JPS5992304A - 物体表面の2次元形状測定方法 - Google Patents
物体表面の2次元形状測定方法Info
- Publication number
- JPS5992304A JPS5992304A JP20337182A JP20337182A JPS5992304A JP S5992304 A JPS5992304 A JP S5992304A JP 20337182 A JP20337182 A JP 20337182A JP 20337182 A JP20337182 A JP 20337182A JP S5992304 A JPS5992304 A JP S5992304A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mirror
- laser
- position sensor
- dimensional shape
- cast billet
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、例えば制片等の物体表面の2次元形状の測定
方法に関するものである。
方法に関するものである。
従来、鉄片等の物体表面の2次元形状を測定する場合、
例えば水柱式形状検出器にみられる如く、基準点から物
体表面までの距離を測定し、かつ物体を移動させること
により、2次元形状に変換していた。
例えば水柱式形状検出器にみられる如く、基準点から物
体表面までの距離を測定し、かつ物体を移動させること
により、2次元形状に変換していた。
このように、企離を測定して、物体を移動させ、それに
より2次元形状を測定する方法にあっては、当然のこと
ながら、移動している物体にしか適用できないか、ある
いは物体を移動させなければ適用で゛きなかった。
より2次元形状を測定する方法にあっては、当然のこと
ながら、移動している物体にしか適用できないか、ある
いは物体を移動させなければ適用で゛きなかった。
しかもこの従来の測定方法では、3次元形状の測定は不
可能であった。
可能であった。
本発明は、かくの如き従来方法の欠点に鑑み開発したも
のであって、その実施の一例を図面に基づき以下に説明
する。
のであって、その実施の一例を図面に基づき以下に説明
する。
第1図において、1はレーザー発射装置であって、この
レーザー発射装置1から発射されたレーザー光2は、パ
ルスモータ−3によってレーザー発射装置1に対する角
度θが任意に変えられるミラー4を介して鋳片5の幅方
向の表面上にスポット6として照射される。
レーザー発射装置1から発射されたレーザー光2は、パ
ルスモータ−3によってレーザー発射装置1に対する角
度θが任意に変えられるミラー4を介して鋳片5の幅方
向の表面上にスポット6として照射される。
この場合、鋳片5の表面上に照射されるレーザ−スポッ
ト乙の位FF X 、 yは、ミラー40回転軸の平面
座標を花、yl とした場合、下記(1)式により定義
される。
ト乙の位FF X 、 yは、ミラー40回転軸の平面
座標を花、yl とした場合、下記(1)式により定義
される。
y:=iil、 (x−x、 )+:yl ”
”””’(1)なお、alは係数であって、これは第2
図に示す如く、ミラー40回転角θにより下記(2)式
のように求められる。
”””’(1)なお、alは係数であって、これは第2
図に示す如く、ミラー40回転角θにより下記(2)式
のように求められる。
alF−tan(1800−2θ)曲聞・(2)従って
前記(1)式は下記(3)式のように書き換えることが
でき、鋳片5上のレーザースポット乙の位置は、(3)
式で示される直線上に存在する。
前記(1)式は下記(3)式のように書き換えることが
でき、鋳片5上のレーザースポット乙の位置は、(3)
式で示される直線上に存在する。
y、=(x−x、)jan(1800−2θ)+y+
=・(3)次にこのター1片5上のレーザースポット6
を、第1図に示す如く、フィルター7、レンズ8を介し
てポジションセンサー9により検出する。
=・(3)次にこのター1片5上のレーザースポット6
を、第1図に示す如く、フィルター7、レンズ8を介し
てポジションセンサー9により検出する。
前記フィルター7は、レーザー光2だけを透過させ、外
乱光は遮断する。
乱光は遮断する。
またレンズ8は、鋳片5上のレーザースポット6をポジ
ションセンサー9上に結像させるものであり、累子上の
結像位置によって矩、流値が変化するものであって、第
3図に示す如く、ポジションセンサー9の長さ方向の位
置tと電流値iは比例する。
ションセンサー9上に結像させるものであり、累子上の
結像位置によって矩、流値が変化するものであって、第
3図に示す如く、ポジションセンサー9の長さ方向の位
置tと電流値iは比例する。
従ってレーザースポット乙の腕片5による反射光6aは
下記(4)式にて示される。
下記(4)式にて示される。
y= a2(x −X2 ) + y2 −
−−−−−−−・−(4)ただし、X2.y2は、レン
ズ8の平面座標である。
−−−−−−−・−(4)ただし、X2.y2は、レン
ズ8の平面座標である。
上記(4)式における係数a2は、第6図に示すパラメ
ータTがら求められる。
ータTがら求められる。
a2= tan (φ0−φ)
L−1o=I、 tanφ−+ 2 toi −1o=
Ljanφi−t/2t。
Ljanφi−t/2t。
、’、 a2= tan (φ。−tan−’ 〔(
2to i−to )/L) l・(5)従って前記(
4)式は下記(6)式のように書き・換えることができ
、鋳片5上のレーザースポット乙の位置は、(6)式で
示される直線上に存在する。
2to i−to )/L) l・(5)従って前記(
4)式は下記(6)式のように書き・換えることができ
、鋳片5上のレーザースポット乙の位置は、(6)式で
示される直線上に存在する。
y= (x−x2)tan(φ。−tan−’ [(2
1−1)/!、ll/L:))+y2−(6)故に前記
(2)式および(4)式から、鋳片5上のレーザースポ
ット6の位置X、yは、下記(7)式、(8)式の如く
求められる。
1−1)/!、ll/L:))+y2−(6)故に前記
(2)式および(4)式から、鋳片5上のレーザースポ
ット6の位置X、yは、下記(7)式、(8)式の如く
求められる。
X””(al XI −a2 X2 +y2−y1)/
(at −a2 ) −−−(7UV二(a1a2
X2− a1a2X1 +a2 ’11− al y2
)/(a2− al)”””(8)ただし a、 =
−jan(180’−2θ)a2−tan(φo−ta
n−’[(2i−1)to/L:])φO+t01Lは
固定値 θ、iは測定値 従って、パルスモータ−乙によってレーサー発射装置1
に対するミラー4の角度θを変えて、レーザー光2のス
ポット6を鋳片5の菱面のX軸上に移動させれば、ミラ
−40角度θと、ポジションセンサー9の出力型流値i
と、(7)式、(8)式とから、鋳片5の表面形状が演
勢器10によって演算され、かつ演算された鋳片5の表
面形状なXYブロック−11に表示させることができる
。
(at −a2 ) −−−(7UV二(a1a2
X2− a1a2X1 +a2 ’11− al y2
)/(a2− al)”””(8)ただし a、 =
−jan(180’−2θ)a2−tan(φo−ta
n−’[(2i−1)to/L:])φO+t01Lは
固定値 θ、iは測定値 従って、パルスモータ−乙によってレーサー発射装置1
に対するミラー4の角度θを変えて、レーザー光2のス
ポット6を鋳片5の菱面のX軸上に移動させれば、ミラ
−40角度θと、ポジションセンサー9の出力型流値i
と、(7)式、(8)式とから、鋳片5の表面形状が演
勢器10によって演算され、かつ演算された鋳片5の表
面形状なXYブロック−11に表示させることができる
。
以上述べた如く、本院、明方法によれば、鋳片等の物体
を移動させることなく、その表面の2次元形状を直接か
つ正確に測定することができ、従って例えば表面探傷手
段として応用した場合、表面傷の判定を面接行うことが
できる。
を移動させることなく、その表面の2次元形状を直接か
つ正確に測定することができ、従って例えば表面探傷手
段として応用した場合、表面傷の判定を面接行うことが
できる。
また物体を移動させると共に、得られた形状データーを
蓄積していけ(げ、6次元形状の測定も可能となる。
蓄積していけ(げ、6次元形状の測定も可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法の実施の一例を示すブロック図、第
2図はミラー釦おけるレーザー光の係数を求めるパラメ
ーター、第3図はポジションセンサーにおけるレーザー
スポットの反射光の係数を求めるパラメーターである。 出 珈 人 川崎響鉄株式会社
2図はミラー釦おけるレーザー光の係数を求めるパラメ
ーター、第3図はポジションセンサーにおけるレーザー
スポットの反射光の係数を求めるパラメーターである。 出 珈 人 川崎響鉄株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 レーザー光源に対し角度可変ミラーを介して物体費面上
にレーザースポットを移動照射すると共に、このレーザ
ースポットの移動反射光をポジションセンサーに結像さ
せ、前記ミラーの角度θと、−Lan(18[1°−2
0)、a2=tan(φo−tan−’((2i−i)
to/i、))、)X”=(at XI −a2 X2
+y2−y+ )/(at a2)と。 ト(at a2X2−at a2XI +a2 y+
at y2 )/(a2−at )とから、物体表面の
2次元形状を演算することを特徴とする物体表面の2次
元形状の測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20337182A JPS5992304A (ja) | 1982-11-19 | 1982-11-19 | 物体表面の2次元形状測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20337182A JPS5992304A (ja) | 1982-11-19 | 1982-11-19 | 物体表面の2次元形状測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5992304A true JPS5992304A (ja) | 1984-05-28 |
Family
ID=16472921
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20337182A Pending JPS5992304A (ja) | 1982-11-19 | 1982-11-19 | 物体表面の2次元形状測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5992304A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4709156A (en) * | 1985-11-27 | 1987-11-24 | Ex-Cell-O Corporation | Method and apparatus for inspecting a surface |
JPH02259503A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-22 | Suzuki Motor Co Ltd | 表面検出装置 |
EP2325597A1 (en) * | 2009-11-16 | 2011-05-25 | Mitutoyo Corporation | Non-contact optical probe and measuring machine |
-
1982
- 1982-11-19 JP JP20337182A patent/JPS5992304A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4709156A (en) * | 1985-11-27 | 1987-11-24 | Ex-Cell-O Corporation | Method and apparatus for inspecting a surface |
JPH02259503A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-22 | Suzuki Motor Co Ltd | 表面検出装置 |
EP2325597A1 (en) * | 2009-11-16 | 2011-05-25 | Mitutoyo Corporation | Non-contact optical probe and measuring machine |
US8704154B2 (en) | 2009-11-16 | 2014-04-22 | Mitutoyo Corporation | Non-contact probe with an optical filter and measuring machine including the same |
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