JPS596664A - 画像読取り装置 - Google Patents
画像読取り装置Info
- Publication number
- JPS596664A JPS596664A JP11492282A JP11492282A JPS596664A JP S596664 A JPS596664 A JP S596664A JP 11492282 A JP11492282 A JP 11492282A JP 11492282 A JP11492282 A JP 11492282A JP S596664 A JPS596664 A JP S596664A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mos
- switches
- fet
- output
- switch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/04—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa
- H04N1/19—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays
- H04N1/191—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays the array comprising a one-dimensional array, or a combination of one-dimensional arrays, or a substantially one-dimensional array, e.g. an array of staggered elements
- H04N1/192—Simultaneously or substantially simultaneously scanning picture elements on one main scanning line
- H04N1/193—Simultaneously or substantially simultaneously scanning picture elements on one main scanning line using electrically scanned linear arrays, e.g. linear CCD arrays
- H04N1/1931—Simultaneously or substantially simultaneously scanning picture elements on one main scanning line using electrically scanned linear arrays, e.g. linear CCD arrays with scanning elements electrically interconnected in groups
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、ファクシミリ尋に用いられる画像読取υ装
置に関する。
置に関する。
この種の画像読取p装置として、r IE’Trans
action on El@ctron Device
s Vol. ED −1 8 、A1 1 Nov
、1971 J等で提案されたような、フォトダイ
オードやフォトトランジスタ等の接合型フォトセンサと
MOS −FETスイッチを用いたものが知られている
。
action on El@ctron Device
s Vol. ED −1 8 、A1 1 Nov
、1971 J等で提案されたような、フォトダイ
オードやフォトトランジスタ等の接合型フォトセンサと
MOS −FETスイッチを用いたものが知られている
。
第1図は従来のこの種の画像読取シ装置の構成を示した
もので、−列に配列された複数のフォトダイオード11
〜1nの各一端はバイアス電#I2に接続され、各他端
はMOS −FETスイッチ31〜3nに個別に接続さ
れている。MOS −FETスイッチ31〜3nはシフ
トレジスタ4の出力がダート制御信号として与えられる
ことによシ、順次駆動される。
もので、−列に配列された複数のフォトダイオード11
〜1nの各一端はバイアス電#I2に接続され、各他端
はMOS −FETスイッチ31〜3nに個別に接続さ
れている。MOS −FETスイッチ31〜3nはシフ
トレジスタ4の出力がダート制御信号として与えられる
ことによシ、順次駆動される。
フォトダイオード11〜1nは対応するMOS −FE
Tスイッチ31〜3nがオンになると、その接合谷jk
Cs〜Cnが電源2の電圧Eまで充電される。このと
き接合容量C!〜Cnの入射光量に応じた蓄積電荷の放
電分を補償するような電流がMOS −FETスイッチ
31〜3nを通じて流れるので、この電流変化を演算増
幅器OAと抵抗Rによる電流−電圧変換回路5によって
電圧信号に変換することで、出力端子6にフォトダイオ
ード11〜1nの入射光量に応じた信号出力、即ち原稿
面上の情報に対応した画像読取υ出力が得られる。
Tスイッチ31〜3nがオンになると、その接合谷jk
Cs〜Cnが電源2の電圧Eまで充電される。このと
き接合容量C!〜Cnの入射光量に応じた蓄積電荷の放
電分を補償するような電流がMOS −FETスイッチ
31〜3nを通じて流れるので、この電流変化を演算増
幅器OAと抵抗Rによる電流−電圧変換回路5によって
電圧信号に変換することで、出力端子6にフォトダイオ
ード11〜1nの入射光量に応じた信号出力、即ち原稿
面上の情報に対応した画像読取υ出力が得られる。
第2図はMOS −FETスイッチの1つ(この例では
31 )がオンのときの等価回路を示している。スイッ
チ31はダート制御信号V。のレベル変化によってオン
となるが、この際抵抗Hにはフォトダイオード11の接
合容44 Clの充電電流のほかに、スイッチ31のダ
ートからソース・ダート問答i C8,およびドレイン
・ダート問答tcD、を通して雑音電流が流れる。つま
シMO8−FETスイッチのスイッチングノイズが出力
に現れる。この場合、スイッチングノイズに相当する電
荷量は、■oのレベル変化をΔv0とすればΔV、 (
C,、十CD、 )で秋わされる。この電荷量が、C1
の端子電圧vc1が電源電圧Eになるまでの電荷変化量
CI (■c1−E)に対し無視できる程度であれば問
題ないが、一般には無視できず、読取多出力のSAを劣
化させる要因となる。また最悪の場合は、このスイッチ
ングノイズによp読取pが不能となるおそれもある。
31 )がオンのときの等価回路を示している。スイッ
チ31はダート制御信号V。のレベル変化によってオン
となるが、この際抵抗Hにはフォトダイオード11の接
合容44 Clの充電電流のほかに、スイッチ31のダ
ートからソース・ダート問答i C8,およびドレイン
・ダート問答tcD、を通して雑音電流が流れる。つま
シMO8−FETスイッチのスイッチングノイズが出力
に現れる。この場合、スイッチングノイズに相当する電
荷量は、■oのレベル変化をΔv0とすればΔV、 (
C,、十CD、 )で秋わされる。この電荷量が、C1
の端子電圧vc1が電源電圧Eになるまでの電荷変化量
CI (■c1−E)に対し無視できる程度であれば問
題ないが、一般には無視できず、読取多出力のSAを劣
化させる要因となる。また最悪の場合は、このスイッチ
ングノイズによp読取pが不能となるおそれもある。
この発明の目的は、MOS −FETスイッチのスイッ
チングノイズの影Vを軽減してS/Nの良い読取多出力
が得られるようにした画像読取シ装置を提供することで
ある。
チングノイズの影Vを軽減してS/Nの良い読取多出力
が得られるようにした画像読取シ装置を提供することで
ある。
この発明はMOS −FETスイッチを2つのグループ
に分割して、各グループのMOS −FETスイッチを
1個ずつ同時に駆動するようにするとともに、各グルー
プのMOS−FETスイッチの出力側にそれぞれ電流−
電圧変換回路を共通接続し、これらの電流−電圧変換回
路の出力の差を検出して画像読取り出力を得るようにし
たものである。
に分割して、各グループのMOS −FETスイッチを
1個ずつ同時に駆動するようにするとともに、各グルー
プのMOS−FETスイッチの出力側にそれぞれ電流−
電圧変換回路を共通接続し、これらの電流−電圧変換回
路の出力の差を検出して画像読取り出力を得るようにし
たものである。
この発明によれは、2つのMOS −FETスイッチが
同時に駆動されてその各出力電流が電流−電圧変換され
た後その差がとられるときに、フォトセンサの入射光量
に応じた電荷量変化に対応する信号成分は検出されるが
、MOS −FETスイッチのスイッ、チノイズは相殺
され、読取シ出力中にはほとんど現れなくなる。従って
非常にS/Nの良い読取多出力を得ることができる。
同時に駆動されてその各出力電流が電流−電圧変換され
た後その差がとられるときに、フォトセンサの入射光量
に応じた電荷量変化に対応する信号成分は検出されるが
、MOS −FETスイッチのスイッ、チノイズは相殺
され、読取シ出力中にはほとんど現れなくなる。従って
非常にS/Nの良い読取多出力を得ることができる。
第3図はこの発明の一実施例を示すもので、第1図と相
対応する部分に同一符号が付されている。この実施例で
は、MOS −FETスイッチ31〜3nは奇数番目の
フォトダイオード11 。
対応する部分に同一符号が付されている。この実施例で
は、MOS −FETスイッチ31〜3nは奇数番目の
フォトダイオード11 。
18.・・・1n−1に対応する31s J 3 *
・・・3n−1のグループ(第1グループ)と、偶数番
目のフォトダイオード12*14H・・・1nに対応す
る3□ 、34、−3nのグループ(第2ダル−f)と
に分割されている。そして第1グループのMOS −F
ETスイッチ31.3.1−3n−1の出力側]は第1
の′直流−′邂圧変換回路5aの入力端に共通接続され
、第2グループのMOS −PETスイッチ3□ 、3
4 、・・・3nの出力側は第2の電流−電圧変換回路
5bの入力端に共通接続されている。これら第1.第2
の電流−電圧変換回路58.5bの出力は差動増幅器7
に入力され、両者の差信号が画像Q″C取り出力として
出力端子6に等かれるようになっている。
・・・3n−1のグループ(第1グループ)と、偶数番
目のフォトダイオード12*14H・・・1nに対応す
る3□ 、34、−3nのグループ(第2ダル−f)と
に分割されている。そして第1グループのMOS −F
ETスイッチ31.3.1−3n−1の出力側]は第1
の′直流−′邂圧変換回路5aの入力端に共通接続され
、第2グループのMOS −PETスイッチ3□ 、3
4 、・・・3nの出力側は第2の電流−電圧変換回路
5bの入力端に共通接続されている。これら第1.第2
の電流−電圧変換回路58.5bの出力は差動増幅器7
に入力され、両者の差信号が画像Q″C取り出力として
出力端子6に等かれるようになっている。
原稿面上の画像を読取るべく、原稿面からのフォトダイ
オード11〜1nへの入射光量に対応した接合容量C1
〜Cnの蓄a電荷変化量を検出するに際しては、シフト
レジスタ4の出力によって第1グループのMOS −F
ETスイッチと第2グループのMOS −FETスイッ
チとを1個ずつ同時に駆動する。このためには例えばシ
フトレジスタ4のクロック入力端子CKにクロックが2
個人る間、データ入力端子りを“1″レベルに保ち、以
後クロックによシフトレジスタ4をシフト動作させるこ
とによって、最初はQCsQ2出力がパ1″、次のタイ
ミングではQ21Q3出力が1#、次のタイミングでは
Qs rQ4出力が1″、・・・となるようにし、最
後にQnl ’ Qn 出力がパ1#となるようにす
ればよい。
オード11〜1nへの入射光量に対応した接合容量C1
〜Cnの蓄a電荷変化量を検出するに際しては、シフト
レジスタ4の出力によって第1グループのMOS −F
ETスイッチと第2グループのMOS −FETスイッ
チとを1個ずつ同時に駆動する。このためには例えばシ
フトレジスタ4のクロック入力端子CKにクロックが2
個人る間、データ入力端子りを“1″レベルに保ち、以
後クロックによシフトレジスタ4をシフト動作させるこ
とによって、最初はQCsQ2出力がパ1″、次のタイ
ミングではQ21Q3出力が1#、次のタイミングでは
Qs rQ4出力が1″、・・・となるようにし、最
後にQnl ’ Qn 出力がパ1#となるようにす
ればよい。
今、C2の電荷変化量を検出するときは、Q11Q2=
−1’としてMOS −F’ET S 1.3゜をオン
状態とする。ここでC1の電荷はその直前にMOS −
FETスイッチ3t k通して続出されていたとすれば
、C2の電荷変化量を検出するときには、CIには入射
光量による電荷の変化はほとんど生じていないと考えて
よい。これは例えばフォトダイオードの数nが2000
個とし、その接合容量C,−Cnの電荷を11次読出し
ていくとすれば、C2の電荷変化量を検出するタイミン
グでのC1の電荷変化量は総置化量の約1/2000と
考えられるからである。従って、このときのMOS −
FETスイッチ31のオンによるC1の電荷の読出しは
実質的に゛空胱出し”ということができ、C8の電荷の
みがMOS −FETスイッチ32を通して読出される
ことになる。
−1’としてMOS −F’ET S 1.3゜をオン
状態とする。ここでC1の電荷はその直前にMOS −
FETスイッチ3t k通して続出されていたとすれば
、C2の電荷変化量を検出するときには、CIには入射
光量による電荷の変化はほとんど生じていないと考えて
よい。これは例えばフォトダイオードの数nが2000
個とし、その接合容量C,−Cnの電荷を11次読出し
ていくとすれば、C2の電荷変化量を検出するタイミン
グでのC1の電荷変化量は総置化量の約1/2000と
考えられるからである。従って、このときのMOS −
FETスイッチ31のオンによるC1の電荷の読出しは
実質的に゛空胱出し”ということができ、C8の電荷の
みがMOS −FETスイッチ32を通して読出される
ことになる。
ところで、C2の電荷を読出すときには、MOS−FE
Tスイッチ31 .32の両ダートにシフトレジスタ4
から信号が与えられるので、両ダートから第2図で説明
したC8G ” DGを通った電荷がt流−電圧変換回
路5a * 5bの抵抗R,,R,に雑音電流として、
C2の電荷変化量に対応する信号電流と重畳して流れ込
む。しかしながら、MOS −FET 3 l〜3nの
構造が等しいとすれば、31のケ゛−トよシの雑音電流
と32のダートよシの雑音電流とは等しいと考えること
ができるので、差動増幅器7で電流−電圧変換回路5a
、5bの出力の差をとれば、上記雑音電流の影響、す
なわちMOS −FETスイッチのスイッチングノイズ
は相殺され、結局C2の電荷変化量による信号成分のみ
を画像読取り粘 出力として転出すZことが可能となる。
Tスイッチ31 .32の両ダートにシフトレジスタ4
から信号が与えられるので、両ダートから第2図で説明
したC8G ” DGを通った電荷がt流−電圧変換回
路5a * 5bの抵抗R,,R,に雑音電流として、
C2の電荷変化量に対応する信号電流と重畳して流れ込
む。しかしながら、MOS −FET 3 l〜3nの
構造が等しいとすれば、31のケ゛−トよシの雑音電流
と32のダートよシの雑音電流とは等しいと考えること
ができるので、差動増幅器7で電流−電圧変換回路5a
、5bの出力の差をとれば、上記雑音電流の影響、す
なわちMOS −FETスイッチのスイッチングノイズ
は相殺され、結局C2の電荷変化量による信号成分のみ
を画像読取り粘 出力として転出すZことが可能となる。
従って以下同様にMOS −FETスイッチヲ32と3
gm33と34.・・・3n−1と3n、3nと31
、・・・の組合せで順次駆動することによシ、スイッチ
ングノイズのないSハの良好な画像読取り出力を連続的
に得ることができる。
gm33と34.・・・3n−1と3n、3nと31
、・・・の組合せで順次駆動することによシ、スイッチ
ングノイズのないSハの良好な画像読取り出力を連続的
に得ることができる。
なお、上記実施例において点線で囲んだMOS−FET
スイッチ31〜3nおよびシフトレジスタ40部分は同
一集積回路内に構成することができる。
スイッチ31〜3nおよびシフトレジスタ40部分は同
一集積回路内に構成することができる。
第4図はこの発明の他の実施例を示すもので、MOS
−FETスイッチ31〜3nのグループ分割の方式が第
3図の実施例と異なっている。即ち、MOS −FET
スイッチ31〜3nはフォトダイオード11〜1nの配
列方向に対応して31〜3n/2のグループと3n/2
+1〜3nのグループとに分割されている。そして、こ
の場合は例えば31と3n/2+1+ 3gと3n/2
+ 2 + ”’ J n/2と3nがそれぞれ同時
に駆動されるように、シフトレジスタ4a、4bK7J
−夕信号が与えられる。
−FETスイッチ31〜3nのグループ分割の方式が第
3図の実施例と異なっている。即ち、MOS −FET
スイッチ31〜3nはフォトダイオード11〜1nの配
列方向に対応して31〜3n/2のグループと3n/2
+1〜3nのグループとに分割されている。そして、こ
の場合は例えば31と3n/2+1+ 3gと3n/2
+ 2 + ”’ J n/2と3nがそれぞれ同時
に駆動されるように、シフトレジスタ4a、4bK7J
−夕信号が与えられる。
この実施例によれば、第1図の点線内に示したようなシ
フトレジスタと出力側が共通接続されたMOS −FE
Tスイッチとの組からなる既存の集積回路を用いること
ができる。この場合、MOS −FETスイッチの各グ
ループとそれに対応するシフトレジスタとの組は、それ
ぞれ数個のMOS −FETスイッチおよびこれと同数
段のシフトレジスタを含んだ集積回路を複数個組合せて
構成してもよい。
フトレジスタと出力側が共通接続されたMOS −FE
Tスイッチとの組からなる既存の集積回路を用いること
ができる。この場合、MOS −FETスイッチの各グ
ループとそれに対応するシフトレジスタとの組は、それ
ぞれ数個のMOS −FETスイッチおよびこれと同数
段のシフトレジスタを含んだ集積回路を複数個組合せて
構成してもよい。
第1図は従来の画像読取シ装置の回路図、第2図はその
問題点を説明するための等価回路図、第3図および第4
図はこの発明の実施例を示す図である。 11〜1n・・・フォトダイオード(接合型フォトセン
サ)、2・・・バイアス電源、31〜3n・・・MOS
−FETスイッチ、4・・・シフトレジスタ(スイッチ
駆動手段)、5.5a、5b・・・電流−電圧変換回路
、6・・・出力端子、7・・・差動増幅器。
問題点を説明するための等価回路図、第3図および第4
図はこの発明の実施例を示す図である。 11〜1n・・・フォトダイオード(接合型フォトセン
サ)、2・・・バイアス電源、31〜3n・・・MOS
−FETスイッチ、4・・・シフトレジスタ(スイッチ
駆動手段)、5.5a、5b・・・電流−電圧変換回路
、6・・・出力端子、7・・・差動増幅器。
Claims (4)
- (1)配列された枚数の接合型フォトセンサの入射光量
に応じた電荷変化量をこれらのフォトセンナに個別に接
続されたMOS −FETスイッチを介して電流−電圧
変換回路によシ検出することによって画像を読取る装置
において、2つのグループに分割されたMOS −FE
Tスイッチと、これら各グループのMOS −FETス
イッチをエイ園ずつ同時に駆動するスイッチ駆動手段と
、前記各グループのMOS −FETスイッチの出力側
にそれぞれ共通接続された2つの電流−電圧変換回路と
、これらの電流−電圧変換回路の出力の差を検出して画
像読取り出力を得る手段とを備えたことを特徴とする画
像読取υ装置。 - (2) MOS −FETスイッチは奇数番目のフォ
トセンサに対応するグループと偶数番目の7オトセンサ
に対応するグループとに分割され、スイッチ駆動手段は
隣接する2つのフォトセンサに接続されたMOS −F
ETスイッチを同時に駆動するように構成されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の画像読取シ
装置。 - (3) スイッチ駆動手段はMOS −FETスイッチ
と同一集積回路内に構成されていることを特徴とする特
許請求の範囲第1項または第2項記載の画像読取シ装置
。 - (4) スイッチ駆動手段はシフトレノスタである特
許請求の範囲第1項〜第3項のいずれかに記載の画像読
取り装置◎
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11492282A JPS596664A (ja) | 1982-07-02 | 1982-07-02 | 画像読取り装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11492282A JPS596664A (ja) | 1982-07-02 | 1982-07-02 | 画像読取り装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS596664A true JPS596664A (ja) | 1984-01-13 |
Family
ID=14649981
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11492282A Pending JPS596664A (ja) | 1982-07-02 | 1982-07-02 | 画像読取り装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS596664A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61148956A (ja) * | 1984-12-22 | 1986-07-07 | Seiko Epson Corp | 光電変換装置 |
JPS6251868A (ja) * | 1985-08-31 | 1987-03-06 | Kyocera Corp | 読取り方式 |
EP0234909A2 (en) * | 1986-02-26 | 1987-09-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Image sensor |
US5260813A (en) * | 1990-03-08 | 1993-11-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image reading apparatus in which a series of semiconductor chips are electrically connected to each other |
-
1982
- 1982-07-02 JP JP11492282A patent/JPS596664A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61148956A (ja) * | 1984-12-22 | 1986-07-07 | Seiko Epson Corp | 光電変換装置 |
JPS6251868A (ja) * | 1985-08-31 | 1987-03-06 | Kyocera Corp | 読取り方式 |
EP0234909A2 (en) * | 1986-02-26 | 1987-09-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Image sensor |
US5260813A (en) * | 1990-03-08 | 1993-11-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Image reading apparatus in which a series of semiconductor chips are electrically connected to each other |
US5280304A (en) * | 1990-03-08 | 1994-01-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Thermal print head in which a series of semiconductor chips are electrically connected to each other |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN100362854C (zh) | 固体摄像装置、其驱动方法及使用它的照相机 | |
US6570615B1 (en) | Pixel readout scheme for image sensors | |
JPH11103418A (ja) | 光電変換装置 | |
US4413283A (en) | Solid-state imaging device | |
JPH0340997B2 (ja) | ||
US5719626A (en) | Solid-state image pickup device | |
JPS596664A (ja) | 画像読取り装置 | |
US6657664B2 (en) | Solid-state image pickup device | |
JPS63155962A (ja) | Ccd撮像装置及びそれを備えたカメラ | |
US4272831A (en) | Two-dimensional analog memory | |
US7710480B2 (en) | Scanning circuit of image sensor | |
US7872674B2 (en) | Solid-state imaging device and method of operating solid-state imaging device | |
JPH0748785B2 (ja) | 信号読み出し方法 | |
US6784932B1 (en) | Hierarchical pixel readout multiplexer with switched capacitors for cancelling buffer offsets | |
EP0233020B1 (en) | Switch array apparatus for use in a photoelectric conversion device | |
US7379108B2 (en) | Image sensor, driving method and camera | |
JPH0442870B2 (ja) | ||
JP4209367B2 (ja) | 固体撮像装置、電荷転送装置、及び電荷転送装置の駆動方法 | |
JP3000614B2 (ja) | Ccd撮像素子 | |
JPH0520891A (ja) | Ccd撮像素子 | |
JP2907268B2 (ja) | 信号処理装置と固体撮像装置とこの装置の撮像方法 | |
JPH05227363A (ja) | イメージセンサ及びその読み取り方法及び画像読取装置 | |
JPS626574A (ja) | 画像読取り装置 | |
JPH10224697A (ja) | 固体撮像装置、および固体撮像装置の駆動方法 | |
JPH036966A (ja) | Ccdイメージセンサ |