JPS5992996A - 分子線結晶成長用分子線源 - Google Patents
分子線結晶成長用分子線源Info
- Publication number
- JPS5992996A JPS5992996A JP20056582A JP20056582A JPS5992996A JP S5992996 A JPS5992996 A JP S5992996A JP 20056582 A JP20056582 A JP 20056582A JP 20056582 A JP20056582 A JP 20056582A JP S5992996 A JPS5992996 A JP S5992996A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- molecular beam
- heater
- temperature
- beam source
- molecular
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B23/00—Single-crystal growth by condensing evaporated or sublimed materials
- C30B23/02—Epitaxial-layer growth
- C30B23/06—Heating of the deposition chamber, the substrate or the materials to be evaporated
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は分子線結晶成長用分子線源の熱環境の再現性向
上に関するものである。
上に関するものである。
分子線Ｉ＃晶成長法は他の成長法では実現することので
きない極めて急峻な組成変化や、ドーピング濃度変化を
実現できるユニークな結晶成長法である。この間長を活
かして、分子線結晶成長によって５０Ａ程度の超薄膜を
必要とする量子井戸型レーザダイオード、超格子アバラ
ンシ光検出器、層状ドープバリヤ型トランジスター、モ
ジュレーシ麿ンドーグ型電界効果トランジスターなど多
彩なマイクロ波素子や光素子が提案され、また実現され
た。そのため分子線結晶成長法は将来の高度先端技術集
子の製造方法として期待されているものである。
きない極めて急峻な組成変化や、ドーピング濃度変化を
実現できるユニークな結晶成長法である。この間長を活
かして、分子線結晶成長によって５０Ａ程度の超薄膜を
必要とする量子井戸型レーザダイオード、超格子アバラ
ンシ光検出器、層状ドープバリヤ型トランジスター、モ
ジュレーシ麿ンドーグ型電界効果トランジスターなど多
彩なマイクロ波素子や光素子が提案され、また実現され
た。そのため分子線結晶成長法は将来の高度先端技術集
子の製造方法として期待されているものである。
前記素子を分子線結晶成長法によって製造するためには
、前記成長法が再現性の良い製造方法であることが不可
欠である口しかし従来の分子線結晶成長装置に用いられ
た分子線源には以下に説明する欠点のため、必ずしも再
現性の良いものではなかった。
、前記成長法が再現性の良い製造方法であることが不可
欠である口しかし従来の分子線結晶成長装置に用いられ
た分子線源には以下に説明する欠点のため、必ずしも再
現性の良いものではなかった。
第１図に従来の分子線源の模式図を示す。従来の分子線
に右いてはカーボンまたはＰＢＮルツボ１を、これを取
巻くひとつのコイル状ヒータ２によって加熱し、更に余
分な熱の散逸を防ぐ目的で幾重かの熱シールド３で覆っ
た構造となっている。
に右いてはカーボンまたはＰＢＮルツボ１を、これを取
巻くひとつのコイル状ヒータ２によって加熱し、更に余
分な熱の散逸を防ぐ目的で幾重かの熱シールド３で覆っ
た構造となっている。
ただひとつのヒータ線によって加熱されるためコイル状
ヒータのわずかな間隔の違い、あるいは熱シールドのわ
ずかな放熱証の違い等によって全く同一規格の分子線源
を用いても、ルツボ内の温度分布は必ずし５同−誓こな
る訳ではないという欠点があった。このため、＃を対４
による読み取り温度と分子線源の実際の温度は分子蘇澱
毎に異なり、同一の熱電対の読み取り温度を保っても、
分子線束の分子線密度が再現されないという欠点があっ
たＯ また、ひとつのコイル状ヒータで加熱するためルツボの
中央部が高温度になり、分子線の出口付近で低温となる
温度プロファイルの不均一性を生ずる欠点があった。
ヒータのわずかな間隔の違い、あるいは熱シールドのわ
ずかな放熱証の違い等によって全く同一規格の分子線源
を用いても、ルツボ内の温度分布は必ずし５同−誓こな
る訳ではないという欠点があった。このため、＃を対４
による読み取り温度と分子線源の実際の温度は分子蘇澱
毎に異なり、同一の熱電対の読み取り温度を保っても、
分子線束の分子線密度が再現されないという欠点があっ
たＯ また、ひとつのコイル状ヒータで加熱するためルツボの
中央部が高温度になり、分子線の出口付近で低温となる
温度プロファイルの不均一性を生ずる欠点があった。
このため、この分子線源を用いてガリウムの分子線束を
作った場合にはガリウムの微小液滴が出口付近に凝縮し
てヅ６生じ、これがカリウム諒の液面にころがり洛ちる
瞬間に発生するガリワトのマクロな粒の飛散が成長結晶
の表面欠陥の原因となる欠点があった〇 本発明は従来の分子線源のこのような欠点を除去するた
めになされたものであって、分子線源毎の再現性が良く
、ルツボ内の均一な温度分布が実現でき、シャッターの
開閉による熱環境の変化に対しても安定な、新規な分子
線結晶成長用分子線源を提供することにある。
作った場合にはガリウムの微小液滴が出口付近に凝縮し
てヅ６生じ、これがカリウム諒の液面にころがり洛ちる
瞬間に発生するガリワトのマクロな粒の飛散が成長結晶
の表面欠陥の原因となる欠点があった〇 本発明は従来の分子線源のこのような欠点を除去するた
めになされたものであって、分子線源毎の再現性が良く
、ルツボ内の均一な温度分布が実現でき、シャッターの
開閉による熱環境の変化に対しても安定な、新規な分子
線結晶成長用分子線源を提供することにある。
本発明によれば、基板上に成長すべき結晶を構成する分
子線用材料を充填した分子線源ルツボと前記材料を加熱
するヒータとを備えた分子線結晶成長用分子線源におい
て、ヒータが分子線の地線方向に値数の領域ｉこ分割さ
れ、それぞれのヒータが独立に温度制御されることを特
徴とする分子線結晶成長用分子線源が得られる。
子線用材料を充填した分子線源ルツボと前記材料を加熱
するヒータとを備えた分子線結晶成長用分子線源におい
て、ヒータが分子線の地線方向に値数の領域ｉこ分割さ
れ、それぞれのヒータが独立に温度制御されることを特
徴とする分子線結晶成長用分子線源が得られる。
以下に本発明を実施例によって詳細に説明する。
第２図は本発明の詳細な説明するための分子線源の模式
図である。本実施例では、長さ８０ｍ。
図である。本実施例では、長さ８０ｍ。
内径２０６のＰＢＮ製ルツルツボ熱するヒータを分子線
の飛紐方向に２分割し、ルツボの入口付近（分子線の出
口付近）を加熱するための長さ２０胡の第１のヒータ５
とルツボの残り全体を加熱する長さ８０笥の第２のヒー
タ６とした。第１のヒータ温度を第１の熱電対７によっ
てモニタして第１のヒータ加熱制御電源にフィードバッ
クし、第２のヒータ温度を第２の熱電対８によってモニ
タして第２のヒータ加熱制御電源にフィードバックし、
それぞれ独立に温度制御した。
の飛紐方向に２分割し、ルツボの入口付近（分子線の出
口付近）を加熱するための長さ２０胡の第１のヒータ５
とルツボの残り全体を加熱する長さ８０笥の第２のヒー
タ６とした。第１のヒータ温度を第１の熱電対７によっ
てモニタして第１のヒータ加熱制御電源にフィードバッ
クし、第２のヒータ温度を第２の熱電対８によってモニ
タして第２のヒータ加熱制御電源にフィードバックし、
それぞれ独立に温度制御した。
本発明による分子線源にガリウム原料を充填しＧａＡｓ
の分子線結晶成長を行なった。第２のヒータ温度を９８
０℃とし、第１のヒータ温屁を第２のヒータ温度より２
０℃高い１０００℃に設定した〇ヒ累の分子線の第１お
よび第２のヒータ温度を３００℃とした。この時ＧａＡ
ｓの成長速度は１．４μｍ／時であった。同一規格の分
子線源を５個製作し、成長速度の比較を行なったが、同
一成長条件で成長速度の再現性は±３％以下と極めて良
好であった口また、ＧａＡｓ表面に発生した径が５μｍ
以上の欠陥密度は５０個／−以下と極めて小さな値であ
った。一方従来の分子線源を用いた場合は数十個／−で
あった０ 以上述べた様に本発明によって得られた分子線源の効果
は明らかで極めて顕著なものであった口
の分子線結晶成長を行なった。第２のヒータ温度を９８
０℃とし、第１のヒータ温屁を第２のヒータ温度より２
０℃高い１０００℃に設定した〇ヒ累の分子線の第１お
よび第２のヒータ温度を３００℃とした。この時ＧａＡ
ｓの成長速度は１．４μｍ／時であった。同一規格の分
子線源を５個製作し、成長速度の比較を行なったが、同
一成長条件で成長速度の再現性は±３％以下と極めて良
好であった口また、ＧａＡｓ表面に発生した径が５μｍ
以上の欠陥密度は５０個／−以下と極めて小さな値であ
った。一方従来の分子線源を用いた場合は数十個／−で
あった０ 以上述べた様に本発明によって得られた分子線源の効果
は明らかで極めて顕著なものであった口
第１図は従来の分子′ａ結晶成長用分子線源の模式図、
第２図は本発明によって得られた分子線結晶成長用分子
線源の模式図である０ 図において、 】、・・・・・・・・・ルツボ、 ２・・・・・・・・・ヒータ、 ３・・・・・・・・・熱シールド１ ４・・・・・・・・・熱電対、 ５・・・・・・・・・第１のヒータ、 ６・・・・・・・・・第２のヒータ、 ７・・・・・・・・・第１の熱電対、 ８・・・・・・・・・第２の熱電対０
第２図は本発明によって得られた分子線結晶成長用分子
線源の模式図である０ 図において、 】、・・・・・・・・・ルツボ、 ２・・・・・・・・・ヒータ、 ３・・・・・・・・・熱シールド１ ４・・・・・・・・・熱電対、 ５・・・・・・・・・第１のヒータ、 ６・・・・・・・・・第２のヒータ、 ７・・・・・・・・・第１の熱電対、 ８・・・・・・・・・第２の熱電対０
Claims (1)
- 基板上に成長すべき結晶を構成する分子線用材料を充填
した分子線源ルツボと前記材料を加熱するヒータとを備
えた分子線結晶成長用分子線源において、ヒータか分子
線の飛線方向に複数の領域に分割され、それぞれのヒー
タが独立に温度制御されることを特徴とする分子線結晶
成長用分子線源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20056582A JPS5992996A (ja) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | 分子線結晶成長用分子線源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20056582A JPS5992996A (ja) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | 分子線結晶成長用分子線源 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5992996A true JPS5992996A (ja) | 1984-05-29 |
| JPS6214519B2 JPS6214519B2 (ja) | 1987-04-02 |
Family
ID=16426430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20056582A Granted JPS5992996A (ja) | 1982-11-16 | 1982-11-16 | 分子線結晶成長用分子線源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5992996A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6371528U (ja) * | 1986-10-29 | 1988-05-13 | ||
| EP0271351A2 (en) * | 1986-12-10 | 1988-06-15 | Fuji Seiki Inc. | Vacuum evaporating apparatus |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53126262A (en) * | 1977-04-11 | 1978-11-04 | Fujitsu Ltd | Molecular beam epitaxial growth apparatus |
-
1982
- 1982-11-16 JP JP20056582A patent/JPS5992996A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53126262A (en) * | 1977-04-11 | 1978-11-04 | Fujitsu Ltd | Molecular beam epitaxial growth apparatus |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6371528U (ja) * | 1986-10-29 | 1988-05-13 | ||
| EP0271351A2 (en) * | 1986-12-10 | 1988-06-15 | Fuji Seiki Inc. | Vacuum evaporating apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6214519B2 (ja) | 1987-04-02 |
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