JPS5981535A - 粒度分布測定法 - Google Patents
粒度分布測定法Info
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- JPS5981535A JPS5981535A JP57190809A JP19080982A JPS5981535A JP S5981535 A JPS5981535 A JP S5981535A JP 57190809 A JP57190809 A JP 57190809A JP 19080982 A JP19080982 A JP 19080982A JP S5981535 A JPS5981535 A JP S5981535A
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- JP
- Japan
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- grain size
- scanning
- image sensor
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- Pending
Links
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- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 11
- 239000013618 particulate matter Substances 0.000 claims description 11
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- 239000011236 particulate material Substances 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
- G01N15/0227—Investigating particle size or size distribution by optical means using imaging; using holography
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は粒状物質の粒度分布を測定する方法にｊ３１」
する。
する。
ν０送せる粒状物質の粒度分布を測定する方法として、
ＩＴＶカメラを使用して両所解析する方法が提案されて
いる（特開昭５４−９２３Ｂ９号）。
ＩＴＶカメラを使用して両所解析する方法が提案されて
いる（特開昭５４−９２３Ｂ９号）。
この方法では、搬送路に自由落下箇所を設け、ここを落
下する粒状物質をＩＴＶカメラでト“１り影し、静止画
像として収録した後コンピューターで画像解析する方法
である。
下する粒状物質をＩＴＶカメラでト“１り影し、静止画
像として収録した後コンピューターで画像解析する方法
である。
しかし寿からこの方法においてけ、ＩＴＶカメラによっ
て脳時における二次元両像をイ１（ているため、実際に
はストロボスコープ等の瞬間発光式の照明装置あるいは
シャッター装置を（Ｉ［１τえ、ＩＴＶカメラと同門し
て発光を繰返すようにタイミング制御しなければカらな
い。このため装置が複雑となる。また撮影のために比較
的広い面積ｆｊｉｌ≧囲について均等に照明しなければ
力らず、照明装置も複雑となる等の問題があった。
て脳時における二次元両像をイ１（ているため、実際に
はストロボスコープ等の瞬間発光式の照明装置あるいは
シャッター装置を（Ｉ［１τえ、ＩＴＶカメラと同門し
て発光を繰返すようにタイミング制御しなければカらな
い。このため装置が複雑となる。また撮影のために比較
的広い面積ｆｊｉｌ≧囲について均等に照明しなければ
力らず、照明装置も複雑となる等の問題があった。
本発明の目的はこれらの問題点を解決し、簡単′ｈ装置
＋ｆ’７ ＩＮで粒度分布測定を可能とするとともに、
多１１０多様の粒状物質に対しても容易に適用できる粒
度分布測定方法を提供することである。
＋ｆ’７ ＩＮで粒度分布測定を可能とするとともに、
多１１０多様の粒状物質に対しても容易に適用できる粒
度分布測定方法を提供することである。
このために本発明は、従来技術の如く落下する粒状物質
を面積としてとらえてＩＴＶカメラで撮影する思想に替
え、高速−次元イメージセンサ−を使用して線走査を痺
返し、とれによりＶｔ状物質の画像をイ１１、これをも
とに画像解析して所望の粒ｊ−ヴ分布を求めることを特
徴とする。
を面積としてとらえてＩＴＶカメラで撮影する思想に替
え、高速−次元イメージセンサ−を使用して線走査を痺
返し、とれによりＶｔ状物質の画像をイ１１、これをも
とに画像解析して所望の粒ｊ−ヴ分布を求めることを特
徴とする。
以下に添付図面を参照して実施例につき説明する。
ｂ″、ｌシ１において、粒度分布を測定すべき粒状物’
ｊ’ｒ Ｍ ｌｌ′自由落下された状！（、ｊ（で示さ
れている。この１′：目１ｊ落下は、（秒送路の一部に
所定の段差を設けることで（哉送中に自由落下させるよ
うにでき、これにより搬送時に同時に粒度分布を測定で
きる。
ｊ’ｒ Ｍ ｌｌ′自由落下された状！（、ｊ（で示さ
れている。この１′：目１ｊ落下は、（秒送路の一部に
所定の段差を設けることで（哉送中に自由落下させるよ
うにでき、これにより搬送時に同時に粒度分布を測定で
きる。
自由落下する粒状物質に対して側方に高速−次元イメー
ジセンサ−Ｊが配置される、この高速−次元イメージセ
ンザーｌは周知の如く予め定めた直線に沿って走査し、
線状の走査像をイ！する。ことでは粒状物質の自由落下
を横方向から水平に走査するように備えられている。こ
の走査のために照明装置２が備えられる。この照明装置
２は一次元走査であることから照明灯の如く連続光で良
く、ストロボスコープ等は不要である。
ジセンサ−Ｊが配置される、この高速−次元イメージセ
ンザーｌは周知の如く予め定めた直線に沿って走査し、
線状の走査像をイ！する。ことでは粒状物質の自由落下
を横方向から水平に走査するように備えられている。こ
の走査のために照明装置２が備えられる。この照明装置
２は一次元走査であることから照明灯の如く連続光で良
く、ストロボスコープ等は不要である。
高速−次元イメージセンザーｌは自由落下する粒状物質
を・横切る方向へ所定のラインに沿って走査し、線走査
像を得る。この走査が繰返されるのであり、この間粒状
物質は自由落下する。このようにして繰返し走査によシ
得た走査像が合成さｎて７ｉ’６ ＋ｌ：、 ｉｉｌ・
１イ′／ｊが形成されるのであり、この静止画像（弓画
イ’ｌ： ’Ｒ１２ｔ、ｊ’ｌ装置３により適邑に処理
されて記憶される。外だ必要に応じてＣＲＴ４に表示さ
れる。
を・横切る方向へ所定のラインに沿って走査し、線走査
像を得る。この走査が繰返されるのであり、この間粒状
物質は自由落下する。このようにして繰返し走査によシ
得た走査像が合成さｎて７ｉ’６ ＋ｌ：、 ｉｉｌ・
１イ′／ｊが形成されるのであり、この静止画像（弓画
イ’ｌ： ’Ｒ１２ｔ、ｊ’ｌ装置３により適邑に処理
されて記憶される。外だ必要に応じてＣＲＴ４に表示さ
れる。
このよう（て［〜てイ４［た静止画像をもとに画像解析
ル冒ｉ′？ ５７！ｌ稍’ｒｉｉ止画像に含才れる粒状
物質の画像を通當のｂｌ）り解析し、Ｍｉ径を算出して
所望のデーター４とＩＬＪ甲を行い、例えげＣＲＴ ６
に粒度のヒストグラＪ、を表示し、１・たプリンター７
によって粒度測定結果をプリントアウトする。解析方法
は周知であり８’？コホしかい。
ル冒ｉ′？ ５７！ｌ稍’ｒｉｉ止画像に含才れる粒状
物質の画像を通當のｂｌ）り解析し、Ｍｉ径を算出して
所望のデーター４とＩＬＪ甲を行い、例えげＣＲＴ ６
に粒度のヒストグラＪ、を表示し、１・たプリンター７
によって粒度測定結果をプリントアウトする。解析方法
は周知であり８’？コホしかい。
ここで、本発明の’１．！ｊ□徴として高速−次元イメ
ージセンザー１の走をで粒状物質の画像を得るようにし
たことから、狭い範囲での照明で６′Ｖみ連続光で良い
ので照明装置１なの簡ｌ）を化が達成されることは勿ｆ
ｉｉ’Ｈｉ ／／、）こと、これに件って従来の如きタ
イミンク制御が不要とｈる。また線走査の繰返しで静止
画像を得ることから任意の範囲にわたる静止画像データ
ーを得られ、静止画像の面積範囲に何の制約も受けない
。従って測定精度の向」二が極めて簡単に達成でき、寸
だ連続的に（、：’ Ｔｊ Ｔ ４でモニターすること
も極めて容易に行えることにガる。同様に多錘多様な粒
状物質に関しての粒度分布測定に対しても簡単に適用で
きることになる。
ージセンザー１の走をで粒状物質の画像を得るようにし
たことから、狭い範囲での照明で６′Ｖみ連続光で良い
ので照明装置１なの簡ｌ）を化が達成されることは勿ｆ
ｉｉ’Ｈｉ ／／、）こと、これに件って従来の如きタ
イミンク制御が不要とｈる。また線走査の繰返しで静止
画像を得ることから任意の範囲にわたる静止画像データ
ーを得られ、静止画像の面積範囲に何の制約も受けない
。従って測定精度の向」二が極めて簡単に達成でき、寸
だ連続的に（、：’ Ｔｊ Ｔ ４でモニターすること
も極めて容易に行えることにガる。同様に多錘多様な粒
状物質に関しての粒度分布測定に対しても簡単に適用で
きることになる。
高速−次元イメージセンサ−並びに照Ｗ１装置ｉ’ｆｆ
２０寸対象物質に応じて適宜に選定すれば良く、照明
方法も透過式あるいは反射式のｐｒＪれも月−１」用で
きることは勿論である。
２０寸対象物質に応じて適宜に選定すれば良く、照明
方法も透過式あるいは反射式のｐｒＪれも月−１」用で
きることは勿論である。
以上の如く本発明はＩＴＶカメラを使用する場合の欠点
を高速−次元イメージセンターの使用で全て解決したも
のでおり、前述した如〈実施に際［２てのル“装置構成
および制御内容の著しい簡単化がシ；１成され、さらに
ＴＴＶカメラによる撮像では適用困）１（［となる対象
物質に対しても容易に適用できるのでその適応性が著し
く拡大される等の多くの産業上の効果をイ０られる。
−冑、本発Ｆ！１］を図示実施例について説明し
たが、ゾ・１象物質をすべて自由落下させることに替え
全量の中から一部をバイパスさせて測定する等の変更は
勿ｄ市可能である。−また図示実施例では静止画像とし
て扱っているが、静止画像とすることなく電気的にパル
ス処理することでも本発明は実施できる、 ４．１゛ン１而のｆ’ｌｉ’ｉ Ｊｌ外説明第１図Ｑｊ
、本発明の方法を実施する装置構成を示すノｌ、”ｌ：
ｌＩ＆ １：；：１１１゜Ｍ・・・・・・・・・・・
・粒状物質 ■・・・・・・・・・・・・高速−次元イメージセンザ
ー２・・・・・・・・・・・・照明装置８ｊ３・・・・
・・・・・・・・画像記憶装置４．６・・・・・・・・
・ＣＲＴ
を高速−次元イメージセンターの使用で全て解決したも
のでおり、前述した如〈実施に際［２てのル“装置構成
および制御内容の著しい簡単化がシ；１成され、さらに
ＴＴＶカメラによる撮像では適用困）１（［となる対象
物質に対しても容易に適用できるのでその適応性が著し
く拡大される等の多くの産業上の効果をイ０られる。
−冑、本発Ｆ！１］を図示実施例について説明し
たが、ゾ・１象物質をすべて自由落下させることに替え
全量の中から一部をバイパスさせて測定する等の変更は
勿ｄ市可能である。−また図示実施例では静止画像とし
て扱っているが、静止画像とすることなく電気的にパル
ス処理することでも本発明は実施できる、 ４．１゛ン１而のｆ’ｌｉ’ｉ Ｊｌ外説明第１図Ｑｊ
、本発明の方法を実施する装置構成を示すノｌ、”ｌ：
ｌＩ＆ １：；：１１１゜Ｍ・・・・・・・・・・・
・粒状物質 ■・・・・・・・・・・・・高速−次元イメージセンザ
ー２・・・・・・・・・・・・照明装置８ｊ３・・・・
・・・・・・・・画像記憶装置４．６・・・・・・・・
・ＣＲＴ
Claims (1)
- 粒状物質を落下させ、落下途中の所定位置にて１７；１
速−次元イメージセンサ−により繰返し走査し、この走
査像をもとにして落下状態を示す粒状物質の画像をイ（
すた後、この画像をもとに画像Ｍ折して１、’、４度分
布を求めることを特徴とする粒度分布測定法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57190809A JPS5981535A (ja) | 1982-11-01 | 1982-11-01 | 粒度分布測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57190809A JPS5981535A (ja) | 1982-11-01 | 1982-11-01 | 粒度分布測定法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5981535A true JPS5981535A (ja) | 1984-05-11 |
Family
ID=16264103
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57190809A Pending JPS5981535A (ja) | 1982-11-01 | 1982-11-01 | 粒度分布測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5981535A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63279138A (ja) * | 1987-05-12 | 1988-11-16 | Nireko:Kk | 粒度分布測定方法及び装置 |
| US5497232A (en) * | 1993-10-26 | 1996-03-05 | Fuji Paudal Co., Ltd. | Apparatus and method for monitoring granular size and shape during a granulation or coating process |
| KR100733977B1 (ko) | 2006-05-19 | 2007-06-29 | 안경모 | 평판형 범용스캐너와 퍼스컴을 이용한 모래 입도분석시스템 및 그 방법 |
| CN102768172A (zh) * | 2012-07-02 | 2012-11-07 | 清华大学 | 用于检测粒度和/或粒形的分析设备 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5712458A (en) * | 1980-06-25 | 1982-01-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Disk-type flexible magnetic recorder cartridge |
| JPS5759143A (en) * | 1980-09-26 | 1982-04-09 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Measuring method for grain size of granular material |
-
1982
- 1982-11-01 JP JP57190809A patent/JPS5981535A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5712458A (en) * | 1980-06-25 | 1982-01-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Disk-type flexible magnetic recorder cartridge |
| JPS5759143A (en) * | 1980-09-26 | 1982-04-09 | Nippon Kokan Kk <Nkk> | Measuring method for grain size of granular material |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63279138A (ja) * | 1987-05-12 | 1988-11-16 | Nireko:Kk | 粒度分布測定方法及び装置 |
| US5497232A (en) * | 1993-10-26 | 1996-03-05 | Fuji Paudal Co., Ltd. | Apparatus and method for monitoring granular size and shape during a granulation or coating process |
| KR100733977B1 (ko) | 2006-05-19 | 2007-06-29 | 안경모 | 평판형 범용스캐너와 퍼스컴을 이용한 모래 입도분석시스템 및 그 방법 |
| CN102768172A (zh) * | 2012-07-02 | 2012-11-07 | 清华大学 | 用于检测粒度和/或粒形的分析设备 |
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