JPS5987308A - 部品の貫通孔試験方法 - Google Patents
部品の貫通孔試験方法Info
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- JPS5987308A JPS5987308A JP19682182A JP19682182A JPS5987308A JP S5987308 A JPS5987308 A JP S5987308A JP 19682182 A JP19682182 A JP 19682182A JP 19682182 A JP19682182 A JP 19682182A JP S5987308 A JPS5987308 A JP S5987308A
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- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
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- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、合成樹脂成型品等の部品に設けられた貫通孔
の中心軸と貫通孔の基準面とのなす角度の試験方法に関
するものである。
の中心軸と貫通孔の基準面とのなす角度の試験方法に関
するものである。
成型品等に設けられた中空貫通孔が、開口面積に比し比
較的長く、かつこの中心軸が基準面となす角度が、機能
上の要求によって厳しい精度を要求される場合がある。
較的長く、かつこの中心軸が基準面となす角度が、機能
上の要求によって厳しい精度を要求される場合がある。
この一つの例として、乾電池陽極封孔用成型品を第１図
に示す。
に示す。
封孔用成型品１の中央部にある突起部２の内部貫通孔３
は、陽極導通ビン（図示せず）を気密に嵌挿するため、
開口断面積に比し比較的長ぐつ（られ、またこの孔の中
心軸ａと、基準面すとのなす角度（本例の場合は直角）
は、乾電池の構造上電液漏洩を忌む見地から、厳密な精
度を要求される。この部品は射出成型により大量につく
られるが、成型時型離れの不均一が起る等の偶発的な原
因で、上記角度（本例の場合面角度）の不良が稀に発生
し、良品の中に混入することがある。従ってこれを組立
工程以前に弁別排除する必要があるが、この角度を機械
的に測定しようとしても、形状が複雑で小さく、数量が
多いために、迅速的確な試験が困難であり、従来は計量
値判定によらず目視による試験を行い、このため作業者
の習熟度。
は、陽極導通ビン（図示せず）を気密に嵌挿するため、
開口断面積に比し比較的長ぐつ（られ、またこの孔の中
心軸ａと、基準面すとのなす角度（本例の場合は直角）
は、乾電池の構造上電液漏洩を忌む見地から、厳密な精
度を要求される。この部品は射出成型により大量につく
られるが、成型時型離れの不均一が起る等の偶発的な原
因で、上記角度（本例の場合面角度）の不良が稀に発生
し、良品の中に混入することがある。従ってこれを組立
工程以前に弁別排除する必要があるが、この角度を機械
的に測定しようとしても、形状が複雑で小さく、数量が
多いために、迅速的確な試験が困難であり、従来は計量
値判定によらず目視による試験を行い、このため作業者
の習熟度。
疲労度等による影響が避けられず、最終製品の品質のバ
ラツキの因ともなっていた。
ラツキの因ともなっていた。
本発明は上述の事情に鑑みてなされ、試験対象部品の貫
通孔がその基準面とのなす角度を光電光学的に計測し、
非接触で検出精叩が高く、かつ迅速な試験を行うことを
可能とした試験方法を提供することを目的とする。
通孔がその基準面とのなす角度を光電光学的に計測し、
非接触で検出精叩が高く、かつ迅速な試験を行うことを
可能とした試験方法を提供することを目的とする。
上ｉｅの目的を達成するため、本発明は平行光束を試験
対象部品の貫通孔開口部中心に入射させ、かつ拘通孔の
基準面に対し元軸が規定角度になるよう当該部品を置く
。即ち試験対象品の貫通孔中心軸が基準面に対し正しい
角度にある場合は、孔の中心軸と光軸とが合致するので
、貫通孔を通るｆ、は中途で遮られることなく直進する
。しかしこれが成る角度をもつ場合には、光束の一部は
１通孔内壁を照射するので、直進光量はその分だけ減少
するほか、この照射面で光の反射、散乱が起る。
対象部品の貫通孔開口部中心に入射させ、かつ拘通孔の
基準面に対し元軸が規定角度になるよう当該部品を置く
。即ち試験対象品の貫通孔中心軸が基準面に対し正しい
角度にある場合は、孔の中心軸と光軸とが合致するので
、貫通孔を通るｆ、は中途で遮られることなく直進する
。しかしこれが成る角度をもつ場合には、光束の一部は
１通孔内壁を照射するので、直進光量はその分だけ減少
するほか、この照射面で光の反射、散乱が起る。
この直進光量と散乱を量（反射を含む）は、光の方向が
異るので、これらを受光器で捕捉、光電変換し、電１気
回路で処理する。このようにして貫通孔の基準面に対す
る角度の、正しい角度に対する傾き量を電気量として把
握するように構成するのが本試験方法の特徴である。
異るので、これらを受光器で捕捉、光電変換し、電１気
回路で処理する。このようにして貫通孔の基準面に対す
る角度の、正しい角度に対する傾き量を電気量として把
握するように構成するのが本試験方法の特徴である。
次に本発明の実施例を第２図、第３図について説明する
。第２図は本発明の試験方法を用いた試験装置の一構成
例を説明するための原理図、第３図は第２図における部
分拡大説明図である。なおこれらに引用した試験対象品
は第１図に示した乾電池陽極封孔用成型品である。
。第２図は本発明の試験方法を用いた試験装置の一構成
例を説明するための原理図、第３図は第２図における部
分拡大説明図である。なおこれらに引用した試験対象品
は第１図に示した乾電池陽極封孔用成型品である。
第２図は光源部にピンホールΦコリメータ法光学系を、
また集光部に積分理法光学系を用いたものを示してあり
、これらはいづれもヘーズメータ。
また集光部に積分理法光学系を用いたものを示してあり
、これらはいづれもヘーズメータ。
温度計等で使われている既知のものである。試験対象品
１は、その基準面すがｔ軸Ｃに対し２て正しく規定の角
度（本例では直角）になるよう、９た貫通孔３の中心が
ほぼ光軸−ヒにあるように位置させる。
１は、その基準面すがｔ軸Ｃに対し２て正しく規定の角
度（本例では直角）になるよう、９た貫通孔３の中心が
ほぼ光軸−ヒにあるように位置させる。
ラング光源４の発する光束５ｉｌ′ｉ：、コンデンサレ
ンズ６によりピンホール７の位置に収創され、さらにコ
リメータレンズ８により平行光束９となり、シャドウマ
スク１０を通って、太いさ及び形状が整えられた断面が
均一の明るさをもつ平行光束１１（本例の場合は円形光
束）となる。光束１１は試験対象品１の貫通孔部に入射
され、孔３を素通りした光束１１−１は積分球１２の光
入射口１２−１から球内に入射し、ライトトラツ７’ｔ
５内を直進し、例えばフォトダイオードを用いた直進光
受光器１４に達して光電変換され、ここで発生した電気
量は電気回路加で増巾され、直進光束１１−１の光量に
対応した電気ｉＴｐが得られる。
ンズ６によりピンホール７の位置に収創され、さらにコ
リメータレンズ８により平行光束９となり、シャドウマ
スク１０を通って、太いさ及び形状が整えられた断面が
均一の明るさをもつ平行光束１１（本例の場合は円形光
束）となる。光束１１は試験対象品１の貫通孔部に入射
され、孔３を素通りした光束１１−１は積分球１２の光
入射口１２−１から球内に入射し、ライトトラツ７’ｔ
５内を直進し、例えばフォトダイオードを用いた直進光
受光器１４に達して光電変換され、ここで発生した電気
量は電気回路加で増巾され、直進光束１１−１の光量に
対応した電気ｉＴｐが得られる。
第３図は、第２図における試験対象品１０貫通孔３の部
分を拡大したもので、同図（ａｌは上述の角度θが正し
く直角の場合を、同図ｆｂｌはθが直角でない場合即ち
中空突起部２が基準面すに対し傾いている不良品の場合
を示す。矢示Ａの方向に入射した平行光束１１は、前述
のように貫通孔３を素通りする光束１１−１のほか、環
状光束１１−２が試験対象品１の表面１６を照射する。
分を拡大したもので、同図（ａｌは上述の角度θが正し
く直角の場合を、同図ｆｂｌはθが直角でない場合即ち
中空突起部２が基準面すに対し傾いている不良品の場合
を示す。矢示Ａの方向に入射した平行光束１１は、前述
のように貫通孔３を素通りする光束１１−１のほか、環
状光束１１−２が試験対象品１の表面１６を照射する。
この環状光束１１−２は、一部は表面１６で反射して失
われ、他は試験対象品１の内部に入り、例えば矢示１８
の経路で減衰しながら試験対象品１の界面で反射を繰返
し、さらにその一部は１の表面から、光軸Ｃとは異る矢
示１８−１の方向へ散乱放射し、積分球光入射口１２−
１から積分球内に入る。
われ、他は試験対象品１の内部に入り、例えば矢示１８
の経路で減衰しながら試験対象品１の界面で反射を繰返
し、さらにその一部は１の表面から、光軸Ｃとは異る矢
示１８−１の方向へ散乱放射し、積分球光入射口１２−
１から積分球内に入る。
第３図（ｂｌのように貫通孔３の中心ＭＩＬが光軸Ｃに
対して傾いていると、平行光束１１の一部は貫通孔内壁
１７を照射するので、ここで反射光１１−３を生ずるほ
か、一部は例えば矢示１９のような経路で試験対象品］
の内部で反射した後、矢示１９−１のような方向に散乱
放射する。前述の矢示１８−１の経路による光量は角度
θが規定角度（本例の場合は直角）より多少ずれていて
も、これに殆ど影響されず、いわば散乱光の固定弁であ
るのに対し、反射光１１−３及び散乱光１９−１は角度
θの直角に対する傾きに応じて変化する、いわば散乱光
の変動分として積分球１２内へ入射する。
対して傾いていると、平行光束１１の一部は貫通孔内壁
１７を照射するので、ここで反射光１１−３を生ずるほ
か、一部は例えば矢示１９のような経路で試験対象品］
の内部で反射した後、矢示１９−１のような方向に散乱
放射する。前述の矢示１８−１の経路による光量は角度
θが規定角度（本例の場合は直角）より多少ずれていて
も、これに殆ど影響されず、いわば散乱光の固定弁であ
るのに対し、反射光１１−３及び散乱光１９−１は角度
θの直角に対する傾きに応じて変化する、いわば散乱光
の変動分として積分球１２内へ入射する。
積分球１２の内面１２−２は反射率の艮い塗装又はメッ
キ等で仕上げられており、さまざまな角度をもって入射
口１２−１から入射する散乱光を乱反射し、球面１２−
２を散乱光総量に対応した一様の明るさに保つ。この明
るさ即ち散乱光総量に対応し。
キ等で仕上げられており、さまざまな角度をもって入射
口１２−１から入射する散乱光を乱反射し、球面１２−
２を散乱光総量に対応した一様の明るさに保つ。この明
るさ即ち散乱光総量に対応し。
た電気量は、球面１２−２の一部に設けた散乱光受光器
１３で把握し、これを電気回路２１で増巾し、電気量Ｔ
ｄを得る。なお当然の事ながら第３図（ｂｌの場合は、
同図（＆１の場合に比し、直進光束１］−１は内壁１７
で遮られた分だけ光−ｔは減少し、従って電気量’ｒｐ
も小となる。
１３で把握し、これを電気回路２１で増巾し、電気量Ｔ
ｄを得る。なお当然の事ながら第３図（ｂｌの場合は、
同図（＆１の場合に比し、直進光束１］−１は内壁１７
で遮られた分だけ光−ｔは減少し、従って電気量’ｒｐ
も小となる。
以上の説明で分るように、第２図において試験対象品１
の貫通孔中心軸ａが光軸Ｃと平行、即ち第１図における
角度θが直角である場合に電気量Ｔｐは最大かつＴｄは
最小であり、角度θが直角よジずれる程度の大きさに応
じ、Ｔｐ 、 ＴｄＯ値はそれぞれ減少、増大する。こ
のように、本発明の方法は、元の直進性、及び光路な遮
る面があるとそこで反射、散乱が起る性質を利用してい
るので、角度θに僅かの変化があっても之に伴う光量の
変化は敏感であり、かつ時間的遅れが無い。よってこれ
らの電気量’ｒｐ 、 Ｔｄおのおのの値、又は両者を
更に電気回路２２によって例えばＴｄ／Ｔｐのように角
度θの変化が顕著にあられれるような演算式に従って演
算して得た値と、前記角度θが規定値にある場合に得る
夫々の値とを比較することによって、試験対象品１の角
度θの規定角度に対する傾き量を知ることができ、部品
の精度試験を行うことができる。
の貫通孔中心軸ａが光軸Ｃと平行、即ち第１図における
角度θが直角である場合に電気量Ｔｐは最大かつＴｄは
最小であり、角度θが直角よジずれる程度の大きさに応
じ、Ｔｐ 、 ＴｄＯ値はそれぞれ減少、増大する。こ
のように、本発明の方法は、元の直進性、及び光路な遮
る面があるとそこで反射、散乱が起る性質を利用してい
るので、角度θに僅かの変化があっても之に伴う光量の
変化は敏感であり、かつ時間的遅れが無い。よってこれ
らの電気量’ｒｐ 、 Ｔｄおのおのの値、又は両者を
更に電気回路２２によって例えばＴｄ／Ｔｐのように角
度θの変化が顕著にあられれるような演算式に従って演
算して得た値と、前記角度θが規定値にある場合に得る
夫々の値とを比較することによって、試験対象品１の角
度θの規定角度に対する傾き量を知ることができ、部品
の精度試験を行うことができる。
従って、この試験方法では、試験対象品１の基準面すが
光軸Ｃに対して正しく規定角度になるように試験対象品
を保持しないと、計測値に誤差を生ずるが、これを実現
するには、例えば第５図に示したように積分球光入射口
１２−１の部分に試験対象品１を装着する凹所１２−３
を設け、この凹所の試験品装着基準面ｂ′を光軸Ｃに対
し正しく加工して置き、この面に試験対象品１の基準面
すを接触させるようにすればよい。
光軸Ｃに対して正しく規定角度になるように試験対象品
を保持しないと、計測値に誤差を生ずるが、これを実現
するには、例えば第５図に示したように積分球光入射口
１２−１の部分に試験対象品１を装着する凹所１２−３
を設け、この凹所の試験品装着基準面ｂ′を光軸Ｃに対
し正しく加工して置き、この面に試験対象品１の基準面
すを接触させるようにすればよい。
なお、以上の説明は半透明成型品を実施例として説明し
たが、金属部品等の不透明品についても適用しうろこと
は勿論であり、不透明品の場合は、第３図における部品
内を経由する散乱光、即ち矢示１８−１及び１９−１が
発生せず、散乱光受光器１３が捕捉する散乱光は、矢示
１１−３即ち反射光と、これにもとづく貫通孔内壁散乱
光（矢示せず）であり、本方法の基本動作原理に変りは
無い。
たが、金属部品等の不透明品についても適用しうろこと
は勿論であり、不透明品の場合は、第３図における部品
内を経由する散乱光、即ち矢示１８−１及び１９−１が
発生せず、散乱光受光器１３が捕捉する散乱光は、矢示
１１−３即ち反射光と、これにもとづく貫通孔内壁散乱
光（矢示せず）であり、本方法の基本動作原理に変りは
無い。
なおまた、孔や線の内外径を光学的に計測する方法とし
て、上記説明したと類似の、平行光束を照射し、試験対
象物の陰影又は陽形をつく一部、その光量を測定して前
記孔や線の内外径を知る方法は既知のものであるが、こ
れらはいづれも平行光束を本来遮る面の大きさを測定対
象とするのに対し、本発明では、比較的長い孔の深さ方
向の曲り、即ち孔の中心軸と光軸とが傾いているとき、
貫通孔内壁で遮られる為の光量の減少程度を計測するも
のであって、双方の着意は異るものである。
て、上記説明したと類似の、平行光束を照射し、試験対
象物の陰影又は陽形をつく一部、その光量を測定して前
記孔や線の内外径を知る方法は既知のものであるが、こ
れらはいづれも平行光束を本来遮る面の大きさを測定対
象とするのに対し、本発明では、比較的長い孔の深さ方
向の曲り、即ち孔の中心軸と光軸とが傾いているとき、
貫通孔内壁で遮られる為の光量の減少程度を計測するも
のであって、双方の着意は異るものである。
第２図は、前述のように本発明の試験方法による試験装
置構成の一例として最も理想的なものを示したが、以下
之をやや簡略化した他の構成例について述べる。
置構成の一例として最も理想的なものを示したが、以下
之をやや簡略化した他の構成例について述べる。
第２図におけるライトトラップ１５は、その内面が無反
射処理しであるので、若干の散乱光がライトトラップ１
５に入っても、内面で急速に減衰し、受光器１４に到達
する迄の間にこれを消滅させるに足る長さを有し、結果
的に受光器１４は直進光のみに感応するようになってい
る。また受光器１４の受光面は元軸Ｃに対し傾けてあり
、受光面での直進光の反射を光源側へ返すことなく、ラ
イトトラップ１５の内面で消滅させ、よって計測値の誤
差を極力小とするようになっている。従って多少の誤差
を許すときは受光面の傾きをなくし、あるいはライトト
ラップ自体を省略して試験装置の構造を簡略化できる。
射処理しであるので、若干の散乱光がライトトラップ１
５に入っても、内面で急速に減衰し、受光器１４に到達
する迄の間にこれを消滅させるに足る長さを有し、結果
的に受光器１４は直進光のみに感応するようになってい
る。また受光器１４の受光面は元軸Ｃに対し傾けてあり
、受光面での直進光の反射を光源側へ返すことなく、ラ
イトトラップ１５の内面で消滅させ、よって計測値の誤
差を極力小とするようになっている。従って多少の誤差
を許すときは受光面の傾きをなくし、あるいはライトト
ラップ自体を省略して試験装置の構造を簡略化できる。
’ｊｆｃ積分球１２は散乱光のあらゆる方向のものに対
して球面１２−２が乱反射することによって入射散乱光
総量に対応した電気量が把握できるので、精度の高い計
測に適するが、試験対象物の形状等から、捕捉すべき散
乱光のうちの主要なＷ分の放射方向があらかじめ分って
いる場合は、積分球を省略し、上記散乱光の放射方向に
受光器を配置すればよく、多少の誤差を許して試験装置
の構造を簡略化できる。
して球面１２−２が乱反射することによって入射散乱光
総量に対応した電気量が把握できるので、精度の高い計
測に適するが、試験対象物の形状等から、捕捉すべき散
乱光のうちの主要なＷ分の放射方向があらかじめ分って
いる場合は、積分球を省略し、上記散乱光の放射方向に
受光器を配置すればよく、多少の誤差を許して試験装置
の構造を簡略化できる。
さらに光源部として第２図に引用したピンホール・コリ
メータ法光学系は、高精度の断面間るさ均一な平行光束
が得られ、為に試験対象品の貫通孔中心が光軸中心に対
し多少の位置ずれがあっても、直進光束ｌ】−１及び環
状光束１１−２の光量は変らないので計測値に誤差を生
じない。従って多少の誤差を許すときは、簡単な平行光
束発生光源を用いて試験装置の構造を簡略化できる。
メータ法光学系は、高精度の断面間るさ均一な平行光束
が得られ、為に試験対象品の貫通孔中心が光軸中心に対
し多少の位置ずれがあっても、直進光束ｌ】−１及び環
状光束１１−２の光量は変らないので計測値に誤差を生
じない。従って多少の誤差を許すときは、簡単な平行光
束発生光源を用いて試験装置の構造を簡略化できる。
以上述べたところをもとにし、第２図と異る試験装置の
構成例を説明するための原理図を第４図に示す。
構成例を説明するための原理図を第４図に示す。
第４図（ａｔは、レンズ乙の焦点位置にラング光源Ｕを
置いて得られるほぼ平行な光束５を、内面２６−１に無
反射処理を施し、′ｆｃ、フード筒２６を設けて、この
中を通る光束２５−１の不要な拡がりを制限し、さらに
受光器２７はその受光面を環状のものとし、＠進光束２
５−２は受光器の中心孔部な素通ジさせて消滅させ、受
光器ｎでは、試験対象品１がら円錐状に拡がる散乱光量
２５−３のみを捕捉するように構成している。
置いて得られるほぼ平行な光束５を、内面２６−１に無
反射処理を施し、′ｆｃ、フード筒２６を設けて、この
中を通る光束２５−１の不要な拡がりを制限し、さらに
受光器２７はその受光面を環状のものとし、＠進光束２
５−２は受光器の中心孔部な素通ジさせて消滅させ、受
光器ｎでは、試験対象品１がら円錐状に拡がる散乱光量
２５−３のみを捕捉するように構成している。
第４図ｆｂｌは、レンズ２８−１をその管球の一部分と
して有する構造のクランｆ別を用い、レンズ２８−１を
通して得られるほぼ平行な光束２９を゛、シャドウマス
ク３０４通過させて形状、大いさを整えた光束２９−１
を試験対象品１に当て、光軸上には直進光２９−２を捕
捉するための受光器３］を配設した構成を示す。即ち第
４図は第２図に例示した光学系の簡略構造のものであ、
す、同図（ａｌは散乱光量のみを、（ｂ）は直進光景の
みを利用した試験装置の構造例に当る。
して有する構造のクランｆ別を用い、レンズ２８−１を
通して得られるほぼ平行な光束２９を゛、シャドウマス
ク３０４通過させて形状、大いさを整えた光束２９−１
を試験対象品１に当て、光軸上には直進光２９−２を捕
捉するための受光器３］を配設した構成を示す。即ち第
４図は第２図に例示した光学系の簡略構造のものであ、
す、同図（ａｌは散乱光量のみを、（ｂ）は直進光景の
みを利用した試験装置の構造例に当る。
以上詳述したように、本発明は、部品に設けられた貫通
孔の、基邸面に対する角度を試験するに当り、試験対象
品の貫通孔開口部中心に平行光束を入射させ、かつ光軸
に対して貫通孔の基法面の゛ト仁す角度を規定角度に設
定して、貫通孔中心軸が基準面に対して正しい角度ｌ【
ある場合に該中心軸と−＞’６軸が一致するようＩＣＬ
、中心軸と光軸が成る傾きを有する場合には、平行光束
の一部が貫通孔内壁に遼られる結果、直進光束が減少し
、叩た内壁に当る光がその部分で反射、散乱を起すこと
を利用し、この直進１景の増減、散乱光景の増減を捕捉
し、電気的に処理して上記傾き葉を電気量として把握す
るＪｌ構成することにより、試験対象品に非接触で、検
出感度鎖敏な計量値判定が可卵であり、かつ迅速な試験
の遂行が容易であるという優れた実用的効果がある。
孔の、基邸面に対する角度を試験するに当り、試験対象
品の貫通孔開口部中心に平行光束を入射させ、かつ光軸
に対して貫通孔の基法面の゛ト仁す角度を規定角度に設
定して、貫通孔中心軸が基準面に対して正しい角度ｌ【
ある場合に該中心軸と−＞’６軸が一致するようＩＣＬ
、中心軸と光軸が成る傾きを有する場合には、平行光束
の一部が貫通孔内壁に遼られる結果、直進光束が減少し
、叩た内壁に当る光がその部分で反射、散乱を起すこと
を利用し、この直進１景の増減、散乱光景の増減を捕捉
し、電気的に処理して上記傾き葉を電気量として把握す
るＪｌ構成することにより、試験対象品に非接触で、検
出感度鎖敏な計量値判定が可卵であり、かつ迅速な試験
の遂行が容易であるという優れた実用的効果がある。
第１図は本発明に係る試験方法によって試験する部品の
一例の断面図、第２図は本発明に係る試！−−１の一構
成例を説明した原理図、第３図（ａｔ ｆｂｌは第２図
における部分拡大図、第４図（ａｌ （ｂｌは第２図と
異る構成例の原理図、第５図は本試験方法による試験装
置の部分構造の一例を示す図である。 ４ １・・・試験対象品、３・・・貫通孔、ａ・・・貫通孔
中心軸、ｂ・・・基準面、４・・・ラング光源、６，８
・・・レンズ、７・・・ｅンホ−ル、９ 、１１・・・
平行光束、１ｏ・・・シャドウマスク、１２・・・積分
球、１２−１・・・光入射口、１２−２・・・球面、１
３・・・散乱光受光器、１４・・・直進光受光器、１５
・・・ライトトラップ、２０〜２２・・・電気回路。 特許出願人 日立湘南電子株式会社 代理人弁理士 秋 本 正 実 第３図 （ａ） １１−２ ７７ 第４肥 （ｂ）
一例の断面図、第２図は本発明に係る試！−−１の一構
成例を説明した原理図、第３図（ａｔ ｆｂｌは第２図
における部分拡大図、第４図（ａｌ （ｂｌは第２図と
異る構成例の原理図、第５図は本試験方法による試験装
置の部分構造の一例を示す図である。 ４ １・・・試験対象品、３・・・貫通孔、ａ・・・貫通孔
中心軸、ｂ・・・基準面、４・・・ラング光源、６，８
・・・レンズ、７・・・ｅンホ−ル、９ 、１１・・・
平行光束、１ｏ・・・シャドウマスク、１２・・・積分
球、１２−１・・・光入射口、１２−２・・・球面、１
３・・・散乱光受光器、１４・・・直進光受光器、１５
・・・ライトトラップ、２０〜２２・・・電気回路。 特許出願人 日立湘南電子株式会社 代理人弁理士 秋 本 正 実 第３図 （ａ） １１−２ ７７ 第４肥 （ｂ）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、試験対象部品の貫通孔開口部に平行光束を入射させ
、かつ貫通孔の基準面と平行光束の光軸とのなす角度を
規定角度に設定し、試験対象部品の貫通孔の核光束出射
側における前記平行光束中の貫通孔を素通りする直進光
量と直進光以外の散乱光量の少くとも何れか一方を捕捉
し、試験対象部品の貫通孔の中心軸と光軸が一致する場
合と傾きを有する場合とで生ずる直進光量の変化９反射
散乱光量の変化のうち少くとも何れか一方を電気量の変
化として把握し、この変化量から前記傾き量を判定すべ
くなしたることを特徴とする部品の貫通孔試験方法。 ２、試験対象部品の貫通孔開口部に平行光束を入射させ
、かつ貫通孔の基準面と平行光束の光軸とのなす角度を
規定角度に設定し、前記平行光束の一部が貫通孔内壁に
当ることにより変化する直進光量と前記内壁に肖って生
ずる反射散乱光量とをそれぞれ別個に捕捉し、これらを
光電変換して得た電気量を用いて（反射及び散乱光量）
／（直進光量）の演算を行い、かくして得られ７？：、
電気量の変化によって前記傾き量を判定すべくなしたる
ことを特徴とする部品の貫通孔試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19682182A JPS5987308A (ja) | 1982-11-11 | 1982-11-11 | 部品の貫通孔試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19682182A JPS5987308A (ja) | 1982-11-11 | 1982-11-11 | 部品の貫通孔試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5987308A true JPS5987308A (ja) | 1984-05-19 |
| JPS6360323B2 JPS6360323B2 (ja) | 1988-11-24 |
Family
ID=16364217
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19682182A Granted JPS5987308A (ja) | 1982-11-11 | 1982-11-11 | 部品の貫通孔試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5987308A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52132884A (en) * | 1976-04-28 | 1977-11-07 | Toshiba Corp | Apparatus for measuring amount of distortion |
-
1982
- 1982-11-11 JP JP19682182A patent/JPS5987308A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52132884A (en) * | 1976-04-28 | 1977-11-07 | Toshiba Corp | Apparatus for measuring amount of distortion |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6360323B2 (ja) | 1988-11-24 |
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