JPS595716A - 酸化亜鉛薄膜の電極構造 - Google Patents

酸化亜鉛薄膜の電極構造

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JPS595716A
JPS595716A JP57114441A JP11444182A JPS595716A JP S595716 A JPS595716 A JP S595716A JP 57114441 A JP57114441 A JP 57114441A JP 11444182 A JP11444182 A JP 11444182A JP S595716 A JPS595716 A JP S595716A
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JP
Japan
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zinc oxide
thin film
electrode
layer
oxide thin
Prior art date
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Pending
Application number
JP57114441A
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English (en)
Inventor
Koji Nishiyama
浩司 西山
Takeshi Nakamura
武 中村
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Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication of JPS595716A publication Critical patent/JPS595716A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/125Driving means, e.g. electrodes, coils
    • H03H9/13Driving means, e.g. electrodes, coils for networks consisting of piezoelectric or electrostrictive materials
    • H03H9/131Driving means, e.g. electrodes, coils for networks consisting of piezoelectric or electrostrictive materials consisting of a multilayered structure

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は安定な特性を承り酸化亜鉛N膜の電極構造に
関する。
酸化亜鉛薄膜は弾性表面波装置、音叉振動子、音片振動
子などの圧電体として使用されている。
この酸化亜鉛薄膜の使用例を音叉振動子にもとづいて説
明する。
第1図は音叉振動子の一例を示づ側面図である。
図において、1は音叉振動子の本体、2.3はこの本体
1の脚部を示し、脚部2.3の側壁2a、3aには酸化
亜鉛薄膜4.5が形成されている。
この酸化亜鉛薄膜4.5は真空蒸着法、スパッタリング
法、イオンブレーティング法などにより形成される。6
.7は酸化亜鉛薄膜4.5の上に形成された0r−Au
系またはTi−Au系からなる電極を示す。
この電極6.7は第2図にその詳細な構造を示すように
、第1層電極8としてOrまたはli、第2層電極9と
してAuからなるものが用いられていた。ここでCr、
 Tiは密着性を向上させるためのものであり、またA
Uはワイヤボンディングや半田付けができるように選ば
れたものである。
図示した:天か、0r−AU系電極としては0r−AL
Iのほか、Cr−Pt−Au5Cr−Pd −Au、C
r−N 1−Au、 Cr−Cu−N i−ハリ、0r
−Cu−AUなどがあり、またTi−AU系電極として
はTi−Auのほか、T i −Cu−Au、”ri−
pt−Au、Ti−Pd−Auなどがある。上記した電
極構成のうち、Tiまたはの範囲に抵抗加熱法、電子ビ
ーム蒸着法などにより形成される。
しかしながら、上記したような酸化亜鉛薄膜の電極構造
では次のような欠点が見られた。つまり、第1層電極の
Ti、Crが高い親和性を示すため、酸化亜鉛薄膜中に
TiまたはOrが拡散するか、酸化亜鉛から酸素を奪い
、酸化亜鉛薄膜の電気的特性、たとえば振動周波数を大
きく変化さけるという現象が認められた。また高温負荷
寿命試験を行うと、さらに上記した現象が促進され、電
気的特性の劣化が一層大きなものとなった。
したがって、酸化亜鉛薄膜を形成づるに当っては、電極
を含めた構成全体について考慮する必要があり、従来の
電極構成にさらに改良を施ざなければならなかった。
この発明はかかる背景からなされたものであり、安定な
特性を示づ酸化亜鉛簿膜の電極構造を提供覆ることを目
的とする。
以下この発明を実施例にもとづいて詳細に説明する。
第3図はこの発明にかかる酸化亜鉛薄膜の電極構造を音
叉振動子に適用した例を承り側面図である。
11は]−リンパなどからなる金属音叉、12は酸化亜
鉛薄膜、13はV2O3層、14は0r−Au系電極ま
たはTi−Auu系電極ある。このうち\1203層1
3は電子ビーム法、スパッタリング法、イオンビーム法
、抵抗加熱蒸着法などによって形成される。
第4図は屈曲振動モードの音片振動子にこの発明にかか
る酸化亜鉛@膜の電極構造を適用した例を示した斜視図
である。
図におい“(,21は振動子本体を示し、振動子22と
これを支持部24で支持している枠体23から構成され
Cいる。25は酸化亜鉛薄膜て振動子22の表面に形成
されている。26は酸化亜鉛IN!25の上に形成され
た\/203層、27ハV2O3!1126(7)上ニ
形成されたC r −A u系電極または1−i −A
u系電極である。
第5図は同じくこの発明を他の屈曲振動モードの振動子
に適用した例の側面図である。
図において、31はセラミクス、プラスチック、ゴムな
どの基板、この基板31表面には、0r−Au系電極ま
たはl’1−ALJ系電極電極322O3層33、酸化
亜鉛薄膜34、V20a1M35、およびCr−Au系
電極またはTi−Au系%4136が順次形成されてい
る。
第6図は同じくこの発明を拡がり振動モードの振動子に
適用した例を示す側面図ぐある。
図において、41は酸化亜鉛薄膜、42は酸化亜鉛薄膜
41の両面に形成されたV203層、43はV2O3層
42の上に形成された0r=AU系電極またはTi−A
u系電極である。
第7図は同じくこの発明を厚み振動モードの振動子に適
用した例を示す側面図である。
図において、51はSi、5i02などからなる基板、
基板51の上にはCr −A LJ系電極またはTi−
Au系電極52、V203層53が順次形成されている
。ざらにV20G層53の上には酸化亜鉛薄g54が形
成されている。この酸化亜鉛薄膜54が形成されている
位置に相当する基板51には空部51aが形成されてい
る。酸化亜鉛薄膜54の上にはV2O3層55、および
Cr−Au系電極またはTi−Au系電極56が順次積
層して形成されている。
次に具体的な実施例として、第3図に示した音叉振動子
についてこの発明にかかる酸化亜鉛薄膜の電極構造を適
用した例を説明する。
第3図を参照して説明1れば、振動子11の上にスパッ
タリング法により酸化亜鉛薄膜12を形成し、その上に
V2O3層13を抵抗加熱法により250△の厚みで形
成し、さらにその上にTiが300A、Auが3000
Aの厚みからなるTi−Au系電極14を電子ビーム法
により形成した。このようにして振動周波数32K H
Zの振動子を作成した。
この振動子に直流電圧20Vを印加し、100℃の温度
に10000時間放置した。このときの振動周波数の経
時変化特性を試料数20個について測定したところ第8
図に示すような結果が得られた。図中実線はこの実施例
によるものである。また破線は従来例のTi−Au系電
極のみからなるものについて、同様にして測定した結果
を示したものである。この撮動周波数の経時変化特性(
ΔF/Fo)は次式より求めた。
(Ro )についてもそれぞれ同様に測定し、その結果
を第9図、第10図にそれぞれ示した。なお、IRにつ
いては測定電圧10Vにで測定した値Cある。
第8図〜第10図から明らかなように、この発明にがか
るbのは、振動周波数、IRについては従来例にくらべ
て経時変化が小さく、Roについては従来例にくらべて
小さな値を示している。
ここでTR,、Roを測定したのは次のような理由によ
る。
まず、酸化亜鉛薄膜についでその等節回路を示せば第1
1図のようになる。図中、C(lは並列容量を示し、酸
化亜鉛薄膜をコンデン1)として考えた場合の静電容量
に近い値である。ROは直列共振抵抗、Coは等価容量
、Loは等価インダクタンスである。またIRは酸化亜
鉛薄膜の絶縁抵抗である。
ここで、酸化亜鉛薄膜のIRは+−r電休と体ての特性
を備える上で高い値を承りことが必要とされることから
、IRの劣化が生じることは不都合なこととされている
。ところが、第9図から明らかなように、この発明の実
施例によれば、従来のものにくらべてIRの低下が小さ
くなっ−CiJ5す、実用上有用な酸化亜鉛薄膜の電極
構造であると云える。
また、この発明の実施例によれば、Roは小さな値を示
している。このRoは第12図に示したインピーダンス
と周波数の関係から、直列共振周波数(、to)に対応
し、このRoが大きくなれば発振に大きな増幅度が必要
となり、発成条件め低下をもたらすことになることが伺
える。したがってRoの値の小さなこの発明のものによ
ればかかる問題がなく、高温負荷の条件においても実用
上十分な特性を示1ものであると理解づることができる
。なお、0r−AU系電極についてこの発明を適用して
も同様の効果が得られることを確認した。
以上この発明によれば、酸化亜鉛薄膜と0r−Au系電
極またはTi−Au系電極との間にOr、Tiの拡散防
1層としてV203層を介−在させたものであり、従来
のものにくらべて実用上十分な特性を示′?1wi化亜
鉛薄膜を提供することができる。
特にこの発明によれば、高温負荷寿命試験に対して振動
周波数、I Rの変化が小さく、またRoの値の増大も
ないなど信頼性の高い酸化並鉛薄膜が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は音叉振動子の一例を示づ側面図、第2図は第1
図における電極部分の部分拡大図、第3図は音叉振動子
にこの発明にかかる酸化亜鉛薄膜の電極構造を適用した
例を示す側面図、第4図は音片振動子にこの発明にかか
る酸化亜鉛薄膜の電極構造を適用した例の斜視図、第5
図〜第7図は同じくこの発明にかかる酸化亜鉛薄膜の電
極構造を各振動子に適用した例の側面図、第8図はこの
発明の具体的実施例にもとづく振ll]周波数の経時変
化特性図、第9図は同じ<IRの経時変化特性図、第1
0図は同じ<Roの経時変化特性図、第11図は酸化亜
鉛薄膜の等両回略図、第12図はインピーダンスと周波
数の関係特性図である。 11・・・・・・基板、12・・・・・・酸化亜鉛薄膜
、13・・・・・・v203層、14−・−=−Cr 
−A u光電極またL;L−ri−AU系電極。 特  許  出  願  人 株式会社村田製作所 @/m     %2図 第 5 図 第1= 図 第7図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 酸化亜鉛薄膜表面とCr −A u系電極またはTt−
    Au系電極との間にV2O;〕層を介在させたことを特
    徴とする酸化亜鉛薄膜の電極構造。
JP57114441A 1982-06-30 1982-06-30 酸化亜鉛薄膜の電極構造 Pending JPS595716A (ja)

Priority Applications (1)

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JP57114441A JPS595716A (ja) 1982-06-30 1982-06-30 酸化亜鉛薄膜の電極構造

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JP57114441A JPS595716A (ja) 1982-06-30 1982-06-30 酸化亜鉛薄膜の電極構造

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JPS595716A true JPS595716A (ja) 1984-01-12

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ID=14637808

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JP57114441A Pending JPS595716A (ja) 1982-06-30 1982-06-30 酸化亜鉛薄膜の電極構造

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04241188A (ja) * 1990-12-28 1992-08-28 Ichihide Seishi Kojo:Kk 模様紙製造方法及び装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH04241188A (ja) * 1990-12-28 1992-08-28 Ichihide Seishi Kojo:Kk 模様紙製造方法及び装置

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