JPS5954154A - 電界放射形電子銃を有する粒子線装置 - Google Patents

電界放射形電子銃を有する粒子線装置

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JPS5954154A
JPS5954154A JP16527982A JP16527982A JPS5954154A JP S5954154 A JPS5954154 A JP S5954154A JP 16527982 A JP16527982 A JP 16527982A JP 16527982 A JP16527982 A JP 16527982A JP S5954154 A JPS5954154 A JP S5954154A
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electron
field emission
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JP16527982A
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Naotake Saito
斉藤 尚武
Yasushi Nakaizumi
泰 中泉
Hiroyoshi Mori
森 弘義
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Hitachi Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/28Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams

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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、電界放射形電子銃、特に、陰極と第−陽極及
び第二陽極とよりなる電界放射形電子銃を有する粒子線
装置に関するものである。
〔従来技術〕
電界放射形電子銃は、第1図に示すように、陰極1と、
第一陽極2と、第二陽極3とより構成され、陰極1と第
一陽極2との間に電源4によって印加された電圧v1に
よって陰極1から電子線5を放射させ、この放射された
電子線5を陰極1と第二陽極3との間に電源6によって
印加された電圧Voで加速するようになっている。従っ
て、第一陽極2と第二陽極3との間にはVo  Vrの
電圧が印加されるため、第一陽極2及び第二陽極3が静
電レンズ作用をもち、電子線5の収束条件は例えば5か
ら5′に変わるため、電子源は仮想電子源7に変シ、第
一陽極2から電子源までの距離はSからS′に大幅に変
化する。
このだめ、このような特性を有する電界放射形電子銃を
電子源として使用する場合には、電子源位置の変化に対
応して、試料上における電子線の収束状態が大幅に変わ
るため、電子レンズ系を大きく動かして再調整しなけれ
ばならず、操作を非常に困難にする原因となっていた。
第2図は、このような場合の例とし1、電界放射形電子
銃を用いた走査形電子顕微鏡を示している。第1図と同
一部分には同一符号が付しである。
8は収束レンズ、9は対物レンズ、10は試料を示して
いる。この走査形電子顕微鏡において、電子銃1より放
射された電子線5は収束レンズ8と対物レンズ9によっ
て実線で示すように収束され、試料10上に焦点を結ぶ
。この走査形電子顕微鏡で、電圧Vo 、Vlの少なく
とも一方を変えると、電子源の位置は実線の位置から点
線の仮想電子源7の位置に変化するため、収束レンズ8
の収束点は11の位置から11′の位置に変シ、対物レ
ンズ9の収束点は12の位置から12′の位置に変化す
る。従って、最初試料10上で焦点を結んでいた場合に
は試料10上で焦点を結ば々くなシ、観察像は大幅にぼ
ける結果となる。これを補正するだめには、収束レンズ
8と対物レンズ9の焦点距離を変えて、焦点合せを行な
わなければならず、各電子レンズ8及び9の焦点距離を
変えると、電子レンズ8及び9の収差の補正もずれてし
まうため、再調整が必要となる。
特に、走査形電子顕微鏡では、一般に、Vlは3〜6k
V、Voは1〜40kVまで変える必要があり、使用条
件としては40倍変化するため、倍率を変化させるごと
に再調整を必要とすることは操作性を阻害する大きな要
因となっている。
〔発明の目的〕
本発明は、このような問題点を除去し、倍率を変化させ
た場合にも再調整を必要としない操作性のよい電界放射
形電子銃を有する粒子線装置の提供を可能とすることを
目的とするものである。
〔発明の概要〕
本発明は陰極と第−陽極及び第二陽極とよシなる電界放
射形電子銃と、この電界放射形電子銃用電源と、電子レ
ンズ系及びこの電子レンズ系制御用電源とを有する装置
において、電界放射形電子銃用電源の設定値を入力とし
仮想電子源の位置を出力とする仮想電子源位置決定手段
と、この仮想電子源位置決定手段により求めた仮想電子
源の位置に基づき電子線が試料上に一定の収束条件で収
束するように電子レンズ系制御用電源を自動的に制御す
る手段とを有することを特徴とするものである。
電界放射形電子銃においては、陰極1と第一陽極2との
間に印加される電圧(引出し電圧)Vlと陰極1と第二
陽極3との間に印加される電圧(加速電圧)Voが変る
と第一陽極2と第二陽極3の静電レンズ作用により仮想
光源までの距離が変るが、引出し電圧v11加速電圧v
O及び仮想光源までの距離の間には第3図に示すような
関係があり、引出し電圧■1と加速電圧vOとの値が分
ると仮想光源までの距離が求められる。第3図の横軸、
縦軸には、それぞれVO’/Vl 、 S(w++)が
示しである。
また、収束レンズの焦点距離は ここに、fCOn:収束レンズ焦点距離vo :加速電
圧 ■e :収束レンズ電流 N :収束レンズ巻数 に1 、 K2 、 K3 * K4 :定数によって
求められ、第4図は、とれらの関係を、横軸、縦軸にそ
れぞれ、■。N/VW−(AT/訃)。
Icon(mm)をとって示しである。
本発明は、引出し電圧V1と加速電圧Voが決まると、
Sを第3図の関係から求め、次に、このSの変化に応じ
て収束レンズの焦点距離i conを変え収束レンズ8
による収束点11が変らないようにすることが可能な点
に着目してなされたもので、これによって、電子レンズ
系の焦点距離を自動的に調整して、常に試料面」二の収
束状態を一定にすることを可能とするものである。すな
わち、電子レンズ系の制御を、電子銃側に位置する収束
レンズを主体とし、試料側に位置する対物レンズの条件
をくずさずに制御できるので、収差には変化を生ぜず、
分解能等の低下も生じない制御方式%式% 〔発明の実施例〕 以下、実施例について説明する。
第5図は一実施例の走査形電子顕微鏡のブロック図を示
すもので、第1図及び第2図と同一部分には同一符号が
付しである。この実施例では、電子銃の制御及び電子レ
ンズ系の制御にマイクロコンピュータを用いており、本
体部A、、電源部B1CPU部C及び操作パネルDより
構成されている。
本体部Aは、第2図と同様に、陰極1と、第一陽極3及
び第二陽極4よシなる電子銃部、陰極1よシ放射された
電子線5を収束する収束レンズ8と対物レンズ9よりな
り、電子線が試料10の表面で丁度焦点を結ぶように操
作される。
電源部Bは、加速電圧電源6(電圧Vo)、引出し電圧
電源4(電圧v1 )、収束レンズ電源13及び対物レ
ンズ電源14より構成され、各電源は、操作部りのVo
設定回路15、V+設定回路16、グローブ電流設定回
路17及び自動焦点スイッチ18の操作によって制御さ
れる。
CPU部C内には、第一陽極3から仮想電子源7までの
距離Sを求める手段19.1con (収束レンズ焦点
距離)の計算手段20、IC0n(収束レンズ電流)の
設定手段21、及び対物レンズ自動焦点合せ手段22を
構成するプログラム及びデータが記憶させてあシ、操作
部りにおける条件設定によって動作するようになってい
る。
この実施例の走査形電子顕微鏡の操作に当っては、電圧
Vo及びvIが操作部りのVo設定回路15及びv1設
定回路16に設定されると、加速電圧電源6及び引出し
電圧電源4によって陰極1と第一陽極2及び第二陽極3
との間にそれぞれ電圧Vo及びvlが印加されると同時
に、CPU部CにおいてSの計算が行なわれる。また、
プローブ電流設定回路17によって収束レンズ8電流が
設定されると、CPU5CのIconの設定手段21を
介して収束レンズ電源13によって収束レンズ8が励磁
される。電子線5は収束点11に収束し、自動焦点スイ
ッチ18が操作されると、CPU部Cの対物レンズ自動
焦点合せ手段22を(9) 介して対物レンズ電源14によって対物レンズ9が収束
点11の像を試料10」二の収束点12に結像させる。
そして、この状態で電子レンズの各種の収差の補正が行
なわれる。
次に、この状態で、電圧Vo又はvlのいずれかをVo
設定回路15又はv1設定回路1Gによって変化させる
と、加速電圧電源6及び引出し電圧電源4によって陰極
1と第−Is極2及び第二陽極3との間の電圧が変えら
れ、これと同時に、CPU部Cの8計算手段によってS
の計算が行なわれ、Sの変化に対してfcon計算手段
2oにおいて収束レンズ8の収束点11が一定になる収
束レンズ8の焦点距離f conが計算され、この計算
ニヨッて得られた焦点距離になるように収束レンズ8の
Icon設定手段21を動作させて収束レンズ電源13
を駆動するので、電子線が実線の状態5から点線の状態
5′に変化しても、収束レンズ8の収束点11は常に一
定であり、また対物レンズ9による試料10上の収束点
12には変化は生じないので、電圧VO又はVlを変え
ても、常に(10) 焦点の合った像観察が可能となった。
寸だ、対物レンズは変化させないため最終像に影響を力
える対物レンズの収差補正を改めて実施する必要はなく
なり、操作性が著しく向上する。
なお、実際には、収束レンズ及び対物レンズには電磁石
を用いているため、焦点距離1conを変えた場合には
、ヒステリシスの分だけわずか焦点がずれるのが高倍率
の観察の際には認められる場合があるが、これは、操作
部りの自動焦点合せスイッチ18の操作又はIconの
設定手段21の動作終了後に自動的に自動焦点合せ手段
22を動作させて、対物レンズ電源14を動作させるよ
うにしておけば、自動的に焦点合せをすることができる
寸だ、収束レンズの収束点11の位置を、グローブ電流
設定回路17によ、!7目的に応じて任意に設定できる
ようにした場合にも、新たに設定された収束点の位置は
、vo/V1を変化させた時にも維持され、また任意に
設定された収束点の変化距離に対し、自動焦点合せ手段
の動作範囲は十分(11) カバーできる範囲を持っている。
このように、実施例の走査形電子顕微鏡は、電圧Vo 
、Vl、グローブ電流等の操作条件のいずれを変えても
、試料上への電子線の収束条件を変らないように制御出
来、常に焦点の合った像観察を可能とするので、性能、
操作性を大幅に向上した装置を提供することができる。
〔発明の効果〕
以上の如く、本発明は、倍率を変化させた場合にも再調
整を必要としない操作性のよい電界放射形電子銃を有す
る粒子線装置の提供を可能とするもので、産業上の効果
の犬なるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は電界放射形電子銃の原理説明図、第2図は電界
放射形電子銃を有する走査形電子顕微鏡の説明図、第3
図及び第4図は本発明の電界放射形電子銃を有する粒子
線装置の原理を説明するだめの線図、第5図は同じく一
実施例である走査形電子顕微鏡のブロック線図である。 1・・・陽極、2・・・第一陽極、3・・・第二陽極、
4・・・加(12) 速電圧電源、5・・・電子線、6・・・引出し電圧電源
、7・・・仮想電子源、8・・・収束レンズ、9・・・
対物レンズ、10・・・試料、11・・・収束点、12
・・・収束点、13・・・収束レンズ電源、14・・・
対物レンズ電源、15・・・Vo設定回路、16・・・
V1設定回路、17・・・プローブ電流設定回路、18
・・・自動焦点スイッチ、19・・・S計算手段、20
・・・f con計算手段、21・・・Icon設定手
段、22・・・対物レンズの自動焦点合せ手段、A・・
・本体部、B・・・電源部、C・・・CPU部、D・・
・操作パネル。 代理人 弁理士 長崎博男 (ほか1名) (13) 第 l  国 第 2 ロ ア□・ /ハ ロ′−\J 、SC7【ど−72 21乙\、8 //’ // 972・ /Q−/2

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、陰極と第−陽極及び第二陽極とよシ々る電界放射形
    電子銃と、該電界放射形電子銃用電源と、電子レンズ系
    及び該電子レンズ系制御用電源とを有する装置において
    、前記電界放射形電子銃用電源の設定値を入力とし仮想
    電子源の位置を出力とする仮想電子源位置決定手段と、
    該仮想電子源位置決定手段により求めた仮想電子源の位
    置に基づき前記電子線が試料上に一定の収束条件で収束
    するように前記電子レンズ系制御用電源を自動的に制御
    する手段とを有することを特徴とする電界放射形電子銃
    を有する粒子線装置。 2、前記電界放射形電子銃用電源の設定値が、前記陰極
    と前記第一陽極との間に印加される電圧、及び前記陰極
    と前記第二陽極との間に印加される電圧である特許請求
    の範囲第1項記載の電界放射形電子銃を有する粒子線装
    置。 3、前記電子レンズが、収束レンズと対物レンズよりな
    り、該収束レンズが前記陰極と前記第一陽極との間に印
    加される電圧、及び前記陰極と前記第二陽極との間に印
    加される電圧によって制御され、該対物レンズが前記陰
    極と前記第二陽極との間に印加される電圧によって制御
    される特許請求の範囲第1項記載の電界放射形電子銃を
    有する粒子線装置。 4、前記電子レンズ及び前記電子レンズ系制御電源が、
    電子線の収束条件を使用目的に応じて任意に設定する手
    段を有する特許請求の範囲第1項記載の電界放射形電子
    銃を有する粒子線装置。 5、 前記電子線の収束条件を使用目的に応じて任意に
    設定する手段が、前記収束レンズの設定条件を変える手
    段と、該手段による前記収束レンズの収束条件設定後に
    動作させる前記対物レンズの自動焦点合せ手段とからな
    る特許請求の範囲第4項記載の電界放射形電子銃を有す
    る粒子線装置。
JP16527982A 1982-09-21 1982-09-21 電界放射形電子銃を有する粒子線装置 Granted JPS5954154A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60205952A (ja) * 1984-03-30 1985-10-17 Hitachi Ltd 電子顕微鏡
JPS61139562U (ja) * 1985-02-21 1986-08-29
JPH02257556A (ja) * 1989-03-30 1990-10-18 Hitachi Ltd 電子顕微鏡

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60205952A (ja) * 1984-03-30 1985-10-17 Hitachi Ltd 電子顕微鏡
JPS61139562U (ja) * 1985-02-21 1986-08-29
JPH02257556A (ja) * 1989-03-30 1990-10-18 Hitachi Ltd 電子顕微鏡

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