JPS5966086A - 電気装置 - Google Patents
電気装置Info
- Publication number
- JPS5966086A JPS5966086A JP17688482A JP17688482A JPS5966086A JP S5966086 A JPS5966086 A JP S5966086A JP 17688482 A JP17688482 A JP 17688482A JP 17688482 A JP17688482 A JP 17688482A JP S5966086 A JPS5966086 A JP S5966086A
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- Japan
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- current
- electrode
- point metal
- melting point
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は過電圧制限要素に過大な電流が流れたとき、
その温度上昇による周辺への悪影響を防止するようにし
た電気装置に関する。
その温度上昇による周辺への悪影響を防止するようにし
た電気装置に関する。
−・般に、サイリスタを使用した高電圧の電力変換装置
においでは、通常の動作電圧を考慮して素子の直列個数
が決定される。そして、散発的に印加される雷インパル
スや、開閉サージ等はアレスタで所定の電圧に制限して
いる。
においでは、通常の動作電圧を考慮して素子の直列個数
が決定される。そして、散発的に印加される雷インパル
スや、開閉サージ等はアレスタで所定の電圧に制限して
いる。
従来のものは第１図に示すように、各サイリスク素子（
Ｔｌ） （’Ｉ’２） （Ｔｏ） ニア１ｉ ７．夕（
Ａｔ） （Ａ２） （Ａ８）及びスナバ回路（ＳＪ）
（Ｓ２） （Ｓｓ）が並列に接続されている。この場合
、各サイリスタ素子（ＴＩ） （Ｔ２）（Ｔａ）には外
部から雷インパルス等の過電圧が印加された場合も、並
列に接続されたアレスター（Ａ１）（Ａ２ ） （Ａａ
）及びスナバ回路（Ｓｌ） （５２） （Ｓｓ）によ
り、制限された電圧ｖＭシか印加しないため、各サイリ
スク素子（ＴＩ） （Ｔ２） （Ｔａ）は保護される。
Ｔｌ） （’Ｉ’２） （Ｔｏ） ニア１ｉ ７．夕（
Ａｔ） （Ａ２） （Ａ８）及びスナバ回路（ＳＪ）
（Ｓ２） （Ｓｓ）が並列に接続されている。この場合
、各サイリスタ素子（ＴＩ） （Ｔ２）（Ｔａ）には外
部から雷インパルス等の過電圧が印加された場合も、並
列に接続されたアレスター（Ａ１）（Ａ２ ） （Ａａ
）及びスナバ回路（Ｓｌ） （５２） （Ｓｓ）によ
り、制限された電圧ｖＭシか印加しないため、各サイリ
スク素子（ＴＩ） （Ｔ２） （Ｔａ）は保護される。
しかし、各サイリスタ（Ｔｔ ） （′Ｉ’２ ） （
Ｔａ ）に導通指令が出たとき、点弧回路の故障によっ
て、サイリスタ素子（ＴＩ）のみが導通しなかったとす
ると、サイリスタ素子（ＴＩ）を残して他のサイリスク
が導通し、サイリスク素子（Ｔｘ）と並列に接続された
アレスター（Ａ１）には外部回路条件で決る負荷電流が
強制的に流れ、その端子電圧はアレスター（Ａ１）の電
圧−電流特性によって決る値となる。
Ｔａ ）に導通指令が出たとき、点弧回路の故障によっ
て、サイリスタ素子（ＴＩ）のみが導通しなかったとす
ると、サイリスタ素子（ＴＩ）を残して他のサイリスク
が導通し、サイリスク素子（Ｔｘ）と並列に接続された
アレスター（Ａ１）には外部回路条件で決る負荷電流が
強制的に流れ、その端子電圧はアレスター（Ａ１）の電
圧−電流特性によって決る値となる。
通常、アレスタは負荷電流のような過大な電流を長時間
流す能力をもっていないので、過熱して周辺に熱的な悪
影響を及ぼすことになる。さらに、過熱して機械的な破
壊を起こすと、飛散した破片で周辺を損傷することがあ
るので、第２図に示すように、アレスタに過大な電流が
流れたら、アレスタの両端を電気的に接続するように構
成されたものが提案されているう すなわち、第２図では、酸化亜鉛形アレスタなどの過電
圧制限要素（２）に半田などの低融点金属（６）を当接
させ、一対の電極（４） （５）間に過電圧制限要素（
２）と低融点金属（６）とを電気的に直列接続し、ばね
（８）で一方の電極（５）に押圧し、他方の電極（４）
とはシャント（９）で接続し、溶融した低融点金属（６
）で両通電部（４ａ） （５ａ）が電気的に接続される
ように、対向した両通電部（４ａ）（ｓａ）が低融点金
属（６）の下部に配置しである。
流す能力をもっていないので、過熱して周辺に熱的な悪
影響を及ぼすことになる。さらに、過熱して機械的な破
壊を起こすと、飛散した破片で周辺を損傷することがあ
るので、第２図に示すように、アレスタに過大な電流が
流れたら、アレスタの両端を電気的に接続するように構
成されたものが提案されているう すなわち、第２図では、酸化亜鉛形アレスタなどの過電
圧制限要素（２）に半田などの低融点金属（６）を当接
させ、一対の電極（４） （５）間に過電圧制限要素（
２）と低融点金属（６）とを電気的に直列接続し、ばね
（８）で一方の電極（５）に押圧し、他方の電極（４）
とはシャント（９）で接続し、溶融した低融点金属（６
）で両通電部（４ａ） （５ａ）が電気的に接続される
ように、対向した両通電部（４ａ）（ｓａ）が低融点金
属（６）の下部に配置しである。
上記構成において、過電圧制限要素（２）に過大な電流
が流れる場合、電極（５）→過電圧制限要素（２）→低
静０点金属（６）−・シャント（９）→電極（４）の回
路を通る。
が流れる場合、電極（５）→過電圧制限要素（２）→低
静０点金属（６）−・シャント（９）→電極（４）の回
路を通る。
これによって過電圧制限要素（２）の温度が上昇するの
で、低融点金属（６）が溶融して両通電部（４ａ）（５
ａ）間に落下し、両電極（４） （５）間が電気的に接
続される。
で、低融点金属（６）が溶融して両通電部（４ａ）（５
ａ）間に落下し、両電極（４） （５）間が電気的に接
続される。
したがって、過電圧制限要素（２）に流れていた電流は
、両通電部（４ａ） （５ａ）間に落下した低融点金属
（６）を経由して流れるので、過電圧制限要素（２）の
過熱が抑制できる。
、両通電部（４ａ） （５ａ）間に落下した低融点金属
（６）を経由して流れるので、過電圧制限要素（２）の
過熱が抑制できる。
しかし、過電圧制限要素（２）の一部がｐ６気的に破壊
してそこに過大な電流が集中した場合は、その近傍の低
融点金Ｒ（６）は瞬時に溶融して落下するが６電流が集
中した個所によって低融点金属（６）のＭ軸承が異なる
ので、両通電部の接続が不安定であるという欠点があっ
た。
してそこに過大な電流が集中した場合は、その近傍の低
融点金Ｒ（６）は瞬時に溶融して落下するが６電流が集
中した個所によって低融点金属（６）のＭ軸承が異なる
ので、両通電部の接続が不安定であるという欠点があっ
た。
この発明は上記欠点を解消するためになされたもので、
過電圧制限要素などの通電体の下部に低融点金属を配置
し、その低融点金属の下部に複数個の貫通穴を有するプ
レートを配置することによって、多量の低融点金属が溶
融するようにした電気装置を提供するものである。
過電圧制限要素などの通電体の下部に低融点金属を配置
し、その低融点金属の下部に複数個の貫通穴を有するプ
レートを配置することによって、多量の低融点金属が溶
融するようにした電気装置を提供するものである。
以下、図について説明する。第３図において、（１）は
絶縁筒、（２）は絶縁筒（１）内に収納された酸化亜鉛
素子などの過電圧制限要素からなる通電体、（３）は絶
縁筒（１）の一端を閉塞した絶縁板、（４）は絶縁板（
３）を貫通した通電部（４ａ）を有する第１の電極、（
５）は絶縁筒（１）の他端を閉塞し通電体（２）の一端
と当接した第２の電極で、第１の電極（４）の通電部（
４ａ）と所定の距離をあけて対向する通電部（５ａ）を
有する。
絶縁筒、（２）は絶縁筒（１）内に収納された酸化亜鉛
素子などの過電圧制限要素からなる通電体、（３）は絶
縁筒（１）の一端を閉塞した絶縁板、（４）は絶縁板（
３）を貫通した通電部（４ａ）を有する第１の電極、（
５）は絶縁筒（１）の他端を閉塞し通電体（２）の一端
と当接した第２の電極で、第１の電極（４）の通電部（
４ａ）と所定の距離をあけて対向する通電部（５ａ）を
有する。
（６）は通電体（２）の他端に密着した半゛田などの低
融点金属、（７）は低融点金属（６）と密着した導電性
のプレートで、複数個の貫通穴（７ａ）を有する。（８
）はプレート（７）を低融点金属（６）に押圧したばね
、（９）はプ１ノート（７）と第１の電極（４）とを接
続したシャント、θ０は第２の電極（５）に固着された
絶縁部材で、通電体（２）が破壊したときのアークが通
電体（２）の周辺で発生するようにしたものである。
融点金属、（７）は低融点金属（６）と密着した導電性
のプレートで、複数個の貫通穴（７ａ）を有する。（８
）はプレート（７）を低融点金属（６）に押圧したばね
、（９）はプ１ノート（７）と第１の電極（４）とを接
続したシャント、θ０は第２の電極（５）に固着された
絶縁部材で、通電体（２）が破壊したときのアークが通
電体（２）の周辺で発生するようにしたものである。
次に動作を説明する。第８図において、通電体（２）に
過大電流が流れた場合、通電体（２）が過熱するので、
低融点金属（６）が加熱されて溶融する。溶融した低融
点金属（６）はプレー１− （７）の貫通穴（７ａ）お
よび外周部から落下して、両通電部（４ａ） （５ａ）
間を短絡する。
過大電流が流れた場合、通電体（２）が過熱するので、
低融点金属（６）が加熱されて溶融する。溶融した低融
点金属（６）はプレー１− （７）の貫通穴（７ａ）お
よび外周部から落下して、両通電部（４ａ） （５ａ）
間を短絡する。
この発明によると、複数個の貫通穴を有するプレートが
低融点金属と密着しているので、通電体のどの部分に電
流が集中してもその近傍の低融点金属から貫通穴から落
下するため、多量の低融点金属で両電極間を短絡するこ
とができる。
低融点金属と密着しているので、通電体のどの部分に電
流が集中してもその近傍の低融点金属から貫通穴から落
下するため、多量の低融点金属で両電極間を短絡するこ
とができる。
第１図は電力変換装置の構成図、第２図は従来の電気装
置の断面図、第８図はこの発明の一実施例を示す断面図
である。図゛においで、（２）は通電体、（４）は第１
の電極、（５）は第２の電極、（４ａ） （５ａ）は通
電部、（６）は低融点金属、（７）はプレート、（７ａ
）は貫通穴である。 なお各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 葛野信−
置の断面図、第８図はこの発明の一実施例を示す断面図
である。図゛においで、（２）は通電体、（４）は第１
の電極、（５）は第２の電極、（４ａ） （５ａ）は通
電部、（６）は低融点金属、（７）はプレート、（７ａ
）は貫通穴である。 なお各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 葛野信−
Claims (1)
- （リ 通電可能な通電体に所定の値以上の電流が流れた
ときの温度上昇で低融点金属を溶菌させ、溶融した上記
低融点金属で上記通電体の両端を短絡するものにおいて
、上記通電体の下部に密着した一ヒ記低融点金属に複数
個の貫通穴を有する導電性のプレートを密着させ、上記
プレートの下部に第１の電極を配置し、上記通電体の上
部に当接した第２の電極の通電部が上記Ｍ１の電極と所
定のＩｉ’ｌ：ｌｉ Ｊｉｆｆをあけて対向するように
したことを特徴とする電気装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17688482A JPS5966086A (ja) | 1982-10-07 | 1982-10-07 | 電気装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17688482A JPS5966086A (ja) | 1982-10-07 | 1982-10-07 | 電気装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5966086A true JPS5966086A (ja) | 1984-04-14 |
| JPH0219602B2 JPH0219602B2 (ja) | 1990-05-02 |
Family
ID=16021445
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17688482A Granted JPS5966086A (ja) | 1982-10-07 | 1982-10-07 | 電気装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5966086A (ja) |
-
1982
- 1982-10-07 JP JP17688482A patent/JPS5966086A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0219602B2 (ja) | 1990-05-02 |
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