JPS5957136A - 光源のａｍ・ｆｍ雑音の特性評価方法 - Google Patents
光源のａｍ・ｆｍ雑音の特性評価方法Info
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- JPS5957136A JPS5957136A JP16751382A JP16751382A JPS5957136A JP S5957136 A JPS5957136 A JP S5957136A JP 16751382 A JP16751382 A JP 16751382A JP 16751382 A JP16751382 A JP 16751382A JP S5957136 A JPS5957136 A JP S5957136A
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- Japan
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- light
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（１）発明の技術分野
本発明はファイバチェーナブルエタロンを用いた。光源
のＡＭ−ＦＭ雑音の特性評価方法に関する。
のＡＭ−ＦＭ雑音の特性評価方法に関する。
（２）従来技術と問題点
従来、レーザダイオード等を用いた光源の光源波長測定
装置としてはスペクトラムアナライザが用いられている
。すなわち光源からの光を光検出器において検出し、電
気信号に変換し、変換された電気信号をスペクトラムア
ナライザにより周波数分析し、その結果、被測定光源の
波長が測定される。被測定光源の中心波長のゆらぎにつ
いても、上述のスペクトラムアナライザを用いる方法で
測定が可能であるが、その測定感度において必ずしも満
足する結果が得られていない実状である。
装置としてはスペクトラムアナライザが用いられている
。すなわち光源からの光を光検出器において検出し、電
気信号に変換し、変換された電気信号をスペクトラムア
ナライザにより周波数分析し、その結果、被測定光源の
波長が測定される。被測定光源の中心波長のゆらぎにつ
いても、上述のスペクトラムアナライザを用いる方法で
測定が可能であるが、その測定感度において必ずしも満
足する結果が得られていない実状である。
（３）発明の目的
本発明の目的は、前述の従来の方法における実状にかん
がみ、帯域制限効果のあるファイバチューナプルエタロ
ンを測定系に用いるという着想に基づき、光源のＡＭ
−ＰＭ雑音を高感度で測定できるようにし、より詳細な
光源の特性評価ができるようにすることにある。、−′ （４）発明の構成 本発明においては特定発明として、被測定光源よりの光
を帯域制限効果のあるファイバチューナプルエタロン中
を通過させることにより、該光源の中心波長のゆらぎを
振幅変調に変換し、前記振幅変調された光を光検出器に
加えて検出し、電力信号に変換し、該変換された電力信
号により。
がみ、帯域制限効果のあるファイバチューナプルエタロ
ンを測定系に用いるという着想に基づき、光源のＡＭ
−ＰＭ雑音を高感度で測定できるようにし、より詳細な
光源の特性評価ができるようにすることにある。、−′ （４）発明の構成 本発明においては特定発明として、被測定光源よりの光
を帯域制限効果のあるファイバチューナプルエタロン中
を通過させることにより、該光源の中心波長のゆらぎを
振幅変調に変換し、前記振幅変調された光を光検出器に
加えて検出し、電力信号に変換し、該変換された電力信
号により。
光源のＡＭ−ＦＭ雑音の特性評価を行うことを特徴とす
る光源のＡＭ−ＦＭ雑音の特性評価方法が提供される。
る光源のＡＭ−ＦＭ雑音の特性評価方法が提供される。
（５）発明の実施例
本発明の一実施例としての光源のＡＭ−ＰＭ雑音の特性
評価方法を行う測定装置のブロック図が第１図に示され
る。図において光源（ＬＤ）１１からの光は伝送路を介
してファイバチューナプルエタロン１２に加えられ、フ
ァイバチューナプルエタロン１２を通過した後、光検出
器１３に加えられる。光検出器１３の出力は狭帯域レベ
ルメータ、パワーメータまたはスペクトラムアナライザ
等の測定器（ＭＡ ） １４に供給される。
評価方法を行う測定装置のブロック図が第１図に示され
る。図において光源（ＬＤ）１１からの光は伝送路を介
してファイバチューナプルエタロン１２に加えられ、フ
ァイバチューナプルエタロン１２を通過した後、光検出
器１３に加えられる。光検出器１３の出力は狭帯域レベ
ルメータ、パワーメータまたはスペクトラムアナライザ
等の測定器（ＭＡ ） １４に供給される。
次に上述の装置の動作を第２図を参照して説明する。第
２図（１）ハ光源からの光のスペクトラム（本例ではレ
ーザスペクトラム）を示し、横軸は波長（λ）を、縦軸
は光パワー（ＬＰ）を表わす。中心波長はλ０で表わさ
扛る。第２図（２）はファイノ（チューナプルエタロン
１２の特性を示し、横軸は波長（λ）を、縦軸は透過率
（ＴＦ）を表わす。第２図（１）に示さｎるようなスペ
クトラムを有する光がファイバチューナプルエタロン１
２を通過すると。
２図（１）ハ光源からの光のスペクトラム（本例ではレ
ーザスペクトラム）を示し、横軸は波長（λ）を、縦軸
は光パワー（ＬＰ）を表わす。中心波長はλ０で表わさ
扛る。第２図（２）はファイノ（チューナプルエタロン
１２の特性を示し、横軸は波長（λ）を、縦軸は透過率
（ＴＦ）を表わす。第２図（１）に示さｎるようなスペ
クトラムを有する光がファイバチューナプルエタロン１
２を通過すると。
光の中心波長λ０がエタロン特性における最大透過率を
示す波長と一致していれば、第２図（３）に破線２１で
示すような出力となる。第２図（３）において、横軸お
よび縦軸は第２図（２）と同様であり、実線は第２図（
２）のエタロン特性が転記されたものである。一方光源
からの光の波長にゆらぎがある場合は第２図（３）にお
ける破線２２のように振幅が帯域制限効果を有するエタ
ロン特性により制限される。すなわち波長の変化が振幅
の変化に変換されて出力される。変換された出力は光検
出器１３において検出され、電気信号に変換される。該
電気信号は狭帯域レベルメータ、パワーメータ、および
スペクトラムアナライザ等でその電力が測定され、その
結果により、光源からの光のＡＭ −ＦＭ雑音特性（中
心波長のゆらぎ）が評価される。
示す波長と一致していれば、第２図（３）に破線２１で
示すような出力となる。第２図（３）において、横軸お
よび縦軸は第２図（２）と同様であり、実線は第２図（
２）のエタロン特性が転記されたものである。一方光源
からの光の波長にゆらぎがある場合は第２図（３）にお
ける破線２２のように振幅が帯域制限効果を有するエタ
ロン特性により制限される。すなわち波長の変化が振幅
の変化に変換されて出力される。変換された出力は光検
出器１３において検出され、電気信号に変換される。該
電気信号は狭帯域レベルメータ、パワーメータ、および
スペクトラムアナライザ等でその電力が測定され、その
結果により、光源からの光のＡＭ −ＦＭ雑音特性（中
心波長のゆらぎ）が評価される。
第３図は本装置に用いられるファイバチェーナブルエタ
ロンの一例の外観を示す斜視図である。
ロンの一例の外観を示す斜視図である。
図において、光ファイバ３３は途中で中断されており、
エアギャップ３４を有する。両端部の接続部分はフェル
ール３２であり、外周はアダプタ３１で囲まれている。
エアギャップ３４を有する。両端部の接続部分はフェル
ール３２であり、外周はアダプタ３１で囲まれている。
図における矢印方向の圧力（Ｐ）が加え、られるとフェ
ルール３２が伸縮し、共振波長が変化する。第４図には
、上述のファイバチューナプルエタロンの長さの変化（
匂に対する減衰率（ＡＴＴ）が示される。本例では波長
（λ）が１．３マイクロメートルの場合である。
ルール３２が伸縮し、共振波長が変化する。第４図には
、上述のファイバチューナプルエタロンの長さの変化（
匂に対する減衰率（ＡＴＴ）が示される。本例では波長
（λ）が１．３マイクロメートルの場合である。
第５図には１本発明の他の実施例を行う測定装置が示さ
れる。この測定装置においては、光源１１とファイバチ
ューナブルエタロン１２０間に局部発振器（０８０）５
２の出力により振幅変調を行・う光変調器５１を設け、
かつ局部発振器５２の発振周波数と同期のとれたロック
イン増幅器５３を設け、その出力を前述の光信号から変
換された電気信号を測定する測定器に該電気信号と同時
に供給し、該測定器の測定機能の援助を行う。上述した
以外は第１図の装置と同様である。この実施例によれば
光源の静特性のみでなく、振幅変調時の動特性も測定評
価できる。
れる。この測定装置においては、光源１１とファイバチ
ューナブルエタロン１２０間に局部発振器（０８０）５
２の出力により振幅変調を行・う光変調器５１を設け、
かつ局部発振器５２の発振周波数と同期のとれたロック
イン増幅器５３を設け、その出力を前述の光信号から変
換された電気信号を測定する測定器に該電気信号と同時
に供給し、該測定器の測定機能の援助を行う。上述した
以外は第１図の装置と同様である。この実施例によれば
光源の静特性のみでなく、振幅変調時の動特性も測定評
価できる。
（６）発明の効果
本発明によれば、光源のＡＭ−ＦＭ雑音を高感度で測定
することができ、より詳細な光源の特性評価をすること
ができる。またファイバチューナプルエタロ／を用いる
ことは、小形、＠量、低価格でおるほか、レンズ等が不
要である等多くの利点を有する。
することができ、より詳細な光源の特性評価をすること
ができる。またファイバチューナプルエタロ／を用いる
ことは、小形、＠量、低価格でおるほか、レンズ等が不
要である等多くの利点を有する。
第１図は本発明の一実施例としての光源のＡＭ・ＦＭ雑
音の特性評価方法を行う測定装置のブロック図、第２図
は第１図の装置の動作を説明するための特性図、第３図
は第１図の装置に用いられるファイバチューナプルエタ
ロンの概略的な外観を示す斜視図、第４図は第３図のフ
ァイバチューナプルエタロンの特性を示す特性図、およ
び第５図は本発明の他の実施例を行う測定装置を示すブ
ロック図である。 １１・・・光 源。 １２・・・ファイバチューナプルエタロン。 １３・・・光検出器、 １４・・・測定器。 ３１・・・アダプタ。 ３２・・・フェルール。 ３３・・・光ファイバ。 ３４・・・エアギャップ。 ５１・・・光変調器。 ５２・・・局部発振器。 ５３・・・ロックイン増幅器。 第１図 第２図 Ｘ １０’ｍｍ →し 第５図
音の特性評価方法を行う測定装置のブロック図、第２図
は第１図の装置の動作を説明するための特性図、第３図
は第１図の装置に用いられるファイバチューナプルエタ
ロンの概略的な外観を示す斜視図、第４図は第３図のフ
ァイバチューナプルエタロンの特性を示す特性図、およ
び第５図は本発明の他の実施例を行う測定装置を示すブ
ロック図である。 １１・・・光 源。 １２・・・ファイバチューナプルエタロン。 １３・・・光検出器、 １４・・・測定器。 ３１・・・アダプタ。 ３２・・・フェルール。 ３３・・・光ファイバ。 ３４・・・エアギャップ。 ５１・・・光変調器。 ５２・・・局部発振器。 ５３・・・ロックイン増幅器。 第１図 第２図 Ｘ １０’ｍｍ →し 第５図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被測定光源よりの光を帯域制限効果のあるファイバ
チューナプルエタロン中を通過させることによＶ、該光
源の中心波長のゆらぎを振幅変調に変換し、前記振幅変
調された光を光検出器に加えて検出し、電力信号に変換
し、該変換された電力信号により、光源のＡＭ−ＦＭ雑
音の特性評価を行うことを特徴とする光源のＡＭ −Ｆ
Ｍ雑音の特性評価方法。 ２、被測定光源よりの光を変調用発振器の出力で振幅変
調して帯域制限効果のあるファイバチューナプルエタロ
ン中を通過させ、該変調用発振器の発振周波数と同期の
とれたロックイン増幅器からの出力と該変換された電力
信号により、光源のＡＭ−ＦＭ雑音の特性評価を行うこ
とを特徴とする光源のＡＭ−ＦＭ雑音の特性評価方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16751382A JPS5957136A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 光源のａｍ・ｆｍ雑音の特性評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16751382A JPS5957136A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 光源のａｍ・ｆｍ雑音の特性評価方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5957136A true JPS5957136A (ja) | 1984-04-02 |
| JPH0363008B2 JPH0363008B2 (ja) | 1991-09-27 |
Family
ID=15851072
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16751382A Granted JPS5957136A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 光源のａｍ・ｆｍ雑音の特性評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5957136A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02165026A (ja) * | 1988-12-20 | 1990-06-26 | Fujitsu Ltd | 半導体レーザのｆｍ変調特性測定装置 |
| JPH036431A (ja) * | 1989-06-02 | 1991-01-11 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光周波数変調特性の測定装置 |
| JPH0359428A (ja) * | 1989-07-28 | 1991-03-14 | Fujitsu Ltd | 半導体レーザの周波数変調特性測定方法及び装置 |
| JPH0620333U (ja) * | 1992-06-12 | 1994-03-15 | 有限会社九州生技研 | チェーンガイドレール構造 |
-
1982
- 1982-09-28 JP JP16751382A patent/JPS5957136A/ja active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02165026A (ja) * | 1988-12-20 | 1990-06-26 | Fujitsu Ltd | 半導体レーザのｆｍ変調特性測定装置 |
| JPH036431A (ja) * | 1989-06-02 | 1991-01-11 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光周波数変調特性の測定装置 |
| JPH0359428A (ja) * | 1989-07-28 | 1991-03-14 | Fujitsu Ltd | 半導体レーザの周波数変調特性測定方法及び装置 |
| JPH0620333U (ja) * | 1992-06-12 | 1994-03-15 | 有限会社九州生技研 | チェーンガイドレール構造 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0363008B2 (ja) | 1991-09-27 |
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