JPS5972862A - 光ビ−ム走査装置 - Google Patents
光ビ−ム走査装置Info
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- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光ビーム走査装置、とくに、画情報を読み取っ
たり記録したシするための光ビームを走査する光ビーム
走査装置に関するものである。
たり記録したシするための光ビームを走査する光ビーム
走査装置に関するものである。
たとえば、レーザ発振器などの光源から出射した光ビー
ムをガルバノメータによって回転するミラーで反射させ
、掃引する方式の光ビーム走査装置がある。この装置を
画情報記録装置に適用する場合は、光ビームをたとえば
音響光学変調器(AOM )によって画情報信号で変調
し、これで感光材を含む記録媒体を走査することによっ
て画情報の記録を行なうことができる。また、画情報読
取(再生)装置に適用する場合は、光ビームで画情報が
記録された記録媒体を走査し、その透過光または反射光
を検出することによって記録媒体の担持している画情報
を読み取ることができる。とくに、いわゆる輝尽性を呈
する蓄積性螢光体に記録された放射線画像を読み出す場
合には、レーザビームを励起光として螢光体に照射して
走査し、その2次発光光を読み取ることで得られる信号
を積分することで、蓄積画像を再生することができる。
ムをガルバノメータによって回転するミラーで反射させ
、掃引する方式の光ビーム走査装置がある。この装置を
画情報記録装置に適用する場合は、光ビームをたとえば
音響光学変調器(AOM )によって画情報信号で変調
し、これで感光材を含む記録媒体を走査することによっ
て画情報の記録を行なうことができる。また、画情報読
取(再生)装置に適用する場合は、光ビームで画情報が
記録された記録媒体を走査し、その透過光または反射光
を検出することによって記録媒体の担持している画情報
を読み取ることができる。とくに、いわゆる輝尽性を呈
する蓄積性螢光体に記録された放射線画像を読み出す場
合には、レーザビームを励起光として螢光体に照射して
走査し、その2次発光光を読み取ることで得られる信号
を積分することで、蓄積画像を再生することができる。
このような光ビーム走査装置は、画情報の記録、読取シ
のいずれに適用するにせよ、一定の走査速度で光ビーム
が走査されることが望ましい。たとえば、記録装置の場
合は1画素当シの露光時間が一定であればムラのない均
一な画質の像を記録することができ、読取装置の場合は
1画素当シの積分時間が一定であればムラなく画情報を
再生することができる。
のいずれに適用するにせよ、一定の走査速度で光ビーム
が走査されることが望ましい。たとえば、記録装置の場
合は1画素当シの露光時間が一定であればムラのない均
一な画質の像を記録することができ、読取装置の場合は
1画素当シの積分時間が一定であればムラなく画情報を
再生することができる。
しかし、光ビーム走査装置の光学系にはミラーやガルバ
ノメータなどの機械的可動部分が多く、これらを手動調
整にて最適の状態に設定し、保持しておくことははなは
だ困難である。たとえば、ミラーのアライメントのわず
かな誤差も(5) 走査ビームの初期位置オフセットに大きく影響を与え、
したがって手動調整のみならず温度変化による影響も無
視し得ない。
ノメータなどの機械的可動部分が多く、これらを手動調
整にて最適の状態に設定し、保持しておくことははなは
だ困難である。たとえば、ミラーのアライメントのわず
かな誤差も(5) 走査ビームの初期位置オフセットに大きく影響を与え、
したがって手動調整のみならず温度変化による影響も無
視し得ない。
そこで、一定の走査速度で走査して良質な画像を得るた
めには、できるだけ手動調整の必要が少なく、走査ビー
ムの初期位置オフセットなども自動的に調整されるシス
テムが望ましい。
めには、できるだけ手動調整の必要が少なく、走査ビー
ムの初期位置オフセットなども自動的に調整されるシス
テムが望ましい。
本発明は、手動調整が少なく光ビーム走査を最適の状態
に自動的に設定、保持できる光ビーム走査装置を提供す
ることを目的とする。
に自動的に設定、保持できる光ビーム走査装置を提供す
ることを目的とする。
この目的は本発明によれば次のよう々光ビーム走査装置
によって達成される。すなわちこの装置は、第1の信号
に応じて光ビームを走査する走査手段と、光ビームが走
査される方向に配列された複数の光学格子を有し、光ビ
ームが格子の配列上を走査されるに応じた第2の信号を
発生する光検出器と、第2の信号に応じて第1の信号を
発生する制御手段とを含み、制御手段は、第2の信号に
基づいて、光ビームの走査される速度を検出し、該検出
した速度に応じて第(6) 1の信号を調整して該検出した速度が所定の速度になる
ように光ビームの走査速度を制(財)するものである。
によって達成される。すなわちこの装置は、第1の信号
に応じて光ビームを走査する走査手段と、光ビームが走
査される方向に配列された複数の光学格子を有し、光ビ
ームが格子の配列上を走査されるに応じた第2の信号を
発生する光検出器と、第2の信号に応じて第1の信号を
発生する制御手段とを含み、制御手段は、第2の信号に
基づいて、光ビームの走査される速度を検出し、該検出
した速度に応じて第(6) 1の信号を調整して該検出した速度が所定の速度になる
ように光ビームの走査速度を制(財)するものである。
また、前述の目的は次のような光ビーム走査装置によっ
ても達成される。すなわちこの装置は、第1の信号に応
じて光ビームを走査する走査手段と、光ビームが走査さ
れる方向に配列された複数の光学格子を有し、光ビーム
が格子の配列上を走査されるに応じた第2の信号を発生
する光検出器と、第2の信号に応じて第1の信号を発生
する制御手段とを含み、制御手段は、第2の信号に基づ
いて、光ビームが走査の始点から格子の配列の端部に突
入するまでの時間を検出し、該検出した時間に応じて第
1の信号の初期レベルを調整して光ビームの走査の始点
の位置を制御するものである。
ても達成される。すなわちこの装置は、第1の信号に応
じて光ビームを走査する走査手段と、光ビームが走査さ
れる方向に配列された複数の光学格子を有し、光ビーム
が格子の配列上を走査されるに応じた第2の信号を発生
する光検出器と、第2の信号に応じて第1の信号を発生
する制御手段とを含み、制御手段は、第2の信号に基づ
いて、光ビームが走査の始点から格子の配列の端部に突
入するまでの時間を検出し、該検出した時間に応じて第
1の信号の初期レベルを調整して光ビームの走査の始点
の位置を制御するものである。
次に添付図面を参照して本発明による光ビーム走査装置
の実施列を詳細に説明する。
の実施列を詳細に説明する。
第1図は本発明による光ビーム走査装置の実施例を概念
的に示す斜視図であシ、本装置は基本的には、レーザの
光ビーム10を発生するレーザ発振器からなる光源12
と、光ビーム10を掃引するガルバノメータ14とを有
する。
的に示す斜視図であシ、本装置は基本的には、レーザの
光ビーム10を発生するレーザ発振器からなる光源12
と、光ビーム10を掃引するガルバノメータ14とを有
する。
ガルバノメータ14の回転軸15にはミラー16が担持
され、ガルバノメータ14が駆動されていないときは機
械的な中立位置を保っている。ガルバノメータが駆動さ
れると、駆動電流に応じて中立位置の両側にミラー16
を回転させ、ビームをIOAからIOBまで掃引するこ
とができる。たとえば、ガルバノメータ14に負の電圧
を印加するとIOAの側にビームが掃引され、正の電圧
ではIOHの側に掃引され、0電圧ではほぼ中立位置を
保つ。後述のように、負または正の電圧レベルを変える
ことでビーム10AないしIOBの走査の始点または終
点の位置が調整され、この電圧変化の割合、すなわち直
線的変化であればその勾配を変えることで、走査速度が
調整される。
され、ガルバノメータ14が駆動されていないときは機
械的な中立位置を保っている。ガルバノメータが駆動さ
れると、駆動電流に応じて中立位置の両側にミラー16
を回転させ、ビームをIOAからIOBまで掃引するこ
とができる。たとえば、ガルバノメータ14に負の電圧
を印加するとIOAの側にビームが掃引され、正の電圧
ではIOHの側に掃引され、0電圧ではほぼ中立位置を
保つ。後述のように、負または正の電圧レベルを変える
ことでビーム10AないしIOBの走査の始点または終
点の位置が調整され、この電圧変化の割合、すなわち直
線的変化であればその勾配を変えることで、走査速度が
調整される。
本実施例では、ビームIOAおよびIOBを含む平面に
長方形のハーフミラ−すなわちビームスプリッタ18が
配置され、その入射ビーム10AならびにIOBをそれ
ぞれl0AIおよび10A2、ならびKl OB 1お
よび10B2に分割している。ビームl0AIおよび1
oB1はハーフミラ−18を透過して直進し、光検出器
20に入射する。ビーム10A2および10B2はハー
フミラ−18で反射され、記録媒に40に向う。記録媒
体4oは、図示のようにたとえばシート状の画像(文字
を含んでもよい)記録媒体であシ、図示せぬ給送機構に
ょシ矢印Cの方向に給送される。したがって、ガルバノ
メータ14によるミラー16の回転で記録媒140の主
走査が行なわれ、走査線42が形成され、矢印Cの方向
への記録媒体4oの給送によってその副走査が行なわれ
、これによって記録媒体40の記録面44のラスク走査
が行なわれる。
長方形のハーフミラ−すなわちビームスプリッタ18が
配置され、その入射ビーム10AならびにIOBをそれ
ぞれl0AIおよび10A2、ならびKl OB 1お
よび10B2に分割している。ビームl0AIおよび1
oB1はハーフミラ−18を透過して直進し、光検出器
20に入射する。ビーム10A2および10B2はハー
フミラ−18で反射され、記録媒に40に向う。記録媒
体4oは、図示のようにたとえばシート状の画像(文字
を含んでもよい)記録媒体であシ、図示せぬ給送機構に
ょシ矢印Cの方向に給送される。したがって、ガルバノ
メータ14によるミラー16の回転で記録媒140の主
走査が行なわれ、走査線42が形成され、矢印Cの方向
への記録媒体4oの給送によってその副走査が行なわれ
、これによって記録媒体40の記録面44のラスク走査
が行なわれる。
本装置を読取装置に適用した場合は、この走査によるビ
ーム10A2ないし10B2の記録面44における反射
または透過によって記録媒体40からの情報の読取シが
行なわれる。ひと(9) つの実施例として、記録媒体4oがいわゆる輝尽性を呈
する蓄積性螢光体を含む画像記録媒体である場合には、
レーザビーム10A2ないし10B2による走査によっ
て螢光体が励起発光し、これによって記録された放射線
画像情報を読み取ることができる。本装置を記録装置に
適用した場合には、記録媒体4oは感光材料を含み、レ
ーザ光源12からのレーザビーム1oを音響光学変調器
(AOM )などの何らかの変調手段(図示せず)によ
って情報信号に応じて変調することにより、感光材料に
画像を記録することができる。
ーム10A2ないし10B2の記録面44における反射
または透過によって記録媒体40からの情報の読取シが
行なわれる。ひと(9) つの実施例として、記録媒体4oがいわゆる輝尽性を呈
する蓄積性螢光体を含む画像記録媒体である場合には、
レーザビーム10A2ないし10B2による走査によっ
て螢光体が励起発光し、これによって記録された放射線
画像情報を読み取ることができる。本装置を記録装置に
適用した場合には、記録媒体4oは感光材料を含み、レ
ーザ光源12からのレーザビーム1oを音響光学変調器
(AOM )などの何らかの変調手段(図示せず)によ
って情報信号に応じて変調することにより、感光材料に
画像を記録することができる。
光検出器20は本実施例では、たとえば断面がほぼ円形
の長いアクリル棒などの光伝送体22と、フォトマルチ
シライヤすなわち増倍型光電管(光電子増倍管)などの
受光素子24とからなる。光伝送体22の円柱側面の一
部には、図示のようにたとえばクロムなどの光学的に透
過率の低い物質からなる円周方向に長いストライプ26
が多数本はぼ等間隔に配列され、光学(10) グリッドすなわち光学格子のアレイを形成している。ビ
ームがl0AIから10B1まで掃引され、光伝送体2
2の格子26のアレイ上を走査すると、光伝送体22の
内部へ進入した光の一部は伝送体22中を反射および散
乱を繰り返しながら伝搬し、受光素子24に入射する。
の長いアクリル棒などの光伝送体22と、フォトマルチ
シライヤすなわち増倍型光電管(光電子増倍管)などの
受光素子24とからなる。光伝送体22の円柱側面の一
部には、図示のようにたとえばクロムなどの光学的に透
過率の低い物質からなる円周方向に長いストライプ26
が多数本はぼ等間隔に配列され、光学(10) グリッドすなわち光学格子のアレイを形成している。ビ
ームがl0AIから10B1まで掃引され、光伝送体2
2の格子26のアレイ上を走査すると、光伝送体22の
内部へ進入した光の一部は伝送体22中を反射および散
乱を繰り返しながら伝搬し、受光素子24に入射する。
受光素子24にて格子26の透明部及び不透明部に対応
した電気信号に変換される。したがって走査ビーム10
AIないし10B1が格子26のうちの1つを通過する
ごとに光伝送体22中に入射する光量が少なくなるので
、第3図(D)に示すような波形の信号が受光素子24
から出力されることになる。
した電気信号に変換される。したがって走査ビーム10
AIないし10B1が格子26のうちの1つを通過する
ごとに光伝送体22中に入射する光量が少なくなるので
、第3図(D)に示すような波形の信号が受光素子24
から出力されることになる。
一列を示すと、たとえば記録面44の幅、換言すれば走
査線42の記録面44上の長さくA3とB3の間)す力
わち有効走査線長が約300調である場合、走査線42
はその両側にそれぞれ約40閣の余長部分、す々わちA
2とA3の間およびB3とB2の間の部分を有している
。
査線42の記録面44上の長さくA3とB3の間)す力
わち有効走査線長が約300調である場合、走査線42
はその両側にそれぞれ約40閣の余長部分、す々わちA
2とA3の間およびB3とB2の間の部分を有している
。
したがって走査線42の全長は約380柵である。格子
26はその両端A4とB4の間約340調にわたって約
1500本のストライプ26が形成されている。本実施
例では1本の走査線を数10ミリ秒で走査する。
26はその両端A4とB4の間約340調にわたって約
1500本のストライプ26が形成されている。本実施
例では1本の走査線を数10ミリ秒で走査する。
本装置の主走査を制御する回路の例を第2図に示す。同
図において第1図に示す要素と同じ要素は同一の参照符
号で示す。光検出器20の受光素子24の出力100は
整形回路102に接続され、整形回路102は、第3図
(D)に示すような光検出器24の出力波形204を所
定の聞直で波形整形し、2喧レベルの矩形波としてリー
ド104に出力する回路である。
図において第1図に示す要素と同じ要素は同一の参照符
号で示す。光検出器20の受光素子24の出力100は
整形回路102に接続され、整形回路102は、第3図
(D)に示すような光検出器24の出力波形204を所
定の聞直で波形整形し、2喧レベルの矩形波としてリー
ド104に出力する回路である。
整形回路102のリード104は制(財)回路108に
接続されている。制御回路108は本装置全体の動作を
制御する回路であるが、IJ−ド104を通して整形回
路102から入力される参照/(ルスを計数するカウン
タ110を備えている。
接続されている。制御回路108は本装置全体の動作を
制御する回路であるが、IJ−ド104を通して整形回
路102から入力される参照/(ルスを計数するカウン
タ110を備えている。
制御回路108の出力112にはランプ発生器114が
接続され、ランプ発生器114は第3図(C)に示すよ
うなランプ関数すなわち鋸歯状波202を発生する回路
である。ランプ発生器114の出力116はガルバノメ
ータ14に供給される。したがって、第3図C)に示す
ような鋸歯状波202がガルバノメータ14に供給され
ると、それに応じてミラー16(第1図)が回転し、ビ
ーム1oがIOAからIOBに掃引されて走査線42が
形成されると同時に、光検出器20の格子26も走査さ
れ、対応した走査142A(第3図(〜)が形成される
。ガルバノメータ14に加わる信号(同図(C))と走
査ビームIOAないしIOBの位置との間には良好な直
線性が保持されている。
接続され、ランプ発生器114は第3図(C)に示すよ
うなランプ関数すなわち鋸歯状波202を発生する回路
である。ランプ発生器114の出力116はガルバノメ
ータ14に供給される。したがって、第3図C)に示す
ような鋸歯状波202がガルバノメータ14に供給され
ると、それに応じてミラー16(第1図)が回転し、ビ
ーム1oがIOAからIOBに掃引されて走査線42が
形成されると同時に、光検出器20の格子26も走査さ
れ、対応した走査142A(第3図(〜)が形成される
。ガルバノメータ14に加わる信号(同図(C))と走
査ビームIOAないしIOBの位置との間には良好な直
線性が保持されている。
なお、第3図(B)〜(E) U横軸が時間を示踵ビー
ムIOAないしIGBの走査に対応した第2図の回路に
おける各部の波形を示しているが、同図囚はこの走査に
対応して格子26の位置を概念的に示したものである。
ムIOAないしIGBの走査に対応した第2図の回路に
おける各部の波形を示しているが、同図囚はこの走査に
対応して格子26の位置を概念的に示したものである。
したがって後述のように、たとえば走査の速度を速くす
ると同図(C)の鋸歯状波202の勾配が点線202A
のよ(13) うに急峻になるが、これに対応した格子26の位置を示
すとすれば同図囚に示す格子間間隔よシ狭い間隔で示さ
れることになろう。また、点線202Bで示すように走
査速度を遅くすれば広い間隔で示されるであろう。また
、同図(A)に示す格子のピッチや本数、および同図(
B)〜(E)の波形の・ぐルス幅やパルス数は説明のた
めのものであって、いくぶん誇張され概略を示している
にすぎない。
ると同図(C)の鋸歯状波202の勾配が点線202A
のよ(13) うに急峻になるが、これに対応した格子26の位置を示
すとすれば同図囚に示す格子間間隔よシ狭い間隔で示さ
れることになろう。また、点線202Bで示すように走
査速度を遅くすれば広い間隔で示されるであろう。また
、同図(A)に示す格子のピッチや本数、および同図(
B)〜(E)の波形の・ぐルス幅やパルス数は説明のた
めのものであって、いくぶん誇張され概略を示している
にすぎない。
第2図に戻って、この回路は別なカウンタ120を有し
、これは制御回路108からリード122を通じて入力
される制御信号によってダートが開放され、すなわち計
数可能な状態となシ、リード124を通じて入力される
制御信号によってダートが遮断、すなわち計数停止状態
となり、基準発振器126がリード128に出力する基
準ノクルスを計数する計数回路である。
、これは制御回路108からリード122を通じて入力
される制御信号によってダートが開放され、すなわち計
数可能な状態となシ、リード124を通じて入力される
制御信号によってダートが遮断、すなわち計数停止状態
となり、基準発振器126がリード128に出力する基
準ノクルスを計数する計数回路である。
その計数値は差動出力リード130によって制御回路1
08に入力される。
08に入力される。
基準発振器126は比較的安定な周波数を発(14)
振するたとえば水晶発振器を有し、第3図(匂に示すよ
うな基準クロック206をリード128に出力する。そ
の発振周波数は好ましくは、光検出器20が出力する信
号204(第3図(D))の周波数のたとえば同等以上
であればよく、たとえばI MHz程度である。
うな基準クロック206をリード128に出力する。そ
の発振周波数は好ましくは、光検出器20が出力する信
号204(第3図(D))の周波数のたとえば同等以上
であればよく、たとえばI MHz程度である。
走査ビーム掃引の始点、すなわち第1図に示す初期位置
のビームIOAの位置を設定するために、本実施例では
、光検出器20においてビーム10A1が初期位置A1
から格子26の最左端(第1図で)A4まで走行する時
間を制(財)している。換言すれば、第3図を参照して
、制(財)回路108はビームIOAないしIOBの各
走査ごとに鋸歯状波202の立上シのタイミングを与え
る同図(B)に示す同期・ぐルス200を発生するが、
同期ノ9ルス200の発生からビーム10A1が位置A
4の格子26に到達するまでの時間τ1における基準ク
ロック206の数を計数し、これが予め定められた設定
値になるようにガルバノメータ14の走査の始点即ち鋸
歯状波202のオフセットを調整する。
のビームIOAの位置を設定するために、本実施例では
、光検出器20においてビーム10A1が初期位置A1
から格子26の最左端(第1図で)A4まで走行する時
間を制(財)している。換言すれば、第3図を参照して
、制(財)回路108はビームIOAないしIOBの各
走査ごとに鋸歯状波202の立上シのタイミングを与え
る同図(B)に示す同期・ぐルス200を発生するが、
同期ノ9ルス200の発生からビーム10A1が位置A
4の格子26に到達するまでの時間τ1における基準ク
ロック206の数を計数し、これが予め定められた設定
値になるようにガルバノメータ14の走査の始点即ち鋸
歯状波202のオフセットを調整する。
詳細に説明すると、制御回路108は、同期パルス20
0に同期してランプ発生器114から鋸歯状波202を
発生させ、ガルバノメータ14によるビームIOAの掃
引を開始する。これと同時にリード122を通じて制御
信号を入力してカウンタ120のダートを開放し、カウ
ンタ120はクロック206を計数し始める。
0に同期してランプ発生器114から鋸歯状波202を
発生させ、ガルバノメータ14によるビームIOAの掃
引を開始する。これと同時にリード122を通じて制御
信号を入力してカウンタ120のダートを開放し、カウ
ンタ120はクロック206を計数し始める。
次に走査ビーム10A1が最左端A4の位置にある格子
26にさしかかると、光検出器20からの最初の参照・
ぐルス204が波形整形回路102を通して制御回路1
08に入力される。
26にさしかかると、光検出器20からの最初の参照・
ぐルス204が波形整形回路102を通して制御回路1
08に入力される。
制御回路108はこれに応動してリード124を通じて
側聞信号を入力させ、カウンタ120のケ9−トを遮断
しカウンタ120の計数を停止させる。そのときの計数
直はカウンタ120から並列出力リード130を通して
制御回路108に読み込まれ、制御回路108はこの計
数直と設定値との差を調べる。制御回路108はこの差
に応じてランプ発生器114のオフセットLl(第3図
(C))を変化させ、ガルバノメータ14の初期位置を
調整する。第3図(C)に示すように、たとえばガルバ
ノメータ14の機械的中立位置に対応する鋸歯状波20
2のレベルをとし、始点AIにビーム10A1’iおく
ための鋸歯状波202のレベルをLlとすれば、制御回
路108はレベルL1を前述の差に応じて変化させるこ
とによってガルバノメータの初期位置を調整する。たと
えば、第3図に示す時間τ1が規定直より短いときはレ
ベルL1を下げ(点線LIA)、長いときは上げる(点
線LIB’)ように、制御回路108はランプ発生器1
14を制(財)する。このようにして各走査ごとに期間
τ1を監視し、これが規定直に近づくように鋸歯状波2
02のレベルを変化させてガルバノメータの初期位置が
調整される。
側聞信号を入力させ、カウンタ120のケ9−トを遮断
しカウンタ120の計数を停止させる。そのときの計数
直はカウンタ120から並列出力リード130を通して
制御回路108に読み込まれ、制御回路108はこの計
数直と設定値との差を調べる。制御回路108はこの差
に応じてランプ発生器114のオフセットLl(第3図
(C))を変化させ、ガルバノメータ14の初期位置を
調整する。第3図(C)に示すように、たとえばガルバ
ノメータ14の機械的中立位置に対応する鋸歯状波20
2のレベルをとし、始点AIにビーム10A1’iおく
ための鋸歯状波202のレベルをLlとすれば、制御回
路108はレベルL1を前述の差に応じて変化させるこ
とによってガルバノメータの初期位置を調整する。たと
えば、第3図に示す時間τ1が規定直より短いときはレ
ベルL1を下げ(点線LIA)、長いときは上げる(点
線LIB’)ように、制御回路108はランプ発生器1
14を制(財)する。このようにして各走査ごとに期間
τ1を監視し、これが規定直に近づくように鋸歯状波2
02のレベルを変化させてガルバノメータの初期位置が
調整される。
ところでビームIOAないしIOBの掃引速度は鋸歯状
波202の勾配に依存する。この勾配が急峻になれば走
査速度が速くなシ、緩やかになれば遅くなる。本実施ρ
1ではこれを、格子(17) アレイのある区間、たとえば第3図(A)のN1とN2
の間の区間を通過するビームl0AIの速度を監視して
鋸歯状波202の勾配を調整することによって行なって
いる。この区間は格子26アレイのほぼ中央付近が有利
である。たとえば全格子26の数が1500本であると
すると、N1は最左端A4から700番目であシ、N2
は同800番目であればよい。走査ビーム10A1がこ
の区間NlN2を通過すると100個の・ぐルス204
が光検出器20から制御回路108に入力される。
波202の勾配に依存する。この勾配が急峻になれば走
査速度が速くなシ、緩やかになれば遅くなる。本実施ρ
1ではこれを、格子(17) アレイのある区間、たとえば第3図(A)のN1とN2
の間の区間を通過するビームl0AIの速度を監視して
鋸歯状波202の勾配を調整することによって行なって
いる。この区間は格子26アレイのほぼ中央付近が有利
である。たとえば全格子26の数が1500本であると
すると、N1は最左端A4から700番目であシ、N2
は同800番目であればよい。走査ビーム10A1がこ
の区間NlN2を通過すると100個の・ぐルス204
が光検出器20から制御回路108に入力される。
詳細に説明すると、まず、ビーム10A1が最左端A4
から格子26のアレイに突入すると、位置A4にある格
子26に対応する参照ノeルス204が制御回路108
に人力し、カウンタ110が計数動作を開始する。カウ
ンタ110は光検出器20からビーム10A1の走査に
応動して順次入力される参照パルス204を計数する。
から格子26のアレイに突入すると、位置A4にある格
子26に対応する参照ノeルス204が制御回路108
に人力し、カウンタ110が計数動作を開始する。カウ
ンタ110は光検出器20からビーム10A1の走査に
応動して順次入力される参照パルス204を計数する。
700個の・ぐシス204i計数すると、すなわちビー
ムl0AIが位置N1の格子26(18) に到達すると、制(財)回路108はリード122を通
じて制御信号を入力しカウンタ120のダートを開放し
、再び計数動作を開始させる。これによってカウンタ1
20は基準発振器126からの基準クロック206を計
数する。カウンタ110は、ビームl0AIの走査に応
じて光検出器20から与えられる参照ノfルス204を
順次計数し、その計数値が100になると、すなわちビ
ームl0AIが位置N2の格子26に到達すると、制御
回路108はυ〜ド124を通じて制御信号を人力しカ
ウンタ120のダートを遮断させ計数動作を停止させる
。制御回路108はこの時の基準クロック206の計数
値(第3図の期間τ2に相当)をカウンタ120から並
列リード13Gを通して読み取シ、これを予め定められ
た設定値と比較する。この比較結果に応じて制(財)回
路108はランプ発生器114を副脚し、鋸歯状波20
2の勾配を変化させる。たとえば、この計数値の比較に
よって、位置N1からN2までビーム10A1が走行す
る時間τ2(第3図)が設定値より短いことが判明する
と、制御回路108はランプ発生器114に鋸歯状波2
02の勾配を緩やかにする(点線202B)ように指示
する。また、時間τ2が設定(直より長ければ、勾配を
急峻にする(点線202A)ように制御する。このよう
にして各走査ごとに期間τ2を監視し、鋸歯状波202
の勾配を数回くり返して調整することにより、最終的に
は走査速度が規定直に設定されることになる。したがっ
て、ρlえば本装置を前述の放射線画像読取装置に適用
した場合には、各画像の読取りに先立って本方法を実施
することにより、読取シ中の1画素当シの積分時間が一
定に保持され、画像記録装置に適用した場合には、同様
に各画像の記録に先立って本方法を実施することによシ
、記録中の1画累当りの露光時間が一定に保持されるこ
とにより良好な画質の読取及び記録が行なわれる。
ムl0AIが位置N1の格子26(18) に到達すると、制(財)回路108はリード122を通
じて制御信号を入力しカウンタ120のダートを開放し
、再び計数動作を開始させる。これによってカウンタ1
20は基準発振器126からの基準クロック206を計
数する。カウンタ110は、ビームl0AIの走査に応
じて光検出器20から与えられる参照ノfルス204を
順次計数し、その計数値が100になると、すなわちビ
ームl0AIが位置N2の格子26に到達すると、制御
回路108はυ〜ド124を通じて制御信号を人力しカ
ウンタ120のダートを遮断させ計数動作を停止させる
。制御回路108はこの時の基準クロック206の計数
値(第3図の期間τ2に相当)をカウンタ120から並
列リード13Gを通して読み取シ、これを予め定められ
た設定値と比較する。この比較結果に応じて制(財)回
路108はランプ発生器114を副脚し、鋸歯状波20
2の勾配を変化させる。たとえば、この計数値の比較に
よって、位置N1からN2までビーム10A1が走行す
る時間τ2(第3図)が設定値より短いことが判明する
と、制御回路108はランプ発生器114に鋸歯状波2
02の勾配を緩やかにする(点線202B)ように指示
する。また、時間τ2が設定(直より長ければ、勾配を
急峻にする(点線202A)ように制御する。このよう
にして各走査ごとに期間τ2を監視し、鋸歯状波202
の勾配を数回くり返して調整することにより、最終的に
は走査速度が規定直に設定されることになる。したがっ
て、ρlえば本装置を前述の放射線画像読取装置に適用
した場合には、各画像の読取りに先立って本方法を実施
することにより、読取シ中の1画素当シの積分時間が一
定に保持され、画像記録装置に適用した場合には、同様
に各画像の記録に先立って本方法を実施することによシ
、記録中の1画累当りの露光時間が一定に保持されるこ
とにより良好な画質の読取及び記録が行なわれる。
本装置では、実際にビームの走査状態にもとづいてその
初期位置や走行速度を監視しこれらを調整しているので
、ビーム走査系の各種変動誤差、例えば温度ドリフト等
を容易に補正することができ、しかも人手を介さないで
すむので非常に効率的である。また装置の組立時におけ
る調整も従来は手動設定によシ非常に厳密に調整されて
いたものが、本発明によれば手動調整の部分は粗調整で
よく微調整については第2図に示す帰還回路系で自動的
に行なわれるので、組立時の工数の削減効果も生ずる。
初期位置や走行速度を監視しこれらを調整しているので
、ビーム走査系の各種変動誤差、例えば温度ドリフト等
を容易に補正することができ、しかも人手を介さないで
すむので非常に効率的である。また装置の組立時におけ
る調整も従来は手動設定によシ非常に厳密に調整されて
いたものが、本発明によれば手動調整の部分は粗調整で
よく微調整については第2図に示す帰還回路系で自動的
に行なわれるので、組立時の工数の削減効果も生ずる。
なお、本実施例では記録媒体を走査するビームと走査の
監視側(財)を行なうためのビームをハーフミラ−18
で分離しているが、単一のビームを途中で光路を切り換
えることにより記録媒体の走査と走査の監視制御を行な
うようにしてもよい。二つのビームを発生させるために
独立した二つの光源を用いてもよい。また、オフセット
検出と速度検出の両方を単一のカウンタで行なっている
が、それぞれ独立したカウンタを設けてもよい。
監視側(財)を行なうためのビームをハーフミラ−18
で分離しているが、単一のビームを途中で光路を切り換
えることにより記録媒体の走査と走査の監視制御を行な
うようにしてもよい。二つのビームを発生させるために
独立した二つの光源を用いてもよい。また、オフセット
検出と速度検出の両方を単一のカウンタで行なっている
が、それぞれ独立したカウンタを設けてもよい。
(21)
第1図は本発明による光ビーム走査装置の実施例を示す
概念的斜視図、 第2図は第1図に示す装置を制御する回路の例を示すブ
ロック図、 第3図は第2図に示す回路の各部に現われる波形を示す
概略波形図である。 14・・・ガルバノメータ 20・・・光検出器 26・・・格子アレイ 108・・・制御回路 110.120・・・カウンタ 114・・・ランプ発生器 126・・・基準発振器 特許出願人 富士写真フィルム株式会社(22)
概念的斜視図、 第2図は第1図に示す装置を制御する回路の例を示すブ
ロック図、 第3図は第2図に示す回路の各部に現われる波形を示す
概略波形図である。 14・・・ガルバノメータ 20・・・光検出器 26・・・格子アレイ 108・・・制御回路 110.120・・・カウンタ 114・・・ランプ発生器 126・・・基準発振器 特許出願人 富士写真フィルム株式会社(22)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 第1の信号に応じて光ビームを走査する走査手段
と、 該光ビームが走査される方向に配列された複数の光学格
子を有し、該光ビームが該格子の配列上を走査されるに
応じた第2の信号を発生する光検出器と、 第2の信号に応じて第1の信号を発生する制御手段とを
含み、 該制御手段は、第2の信号に基づいて、前記光ビームの
走査される速度を検出し、該検出した速度に応じて第1
の信号を調整し、これによって該検出した速度が所定の
速度になるように該光ビームの走査速度を制御すること
を特徴とする光ビーム走査装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記制
御手段は、所定の周波数の基準クロックを発生する基準
発振器と、該基準クロックを計数するカウンタとを含み
、該制御手段は、前記光ビームが前記光学格子の配列に
おける所定の区間を通過したことを第2の信号から検知
し、該所定の区間の通過中に前記カウンタが計数した基
準クロックの計数直を所定の値と比較することによって
該光ビームの走査速度を検出することを特徴とする光ビ
ーム走査装置。 3、特許請求の範囲第2項記載の装置において、前記走
査手段は第1の信号の勾配に応じた速度で前記光ビーム
を走査し、前記制御手段は、前記計数直と所定の直との
差が小さくなるように第1の信号の勾配を調整すること
を特徴とする光ビーム走査装置。 4、第1の信号に応じて光ビームを走査する走査手段と
、 該光ビームが走査される方向に配列された複数の光学格
子を有し、該光ビームが該格子の配列上を走査されるに
応じた第2の信号を発生する光検出器と、 第2の信号に応じて第1の信号を発生する制御手段とを
含み、 該制御手段は、第2の信号に基づいて、前記光ビームが
走査の始点から前記格子の配列の端部に突入するまでの
時間を検出し、該検出した時間に応じて第1の信号の初
期レベルを調整して該光ビームの走査の始点の位置を制
(財)することを特徴とする光ビーム走査装置。 5、特許請求の範囲第4項記載の装置において、前記制
御手段は、所定の周波数の基準クロックを発生する基準
発生器と、該基準クロックを計数するカウンタとを含み
、該制御手段は、前記光ビームが前記光学格子の配列の
端部に突入したことを第2の信号から検知し、該光ビー
ムの走査開始から該端部突入までに前記カウンタが計数
した基準クロックの計数直を所定の1直と比較すること
によって該光ビームの走査の始点から端部突入までの時
間を検出することを特徴とする光ビーム走査装置。 6、特許請求の範囲第5項記載の装置において、前記制
御手段は、前記計数呟と所定の直との差が小さくなるよ
うに第1の信号の初期レベルを調整することを特徴とす
る光ビーム走査装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57182172A JPS5972862A (ja) | 1982-10-19 | 1982-10-19 | 光ビ−ム走査装置 |
US06/873,300 US4638156A (en) | 1982-10-19 | 1986-06-09 | Light beam scanning apparatus with adjustable scanning speed and offset |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57182172A JPS5972862A (ja) | 1982-10-19 | 1982-10-19 | 光ビ−ム走査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5972862A true JPS5972862A (ja) | 1984-04-24 |
Family
ID=16113597
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57182172A Pending JPS5972862A (ja) | 1982-10-19 | 1982-10-19 | 光ビ−ム走査装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4638156A (ja) |
JP (1) | JPS5972862A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6349515U (ja) * | 1986-09-19 | 1988-04-04 |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US4762994A (en) * | 1986-11-10 | 1988-08-09 | Ibm Corp. | Compact optical scanner driven by a resonant galvanometer |
IT1210733B (it) * | 1987-05-13 | 1989-09-20 | Paolo Soardo | Programmabile proiettore per autoveicoli con ripartizione luminosa |
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JPH07113705B2 (ja) * | 1988-10-24 | 1995-12-06 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 光ビーム走査装置 |
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DE69219910T2 (de) * | 1991-01-09 | 1997-09-11 | Dainippon Screen Mfg | Lichtstrahlabtastsystem |
WO1993000696A1 (en) * | 1991-06-21 | 1993-01-07 | Zera, Gary, William | Optical scanned-beam position sensing system |
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JP3100478B2 (ja) * | 1992-10-27 | 2000-10-16 | 株式会社トプコン | 往復レーザ走査システムを有するレーザ回転照射装置 |
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DE19710714C1 (de) * | 1997-03-14 | 1998-09-24 | Max Planck Gesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Steuerung schneller periodischer Bewegungen |
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US7248387B2 (en) * | 2001-07-31 | 2007-07-24 | Umax Data Systems, Inc. | Scanning speed control device and method |
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---|---|---|---|---|
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Family Cites Families (4)
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JPS561018A (en) * | 1979-06-15 | 1981-01-08 | Fuji Photo Film Co Ltd | Light beam scanner |
-
1982
- 1982-10-19 JP JP57182172A patent/JPS5972862A/ja active Pending
-
1986
- 1986-06-09 US US06/873,300 patent/US4638156A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4922149A (ja) * | 1972-06-17 | 1974-02-27 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6349515U (ja) * | 1986-09-19 | 1988-04-04 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4638156A (en) | 1987-01-20 |
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