JPH0311683Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、光源および光に応答するセンサが設
けられており、該光源とセンサとの間を部品が通
過するようになつており、前記光源と前記部品と
の間にレンズおよび遮光板が設けられており、か
つ前記部品と前記センサとの間に別のレンズが設
けられており、その際前記センサから送出される
信号が検出すべき部品の特性に対する尺度とな
る、面取り部を有する部品の検査をするための装
置に関する。

光源と光に応答するセンサとの間に以下加工物
と称する部品が供給され、その際光源と加工物の
間に検査すべき加工物の輪郭を有する輪郭形遮光
板が挿入されている光学検査装置は既に公知であ
る。加工物が輪郭に相応すると、センサへ光は殆
んど入射せず、加工物は同一なものとみなされ
る。加工物が別の輪郭を有するとそれは欠陥品と
みなされる。この装置は各々の加工物に対してそ
の都度交換しなければならない特別の輪郭が必要
であるという欠点を有する。更にこの装置が誤つ
た指示を行なわないように、検査すべき部品につ
いて少なくとも２つの軸方向において高度な精度
が要求される。この装置は僅かな変化、例えば片
側だけが面取りされているような場合など確実に
選別できない。

従つて本考案の課題は上述の欠点を回避した冒
頭に述べた形式の面取り部を有する部品を検査す
るための装置を提供することである。

この課題は本考案によれば、次のようにして解
決される。即ち前記遮光板におけるスリツトの寸
法および形状が、前記部品の検査すべき部分およ
び前記部品の前記部分に関する局所的な分解能に
整合されておりかつ前記部品の検査の際前記セン
サから送出される信号の評価のために、加算方向
および減算方向に計数する計数装置が設けられて
おり、その際該計数器は前記センサからの信号が
第１の閾値に達してから第２の閾値に達するまで
の間の時間を一方の方向に計数し、かつ次に上記
第２の閾値を下回つてからさらに前記第１の閾値
に達するまでの時間を前記一方の方向とは逆の方
向に計数し、上記第１の計数値と第２の計数値と
の差を形成するのである。

本考案によれば、設定された閾値との関連にお
いて可逆計数する計数装置を用いて部品が評価さ
れるので、検査期間中だけ検査品の一定の送り速
度を保持するようにすればよい点で有利である。

また複数の計数装置の結果を種々の部品を識別
するために用いるようにしても有利である。

次に本考案を図面を用いて詳細に説明する。

第１図には有利には発光ダイオードとして構成
されている光源１が示されている。しかし任意に
別の光源を使用することもできる。光源１から放
射される光線は遮光板２およびレンズ３を介して
加工物４に達する。この加工物は一定の速度で光
路５を通過する。別のレンズ６で光線は集束され
それから有利にはホトダイオードまたはホトトラ
ンジスタとして構成されている光に応答するセン
サ７に達する。センサとして別の光に応答する素
子を使用することも当然可能である。センサ７に
図示されていない閾値スイツチ、増幅器および計
数器が、センサ７によつて受取られたパルスを評
価するために後置接続されている。

この測定装置は加工物の姿勢、寸法、面取り部
の勾配の検査をするために用いることができる。
まず加工物の姿勢検査について詳細に説明する。
加工物４の前端部に設けられた面取部８がスリツ
ト遮光板に遮ぎられて入射する狭い光路５を通過
すると、ホトダイオード７からその時の放射エネ
ルギーに依存して第２図に示す信号が送出され
る。その際信号が送出されないとホトダイオード
に最大のエネルギーが照射されたことを意味し、
信号が送出された場合はホトダイオード７に光線
が達しなかつたかまたは不透明な物体のため本来
の光量の一部分のみが達したことを意味する。

第２図にはホトダイオード７の出力側の信号が
図示されている。この信号は２つの閾値スイツチ
に供給される。そのうち一方は低い方の閾値９を
有し、他方は高い方の閾値１０を有する。閾値９
に達すると計数器が投入接続され、閾値１０に達
するとこの計数器は遮断される。そこに記憶され
た計数状態はこの場合面取部８の勾配の大きさで
ある。姿勢を識別するために閾値１０に達しなく
なつたときに始まり閾値９に達すると終了する逆
方向計数を始めることが必要である。この部分は
長さ１２である。

この実施例によれば、センサからの信号が第１
の閾値９に達してから第２の閾値１０に達するま
での時間を順方向計数し、かつ次に第２の閾値１
０を下回つてからさらに第１の閾値に達するまで
の時間を逆方向計数し、両計数状態の差をとつ
て、その計数結果が正であるかまたは負であるか
によつて加工物の姿勢を決定することができる。
こゝで差形成が行なわれるので、連続して供給さ
れる加工物の各々の速度は異つていてもよい。寸
法を検査したいときはすべての加工物において一
定の速度が要求される。その際２つのトリガ閾値
９および１０の選択次第で、この場合も各々任意
の大きさ、例えば面取部８の勾配が長さ１１によ
り決められる。トリガ閾値は使用例に基づき任意
にシフトすることができる。

本考案では計数装置が使用されているので特に
有利である。というのは計数器は簡単に集積可能
で、計数クロツクは非常に高度な精度で実現可能
である。高度な精度を得るために電子計数装置を
使用すると有利である。

更に本考案は計数結果の評価により種々の部品
を識別するために使用可能である。その際複数の
光路５を前後に設けると有利であり、光路を相互
に違えて設けることもできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案による加工物を検査するための
装置の概略図、第２図は第１図の装置の作動を説
明するためのパルスダイヤグラムである。 １……光源、２……遮光板、３，６……レン
ズ、４……加工物、５……光路、７……センサ、
８……面取り部、９……第１の閾値、１０……第
２の閾値。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 光源および光に応答するセンサが設けられてお
   り、該光源とセンサとの間を部品が通過するよう
   になつており、前記光源と前記部品との間にレン
   ズおよび遮光板が設けられており、かつ前記部品
   と前記センサとの間に別のレンズが設けられてお
   り、その際前記センサから送出される信号が検査
   すべき部品の特性に対する尺度となる、面取り部
   を有する部品の検査をするための装置において、
   前記遮光板２におけるスリツトの寸法および形状
   が、前記部品４の検査すべき部品および前記部品
   ４の前記部分に関する局所的な分解能に整合され
   ておりかつ前記部品４の検査の際前記センサ７か
   ら送出される信号の評価のために、加算方向およ
   び減算方向に計数する計数装置が設けられてお
   り、その際該計数器は前記センサからの信号が第
   １の閾値９に達してから第２の閾値１０に達する
   までの時間を一方の方向に計数し１１、かつ次に
   上記第２の閾値１０を下回つてからさらに前記第
   １の閾値９に達するまでの時間を前記一方の方向
   とは逆の方向に計数し１２、上記第１の計数値１
   １と第２の計数値１２との差を形成する部品の検
   査装置。