持器２の後面に配電される。この突起７は試
料アーム１の８に押込まれ、この孔の中でロック１２じ
９てよって固定される。

試料保持器２の前端には試料固定用の固定孔１０が設け
られ、試料３はパラフィン又はプラスチックのような透
明物質で作られた試料ブロック３１内に埋込まれている
。固定孔１ｏは光分な深さを有し、試料ブロック３′を
この孔内に固定しても空間１１が残る。この空間１１は
試料ブロック３′と固定孔の底部との間の空間である。

この空間内には光＃ｉ１２が設けられ、この光源は小型
フィラメント型電球である。光′ＭＡ１２は。

固定孔１０の底部に設けられた電球保持器１３に取付け
られる。

篭球保持ｌ！Ｓ１３に給電する電線（図面省略）は。

扇形部材１４の外部又は内部から突起７の端部の接触端
１４に達する。接触端１４は、４ＪＣ科了−五の孔８内
にある対応接点１５と電気接続する。１１６は接は１５
を電源（図面省略）６Ｃ接続する。

１加電源１７を試料保持器２の上方に、又低レベル電源
１８を下方に設けることができる＠試料３Ｉｊｔび／又
μウルトジミクロトームの試料−ナイフ区域に対−ｆる
最適照明はこれらの′電源。

及びＩ＆ＬＩＭ１２による試料の直接照明の組合せによ
って侮られる。

第３図の試料保持′ａ２は、第２１２１と類（以でかつ
同一の１＃照蚊字を有する多くの類似部品を含んでいる
。しかし第３図の実に倒では、第２図の実施例で使用さ
れる電球１２０代りに、固定孔１０の空間１］内に１−
向鏡２ｏが設けられる。

反射４２２を有するフィラメント型醒球２１けファイバ
ー型ライトガイド２３によって一部−２０［光を送り、
このライトガイドの端部は試料保持器２の横孔２４内に
固定される。−向鏡２０は電球２１の光を９０″−向し
試料ブロック３＋を１（θ明する。薄いクリスタルガラ
ス板のような吸熱スクリーン２５が（転）向ｆｉ２０と
試料ブロック３１との間に設けられる。このスクリーン
は熱放射による試料ブロック３＋の加熱を阻止する。

「もちろん耐熱スクリーン又は熱フィルタは。

試料ブロック３′を熱放射から保護する必要がある場合
は第２因の実施例でも使用でき、これは低温で作業する
際特に重要である。） ファイバー型ライトガイド２３は比較的低損失で光を伝
導するから、フィラメント型電球２１はウルトラミクロ
トーム上に配置することができ、又ライトガイド２３の
長さは充分に長くして試料アームｌの運動、又は扇形部
材４上の試料保持器２の調整運動を妨害しないようにす
ることができる。

本発明の範囲内で、上記の各実施例には棟々の変型が可
能である。例えば、小型電球１２゜又は喘向鏡２０は固
定孔１０の低長部、従って空間１１の低長部、又は固定
孔の底部の後方の扇形部材内に配ｆｌｆｔすることもで
きる。しかし光源の光は、試料ブロック３′の透明性又
は半透明性により試料の内部組蟻が示されるように入射
しなければならない。

【図面の簡単な説明】

第１図は一部断面で示されるウルトラミクロトームの側
面幅木区；麻２因は本発明による試料保持器で第１図の
ウルトラミクロトームに使用される保持器の縦断面詳細
図で１第３図Ｆｉ第２図の試料保持器の変型実施例を示
す。 １・・・試料アーム、　　２・・・試料保持器、　　３
・・・試料。 ４・・・扇形部材、　　５・・・ナイフ、　　６・・・
偏向鏡。 ７・・・突起、　　９・・・ロックねじ、　　　１０・
・・固定孔。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、　ナイフＶＣ対して運動される試料保持器を有する
   ミクロトームで、彼試料保持器は試料を保持する固定孔
   と試料を照明する光源とを有し。 波光源は試料保持器の上記固定孔の内部に配置されてい
   るミクロトーム。 λ　上記第１項記載のミクロトームで、光源が試料後方
   の固定孔底部に配置されているミクロトーム。 １　上記第１項記載のミクロトームで、ミクロトームの
   試料−ナイフ区域を上部から照明するため少くとも１蘭
   の追加光源が設けられているミクロ　ドーム。 ４、　上記第１項記載のミクロトームで、光源カ小型フ
   ィラメント電球であるオクロト←ム。 ５、　上記第１項記載のミクロトームで、光源が一向境
   を有し、該−回ｍＫは試料保持器の外部に配置された照
   明−から光が曲射されるミクロトーム。 ６、　上記＠５項記載のミクロトームで、ａ＜料保持器
   の固定孔に開放する横孔内にファイバー型式のライトガ
   イドの端部が固着され、蚊ライトガイドはｉ園明源の光
   を一向鋺に投射するミクロトーム。 ７、　上記第１項記載のミクロトームで、試料と光源と
   の間に、透過性と吸熱性を有するスクリーンが設けられ
   ているミクロトーム。 ８、　上記第１項記載のミクロトームで、試料保持器が
   ナイフ切断縁上の仮想ピボット点の周りで回転１１１４
   節できるミクロトーム。 ９、上記第３項記載のミクロトームで、少くとも１閲の
   追加光源とは独立に切υ換見られる切換装置が光源に設
   けられているミクロトーム。 １０、上記第３項記載のミクロトームで、少くとも１−
   の追加光源と組合わせて切ｐ換えられる切換装置が光源
   に設けられているミクロトーム。