JPH067100B2 - チューナブルエタロンを用いたガス濃度圧力検出方法 - Google Patents
チューナブルエタロンを用いたガス濃度圧力検出方法Info
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- JPH067100B2 JPH067100B2 JP10540589A JP10540589A JPH067100B2 JP H067100 B2 JPH067100 B2 JP H067100B2 JP 10540589 A JP10540589 A JP 10540589A JP 10540589 A JP10540589 A JP 10540589A JP H067100 B2 JPH067100 B2 JP H067100B2
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、濃度(圧力)は検出されるガスの吸収スペク
トルに応じて光学的に狭帯域フィルタの特性を持つチュ
ーナブルエタロンの共振波長を変調させることにより、
任意のガスの濃度(圧力)を検出する方法に関する。
トルに応じて光学的に狭帯域フィルタの特性を持つチュ
ーナブルエタロンの共振波長を変調させることにより、
任意のガスの濃度(圧力)を検出する方法に関する。
[従来の技術] 従来、例えばメタンガス等の濃度(圧力)を検出するた
めの手段として、第5図に示すような回路構成のものが
あった。
めの手段として、第5図に示すような回路構成のものが
あった。
これは、メタンガスが封入されたガスセルを透過した光
を、ハーフミラー101により一部を透過させるととも
に一部を反射させ、反射光を参照光としてホトダイオー
ド102で光電変換したあと、光電変換された直流信号
をアンプ103で増幅し、増幅した直流信号を差動アン
プ104の一方の入力端子に印加する一方、ハーフミラ
ー101を透過した光を、中心波長がメタンガスの吸収
スペクトルと一致する干渉フィルタ105に通し、干渉
フィルタ105を通過した光を計測光としてホトダイオ
ード106で光電変換したあと、光電変換された直流信
号をアンプ107で増幅し、増幅した直流信号を差動ア
ンプ104のもう一方の入力端子に印加することによ
り、差動アンプ104において前記参照光対応の直流信
号と計測光対応の直流信号との差を増幅し、差動アンプ
104から出力された信号に基づいてメタンガスの濃度
を検出するようになっている。
を、ハーフミラー101により一部を透過させるととも
に一部を反射させ、反射光を参照光としてホトダイオー
ド102で光電変換したあと、光電変換された直流信号
をアンプ103で増幅し、増幅した直流信号を差動アン
プ104の一方の入力端子に印加する一方、ハーフミラ
ー101を透過した光を、中心波長がメタンガスの吸収
スペクトルと一致する干渉フィルタ105に通し、干渉
フィルタ105を通過した光を計測光としてホトダイオ
ード106で光電変換したあと、光電変換された直流信
号をアンプ107で増幅し、増幅した直流信号を差動ア
ンプ104のもう一方の入力端子に印加することによ
り、差動アンプ104において前記参照光対応の直流信
号と計測光対応の直流信号との差を増幅し、差動アンプ
104から出力された信号に基づいてメタンガスの濃度
を検出するようになっている。
[発明が解決しようとする課題] 上記従来のガス濃度(圧力)検出手段は、ハーフミラー
101で光路を参照光と計測光とに分け、それぞれの電
気回路を独立させているため、例えば前記アンプ10
3,107及び差動アンプ104の電気的特性が周囲温
度の変化により変動すると、それぞれのアンプの増幅率
が微妙に変動し、前記参照光対応の直流信号と計測光対
応の直流信号が温度に対して変動するため、正確な濃度
検出ができないという問題があった。そのため従来は、
その電気回路を恒温槽の中に入れ、温度に対する回路特
性を安定させることが必要であった。そして濃度(圧
力)検出精度を上げるためには恒温槽の温度制御精度を
上げることが必要であった。しかしながら恒温槽の温度
制御精度を上げることは技術的に限界があり、且つ温度
制御精度の高い恒温槽は高価であるという問題があっ
た。
101で光路を参照光と計測光とに分け、それぞれの電
気回路を独立させているため、例えば前記アンプ10
3,107及び差動アンプ104の電気的特性が周囲温
度の変化により変動すると、それぞれのアンプの増幅率
が微妙に変動し、前記参照光対応の直流信号と計測光対
応の直流信号が温度に対して変動するため、正確な濃度
検出ができないという問題があった。そのため従来は、
その電気回路を恒温槽の中に入れ、温度に対する回路特
性を安定させることが必要であった。そして濃度(圧
力)検出精度を上げるためには恒温槽の温度制御精度を
上げることが必要であった。しかしながら恒温槽の温度
制御精度を上げることは技術的に限界があり、且つ温度
制御精度の高い恒温槽は高価であるという問題があっ
た。
また、直流信号増幅方式のためノイズの除去が困難であ
り、ドリフト電流が重畳されてもそれを除去することが
極めて困難であるという問題があった。
り、ドリフト電流が重畳されてもそれを除去することが
極めて困難であるという問題があった。
そこで、本発明では上記問題を解決するため、ガスセル
を透過した光を参照光と計測光との二つの光路に分岐す
ることなく単一光路を通し、この単一光路あるいはガス
セルの前に設けられた共振波長可変のチューナブルエタ
ロンを、濃度(圧力)が検出されるガスの吸収波長を中
心に僅かに共振波長を変調するように制御するととも
に、チューナブルエタロンの共振波長の変調の中心を自
動的に被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波長に合わせ
るようにフィードバック制御することにより、ガス濃度
(圧力)を高精度に検出することを解決すべき技術的課
題とするものである。
を透過した光を参照光と計測光との二つの光路に分岐す
ることなく単一光路を通し、この単一光路あるいはガス
セルの前に設けられた共振波長可変のチューナブルエタ
ロンを、濃度(圧力)が検出されるガスの吸収波長を中
心に僅かに共振波長を変調するように制御するととも
に、チューナブルエタロンの共振波長の変調の中心を自
動的に被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波長に合わせ
るようにフィードバック制御することにより、ガス濃度
(圧力)を高精度に検出することを解決すべき技術的課
題とするものである。
[課題を解決するための手段] 上記課題解決のための技術的手段は、被濃度(圧力)検
出ガスが封入されたガスセルにビーム状の光を透過さ
せ、ガスセルを透過した光をチューナブルエタロンに入
射させた状態でチューナブルエタロンを所定のタイミン
グで共振変調し、前記被濃度(圧力)検出ガスにより強
く吸収される波長の第1の光と上記ガスにより吸収され
ない波長の第2の光とを通過させるとともに、同チュー
ナブルエタロンを通過した前記第1の光と第2の光の合
計光量をモニターし、この合計光量が所定量以下に減衰
したとき、減衰光量に基づいて前記チューナブルエタロ
ンの共振変調を補正し、チューナブルエタロンの共振波
長の変調の中心を被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波
長に合わせるようにフィードバック制御するとともに、
前記第1の光と第2の光を光電変換した第1の電気信号
と第2の電気信号とに基づいて前記被濃度(圧力)検出
ガスによる第1の光の吸収率を演算し、この吸収率から
前記被濃度(圧力)検出ガスの濃度(圧力)を演算する
ことことである。
出ガスが封入されたガスセルにビーム状の光を透過さ
せ、ガスセルを透過した光をチューナブルエタロンに入
射させた状態でチューナブルエタロンを所定のタイミン
グで共振変調し、前記被濃度(圧力)検出ガスにより強
く吸収される波長の第1の光と上記ガスにより吸収され
ない波長の第2の光とを通過させるとともに、同チュー
ナブルエタロンを通過した前記第1の光と第2の光の合
計光量をモニターし、この合計光量が所定量以下に減衰
したとき、減衰光量に基づいて前記チューナブルエタロ
ンの共振変調を補正し、チューナブルエタロンの共振波
長の変調の中心を被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波
長に合わせるようにフィードバック制御するとともに、
前記第1の光と第2の光を光電変換した第1の電気信号
と第2の電気信号とに基づいて前記被濃度(圧力)検出
ガスによる第1の光の吸収率を演算し、この吸収率から
前記被濃度(圧力)検出ガスの濃度(圧力)を演算する
ことことである。
あるいはまた、被濃度(圧力)検出ガスが封入されたガ
スセルにビーム状の光を入射するための入射光路に配設
されたチューナブルエタロンを所定のタイミングで共振
変調し、前記被濃度(圧力)検出ガスにより強く吸収さ
れる波長の第1の光と上記検出ガスにより吸収されない
波長の第2の光とを通過させ、同チューナブルエタロン
を通過した前記第1の光と第2の光の合計光量をモニタ
ーし、この合計光量が所定量以下に減衰したとき、減衰
光量に基づいて前記チューナブルエタロンの共振変調を
補正し、チューナブルエタロンの共振波長の変調の中心
を被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波長に合わせるよ
うにフィードバック制御するとともに、前記第1の光と
第2の光を光電変換した第1の電気信号と第2の電気信
号とに基づいて前記被濃度(圧力)検出ガスによる第1
の光の吸収率を演算し、この吸収率から前記被濃度(圧
力)検出ガスの濃度(圧力)を演算することである。
スセルにビーム状の光を入射するための入射光路に配設
されたチューナブルエタロンを所定のタイミングで共振
変調し、前記被濃度(圧力)検出ガスにより強く吸収さ
れる波長の第1の光と上記検出ガスにより吸収されない
波長の第2の光とを通過させ、同チューナブルエタロン
を通過した前記第1の光と第2の光の合計光量をモニタ
ーし、この合計光量が所定量以下に減衰したとき、減衰
光量に基づいて前記チューナブルエタロンの共振変調を
補正し、チューナブルエタロンの共振波長の変調の中心
を被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波長に合わせるよ
うにフィードバック制御するとともに、前記第1の光と
第2の光を光電変換した第1の電気信号と第2の電気信
号とに基づいて前記被濃度(圧力)検出ガスによる第1
の光の吸収率を演算し、この吸収率から前記被濃度(圧
力)検出ガスの濃度(圧力)を演算することである。
[作用] 上記技術的手段により、ガスセルを透過した光は従来の
ガスセンサのように参照光と計測光とに分離されること
なく同一光路を通過されるもので、同一光路を通過した
光はガスセルの後の光路、あるいはガスセルの前の光路
に設けられたチューナブルエタロンの共振変調作用によ
り被濃度(圧力)検出ガスに吸収される波長の第1の光
と、被濃度(圧力)検出ガスに吸収されない波長の第2
の光とをそれぞれ計測光と参照光として通過させるとと
もに、チューナブルエタロンの共振波長の中心を被濃度
(圧力)検出ガスの吸収波長に合わせるようにフィード
バック制御されるため、計測光としての第1の光の光量
対応信号と、参照光としての第2の光の光量対応信号と
に基づいて任意のガスの濃度(圧力)を高精度に検出す
る作用をする。
ガスセンサのように参照光と計測光とに分離されること
なく同一光路を通過されるもので、同一光路を通過した
光はガスセルの後の光路、あるいはガスセルの前の光路
に設けられたチューナブルエタロンの共振変調作用によ
り被濃度(圧力)検出ガスに吸収される波長の第1の光
と、被濃度(圧力)検出ガスに吸収されない波長の第2
の光とをそれぞれ計測光と参照光として通過させるとと
もに、チューナブルエタロンの共振波長の中心を被濃度
(圧力)検出ガスの吸収波長に合わせるようにフィード
バック制御されるため、計測光としての第1の光の光量
対応信号と、参照光としての第2の光の光量対応信号と
に基づいて任意のガスの濃度(圧力)を高精度に検出す
る作用をする。
[実施例] 次に、本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
第1図は、本発明の一実施例を実現するための全体的な
構成系統図である。
構成系統図である。
第1図において、主ケース1に設けられた定電流回路2
から通電された定電流により、発光ダイオード(LE
D)3から例えば1.3マイクロメータ帯の波長を有する
光が発光されると、この光は、光コネクタ4、及び光フ
ァイバ5を介して光器具ブラケット6に伝送される。こ
の光ブラケット6には、濃度(圧力)が検出される被濃
度(圧力)検出ガスとしての例えばメタンガスが均一に
封入されたガスセル7が配設されている。光器具ブラケ
ット6に伝送された上記光は、レンズ8に入射され、レ
ンズ8によりビーム状に集光された光線L1がガスセル
7を透過される。ガスセル7を透過された光線L1はレ
ンズ9により集光され、マルチモードファイバ10、光
コネクタ11を介して主ケース1に帰還される。主ケー
ス1にはサブケース12が内蔵されており、主ケース1
に帰還されたガスセル透過光は上記光コネクタ11に接
続されたサブ光コネクタ13を介してサブケース12に
入射される。
から通電された定電流により、発光ダイオード(LE
D)3から例えば1.3マイクロメータ帯の波長を有する
光が発光されると、この光は、光コネクタ4、及び光フ
ァイバ5を介して光器具ブラケット6に伝送される。こ
の光ブラケット6には、濃度(圧力)が検出される被濃
度(圧力)検出ガスとしての例えばメタンガスが均一に
封入されたガスセル7が配設されている。光器具ブラケ
ット6に伝送された上記光は、レンズ8に入射され、レ
ンズ8によりビーム状に集光された光線L1がガスセル
7を透過される。ガスセル7を透過された光線L1はレ
ンズ9により集光され、マルチモードファイバ10、光
コネクタ11を介して主ケース1に帰還される。主ケー
ス1にはサブケース12が内蔵されており、主ケース1
に帰還されたガスセル透過光は上記光コネクタ11に接
続されたサブ光コネクタ13を介してサブケース12に
入射される。
サブケース12に入射されたガスセル透過光L2は、入
射光線の一部を反射することが可能なハーフミラー特性
を有する干渉フィルタF1において、透過光L3と反射
光L4とに分光される。尚、この干渉フィルタF1は第
3図に示すように20nm(ナノメータ)の波長帯域幅を
有している。上記反射光L4は、レンズ15により集光
されたあと、ホトダイオードPD1により光電変換さ
れ、増幅器16により増幅されたあと、AD変換器17
においてディジタル信号R1に変換される。そして反射
光L4の光量に対応した上記ディジタル信号R1はマイ
クロコンピュータ(CPU)18に入力される。このデ
ィジタル信号R1は、マイクロコンピュータ(CPU)
18が前記ファイバ5、マルチモードファイバ10の光
ファイバ光路を監視するため、所定のタイミングでマイ
クロコンピュータ18にサンプリングされ、サンプリン
グタイミングにおいて上記ディジタル信号R1が入力さ
れない場合、あるいは極めて低い電位になった場合、上
記光ファイバ光路に異常が発生したと判断し、マイクロ
コンピュータ18はアラーム出力回路19に異常信号を
出力する。
射光線の一部を反射することが可能なハーフミラー特性
を有する干渉フィルタF1において、透過光L3と反射
光L4とに分光される。尚、この干渉フィルタF1は第
3図に示すように20nm(ナノメータ)の波長帯域幅を
有している。上記反射光L4は、レンズ15により集光
されたあと、ホトダイオードPD1により光電変換さ
れ、増幅器16により増幅されたあと、AD変換器17
においてディジタル信号R1に変換される。そして反射
光L4の光量に対応した上記ディジタル信号R1はマイ
クロコンピュータ(CPU)18に入力される。このデ
ィジタル信号R1は、マイクロコンピュータ(CPU)
18が前記ファイバ5、マルチモードファイバ10の光
ファイバ光路を監視するため、所定のタイミングでマイ
クロコンピュータ18にサンプリングされ、サンプリン
グタイミングにおいて上記ディジタル信号R1が入力さ
れない場合、あるいは極めて低い電位になった場合、上
記光ファイバ光路に異常が発生したと判断し、マイクロ
コンピュータ18はアラーム出力回路19に異常信号を
出力する。
一方、前記透過光L3は、チューナブルエタロン21に
入射される。このチューナブルエタロン21は、2枚の
対向するエタロン板21A,21Bを備え、それぞれの
エタロン板21A,21Bの対向面には誘電体反射膜が
形成されており、入射された光をエタロン板21A,2
1Bの間で多重反射させ、エタロン板21A,21B間
の距離に対応した波長の光を共振通過させるように構成
されている。エタロン板21A,21Bのいずれか、例
えばエタロン板21Bには、エタロン板21A,21B
間の距離を微少変化させるためのチューナブルエタロン
駆動手段として、例えばピエゾ素子(PZT)22が取
付けられており、このピエゾ素子(PZT)22に印加
する電圧に応じてエタロン板21A,21B間の振動幅
が制御される。尚、このチューナブルエタロン21は、
帯域が1ナノメータのものを使用している。
入射される。このチューナブルエタロン21は、2枚の
対向するエタロン板21A,21Bを備え、それぞれの
エタロン板21A,21Bの対向面には誘電体反射膜が
形成されており、入射された光をエタロン板21A,2
1Bの間で多重反射させ、エタロン板21A,21B間
の距離に対応した波長の光を共振通過させるように構成
されている。エタロン板21A,21Bのいずれか、例
えばエタロン板21Bには、エタロン板21A,21B
間の距離を微少変化させるためのチューナブルエタロン
駆動手段として、例えばピエゾ素子(PZT)22が取
付けられており、このピエゾ素子(PZT)22に印加
する電圧に応じてエタロン板21A,21B間の振動幅
が制御される。尚、このチューナブルエタロン21は、
帯域が1ナノメータのものを使用している。
第2図に示すように、メタンガスの吸収スペクトルに対
応した波長、即ち1.3312マイクロメータの波長を有する
第1の光と、この1.3312マイクロメータの波長より僅か
にずれた1.3772マイクロメータ(dλ=6nm)のメタン
ガスに吸収されない波長の第2の光(第3図参照)とを
交互に通過させるようにエタロン板21Bを振動させる
ため、ピエゾ素子22に制御信号を出力するピエゾドラ
イバ(チューナブルエタロン制御手段)23が設けられ
ている。
応した波長、即ち1.3312マイクロメータの波長を有する
第1の光と、この1.3312マイクロメータの波長より僅か
にずれた1.3772マイクロメータ(dλ=6nm)のメタン
ガスに吸収されない波長の第2の光(第3図参照)とを
交互に通過させるようにエタロン板21Bを振動させる
ため、ピエゾ素子22に制御信号を出力するピエゾドラ
イバ(チューナブルエタロン制御手段)23が設けられ
ている。
上記振動制御により、1.3312マイクロメータの波長を有
する第1の光と、この1.3312マイクロメータの波長から
僅かにずれた1.3372マイクロメータの波長の第2の光と
がエタロンを交互に通過すると、これらの光は二方向分
光器24により分光N1とN2に分けられる。分光N1
は、第4図に示すように半値幅が4ナノメータの帯域幅
を有する干渉フィルタF2を通過したあと、レンズ25
により集光され、ホトダイオードPD2において光電変
換される。ホトダイオードPD2において光電変換さ
れ、ホトダイオードPD2から出力された直流信号は増
幅器26において増幅されたあと、キャパシタ27を通
すことにより交流信号N3に変換され、同期検波回路2
8に入力される。
する第1の光と、この1.3312マイクロメータの波長から
僅かにずれた1.3372マイクロメータの波長の第2の光と
がエタロンを交互に通過すると、これらの光は二方向分
光器24により分光N1とN2に分けられる。分光N1
は、第4図に示すように半値幅が4ナノメータの帯域幅
を有する干渉フィルタF2を通過したあと、レンズ25
により集光され、ホトダイオードPD2において光電変
換される。ホトダイオードPD2において光電変換さ
れ、ホトダイオードPD2から出力された直流信号は増
幅器26において増幅されたあと、キャパシタ27を通
すことにより交流信号N3に変換され、同期検波回路2
8に入力される。
一方、分光N2は、レンズ30により集光され、ホトダ
イオードPD3において光電変換される。ホトダイオー
ドPD3において光電変換され、ホトダイオードPD3
から出力された直流信号は増幅器31において増幅され
たあと、キャパシタ32を通すことにより交流信号N4
に変換され、更にゲイン調節可能なプログラマブルゲイ
ンアンプ33によりゲイン調節された交流信号N5が同
期検波回路34に入力される。
イオードPD3において光電変換される。ホトダイオー
ドPD3において光電変換され、ホトダイオードPD3
から出力された直流信号は増幅器31において増幅され
たあと、キャパシタ32を通すことにより交流信号N4
に変換され、更にゲイン調節可能なプログラマブルゲイ
ンアンプ33によりゲイン調節された交流信号N5が同
期検波回路34に入力される。
前記マイクロコンピュータ18に接続された発振回路
(OSC)36は、50Hzの正弦波信号を発振して出力
するもので、この発振信号S1は加算器37に、また同
様の発振信号S2は位相制御回路38に送信される。加
算器37は発振信号S1と、後述のチューナブルエタロ
ン共振制御補正信号S3とを加算した加算信号S4を前
記ピエゾドライバ23に出力する。
(OSC)36は、50Hzの正弦波信号を発振して出力
するもので、この発振信号S1は加算器37に、また同
様の発振信号S2は位相制御回路38に送信される。加
算器37は発振信号S1と、後述のチューナブルエタロ
ン共振制御補正信号S3とを加算した加算信号S4を前
記ピエゾドライバ23に出力する。
3記位相制御回路38は、50Hzの正弦波信号S2を入
力し、この50Hz正弦波がゼロクロスするごとにパルス
信号を生成するもので、100Hzの矩形波パルス信号S
5、S6を出力する。上記パルス信号S5は前記同期検
波回路28に、また、もう一方のパルス信号S6は前記
同期検波回路34に入力される。
力し、この50Hz正弦波がゼロクロスするごとにパルス
信号を生成するもので、100Hzの矩形波パルス信号S
5、S6を出力する。上記パルス信号S5は前記同期検
波回路28に、また、もう一方のパルス信号S6は前記
同期検波回路34に入力される。
同期検波回路28は、上記パルス信号S5と前記交流信
号N3とを入力し、パルス信号S5に同期して交流信号
N3を同期検波する。同期検波回路28において同期検
波された出力信号S7は、PID回路(比例積分、比例
微分回路)40に入力される。同期検波された出力信号
S7は、前記チューナブルエタロン21がピエゾ素子2
2により振動されるとき、振動幅が何らかの原因により
所定値から変化し、前記1.3312マイクロメータの波長を
有する第1の光と、この1.3312マイクロメータの波長か
ら僅かにずれた1.3372マイクロメータの波長を有する第
2の光が得られなくならないよう、上記振動幅を所定値
に戻すように補正するための信号で、この信号S7を前
記PID回路(比例積分、比例微分回路)40を通して
より精密な補正信号にした状態で前記チューナブルエタ
ロン共振制御補正信号S3として前記加算器37に印加
する。従って加算器37からピエゾドライバ23に出力
される信号S4は、前記発振信号S1と、チューナブル
エタロン振動幅を補正するための一種のフィードバック
信号としてのチューナブルエタロン共振制御補正信号S
3とを加算した信号となる。
号N3とを入力し、パルス信号S5に同期して交流信号
N3を同期検波する。同期検波回路28において同期検
波された出力信号S7は、PID回路(比例積分、比例
微分回路)40に入力される。同期検波された出力信号
S7は、前記チューナブルエタロン21がピエゾ素子2
2により振動されるとき、振動幅が何らかの原因により
所定値から変化し、前記1.3312マイクロメータの波長を
有する第1の光と、この1.3312マイクロメータの波長か
ら僅かにずれた1.3372マイクロメータの波長を有する第
2の光が得られなくならないよう、上記振動幅を所定値
に戻すように補正するための信号で、この信号S7を前
記PID回路(比例積分、比例微分回路)40を通して
より精密な補正信号にした状態で前記チューナブルエタ
ロン共振制御補正信号S3として前記加算器37に印加
する。従って加算器37からピエゾドライバ23に出力
される信号S4は、前記発振信号S1と、チューナブル
エタロン振動幅を補正するための一種のフィードバック
信号としてのチューナブルエタロン共振制御補正信号S
3とを加算した信号となる。
また、同期検波回路34は、前記パルス信号S6と前記
交流信号N5とを入力し、パルス信号S6に同期して交
流信号N5を同期検波する。同期検波回路34において
同期検波された出力信号S8は、前記AD変換器17に
よりディジタル信号S9に変換されたあと、マイクロコ
ンピュータ18に入力される。
交流信号N5とを入力し、パルス信号S6に同期して交
流信号N5を同期検波する。同期検波回路34において
同期検波された出力信号S8は、前記AD変換器17に
よりディジタル信号S9に変換されたあと、マイクロコ
ンピュータ18に入力される。
マイクロコンピュータ18は、同期検波回路34から出
力された同期検波出力信号S8に対応したディジタル信
号S9を入力すると、このディジタル信号S9に基づい
て、メタンガスに吸収されたあとの前記1.3312マイクロ
メータの波長を有する第1の光の光量に対応した信号
と、メタンガスにより吸収されない前記1.3372マイクロ
メータ波長の第2の光の光量に対応した信号との差を演
算し、更に、その差に基づいて前記ガスセル7のメタン
ガスの濃度(圧力)を演算検出する。そして演算された
メタンガスの濃度(圧力)は、キーボード41の設定操
作によりLEDディスプイレイ42に表示される。
力された同期検波出力信号S8に対応したディジタル信
号S9を入力すると、このディジタル信号S9に基づい
て、メタンガスに吸収されたあとの前記1.3312マイクロ
メータの波長を有する第1の光の光量に対応した信号
と、メタンガスにより吸収されない前記1.3372マイクロ
メータ波長の第2の光の光量に対応した信号との差を演
算し、更に、その差に基づいて前記ガスセル7のメタン
ガスの濃度(圧力)を演算検出する。そして演算された
メタンガスの濃度(圧力)は、キーボード41の設定操
作によりLEDディスプイレイ42に表示される。
以上のように、被濃度(圧力)検出ガスに吸収される第
1の光の吸収スペクトルに応じた波長と、上記吸収スペ
クトル対応波長より僅かにずれた第2の光の非吸収波長
とに共振するようにチューナブルエタロン21を変調さ
せてガス濃度(圧力)を高精度に検出する手段は、本実
施例で開示したメタンガスに限らず、任意のガスの濃度
(圧力)を検出し、表示する場合にも有用である。
1の光の吸収スペクトルに応じた波長と、上記吸収スペ
クトル対応波長より僅かにずれた第2の光の非吸収波長
とに共振するようにチューナブルエタロン21を変調さ
せてガス濃度(圧力)を高精度に検出する手段は、本実
施例で開示したメタンガスに限らず、任意のガスの濃度
(圧力)を検出し、表示する場合にも有用である。
尚、ガス濃度(圧力)が予め設定された基準値を越えた
場合、警報を出すため、前記アラーム出力回路19から
警報信号を出力することができる。
場合、警報を出すため、前記アラーム出力回路19から
警報信号を出力することができる。
尚、上記実施例の変形例として、前記干渉フィルタF2
の代わりに、被濃度(圧力)検出ガスを封入したガスセ
ルを用い、前記分光N1をこのガスセルを透過させるこ
とにより、前記チューナブルエタロン21の共振波長の
変調の中心を常に被濃度(圧力)検出ガスの吸収波長に
合わせるようなフィードバック制御をしても良い。
の代わりに、被濃度(圧力)検出ガスを封入したガスセ
ルを用い、前記分光N1をこのガスセルを透過させるこ
とにより、前記チューナブルエタロン21の共振波長の
変調の中心を常に被濃度(圧力)検出ガスの吸収波長に
合わせるようなフィードバック制御をしても良い。
また、前記チューナブルエタロン21の配設位置は、前
記実施例のように前記干渉フィルタF1の直ぐ後でなく
ても、例えば前記ガスセル7の直前、あるいは直後でも
良く、あるいはその他の有効な位置でも良い。
記実施例のように前記干渉フィルタF1の直ぐ後でなく
ても、例えば前記ガスセル7の直前、あるいは直後でも
良く、あるいはその他の有効な位置でも良い。
更に、前記ガスセル7のすぐ後に光カプラ、あるいはビ
ームスプリッタを配設し、ガスセル7を透過した光を二
つに分け、一方の光を前記干渉フィルタF1に入射さ
せ、他方の光を基準パワー測定部に入光させ、前記光フ
ァイバ5、マルチモードファイバ10の光ファイバ光路
を監視させることもできる。但し、この場合は前記干渉
フィルタF1にハーフミラー機能を必要としない。
ームスプリッタを配設し、ガスセル7を透過した光を二
つに分け、一方の光を前記干渉フィルタF1に入射さ
せ、他方の光を基準パワー測定部に入光させ、前記光フ
ァイバ5、マルチモードファイバ10の光ファイバ光路
を監視させることもできる。但し、この場合は前記干渉
フィルタF1にハーフミラー機能を必要としない。
[発明の効果] 以上のように本発明によれば、濃度(圧力)が検出され
る任意のガスが封入されたガスセルにビーム状の光を透
過させ、上記ガスにより吸収される波長の第1の光の吸
収度に応じてガスの濃度を演算検出するとき、ガスセル
の後の光路、あるいはガスセルの前の光路に設けられた
チューナブルエタロンを共振変調することにより、計測
光としての上記第1の光と、ガスにより吸収されない波
長の参照光としての第2の光とを所定のタイミングで通
過させ、同チューナブルエタロンを通過した前記第1の
光と第2の光の合計光量をモニターし、この合計光量に
応じて前記チューナブルエタロンの共振波長の変調の中
心を被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波長に自動的に
合わせるようにフィードバック制御するとともに、前記
第1の光と第2の光を光電変換した第1の電気信号と第
2の電気信号とに基づいて被濃度(圧力)検出ガスによ
る第1の光の吸収率を演算し、この吸収率から前記被濃
度(圧力)検出ガスの濃度(圧力)を演算することがで
きるため、任意のガスの濃度(圧力)を高精度に検出す
ることができるという効果がある。
る任意のガスが封入されたガスセルにビーム状の光を透
過させ、上記ガスにより吸収される波長の第1の光の吸
収度に応じてガスの濃度を演算検出するとき、ガスセル
の後の光路、あるいはガスセルの前の光路に設けられた
チューナブルエタロンを共振変調することにより、計測
光としての上記第1の光と、ガスにより吸収されない波
長の参照光としての第2の光とを所定のタイミングで通
過させ、同チューナブルエタロンを通過した前記第1の
光と第2の光の合計光量をモニターし、この合計光量に
応じて前記チューナブルエタロンの共振波長の変調の中
心を被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波長に自動的に
合わせるようにフィードバック制御するとともに、前記
第1の光と第2の光を光電変換した第1の電気信号と第
2の電気信号とに基づいて被濃度(圧力)検出ガスによ
る第1の光の吸収率を演算し、この吸収率から前記被濃
度(圧力)検出ガスの濃度(圧力)を演算することがで
きるため、任意のガスの濃度(圧力)を高精度に検出す
ることができるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例の全体的な構成を示す系統図
であり、第2図はメタンガスの吸収スペクトル特性図、
第3図は干渉フィルタと、チューナブルエタロンの特性
説明図、第4図は別の干渉フィルタの特性説明図であ
る。また、第5図は従来のガス濃度(圧力)検出信号の
構成系統図である。 3…発光ダイオード 7…ガスセル F1,F2…干渉フィルタ 18…マイクロコンピュータ 21…チューナブルエタロン 22…ピエゾ素子 23…ピエゾドライバ 24…分光器 26…増幅器 27…キャパシタ 28…同期検波回路 PD2,PD3…ホトダイオード 31…増幅器 32…キャパシタ 34…同期検波回路 36…発振回路 37…加算器 38…位相制御回路 42…LEDディスプレイ
であり、第2図はメタンガスの吸収スペクトル特性図、
第3図は干渉フィルタと、チューナブルエタロンの特性
説明図、第4図は別の干渉フィルタの特性説明図であ
る。また、第5図は従来のガス濃度(圧力)検出信号の
構成系統図である。 3…発光ダイオード 7…ガスセル F1,F2…干渉フィルタ 18…マイクロコンピュータ 21…チューナブルエタロン 22…ピエゾ素子 23…ピエゾドライバ 24…分光器 26…増幅器 27…キャパシタ 28…同期検波回路 PD2,PD3…ホトダイオード 31…増幅器 32…キャパシタ 34…同期検波回路 36…発振回路 37…加算器 38…位相制御回路 42…LEDディスプレイ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 安 精治 愛知県小牧市大字上末122番地 サンテッ ク株式会社内 (72)発明者 村上 知広 愛知県小牧市大字上末122番地 サンテッ ク株式会社内 (56)参考文献 特開 昭54−4185(JP,A) 特開 昭62−50641(JP,A)
Claims (2)
- 【請求項1】被濃度(圧力)検出ガスが封入されたガス
セルにビーム状の光を透過させ、ガスセルを透過した光
をチューナブルエタロンに入射させた状態でチューナブ
ルエタロンを所定のタイミングで共振変調し、前記被濃
度(圧力)検出ガスにより強く吸収される波長の第1の
光と上記ガスにより吸収されない波長の第2の光とを通
過させるとともに、同チューナブルエタロンを通過した
前記第1の光と第2の光の合計光量をモニターし、この
合計光量が所定量以下に減衰したとき、減衰光量に基い
て前記チューナブルエタロンの共振変調を補正し、チュ
ーナブルエタロンの共振波長の変調の中心を被濃度(圧
力)検出ガスの光の吸収波長に合わせるようにフィード
バック制御するとともに、前記第1の光と第2の光を光
電変換した第1の電気信号と第2の電気信号とに基づい
て前記被濃度(圧力)検出ガスによる第1の光の吸収率
を演算し、この吸収率から前記被濃度(圧力)検出ガス
の濃度(圧力)を演算することを特徴とするチューナブ
ルエタロンを用いたガス濃度圧力検出方法。 - 【請求項2】被濃度(圧力)検出ガスが封入されたガス
セルにビーム状の光を入射するための入射光路に配設さ
れたチューナブルエタロンを所定のタイミングで共振変
調し、前記被濃度(圧力)検出ガスにより強く吸収され
る波長の第1の光と上記検出ガスにより吸収されない波
長の第2の光とを通過させ、同チューナブルエタロンを
通過した前記第1の光と第2の光の合計光量をモニター
し、この合計光量が所定量以下に減衰したとき、減衰光
量に基づいて前記チューナブルエタロンの共振変調を補
正し、チューナブルエタロンの共振波長の変調の中心を
被濃度(圧力)検出ガスの光の吸収波長に合わせるよう
にフィードバック制御するとともに、前記第1の光と第
2の光を光電変換した第1の電気信号と第2の電気信号
とに基づいて前記被濃度(圧力)検出ガスによる第1の
光の吸収率を演算し、この吸収率から前記被濃度(圧
力)検出ガスの濃度(圧力)を演算することを特徴とす
るチューナブルエタロンを用いたガス濃度圧力検出方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10540589A JPH067100B2 (ja) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | チューナブルエタロンを用いたガス濃度圧力検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10540589A JPH067100B2 (ja) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | チューナブルエタロンを用いたガス濃度圧力検出方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02284045A JPH02284045A (ja) | 1990-11-21 |
JPH067100B2 true JPH067100B2 (ja) | 1994-01-26 |
Family
ID=14406706
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10540589A Expired - Fee Related JPH067100B2 (ja) | 1989-04-25 | 1989-04-25 | チューナブルエタロンを用いたガス濃度圧力検出方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH067100B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2916849B1 (fr) * | 2007-05-29 | 2010-04-23 | Univ Claude Bernard Lyon | Procede de teledetection optique de composes dans un milieu |
CN101983329A (zh) | 2008-04-01 | 2011-03-02 | 国立大学法人丰桥技术科学大学 | 辨别过滤装置、对象辨别方法、以及辨别过滤装置的过滤器的设计方法 |
JP2010286291A (ja) * | 2009-06-10 | 2010-12-24 | Hioki Ee Corp | 赤外線分光器および赤外線分光測定装置 |
-
1989
- 1989-04-25 JP JP10540589A patent/JPH067100B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02284045A (ja) | 1990-11-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |