JPS5952249A - 光導電部材 - Google Patents

光導電部材

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JPS5952249A
JPS5952249A JP57162654A JP16265482A JPS5952249A JP S5952249 A JPS5952249 A JP S5952249A JP 57162654 A JP57162654 A JP 57162654A JP 16265482 A JP16265482 A JP 16265482A JP S5952249 A JPS5952249 A JP S5952249A
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JP
Japan
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layer
atoms
layer region
gas
amorphous
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Pending
Application number
JP57162654A
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English (en)
Inventor
Kyosuke Ogawa
小川 恭介
Shigeru Shirai
茂 白井
Junichiro Kanbe
純一郎 神辺
Keishi Saito
恵志 斉藤
Yoichi Osato
陽一 大里
Teruo Misumi
三角 輝男
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPS5952249A publication Critical patent/JPS5952249A/ja
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic

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  • Inorganic Chemistry (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、光(ここでは広義の光で、紫外光線、可視光
線、赤外光線、X線、γ線等を示す)の様な電磁波に感
受性のある光導電部材に関する。
固体撮像装置、或いは像形成分野における電子写真用像
形成部材や原稿読取装置における光導電層を形成する光
導電材料としては、高感度でSN比〔光電流(Ip )
 /暗電流(Id):]が高く、照射する電磁波のスペ
クトル特性にマツチングした吸収スペクトル特性を有す
ること、光応答性が速く、所望の暗抵抗値を有すること
、使用時において人体に対して無公害であること、更に
は固体撮像装置においては、残像を所定時間内に容易に
処理することができること等の特性が要求される。殊に
、事務機としてオフィスで使用される電子写真装置内に
組込まれる電子写真用像形成部材の場合には、上記の使
用時における無公害性は重要な点である。
と表記す)があシ、例えば、独国公開第2746967
号公報、同第2855718号公報には電子写真用像形
成部材として、独国公開第2933411号公報には光
電変換読取装置への応用が記載されている。
面乍ら、従来のa −Siで構成された光導電層を有す
る光導電部材は、暗抵抗値、光感度、光応答性等の電気
的、光学的、光導電的特性、及び使用環境特性の点、更
には経時的安定性及び耐久性の点において、各々、個々
には特性の向上が計られているが総合的な特性向上を計
る上で更に改良される余地が存するのが実情である。
例えば、電子写真用像形成部材に適用した場合に、高光
感度化、高暗抵抗化を同時に計ろうとすると従来におい
てはその使用時において残留電位が残る場合が度々観測
され、この種の光導電部材は長時間繰返し使用し続ける
と、繰返し使用による疲労の蓄積が起って、残像が生ず
る所謂ゴースト現象を発する様になる等の不都合な点が
少なくなかった。
又、a−81材料で光導電層を構成する場合には、その
電気的、光導電的特性の改良を計るために、水素原子或
いは弗素原子や塩素原子等のハロゲン原子、及び電気伝
導型の制御のために硼素原子や燐原子等が或いはその他
の特性改良のために他の原子が、各々構成原子として光
導電層中に含有されるが、これ等の構成原子の含有の仕
方如何によっては、形成した層の電気的或いは光導電的
特性や耐圧性に問題が生ずる場合があった。
即ち、例えば、形成した光導電層中に光照射によって発
生したフォトキャリアの該層中での寿命が充分でないこ
とや暗部において、支持体側よりの電荷の注入の阻止が
充分でないこと、或いは、転写紙に転写された画像に俗
に「白ヌケ」と呼ばれる、局所的な放電破壊現象による
と思われる画像欠陥や、例えば、クリーニングに、ブレ
ードを用いるとその摺擦によると思われる。俗に「白ス
ジ」と云われている所謂画像「; 欠陥が生じたシしている。又、多湿雰囲気中で使用した
シ、或いは多湿雰囲気中に長時間放置した直後に使用す
ると俗に云う画像のボケが生ずる場合が少なくなかった
更には、層厚が十数μ以上になると層形成用の真空堆積
室よシ取シ出した後、空気中での放置時間の経過と共に
、支持体表面からの層の浮きや剥離、或いは層に亀裂が
生ずる等の現象を引起し勝ちになる。この現象は、殊に
支持体が通常、電子写真分野に於いて使用されているド
ラム状支持体の場合に多く起る等、経時的安定性の点に
於いて解決される可き点がある。
従ってa−St材料そのものの特性改良が計られる一方
で光導電部材を設計する際に、上記した様な問題の総て
が解決される様に工夫される必要がある。
本発明は上記の諸点に鑑み成されたもので、& −Si
に就て電子写真用像形成部材や固体撮像装置、読取装置
等に使用される光導電部材としての適用性とその応用性
という観点から総括的に鋭意研究検討を続けた結果、シ
リコン原子を母体とし、水素原子■又はハロゲン原子(
3)のいずれか一方を少なくとも含有するアモルファス
材料、所謂水素化アモルファスシリコン、ハロゲン化ア
モルファスシリコン、或いはハロゲン含有水素化アモル
ファスシリコン〔以後これ等の総称的表記として[a 
 si (He X ) Jを使用する〕から構成され
る光導電層を有する光導電部材の層構成を以後に説明さ
れる様な特定化の下に設計されて作成された光導電部材
は実用上著しく優れた特性を示すばかりでなく、従来の
光導電部材と較べてみてもあらゆる点において凌駕して
いること、殊に電子写真用の光導電部材として著しく優
れた特性を有していることを見出した点に基づいている
本発明は電気的、光学的、光導電的特性が使用環境に殆
んど依存なく実質的に常時安定しており、耐光疲労に著
しく長け、繰返し使用に際しても劣化現象を起さず耐久
性、耐湿性に優れ、残留電位が全く又は殆んど観測され
ない光導電部材を提供することを主たる目的とする。
本発明の他の目的は、支持体上に設けられる層と支持体
との間や積層される層の各層間に於ける密着性に優れ、
構造配列的に緻密で安定的であシ、層品質の高い光導電
部材を提供することである。
本発明の他の目的は、電子写真用像形成部材として適用
させた場合、静電像形成のための帯電処理の際の電荷保
持能力が充分あシ、通常の電子写真法が極めて有効に適
用され得る優れたう 電子写真特性を有する光導電部材を提供す丸ことである
本発明の更に他の目的は、長期の使用に於いて画像欠陥
や画像のボケが全くなく、濃度が高く、ハーフトーンが
鮮明に出て且つ解像度の高い、高品質画像金得ることが
容易にできる電子写真用の光導電部材を提供することで
ある。
本発明の更にもう1つの目的は、高光感度性。
高SN比特性及び高耐圧性を有する光導電部材を提供す
ることでもある。
本発明の光導電部材は、光導電部材用の支持体と、シリ
コン原子を母体とし、構成原子として水素原子■又はハ
ロゲン原子■のいずれか一方を少なくとも含有する非晶
質材料[a−SZ()i 、 X ) )で構成され、
光導電性を有する非晶質層とを有する光導電部材におい
て、前記非晶質層が、構成原子として窒素原子を含有す
る第一の層領域Cユと、構成原子として周期律表第■族
に属する原子を含有する第二の層領域価とを有し、これ
等は、少なくとも互いの一部を共有して前記支持体側の
方に内在されており、前記第二の層領域(6)の層厚を
tBとし、前記非晶質層の層厚と第二の層領域面の層厚
tBとの差をTとすればtn/(T+tB)≦0.4の
関係が成立している事を特徴とする。
上記した様な層構成を取る様にして設計された本発明の
光導電部材は、前記した諸問題の総てを解決し得、極め
て優れた電気的、光学的。
光導電的特性、耐圧性及び使用環境特性を示す。
殊に、電子写真用像形成部材として適用させた場合には
、画像形成への残留電位の影響が全くなく、その電気的
特性が安定しており高感度で、高SN比を有するもので
あって、耐光疲労、繰返し使用特性に長け、濃度が高く
、ハーフトーンが鮮明に出て、且つ解像度の高い、高品
質の画像を安定して繰返し得ることができる。
又、本発明の光導電部材は支持体上に形成される非晶質
層が、層自体が強靭であって、且つ支持体との密着性に
著しく優れており、高速で長時間連続的に繰返し使用す
ることができる。
以下、図面に従って、本発明の光導電部材に就て詳細に
説明する。
第1図は、本発明の第1の実施態様例の光導電部材の層
構成を説明するために模式的に示した模式的構成図であ
る。
第1図に示す光導電部材100は、光導電部材用として
の支持体101の上に、a−St(H。
X)から成シ、光導電性を示す非晶質層102を有する
非晶質層102は、構成原子として窒素原子を含有する
第一0層領域(へ)103、周期律表第■族に属する原
子(第■族原子)を含有する第二の層領域■104、及
び第二の層領域([I) 104上に、窒素原子及び第
■族原子が含有されてない表面層領域106とから成る
層構造を有する。
第一の層領域軸103と表面層領域106との間に設け
られている層領域105には第■族原子は含有されてい
るが窒素原子は含有されてない。
第一〇層領域■103に含有される窒素原子、或いは第
二の層領域(lID104に含有される第■族原子は、
各層領域に於いて、層厚方向には連続的に均一に分布し
、支持体101の表面に実質的に平行な面内に於いては
連続的に且つ実質的に均一に分布されるのが好捷しいも
のである。
第1図に示す場合の列の様な本発明の光導電部材に於い
ては、非晶質層102の表面部分には、窒素原子及び第
■族原子が含有されない層領域(第1図に示す表面ノー
領域106に相当)を有するが、第■族原子は含有され
ているが、窒素原子は含有されない層領域(第1図に示
す層領域105)は必ずしも設けられることを要しない
即ち、例えば第1図に於いて、第一の層領域103軸と
第二の層領域(I[[)104とが同じ層厚の層領域で
あっても良いし、又、第一〇層領域■103の中に第二
の層領域(lIf)104が設けられても良いものであ
る。
本発明の光導電部材に於いては、第一〇層領域軸には、
窒素原子の含有によって、高暗抵抗化及び高感度化と、
非晶質層が直接設けられる支持体との間の密着性の向上
が重点的に計られ、表面層領域には窒素原子を含有させ
ずに耐湿性。
耐コロナイオン性の一層の向上が重点的に計られている
殊に、第1図に示す光導電部材100の様に、非晶質層
102が、窒素原子を含有する第一の層領域N)103
、第■族原子を含有する第二の層領域[)104、窒素
原子の含有されていない層領域105、及び窒素原子及
び第■族原子の含有されていない表面層領域106とを
有し、第一の層領域■103と第二の層領域([D10
4とが共有する層領域を有する層構造の場合に、より良
好な結果が得られる。
本発明の光導電部材に於いては非晶質層の一部を構成し
窒素原子の含有される第一の層領域Nは、1つには非晶
質層の支持体との密着性の向上を計る目的の為に、又、
非晶質層の一部を構成し第■族原子の含有される第二の
層領域面は、1つには、非晶質層の自由表面側よシ帯電
処理を施された際、支持体側よシ非晶質層の内部に電荷
が注入されるのを阻止する目的の為に夫々、非晶質層の
一部として支持体と非晶質層とが接合する層領域として
、少なくとも互いの一部を共有する構造で設けられる。
又、別には第二の層領域(ト)の支持体と、或いは第二
の層領域(6)の上に直接設けられる層領域との密着性
の向上ケよシ一層効果的に達成するには、第一の層領域
軸を支持体との接触界面から、第二の層領域11[I)
全内包する様に設ける□。詰シ、支持体との接触界面か
ら第二の層領域価の上方まで延在させて第二0層領域(
2)を含んだ層構造となる様に第一の層領域軸を非晶質
層中に設けるのが好ましいものである。
本発明において、非晶質層を構成する第二の層領域(2
)中に含有される周期律表第■族に属する原子として使
用されるのは、B(硼素)、u(アルミニウム)、C=
(ガリウム)、In(インジウム)、Tz(タリウム)
等でアシ、殊に好適に用いられるのはB 、 Gaであ
る。
本発明において、第二の層領域価中に含有される第■族
原子の含有量としては、本発明の目的が効果的に達成さ
れる様に所望に従って適宜法められるが、層領域@)に
於いて、通常は30〜5 X 10 ’atomic 
ppm 、好ましくは50〜1×104104ato 
ppm、最適には100〜5 X 10’atomic
 ppmとされるのが望ましいものである。
第一の層領域軸中に含有される窒素原子の量に就ても形
成される光導電部材に要求さるる特性に応じて所望に従
って適宜法められるか、通常ノ場合、0.001〜50
 atomic%、好ましくは、0.002〜40 a
tomic%、最適には0.003〜30aiomie
 Xとされるのが望ましいものである。
本発明の光導電部材に於いては、第■族原子の含有され
ている層領域(2)の層厚tBと(第1図では層領域1
040層厚)、層領域価の上に設けられた、層領域面を
除いた部分の層領域(第1図では層領域106)の層厚
Tとは、その関係が先に示した様な関係式を満足する様
に決められるものであるが、より好ましくは、先に示し
た関係式の値が0.35以下、最適には0.3以下とさ
れるのが望ましい。
本発明に於いて、第■族原子の含有される層領域面の層
厚tnとしては、通常は30λ〜5μ、好適には40λ
〜4μ、最適には50λ〜3μとされるのが望ましいも
のである。
又、前記層厚Tと層厚tBとのオII(T+tn)とし
ては、通常は1〜100μ、好適には1〜80μ、最適
には2〜50μとされるのが望ましいものである。
窒素原子の含有される層領域軸の層厚toとしては、少
なくともその一部の層領域を共有する層領域(ト)の層
厚tBとの関係に於いて適宜所望する目的に従って決定
されるのが望ましい。即ち、層領域(2)と、該層領域
面と直に接触する支持体との間の密着性の強化を計る目
的であれば、層領域軸は、層領域面の支持体側端部層領
域に少なくとも設けられてあれば良いから、層領域(へ
)の層厚toとには高々層領域亜の層厚tB分だけあれ
ば良い。
又、層領域(2)と該層領域佃)上に直に設けられる層
領域(第1図で示せば層領域106に相当する)との間
の密着性の強化を計るのであれば、層領域軸は層領域[
相]の支持体の設けである側とは反対の端部層領域に少
なくとも設けてあれば良いから、層領域軸の層厚toと
しては、高々、層領域a)の層厚tB分だけあれば良い
更に、上記2つの点を満足する場合を考慮すれば層領域
軸の層厚toとしては、少なくとも層領域(2)の層厚
tnだけある必要があシ、且つ、この場合は、層領域ド
中に層領域(2)が設けられた層構造とされる必要があ
る。
鳩領域価と、該層領域[相]上に直に設けられる層領域
との間の密着性を一層効果的に計るには層領域■を層領
域1mの上方(支持体のある側とは反対方向)に延在さ
せるのが好ましいものである。
本発明に於いて、層厚tOとしては上記した点を考黙し
つつ所望に従って適宜法められるが、通常の場合10λ
〜10μ、好適には20人〜8μ、最適には30人〜5
μとされるのが望聾しいものである。
本発明において使用される支持体としては、導電性でも
電気絶縁性であっても良い。導電性支持体としては、例
えば、Ni0r 、ステンレス。
ke 、 Or 、 Mo 、 Au 、 Nb 、 
Ta 、 V 、 Ti 、 Pt 、 Pd等の金属
又はこれ等の合金が挙げられる。
電気絶縁性支持体としては、ポリエステル。
ポリエチレン、ポリカーボネート、セルローズアセテー
ト、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル。
ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド等の合
成樹脂のフィルム又はシート、ガラス。
セラミック、紙等が通常使用される。これ等の電気絶縁
性支持体は、好適には少なくともその一方の表面を導電
処理され、該導電処理された表面側に他の層が設けられ
るのが望ましい。
例えば、ガラスであれば、その表面に、Ni0r。
Ae、Or、Mo、Au、 Ir、Nb、Ta、V、T
i 、Pt、Pd。
IntO,、8nO,、ITO(In、O,、+ Sn
O,)等から成る薄膜を設けることによって導電性が付
与され、或いはポリエステルフィルム等の合成樹脂フィ
ルムであれば、Ni0r 、 Ae、 Ag 、 Pb
 、 Zn 、 Ni 、Au 。
Or、Mo、Ir、Nb、Ta、V、Ti 、Pt等の
金属の薄膜を真空蒸着、電子ビーム蒸着、スパッタリン
グ等でその表面に設け、又は前記金属でその表面をラミ
ネート処理して、その表面に導電性が付与される。支持
体の形状としては、円筒状、ベルト状、板状等任意の形
状とし得、所望によって、その形状は決定されるが、例
えば、第1図の光導電部材100を電子写真用像形成部
材として使用するのであれば連続高速複写の場合には、
無端ベルト状又は円筒状とするのが望ましい。支持体の
厚さは、所望通りの光4’!部材が形成される様に適宜
決定されるが、光導電部材として可撓性が要求される場
合には、支持体としての機能が充分発揮される範囲内で
あれは可能な限り薄くされる。面乍ら、この様な場合支
持体の製造上及び取扱い上、機械的強度等の点から、通
常は、10μ以上とされる。
本発明において、a−8i (l(、X)で構成される
非晶質層を形成するには例えばグロー放電法、スパッタ
リング法、或いはイオンプレーナイング法等の放電現象
を利用する真空堆積法によって成される。例えば、グロ
ー放電法によって、a−8i (H,X)で構成される
非晶質層を形成するには、基本的にはシリコン原子(8
i)を供給し得る8i供給用の原料ガスと共に、水素原
子(I−0導入用の又は/及びハロゲン原子(X)導入
用の原料ガスを、内部が減圧にし得る*積室内に導入し
て、該堆積室内にグロー放電を生起させ、予め所定位置
に設置されである所定の支持体表面上にa−8i(H,
X)から成る層を形成させれば良い。又、スパッタリン
グ法で形成する場合には、例えばAr 、 He等の不
活性ガス又はこれ等のガスをベースとした混合ガスの雰
囲気中でSiで構成されたターゲットをスパッタリング
する際、水素原子(H)又は/及びノ・ロゲン原子(X
)導入用のガスをスパッタリング用の堆積室に導入して
やれば良い〇 本発明において、必璧に応じて非晶質層中に含有される
ハロゲン原子(X)としては、具体的にはフッ素、塩累
、臭素、ヨウ素が挙げられ、殊にフッ素、塩素を好適な
ものとして挙げることが出来る。
本発明において使用されるSi供給用のJIJ、料ガス
としては、81H4、St、H’、 、 8s、H!l
、 St、H,。等のガス状態の又はガス化し得る水素
化硅素(シラン類)が有効に使用されるものとして挙げ
られ、殊に、層作成作業の扱い易さ、Si供給効率の良
さ等の点でS s H4、St 2 H6が好ましいも
のとして挙けられる。
本発明において使用されるハロゲン原子導入用の原料ガ
スとして有効なのは、多くのハロゲン化合物が挙けられ
、例えばハロゲンガス、ハロゲン化物、ハロゲン間化合
物、ハロゲンで置換されたシラン誘導体等のガス状態の
又はガス化し得るハロゲン化合物が好ましく挙げられる
又、更には、シリコン原子とハロゲン原子とを構成要素
とするガス状態の又はガス化し得る、ハロゲン原子を當
む硅素化合物も有効なものとして本発明においては挙け
ることが出来る。
本発明において好適に使用し得るハロゲン化   ゛金
物としては、具体的には、フッ素、塩素、臭素、ヨウ素
のハロゲンガス、BrF 、 01F、 0IF3゜B
rF、 、 BrF、 、 IF、 、 IF’、 、
 IO1!、 IBr等のハロゲン間化合物を挙げるこ
とが出来る@ ハロゲン原子を含む硅素化合物、所謂、ハロゲン原子で
置換されたシラン誘導体としては、具体的には例えば8
iF、 、 S、i、F6. Sin/、 、 8iB
r4等のハロゲン化硅素が好ましいものとして挙げるこ
とが出来る。
この様なハロゲン原子を含む硅素化合物を採用してグロ
ー放電法によって本発明の特徴的な光導電部材を形成す
る場合には、8iを供給し得る原料ガスとしての水素化
硅素ガスを使用しなくとも、所定の支持体上にハロゲン
原子を含むa−8iから成る非晶質層を形成する事が出
来る。
グロー放電法に従って、ハロゲン原子を含む非晶質層を
形成する場合、基本的には、Si供給用の原料ガスであ
るハロゲン化硅素ガスとAr 。
H,、He等のガス等を所定の混合比とガス流量になる
様にして非晶質層を形成する堆積室に導入し、グロー放
電を生起してこれ等のガスのプラズマ雰囲気全形成する
ことによって、所定の支持体上に非晶質層を形成し得る
ものであるが、水素原子の導入を計る為にこれ等のガス
に更に水素原子t−冨む硅素化合物のガスも所定量混合
して層形成しても良い。
又、各ガスは単独様の与でなく所定の混合比で複数種混
合して使用しても差支えないものである。
反応スパッタリング法或いはイオンブレーティング法に
依ってa−8i(H,X)から成る非晶質層を形成する
には、例えばスパッタリング法の場合には8iから成る
ターゲットを使用して、これを所定のガスプラズマ雰囲
気中でスパッタリングし、イオンブレーティング法の場
合には、多結晶シリコン又は単結晶シリコンを蒸発源と
して蒸着ボートに収容し、このシリコン蒸発源を抵抗加
熱法、或いはエレクトロンビーム法(BB法)等によっ
て加熱蒸発させ飛翔蒸発物を所定のガスプラズマ雰囲気
中を通過させる事で行う事が出来る◇ この際、スパッタリング法、イオンブレーティング法の
何れの場合にも形成される層中にハロゲン原子を導入す
るには、前記のハロゲン化合物又は前記のハロゲン原子
を含む硅素化合物のガスを堆積室中に導入して該ガスの
プラズマ雰囲気を形成してやれば良いものである。
又、水素原子を導入する場合には、水素原子導入用の原
料ガス、例えば、H2、或いは前記したシラン類等のガ
スをスパッタリング用の堆積室中に導入して該ガスのプ
ラズマ雰囲気を形成してやれば良い。
本発明においては、ハロゲン原子導入用の原料ガスとし
て上記されたハロゲン化合物或いはハロゲンを含む硅素
化合物が有効なものとして使用されるものであるが、そ
の他に、HF 、 HOe 。
HHr 、 HI等のハロゲン化水素、5iH2F、 
、 8iH2I、 。
5iH20/、 、 8iHOe、 、 8iH,Br
l 、 5iHBr、等のハ(ffゲン置換水素化硅素
、等々のガス状態の或いはガス化し得る、水素原子を構
成要素の1つとするハロゲン化物も有効な非晶質層形成
用の出発物質として挙げる事が出来る。
これ等の水素原子を含むハロゲン化物は、非晶質層形成
の際に層中にハロゲン原子の導入と同時に電気的或いは
光電的特性の制御に極めて有効な水素原子も導入される
ので、本発明においては好適なハロゲン原子導入用の原
料として使用される。
水素原子を非晶質層中に構造的に導入するには、上記の
他にH7、或いはSiH,、St、H6,5i3H,。
8i、H,o等の水素化硅素のガスを8iを供給する為
のシリコン化合物と堆積室中に共存させて放電を生起さ
せる事でも行う事が出来る。
例えば、反応スパッタリング法の場合には、Siターゲ
ットを使用し、ハロゲン原子導入用のガス及びH,ガス
を必要に応じてHe 、Ar等の不活性ガスも含めて堆
積室内に導入してプラズマ雰囲気を形成し、前記8iタ
ーゲツトをスパッタリングする事によって、基板上にa
−8i(H,X)から成る非晶質層が形成される。
更には、不純物のドーピングも兼ねてB、H,等のガス
を導入してやることも出来る。
本発明において、形成される光導電部材の非晶質層中に
含有される水素原子()I)の量又はハロゲン原子(X
)の量又は水素原子とハロゲン原子の量の和(f(+X
)は通常の場合1〜40 atomic %、好適には
5〜30 atomic%とされるのが望ましい。
非晶質層中に含有される水素原子(H)又は/及びハロ
ゲン原子(X)の量を制御するには、例えば支持体温度
又は/及び水素原子(H)、或いはハロゲン原子(X)
を含有させる為に使用される出発物質の堆積装置系内へ
導入する量、放電々力等を制御してやれば良い〇 非晶質層に、第■族原子を含有する層領域(1)及び窒
素原子を含有する層領域(N)を設けるには、グロー放
電法や反応スパッタリング法等による非晶質層の形成の
際に、第1族原子導入用の出発物質及び窒素原子導入用
の出発物質を夫々前記した非晶質層形成用の出発物質と
共に使用して、形成される層中にその蓋を制(財)し乍
ら含有してやる事によって成される。
非晶質層を構成する、窒素原子の官有される層領域(N
)及び第1族原子の官有される層領域(1) k夫々形
成するのにグロー放電法奮用いる場合、各層領域形成用
の原料ガスとなる出発物質としては、前記した非晶質層
形成用の出発物質の中から所望に従って選択されたもの
に、窒素原子導入用の出発物質又は/及び第1族原子導
入用の出発物質が加えられる。その様な窒素原子導入用
の出発物質又は第1族原子導入用の出発物質としては、
少なくとも窒素原子或いは第■族原子を構成原子とする
ガス状の物質又はガス化し得る物質をガス化したものの
中の大概のものが使用され得る。
例えは層領域(N)を形成するのであれば、シリコン原
子(8i)を構成原子とする原料ガスと、窒素原子(N
)を構成原子とする原料ガスと、必要に応じて水素原子
(H)又は/及びハロゲン原子(X)を構成原子とする
原料ガスとを所望の混量比で混合して使用するか、又は
、シリコン原子(Si)を構成原子とする原料ガスと、
窒素原子(N)及び水素原子(H)を構成原子とする原
料ガスとを、これも又所望の混合比で混合するか、或い
は、シリコン原子(8i)を構成原子とする原料ガスと
、シリコン原子(Si)、i素原子(N)及び水素原子
(l()の3つを構成原子とする原料ガスとを混合して
使用することが出来る。
又、別には、シリコン原子(8i)と水素原子(H)と
を構成原子とする原料ガスに窒素原子(5)を構成原子
とする原料ガスを混合して使用しても良い。
窒素原子導入用の原料ガスとなる出発物質としては、窒
素(Nt)、アンモニア(N)T3) 、ヒドラジン(
H,NNH,) 、アジ化水素<HNs)、アジ化アン
モニウム(NH4Ng )等のガス状の又はガス化し得
る窒素、窒化物及びアジ化物等の窒素化合物を挙げるこ
とが出来る〇 この他に、窒素原子の導入に加えて、ノーロゲン原子の
導入も行えるという点から、三弗化室7 素(I”jN)、四弗化窒素(F4Nt)  、二弗化
二窒素(N2に’2) 、 7 シ化弗素(FN、)、
7ジ化塩x < OeN、)アジ化臭素(HrN、 )
 、  アジ化ヒドラジニウム(Nt Hs Ns )
等のハロゲン宮有屋素化合物を挙げることが出来る。
層領域(1)をグロー放を法を用いて形成する場合に第
■族原子導入用の出発物質として、本発明において有効
に使用されるのは、硼素原子導入用としては、B2F1
6 、B4HIO、BIH@ 、115H11,’B6
H1o。
B11HIt 、B11H14等の水素化硼素、BP、
 、 BCl2. BBr、等のハロゲン化硼素等が挙
げられる。この他、A10/、 、 Gap/、 、 
Ga (OH,)、 、 Ink/3. Trot、等
も挙げることが出来る。
第■族原子を含有する層領域(璽)に導入される第■族
原子の官有前は、堆積室中に流入される第■族原子導入
用の出発物質のガス流量、ガス流量比、放電パワー、支
持体温度、堆積室内の圧力等音制御することによって任
意に制御され得る。
スパッターリング法によって、室索原子ケ含8 有する層領域(N)を形成するには、単結晶又は多結晶
のSiウェーハー又は8i、N、ウェーハー、又はSt
とSi、N、が混合されて含有されているウェーハーを
ターゲットとして、これ等を種々のガス雰囲気中でスパ
ッターリングすることによって行えは良い。
例えは、Siウェーハーをターゲットとして使用すれば
、窒素原子と必要に応じて水素原子又は/及びハロゲン
原子を導入する為の原料ガスを、心壁に応じて稀釈ガス
で稀釈して、スパッター用の堆積室中に導入し、これ等
のガスのガスプラズマを形成して前記8iウエーノ・−
をスパッターリングすれば良い。
又、別には、8iと8i3N、とは別々のターゲットと
して、又は8iと8i、N、の混合した一枚のターゲッ
トを使用することによって、スパッター用のガスとして
の稀釈ガスの雰囲気中で又は少なくとも水素原子(H)
又は/及びハロゲン原子(X)を構成原子として含有す
るガス雰囲気中でスパッターリングすることによって成
される。
窒素原子導入用の原料ガスとしては、先述したグロー放
電の例で示した原料ガスの中の蓋索原子導入用の原料ガ
スが、スパッターリングの場合にも有効なカスとして使
用され得る。
本発明に於て、非晶質層をクロー放電法又はスパッター
リング法で形成する際に使用される稀釈ガスとしては、
PITii11稀ガス、例えばHe 、 Ne 。
Ar等が好適なものとして挙げることが出来る。
本発明の光導電部材に於いては、窒素原子が含有される
層領域は、更に酸素原子を含有させて、窒素原子と酸素
原子が官有されている層領域(N、0)としても良い。
窒素原子の官有される層領域に酸素原子を化学構造的に
?tWさせることによって、非晶質層と支持体との間に
於ける密着性が一層向上させ得ると共に、一層の暗抵抗
の増大を計ることが出来る。
層領域(N)に酸素原子を導入するには、層領域(N)
を形成する際に酸素原子導入用の出発物質をガス状態で
真空堆積装置内に導入してやれば良い。
或いは、反応スパッターリング法によって層領域(N)
を形成する場合には、前述した層領域(N)の形成法に
於いて8i0.ターゲットを使用するか、又は、Si 
、 8i3N4等と共に8 io、が混合されているタ
ーゲラトラ使用することによって、形成される層領域(
N)中に酸素原子を含有させる事が出来る。
層領域(N、0)k形成する際の酸累原子導入用の原料
ガスとなる出発物質としては具体的には、例えば酸素(
0り、オゾン(Os)、−酸化窒素(NO)、二酸化窒
素(NOt )−−二酸化窒素(NtO)、三二酸化窒
素(N2O3) 、四三酸化窒素(NtO4)、三二酸
化窒素(Ntew) 、三酸化窒素(N0x) 。
シリコン原子(Si)と酸素原子(0)と水素原子(H
)とを構成原子とする、例えば、ジシロキサンH,8i
(J8iH8,)ジシロキサンH3S its iH,
08iH3等の低級シロキサン等を挙げることが出来る
次に、第2図にグロー放電分解法による光導電部材の製
造装置を示す。
図中の2.02,203,204,205,206のガ
スボンベには本発明の夫々の層領域を形成するための原
料ガスが密封されておplその1例としてたとえは20
2は、Heで稀釈されたSiH,ガス(純度99.99
9%、以下S i H4/Heと略す。)ボンベ、20
3はHeで稀釈されたH、)l、ガス(純度99.99
9%、以下BtHa/Heと略す。)ボンベ。
204はHeで稀釈された8itHIIガス(純度99
.99%。
以下Si、H,/)(eと略す。)ボ/べ、205はN
H。
ガス(純度99.999%)ボンベ、206はHeで稀
釈されたSiF、ガス(純度99.999 % 、以下
SiF、/Heと略す。)ボンベである〇 これらのガスを反応室201に流入させるにはガスボン
ベ202〜206のパルプ222〜226゜リークパル
プ235の夫々が閉じられていることを確認し、又、流
入パルプ212〜216、流出パルプ217〜5221
.補助パルプ232の夫々が開かれていることを確認し
て先づメインバルブ234を開いて反応室201、ガス
配管内を排気する。次に真空計236の読みが約5X1
0−6torrになった時点で補助パルプ232,23
3、流出バルブ217〜221を閉じる。
基体シリンダー237上に非晶質層全構成する層領域(
1)を形成する場合の1例をあげると、ガスボンベ20
2よ#) 8iH4/Heガス、ガスボンベ203よp
 B、H,/Heガスを、ノ(ルプ222,223を開
いて出口圧ゲージ227,228の圧をIIcg/cI
IL=に調整し、流入パルプ212,213を徐々に開
けて、マスフロコントローラ207,208内Ki人さ
せる。引き続いて流出バルブ217,218、補助パル
プ232を徐々に開いて夫々のガスを反応室201に流
入させる。このときの5i)f4/Heガス流量とB、
H,/Heガス流量との比が所望の値になるように流出
バルブ217,218を調整し、又、反応室内の圧力が
所望の値になるように真空計236の読みを見ながらメ
インパルプ234の開口を調整する0そして基体シリン
ダー237の温度が加熱ヒーター238により50〜4
00℃の温度に設定されていることを確認した後、電源
240を所望の電力に設定して反応室201内にグロー
放′1!を生起ぢせて層領域(1) ’に支持体上に形
成する。
層領域(N)を形成するには層領域(1)の形成の際に
使用したB、H,/Heガスのかわりに又は該ガスに加
えてNH,ガスを用いて層形成を行なう。
夫々の層全形成する際に必要なガス以外の流出バルブは
全て閉じることは言うまでもなく、又、夫々の層を形成
する際、前層の形成に使用したガスが反応室201内、
流出バルブ217〜221から反応室201内に至る配
管内に残留することを避けるために、流出バルブ217
〜221を閉じ補助パルプ232,233を開いてメイ
ンバルブ234を全開して系内を一旦高真空に排気する
操作を必要に応じて行なう。
又、層形成を行なっている間は層形成の均一化を計るた
め基体シリンダー237はモータ239により一定速度
で回転させる。
以下実施例について説明する。
実施例1 第2図に示した製造装置により、アルミニウム基板上に
、以下の条件で層形成を行った。
第1表 こうして得られた像形成部材を帯電露光現像装置に設置
し、■5KVでQ、2sec間コロナ帯電ヲ行い直ちに
光像を照射した。光源はタングステンランプを用い、1
.Q l!ux−seaの光量を、透過型のテストチャ
ートを用いて照射した。その後直ちに(→荷電性の現像
剤(トナーとキャリアを含む)を部材表面にカスケード
することによって部材表面上に良好なトナー画像を得た
このようにして得られたトナー像を、一旦ゴムブレード
でクリーニングし、再び上記作像クリーニング工程を繰
り返した。繰り返し回数10万回以上行っても画像の劣
化ばみられなかった。
実施例2 実施例1において像形成部材の作製の第1段階テHeガ
スで10000 Vppmに稀釈したB、r]、ガス並
びにNH,ガスの流量を各々、変化させた他は全く同様
の作製条件で像形成部材を作製し、その後実施例1と同
様の方法で評1i111を行った。
(IMA法)により分析した。
上記の結果を第2表に示す。
第2表 1)表中、窒素及び硼素の含有量は作製の第1段階にお
いて各々層中に含有される量を示す。
2)◎ 非常に良好 ○良好 △ 実用的に充分使用し得る ×(a)  画質が劣る ×(b)  膜の剥離が生じ易い 実施例3 第2図に示した製造装置によりアルミニウム基板上に以
下の条件で層形成を行った。
第3表 作製した像形成部材について実施例1と同様の方法で評
価したところ第4表に示す様な結果を得た。
第  4  表 評価基準二〇 非常に良好 ○  良  好 Δ 実用的に充分である × 実用上画質が劣る 実施例4 第2図に示した製造装置により、アルミニウム基板上に
以下の条件で層形成を行った。
第  5  表 この様にして得られた像形成部材について実施例1と同
様の方法により評価を行ったところ良好な結果が得られ
た。
実施例5 第2図に示した製造装置により、アルミニウム基板上に
以下の条件で層形成を行った。
第  6  表 この様にして得られた像形成部材について実施例1と同
様の方法で評価したところ、良好な結果が得られた。
実施例6 笥7表に示す条件のもとで像形成部材を作製した後、実
施例1と同様の方法でd′P価したところ良好な結果が
得られた。
第7表 実施例7 第8表に示す条件のもとて像形成部材を作製した後、実
施例1と同様の方法で評価したところ良好な結果が得ら
れた。
第  8  表 実施例8 第2図に示した製造装置によりアルミニウム基板上に以
下の条件で層形成を行った。
第  9  表 作製した像形成部側について実施例1と同様の方法で評
価したところ第10表に示す)柔な結果を得た。
@lO表 評価基準二〇 非常に良好 ○  良  好 △ 実用的に充分である × 実用上画質が劣る
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の光導電部材の好適な実施努態棟例の
層構造を模式的に示した模式的層構成図、第2図は、本
発明の光導電部材を製造する為の装置の一例を示す模式
的説明図である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 α)光導電部材用の支持体と、シリコン原子を母体とす
    る非晶質材料で構成され、光導電性を示す非晶質層とを
    有する光導電部材において、前記非晶質層が、構成原子
    として窒素原子を含有する第一の層領域と、構成原子と
    して周期律表第■族に属する原子を含有する第二の層領
    域とを有し、これ等は、少なくとも互いの一部を共有し
    て前記支持体側の方に内在されており、前記第二の層領
    域の層厚ヲtBとし、前記非晶質層の層厚と第二の層領
    域の層厚tnとの差をTとすれば tB/(T+tB)≦0.4 の関係が成立している事を特徴とする光導電部材。
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