JPS5968116A - リ−ドスイツチ - Google Patents
リ−ドスイツチInfo
- Publication number
- JPS5968116A JPS5968116A JP17889982A JP17889982A JPS5968116A JP S5968116 A JPS5968116 A JP S5968116A JP 17889982 A JP17889982 A JP 17889982A JP 17889982 A JP17889982 A JP 17889982A JP S5968116 A JPS5968116 A JP S5968116A
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- Japan
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- alloy
- gold
- piece
- lead piece
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- Switches That Are Operated By Magnetic Or Electric Fields (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(81発明の技術分野
本発明はガラス管の中に両端から磁性材料のリード片を
封入し、リード片の互いにオーバラップする部分で接点
の開閉を行なわせるリードスイッチに関する。
封入し、リード片の互いにオーバラップする部分で接点
の開閉を行なわせるリードスイッチに関する。
(bl技術の背景
通電のリードスイッチは第1図(イ)に示すように、ガ
ラス管lの両端から1対のリード片2°、3゛が挿入さ
れ、不活性ガスの雰囲気中で封止されている。そしてガ
ラス管1の外部に配置された励磁コイル4に通電すると
、両リード片2゛、3゛を通る磁束で、リード片のオー
ハラツブした接点部分のギヤツブ5が閉じてスイッチオ
ンする。次に励磁コイル4を非通電状態にすると、接点
ギヤ・ノブ5の磁気吸引力が消失して接点ギャップ5が
開き、スイッチオフとなる。
ラス管lの両端から1対のリード片2°、3゛が挿入さ
れ、不活性ガスの雰囲気中で封止されている。そしてガ
ラス管1の外部に配置された励磁コイル4に通電すると
、両リード片2゛、3゛を通る磁束で、リード片のオー
ハラツブした接点部分のギヤツブ5が閉じてスイッチオ
ンする。次に励磁コイル4を非通電状態にすると、接点
ギヤ・ノブ5の磁気吸引力が消失して接点ギャップ5が
開き、スイッチオフとなる。
リード片の内端の接点部は、(ロ)のようにリート′片
3’ (2’)の先端に貴金属材料からなる接点6゛を
設げて、接触抵抗が小さくなるようにしている。リード
片の磁性材料としては、通常パーマロイ特に52アロイ
と呼ばれる52%ニッケルと48%鉄の合金相が広く用
いられる。接点材料とし一ζは金、銀、ロジウム、銅ま
たは金糸合金(Au−Go、Au−N1)などの材料が
用いられる。
3’ (2’)の先端に貴金属材料からなる接点6゛を
設げて、接触抵抗が小さくなるようにしている。リード
片の磁性材料としては、通常パーマロイ特に52アロイ
と呼ばれる52%ニッケルと48%鉄の合金相が広く用
いられる。接点材料とし一ζは金、銀、ロジウム、銅ま
たは金糸合金(Au−Go、Au−N1)などの材料が
用いられる。
fc)従来技術とその問題点
ところが金や銀などのような軟い材料を接点材料として
用いた場合、接点材料同士の粘着現象によって、励磁コ
イル4を非通電状態にして励磁磁界を取り去っても、接
点ギャップ5が閉じたままとなり易い。これを防止する
ために、リード片に接点材料をメッキした後、水素雰囲
気の電気炉中で20分程度の熱処理を行ない、下地金属
と接点材料を拡散して、下地金属が接点の表面に一部析
出するようにしている。
用いた場合、接点材料同士の粘着現象によって、励磁コ
イル4を非通電状態にして励磁磁界を取り去っても、接
点ギャップ5が閉じたままとなり易い。これを防止する
ために、リード片に接点材料をメッキした後、水素雰囲
気の電気炉中で20分程度の熱処理を行ない、下地金属
と接点材料を拡散して、下地金属が接点の表面に一部析
出するようにしている。
ところがこの方法は、粘着は多少軽減される反面次のよ
うな欠点が生しる。
うな欠点が生しる。
+1.)パーマロイ中のFeのために接点の表面が酸化
し易く、接触抵抗が不安定になり易い。即ぢFe−Ni
の酸化皮膜が形成され鉄と酸素が共存するため境界抵抗
(皮膜抵抗)が高くなり、ロジウム(Rh)接点に比べ
て接触抵抗のレベルが高くなる。
し易く、接触抵抗が不安定になり易い。即ぢFe−Ni
の酸化皮膜が形成され鉄と酸素が共存するため境界抵抗
(皮膜抵抗)が高くなり、ロジウム(Rh)接点に比べ
て接触抵抗のレベルが高くなる。
(2)ソー1−スイソヂのガラス管内の微量の残留酸素
によって、無負荷動作の場合に接点閉止時の衝突エネル
ギーで酸化皮膜が形成され、かつ動作回数と共に増大す
る。つまり動作回数の増大と共に、ブリッジ消耗即ちP
ill &cra1.erを生成し、接触抵抗増大、粘
着(sticking>などの接触障害を引き起す。そ
の理由は、閉した接点間に電流が流れると、そのときの
ジュール熱で温度が」2胛し、接点表面が軟化して粘性
が低下する。しかも正側が負側より高温になるため、正
側の軟化した接点+、1利が低温の負側の接点に粘着し
、正側がブリッジ消耗して窪みができる。また通電時の
ショードパ−りによって負側に発生したイオンが正側の
接点表面に衝突し、そのとき発生した粉末が負側の接点
表面に堆積し、窪みと隆起を更に促進する。そしてこの
窪みに隆起が嵌入するとロックされると共に粘着し、励
磁磁界を取り去ったときの接点の開離が困ゲVになる。
によって、無負荷動作の場合に接点閉止時の衝突エネル
ギーで酸化皮膜が形成され、かつ動作回数と共に増大す
る。つまり動作回数の増大と共に、ブリッジ消耗即ちP
ill &cra1.erを生成し、接触抵抗増大、粘
着(sticking>などの接触障害を引き起す。そ
の理由は、閉した接点間に電流が流れると、そのときの
ジュール熱で温度が」2胛し、接点表面が軟化して粘性
が低下する。しかも正側が負側より高温になるため、正
側の軟化した接点+、1利が低温の負側の接点に粘着し
、正側がブリッジ消耗して窪みができる。また通電時の
ショードパ−りによって負側に発生したイオンが正側の
接点表面に衝突し、そのとき発生した粉末が負側の接点
表面に堆積し、窪みと隆起を更に促進する。そしてこの
窪みに隆起が嵌入するとロックされると共に粘着し、励
磁磁界を取り去ったときの接点の開離が困ゲVになる。
これらの現象は特に50V、1 0 0 rnΔ程度の
領域で発生し易い。
領域で発生し易い。
このような拡elk処理を行なう方法のほかに、金のメ
ッキ液に3%程度のCoを混入して合金メッキを行なう
ことにより、接点材料の金表面に3%のCoが混在した
いわゆる硬質金が得られ、耐粘着性が向上する。しかも
接点表面に酸化しゃずいF eが現れないので、パーマ
ロイと金メツキ間を拡散処理したものより、接触11ふ
抗も改善される。
ッキ液に3%程度のCoを混入して合金メッキを行なう
ことにより、接点材料の金表面に3%のCoが混在した
いわゆる硬質金が得られ、耐粘着性が向上する。しかも
接点表面に酸化しゃずいF eが現れないので、パーマ
ロイと金メツキ間を拡散処理したものより、接触11ふ
抗も改善される。
しかしながら拡+l&処理したものと違って、合金メッ
キされた接点と下地の527し1イとの結合が弱く、温
度変化を繰り返し受けることによって、接点の剥離が起
きやすい。特に5270イの電気抵抗率は、35μΩc
mと高いため、接点を通る電流による発熱が大きく、高
温の温度サイクルを受けるこになり、接点とり一F片と
の密着性に悪影響を与える。
キされた接点と下地の527し1イとの結合が弱く、温
度変化を繰り返し受けることによって、接点の剥離が起
きやすい。特に5270イの電気抵抗率は、35μΩc
mと高いため、接点を通る電流による発熱が大きく、高
温の温度サイクルを受けるこになり、接点とり一F片と
の密着性に悪影響を与える。
(d1発明の目的
本発明は、従来のリードスイッチにおりるこのような問
題を解消し、リード片と接点との密着性が良(、且つ粘
着が発生しにく(、接触抵抗も低いり一1′スイノヂを
実現することを目的とする。
題を解消し、リード片と接点との密着性が良(、且つ粘
着が発生しにく(、接触抵抗も低いり一1′スイノヂを
実現することを目的とする。
fe1発明の構成
本発明はこの目的を達成するために、Fe(10〜18
%)−Co(残)合金の強磁性材料からなるリーI・片
と該リード片に設けた接点材料を拡散させて、接点材料
の表面にCoを3〜10%原子量析出させたリード片を
、不活性ガス中で封入容器に封入した構成を採っている
。
%)−Co(残)合金の強磁性材料からなるリーI・片
と該リード片に設けた接点材料を拡散させて、接点材料
の表面にCoを3〜10%原子量析出させたリード片を
、不活性ガス中で封入容器に封入した構成を採っている
。
ff1発明の実施例
次に本発明によるリードスイッチが実際上どのように具
体化されるかを、実施例で説明する。第2図は本発明に
よるリードスイッチを示した断面図である。リード片2
、3ば、52アロイに代えてFe(10 〜18%)
−Co (残)合金で構成した。このFe(10 〜1
8%) −Co (残)合金のリード片3 (2)の
先端に、金接点祠料を設けた。そしてこのリート片2、
3を、炉に入れて800±100℃の温度で、15〜6
0分間、水素(I12)中で熱処理し、接点表面にCO
を3〜IO%原子量拡散させた.、6はこのようにして
表面にCOを析出させた金接点である。またガラス竹l
内には、窒素またはアルゴンの不活性ガスが圭1人され
ている。
体化されるかを、実施例で説明する。第2図は本発明に
よるリードスイッチを示した断面図である。リード片2
、3ば、52アロイに代えてFe(10 〜18%)
−Co (残)合金で構成した。このFe(10 〜1
8%) −Co (残)合金のリード片3 (2)の
先端に、金接点祠料を設けた。そしてこのリート片2、
3を、炉に入れて800±100℃の温度で、15〜6
0分間、水素(I12)中で熱処理し、接点表面にCO
を3〜IO%原子量拡散させた.、6はこのようにして
表面にCOを析出させた金接点である。またガラス竹l
内には、窒素またはアルゴンの不活性ガスが圭1人され
ている。
このようにしてり−I・片中のCoを金接点の表面まで
拡tikさせたときの、Co析出量と粘着特性および接
触抵抗との関係を第4図に示す。横軸は全接点表面への
Co析出量(%)、縦軸は粘着特性(磁歪試験開放値変
化率)と接触抵抗値である。
拡tikさせたときの、Co析出量と粘着特性および接
触抵抗との関係を第4図に示す。横軸は全接点表面への
Co析出量(%)、縦軸は粘着特性(磁歪試験開放値変
化率)と接触抵抗値である。
COの拡散量が3%以上になると磁歪試験開放値変化率
が20%以下になり、粘着性が非富に向上する。一方接
触抵抗は、Coの拡散量が少なくて全部金の方が好まし
いが、析出量が6%以下であれば金のみの場合の30Ω
と殆ど変わらない。10%程度までは60Ω以下となり
、実用上さほど支障はない。
が20%以下になり、粘着性が非富に向上する。一方接
触抵抗は、Coの拡散量が少なくて全部金の方が好まし
いが、析出量が6%以下であれば金のみの場合の30Ω
と殆ど変わらない。10%程度までは60Ω以下となり
、実用上さほど支障はない。
第5図ばFe (10〜18%)−Co(残)合金の拡
nb処理温度、時間とCoの析出量との関係を示す図で
、横軸はアニール温度、縦軸はCO析出量である。前記
のように粘着性も接触抵抗も許容値を示ずCO析出量は
3〜10%程度であるが、この程度のCO析出量を得る
には、アニール時間が15分の場合は、700〜900
“C程度の温度が適当で、60分の場合は、760′C
以下が適当である。
nb処理温度、時間とCoの析出量との関係を示す図で
、横軸はアニール温度、縦軸はCO析出量である。前記
のように粘着性も接触抵抗も許容値を示ずCO析出量は
3〜10%程度であるが、この程度のCO析出量を得る
には、アニール時間が15分の場合は、700〜900
“C程度の温度が適当で、60分の場合は、760′C
以下が適当である。
第6図ばFe−Co合金の熱膨張率を示す図で、横軸は
コハルI・(CO)中の鉄(Fe)の含有率、縦軸は熱
膨張率である。Fe−Co合金のリード片3 (2)を
直接ガラス管1に封着するため該リート片3 (2)が
従来の52アロイなど同様に、ガラス管1に封着した場
合にガラス管にタラツクが発生したりしないように、ソ
ー1=’片3 (2)とガラス管1との熱膨張率が等し
いことが要求される。Fe−Co合金の場合は、Feの
含有率によって、ガラス管とほぼ等しい熱膨張率が得ら
れる。
コハルI・(CO)中の鉄(Fe)の含有率、縦軸は熱
膨張率である。Fe−Co合金のリード片3 (2)を
直接ガラス管1に封着するため該リート片3 (2)が
従来の52アロイなど同様に、ガラス管1に封着した場
合にガラス管にタラツクが発生したりしないように、ソ
ー1=’片3 (2)とガラス管1との熱膨張率が等し
いことが要求される。Fe−Co合金の場合は、Feの
含有率によって、ガラス管とほぼ等しい熱膨張率が得ら
れる。
即ちガラス管の熱膨張率は117.5土2.5x l
o−′!/’C程度であるが、本発明で用いられるFe
−Co合金は、Feの含有率が8.5〜20%の領域で
は、ガラスと同程度の熱膨張率となっている。
o−′!/’C程度であるが、本発明で用いられるFe
−Co合金は、Feの含有率が8.5〜20%の領域で
は、ガラスと同程度の熱膨張率となっている。
第7図はFe−Co合金の電気抵抗率を示す図で、横軸
はコバル) (Co)中の鉄(Fe)の含有率、縦軸は
電気抵抗率である。ガラスとの熱膨張率が等しい8.5
〜20%Feの領域では、電気抵抗率は12〜14μΩ
cm程度で、従来最も多く使用されているり−l−片ヰ
A料である52アロイの電気抵抗率の35μΩcmより
はるかに優れている。このようにFe−Co合金は電気
抵抗率も低いため、通電した際の温度上昇が小さく、5
2アUイより優れていることが確認された。
はコバル) (Co)中の鉄(Fe)の含有率、縦軸は
電気抵抗率である。ガラスとの熱膨張率が等しい8.5
〜20%Feの領域では、電気抵抗率は12〜14μΩ
cm程度で、従来最も多く使用されているり−l−片ヰ
A料である52アロイの電気抵抗率の35μΩcmより
はるかに優れている。このようにFe−Co合金は電気
抵抗率も低いため、通電した際の温度上昇が小さく、5
2アUイより優れていることが確認された。
第8図は12%Fe−88%Co合金と52アロイとの
、電流値に対する抵抗変化率を示す図で、12%Fe−
88%Co合金の方が52アロイより優れている。第9
図は12%Fe−88%Co合金の磁気特性を示すヒス
テリシスカーブである。
、電流値に対する抵抗変化率を示す図で、12%Fe−
88%Co合金の方が52アロイより優れている。第9
図は12%Fe−88%Co合金の磁気特性を示すヒス
テリシスカーブである。
以上の各特性をまとめると表・1の通りである。
表弓
第2図はFe−Co合金のり一1片に直接接点材料を備
えているが、第3図のようにFe−C0合金ノリード片
と金やロジウムなどの接点材料6との間に、リーl゛片
に銅(Cu)メッキを行なうなどの方法で、銅層7を介
在させると、接点材料が節減される。銅層・ツキは接点
部分だけ、ある(、sは図のようにり−13片の全面に
行なってもよし1゜(g)発明の効果 以上の各特性図からも明らかなよ−)に、Fe(10〜
18%)−Co(残)合金はガラス管との封着性、電気
的特性および磁気特性などのいずれも極めて優れており
、リード片としての特性は、5270イよりも有望であ
る。本発明はこのようなFe(10〜18%)−Co(
残)合金に金などの接点材料をメッキなどの手段で設!
、l、両者を拡l’lさ−Uて接点材料の表面にCoを
3〜10%原子量析出させた構成になっている。そのた
め、5270イなどと違って、接触抵抗を悪化させるF
eの析出量が少なく酸化に対し安定なCOが析出してい
るので、接触抵抗は極めて低く且つ長寿命となる。また
接点表面までコバル1−が析出しているので接点の粘着
性も改善され、リード片と接点材料とが拡散されるので
、接点材料とリード片との密着性も極めて優れている。
えているが、第3図のようにFe−C0合金ノリード片
と金やロジウムなどの接点材料6との間に、リーl゛片
に銅(Cu)メッキを行なうなどの方法で、銅層7を介
在させると、接点材料が節減される。銅層・ツキは接点
部分だけ、ある(、sは図のようにり−13片の全面に
行なってもよし1゜(g)発明の効果 以上の各特性図からも明らかなよ−)に、Fe(10〜
18%)−Co(残)合金はガラス管との封着性、電気
的特性および磁気特性などのいずれも極めて優れており
、リード片としての特性は、5270イよりも有望であ
る。本発明はこのようなFe(10〜18%)−Co(
残)合金に金などの接点材料をメッキなどの手段で設!
、l、両者を拡l’lさ−Uて接点材料の表面にCoを
3〜10%原子量析出させた構成になっている。そのた
め、5270イなどと違って、接触抵抗を悪化させるF
eの析出量が少なく酸化に対し安定なCOが析出してい
るので、接触抵抗は極めて低く且つ長寿命となる。また
接点表面までコバル1−が析出しているので接点の粘着
性も改善され、リード片と接点材料とが拡散されるので
、接点材料とリード片との密着性も極めて優れている。
第1図ば通常のリート′スイッチの全体構成と接点部を
示す断面図、第2図は本発明によるリードスイッチの第
1実施例を示す断面図、第3図は第2実施例を示す断面
図、第4図以下は本発明によるリードスイッチの緒特性
を示すもので、第4図は粘着特性と接触抵抗特性を示す
図、第5図はアニール温度・時間とCO析出量の関係を
示ず図−1第6図はF e含有量と熱膨張率との関係を
示す図、第7図はF e含有率と電気抵抗率との関係を
示す図、第8図は12Fe、Co合金の抵抗変化率を示
す図、第9図は12 F e −、Co合金のヒステリ
シスカーブを示す図である。 図において、1はガラス管、2.3はリード片、4ば励
磁二1イル、5は接点ギャップ、6は全接点、7は銅屑
をそれぞれ示す。 特許出願人 冨士通株式会社代理人 弁理士
青 柳 稔第1図 第2図
示す断面図、第2図は本発明によるリードスイッチの第
1実施例を示す断面図、第3図は第2実施例を示す断面
図、第4図以下は本発明によるリードスイッチの緒特性
を示すもので、第4図は粘着特性と接触抵抗特性を示す
図、第5図はアニール温度・時間とCO析出量の関係を
示ず図−1第6図はF e含有量と熱膨張率との関係を
示す図、第7図はF e含有率と電気抵抗率との関係を
示す図、第8図は12Fe、Co合金の抵抗変化率を示
す図、第9図は12 F e −、Co合金のヒステリ
シスカーブを示す図である。 図において、1はガラス管、2.3はリード片、4ば励
磁二1イル、5は接点ギャップ、6は全接点、7は銅屑
をそれぞれ示す。 特許出願人 冨士通株式会社代理人 弁理士
青 柳 稔第1図 第2図
Claims (1)
- Fe(10〜18%)−Co(残)合金の強磁性材料か
らなるリード片と該リード片に設けた接点材料を拡散さ
せて、接点材料の表面にCoを3〜10%原子量析出さ
せたリード片を、不活性ガス中で封入容器に封入してな
るリードスイッチ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17889982A JPS5968116A (ja) | 1982-10-12 | 1982-10-12 | リ−ドスイツチ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17889982A JPS5968116A (ja) | 1982-10-12 | 1982-10-12 | リ−ドスイツチ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5968116A true JPS5968116A (ja) | 1984-04-18 |
JPS6355732B2 JPS6355732B2 (ja) | 1988-11-04 |
Family
ID=16056629
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17889982A Granted JPS5968116A (ja) | 1982-10-12 | 1982-10-12 | リ−ドスイツチ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5968116A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62200214U (ja) * | 1986-06-10 | 1987-12-19 |
-
1982
- 1982-10-12 JP JP17889982A patent/JPS5968116A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62200214U (ja) * | 1986-06-10 | 1987-12-19 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6355732B2 (ja) | 1988-11-04 |
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