JPS595717A - 酸化亜鉛薄膜の電極構造 - Google Patents

酸化亜鉛薄膜の電極構造

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JPS595717A
JPS595717A JP11444282A JP11444282A JPS595717A JP S595717 A JPS595717 A JP S595717A JP 11444282 A JP11444282 A JP 11444282A JP 11444282 A JP11444282 A JP 11444282A JP S595717 A JPS595717 A JP S595717A
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JP
Japan
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zinc oxide
thin film
electrode
oxide thin
layer
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Pending
Application number
JP11444282A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Nishiyama
浩司 西山
Takeshi Nakamura
武 中村
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Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Murata Manufacturing Co Ltd filed Critical Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication of JPS595717A publication Critical patent/JPS595717A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H9/00Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
    • H03H9/02Details
    • H03H9/125Driving means, e.g. electrodes, coils
    • H03H9/13Driving means, e.g. electrodes, coils for networks consisting of piezoelectric or electrostrictive materials
    • H03H9/131Driving means, e.g. electrodes, coils for networks consisting of piezoelectric or electrostrictive materials consisting of a multilayered structure

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は安定な特性を示ず酸化亜鉛薄膜の電極構造に
関する。
酸化亜鉛薄膜は弾性表面波装置、音叉振動子、音片振動
子などの圧電体として使用されている。
この酸化亜鉛薄膜の使用例を音叉振動子にもとづいて説
明する。
第1図は音叉振動子の一例を示す側面図である。
図において、1は音叉振動子の本体、2.3はこの本体
1の脚部を示し、脚部2.3の側壁2a 。
3aには酸化亜鉛薄膜4.5が形成されている。
この酸化亜鉛薄膜4.5は真空蒸着法、スパッタリング
法、イオンブレーティング法などにより形成される。6
.7″Gま酸化亜鉛薄膜4.5の上に形成されたCr−
Au系またはTi −Al1系からなる電極を示す。
この電極6.7は第2図にその詳細な構造を示すように
、第1層電極8としてCrまたはTi1第2層電極9と
してAUからなるものが用いられていた。ここで(::
r、Tiは密着性を向上させるためのものであり、また
Auはワイヤボンディングや半田付けができるように選
ばれたものである。
図示したほか、Cr−Au系電極としてはCr−AUの
ほか、Cr−Pt−Au、Cr−Pd−Au、0r−N
 1−Au、Cr−Cu−N i −Au1Cr−Cu
−Auなどがあり、またT i −AU系電極としては
Ti−Auのほか、T + −cu−Au、Tt−Pt
−Au、T 1−Pd−Auなどがある。上記し1=電
極構成のうち、「iまたはCrは200〜500A 、
 A uは3000〜5000Aの膜厚の範囲に抵抗加
熱法、電子ビーム蒸着法などにより形成される。
しかしながら、上記したような酸化亜鉛薄膜の電極構造
では次のような欠点が見られた。つまり、第1層電極の
Ti、Orが高い親和性を示すため、酸化亜鉛薄膜中に
TiまたはOrが拡散でるか、酸化亜鉛から酸素を奪い
、酸化亜鉛薄膜の電気的特性、たとえば振動周波数を大
きく変化させるという現象が認められた。また高温負荷
寿命試験を行うと、さらに上記した現象が促進され、電
気的特性の劣化が一層大きなものとなった。
したがって、酸化亜鉛薄膜を形成覆るに当っては、電極
を含めた構成全体について考慮する必要があり、従来の
電極構成にさらに改良を施さなければならなかった。
この発明はかかる背景からなされたものであり、安定な
特性を示す酸化亜鉛薄膜の電極構造を提供することを目
的とする。
以下この発明を実施例にもとづいて詳細に説明する。
第3図はこの発明にかかる酸化亜鉛薄膜の電極構造を音
叉振動子に適用した例を示す側面図である。
11はTリンパなどからなる金属音叉、12は酸化亜鉛
薄膜、13はTa層、14はCr−Au系電極またはT
i−Au系電極である。このうち18層13は電子ビー
ム法、スパッタリング法、イオンビーム法、抵抗加熱蒸
着法などによって形成される。
第4図は屈曲振動モードの音片振動子にこの発明にかか
る酸化亜鉛薄膜の電極構造を適用した例   。
を示した斜視図である。
図において、21は振動子本体を示し、振動子22とこ
れを支持部24で支持している枠体23から構成されて
いる。25は酸化亜鉛薄膜で振動子22の表面に形成さ
れている。26は酸化亜鉛薄膜25の上に形成されたT
a層、27は18層26の上に形成された0r−ALJ
系電極電極はTi−Au系電極である。
第5図は同じくこの発明を他の屈曲振動モードの振動子
に適用した例の側面図である。
図において、31はセラミクス、プラスチック、ゴムな
どの基板、この基板31表面には、Cr−Au系電極ま
たはT r−Au系電極32.Ta層33、酸化亜鉛薄
膜34.18層35、および0r−Au系電極またはT
i−Au系電極36が順次形成されている。
第6図は同じくこの発明を拡がり振動モードの振動子に
適用した例を示づ側面図である。
図において、41は酸化亜鉛薄膜、42は酸化亜鉛薄膜
41の両面に形成されたTa層、43はTa層42の上
に形成されたCr−Au系電極またはTi−AIJ系電
極電極る。
第7図は同じくこの発明を厚み振動モードの振動子に適
用した例を示す側面図である。
図において、51はSi、5i02などからなる基板、
基板51の上には0r−Au系電極またはTi−Au系
電極52.1−alFj53が順次形成されている。さ
らにTa層53の上には酸化亜鉛薄膜54が形成されて
いる。この酸化亜鉛薄膜54が形成されている位置に相
当する基板51には空部51aが形成されている。酸化
亜鉛薄11i54の上にはla層55、および0r−A
u系電極またはTi−Au系電極56が順次積層して形
成されている。
次に具体的な実施例とし′C1第3図に示した音叉撮動
子につい−てこの発明にかかる酸化亜鉛薄膜の電極構造
を適用した例を説明する。
第3図を参照しt′説明すれば、振動子11の上にスパ
ッタリング法により酸化亜鉛薄膜12を形成し、その上
に18層13を電子ビーム法により 100人の厚みで
形成し、さらにその上にT1が300A、AUが300
0Aの厚みからなるTi−Au系電極14を電子ビーム
法により形成した。このようにして振動周波数32K 
Hzの振動子を作成した。
この振動子に直流電圧20Vを印加し、100℃の温度
に 10000時間放置した。このときの振動周波数の
経時変化特性を試料数20個について測定したところ第
8図に示ずような結果が得られた。図中実線はこの実施
例によるものである。また破線は従来例のTi−Au系
電極のみからなるものについて、同様にして測定した結
果を示したものである。この振動嬰波数の経時変化特性
(△F/Fo)また、絶縁抵抗(IR)および直列共振
抵抗(Ro )についてもそれぞれ同様に測定し、その
結果を第9図、第10図にそれぞれ示した。なお、IR
については測定電圧10Vにて測定した埴である。
第8図〜第10図から明らかなように、この発明にかか
るしのは、振動周波数、IRlおよびR。
のいずれも従来例にくらべて経時変化が小さくなってい
る。
ここでIR,Roを測定したのは次のような理由による
まず、酸化亜鉛薄膜についてその等両回路を示せば第1
1図のようになる。図中、cdは並列容量を示し、酸化
亜鉛薄膜を]ンデン)lとして考えた場合の静電容量に
近い値ぐある。Roは直列共振抵抗、Coは等価容量、
Loは等価インダクタンスである。またIRは酸化亜鉛
薄膜の絶縁抵抗である。
ここで、酸化亜鉛薄膜のIRは圧電体としての特性を備
える上で高い値を示すことが必要とされることから、I
Rの劣化が生じることは不都合なこととされている。と
ころが、第9図から明らかなように、この発明の実施例
によれば、従来のものにくらべてIRの低下が小さくな
っており、実用上有用な酸化亜鉛薄膜の電極構造である
と云える。
また、この発明の実施例によれば、Roは変化幅が小さ
なものとなっているが、このRoは第12図に示したイ
ンピーダンスと周波数の関係から、直列共振周波数(j
o)に対応し、このRoが大きく変化ずれば、発振条件
の低下をもたらすことになることが伺える。したがって
Roの値の変化が小さいこの発明のものによればかかる
問題がなく、高温負荷の条件においても実用上十分な特
性を示づものであると理解することができる。
なお、0r−Au系電極についてこの発明を適用しても
同様の効果が得られることを確認し1〔。
以上この発明によれば、酸化亜鉛薄膜とCr−Au系電
極またはTi−Au系電極との間にOr、Tiの拡散防
止層としてTa層を介在させたものであり、従来のもの
にくらべて実用上十分な特性を示す酸化亜鉛跡I19を
提供することかできる。特にこの発明によれば、高温負
荷寿命試験に対して振動周波数、IRの変化が小さく、
またR oの値の変化も小さいなど信頼性の高い酸化亜
鉛薄膜が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は音叉撮動子の一例を示1側面図、第2図は第1
図における電極部分の部分拡大図、第3図は音叉撮動子
にこの発明にかかる酸化亜鉛′Xg膜の電極構造を適用
した例を示す側面図、第4図は音片振動子にこの発明に
かかる酸化亜鉛薄膜の電極構造を適用した例の斜視図、
第5図〜第7図は同じくこの発明にかかる酸化亜鉛薄膜
の電極構造を各振動子に適用した例の側面図、第8図は
この発明の具体的実施例にもとづく振動周波数の経時変
化特性図、第9図は同じ<11の経時変化特性図、第1
0図は同じ<Roの経時変化特性図、第11図は酸化亜
鉛薄膜の等両回略図、第12図はインピーダンスと周波
数の関係特性図である。 11・・・・・・基板、12・・・・・・酸化亜鉛薄膜
、13・・・・・・Ta層、14・・・・・・Cr−A
u系電極またはTi−Au系電極。 特  許  出  願  人 株式会社村田製作所 第5図 角う  乙  11B 輔7図 −83− 第110 %f?図 も 3Q Fh′Il数−

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 酸化亜鉛M膜表面と0r−AU系電極またはTi −A
    U系電極との間にTa層を介在させたことを特徴とする
    酸化亜鉛薄膜の電極構造。
JP11444282A 1982-06-30 1982-06-30 酸化亜鉛薄膜の電極構造 Pending JPS595717A (ja)

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JP11444282A JPS595717A (ja) 1982-06-30 1982-06-30 酸化亜鉛薄膜の電極構造

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JPS595717A true JPS595717A (ja) 1984-01-12

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