JPH0473144B2

JPH0473144B2 -

Info

Publication number: JPH0473144B2
Application number: JP57033294A
Authority: JP
Inventors: Shigeru Shirai; Kyosuke Ogawa; Junichiro Kanbe; Keishi Saito; Yoichi Oosato; Teruo Misumi
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1982-03-03
Filing date: 1982-03-03
Publication date: 1992-11-20
Also published as: JPS58150961A

Description

【発明の詳細な説明】

本発明は、光（ここでは広義の光で、紫外光
線、可視光線、赤外光線、Ｘ線、γ線等を示す）
の様な電磁波に感受性のある光導電部材に関す
る。固体撮像装置、或いは像形成分野における電子
写真用像形成部材や原稿読取装置における光導電
層を形成する光導電材料としては、高感度で、
SN比〔光電流（Ip）／暗電流（Id）〕が高く、照
射する電磁波のスペクトル特性にマッチングした
吸収スペクトル特性を有すること、光応答性が速
く、所望の暗抵抗値を有すること、使用時におい
て人体に対して無公害であること、更には固体撮
像装置においては、残像を所定時間内に容易に処
理することができること等の特性が要求される。
殊に、事務機としてオフイスで使用される電子写
真装置内に組込まれる電子写真用像形成部材の場
合には、上記の使用時における無公害性は重要な
点である。この様な点に立脚して最近注目されている光導
電材料にアモルフアスシリコン（以後ａ−Siと表
記す）があり、例えば、独国公開第2746967号公
報、同第2855718号公報には電子写真用像形成部
材として、独国公開第2933411号公報には光電変
換読取装置への応用が記載されている。而乍ら、従来のａ−Siで構成された光導電層を
有する光導電部材は、暗抵抗値、光感度、光応答
性等の電気的、光学的、光導電的特性、及び使用
環境特性の点、更には経時的安定性及び耐久性の
点において、各々、個々には特性の向上が計られ
ているが総合的な特性向上を計る上で更に改良さ
れる余地が存するのが実情である。例えば、電子写真用像形成部材に適用した場合
に、高光感度化、高暗抵抗化を同時に計ろうとす
ると従来においてはその使用時において残留電位
が残る場合が度々観測され、この種の光導電部材
は長時間繰返し使用し続けると、繰返し使用によ
る疲労の蓄積が起つて、残像が生ずる所謂ゴース
ト現象を発する様になる等の不都合な点が少なく
なかつた。又、ａ−Si材料で光導電層を構成する場合に
は、その電気的、光導電的特性の改良を計るため
に、水素原子或いは弗素原子や塩素原子等のハロ
ゲン原子、及び電気伝導型の制御のために硼素原
子や隣原子等が或いはその他の特性改良のために
他の原子が、各々構成原子として光導電層中に含
有されるが、これ等の構成原子の含有の仕方如何
によつては、形成した層の電気的或いは光導電的
特性や耐圧性に問題が生ずる場合があつた。即ち、例えば、形成した光導電層中に光照射に
よつて発生したフオトキヤリアの該層中での寿命
が充分でないことや暗部において、支持体側より
の電荷の注入の阻止が充分でないこと、或いは、
転写紙に転写された画像に俗に「白ヌケ」と呼ば
れる、局所的な放電破壊現像によると思われる画
像欠陥や、例えば、クリーニングに、ブレードを
用いるとその摺擦によると思われる、俗に「白ス
ジ」と云われている所謂画像欠陥が生じたりして
いた。又、多湿雰囲気中で使用したり、或いは多
湿雰囲気中に長時間放置した直後に使用すると俗
に云う画像のボケが生ずる場合が少なくなかつ
た。更には、層厚が十数μ以上になると層形成用の
真空堆積室より取り出した後、空気中での放置時
間の経過と共に、支持体表面からの層の浮きや剥
離、或いは層に亀裂が生ずる等の現象を引起し勝
ちになる。この現象は、殊に支持体が通常、電子
写真分野に於て使用されているドラム状支持体の
場合に多く起る等、経時的安定性の点に於いて解
決される可き点がある。従つてａ−Si材料そのものの特性改良が計られ
る一方で光導電部材を設計する際に、上記した様
な問題の総てが解決される様に工夫される必要が
ある。本発明は上記の諸点に鑑み成されたもので、ａ
−Siに就て電子写真用像形成部材や固体撮像装
置、読取装置等に使用される光導電部材としての
適用性とその応用性という観点から総括的に鋭意
研究検討を続けた結果、シリコン原子を母体と
し、水素原子（Ｈ）又はハロゲン原子（Ｘ）のい
ずれか一方を少なくとも含有するアモルフアス材
料、所謂水素化アモルフアスシリコン、ハロゲン
化アモルフアスシリコン、或いはハロゲン含有水
素化アモルフアスシリコン〔以後これ等の総称的
表記として「ａ−Si（Ｈ，Ｘ）」を使用する〕から
構成される光導電層を有する光導電部材の層構成
を以後に説明される様な特定化の下に設計されて
作成された光導電部材は実用上著しく優れた特性
を示すばかりでなく、従来の光導電部材と較べて
みてもあらゆる点において凌駕していること、殊
に電子写真用の光導電部材として著しく優れた特
性を有していることを見出した点に基づいてい
る。本発明は電気的、光学的、光導電的特性が使用
環境に殆んど依存なく実質的に常時安定してお
り、耐光疲労に著しく長け、繰返し使用に際して
も劣化現象を起さず耐久性、耐湿性に優れ、残留
電位が全く又は殆んど観測されない光導電部材を
提供することを主たる目的とする。本発明の他の目的は、支持体上に設けられる層
と支持体との間や積層される層の各層間に於ける
密着性に優れ、構造配列的に緻密で安定的であ
り、層品質の高い光導電部材を提供することであ
る。本発明の他の目的は、電子写真用像形成部材と
して適用させた場合、静電像形成のための帯電処
理の際の電荷保持能力が充分あり、通常の電子写
真法が極めて有効に適用さる得る優れた電子写真
特性を有する光導電部材を提供することである。本発明の更に他の目的は、長期の使用に於いて
画像欠陥や画像のボケが全くなく、濃度が高く、
ハーフトーンが鮮明に出て且つ解像度の高い、高
品質画像を得ることが容易にできる電子写真用の
光導電部材を提供することである。本発明の更にもう１つの目的は、高光感度性、
高SN比特性及び高耐圧性を有する光導電部材を
提供することでもある。本発明の光導電部材は、光導電部材用の支持体
と、シリコン原子（Si）を母体とし、構成原子と
して窒素原子（Ｎ）を含有する非晶質材料で構成
された補助層と、シリコン原子を母体とする非晶
質材料〔ａ−Si（Ｈ，Ｘ）〕で構成され、光導電性
を示す非晶質層とを有し、該非晶質層が、構成原
子として酸素原子を含有する第一の層領域と、構
成原子として周期律表第族に属する原子を含有
する第二の層領域とを有し、これ等は、少なくと
も互いの一部を共有して前記補助層に接して前記
支持体側の方に内在されており、前記第二の層領
域の層厚をt_Bとし、前記第一の非晶質層の層厚と
第二の層領域の層厚t_Bとの差をＴとすれば、t_B／
（Ｔ＋t_B）≦0.4の関係が成立している事を特徴と
する。上記した様な層構成を取る様にして設計された
本発明の光導電部材は、前記した諸問題の総てを
解決し得、極めて優れた電気的、光学的、光導電
的特性、耐圧性及び使用環境特性を示す。殊に、電子写真用像形成部材として適用させた
場合には、画像形成への残留電位の影響が全くな
く、その電気的特性が安定しており高感度で、高
SN比を有するものであつて、耐光疲労、繰返し
使用特性に長け、濃度が高く、ハーフトーンが鮮
明に出て、且つ解像度の高い、高品質の画像を安
定して繰返し得ることができる。又、本発明の光導電部材は支持体上に形成され
る非晶質層が、層自体が強靱であつて、且つ支持
体との密着性に著しく優れており、高速で長時間
連続的に繰返し使用することが出来る。以下、図面に従つて、本発明の光導電部材に就
て詳細に説明する。第１図は、本発明の第１の実施態様例の光導電
部材の層構成を説明するために模式的に示した模
式的構成図である。第１図に示す光導電部材１００は、光導電部材
用としての支持体１０１の上に、補助層１０２，
ａ−Si（Ｈ，Ｘ）から成り、光導電性を示す非晶
質層１０３を有する。補助層１０２は、主に支持
体１０１と、非晶質層１０３との間の密着性を計
る目的の為に設けられ、支持体１０１と非晶質層
１０３の両方と親和性がある様に、後述する特性
を有する材質で構成される。本発明の光導電部材に於ける補助層は、シリコ
ン原子（Si）を母体とし、構成原子として窒素原
子（Ｎ）と、必要に応じて水素原子（Ｈ）、ハロ
ゲン原子（Ｘ）とを含有する非晶質材料（以後
「ａ−SiN（Ｈ，Ｘ）」と記す）で構成される。ａ−SiN（Ｈ，Ｘ）としては、シリコン原子
（Si）を母体とし窒素原子（Ｎ）を構成原子とす
る非晶質材料（以後「ａ−SiaN_1-a」と記す）、
シリコン原子（Si）を母体とし、窒素原子（Ｎ）
と水素原子（Ｈ）を構成原子とする非晶質材料
（以後「ａ−（Si_bN_1-b）_cH_1-cと記す）、シリコン原
子（Si）を母体とし、窒素原子（Ｎ）とハロゲン
原子（Ｘ）と必要に応じて水素原子（Ｈ）とを構
成原子とする非晶質材料（以後「ａ−（SidN_1-d）
ｅ（Ｈ，Ｘ）_1-e」と記す）とを挙げることが出来
る。本発明において、必要に応じて補助層中に含有
されるハロゲン原子（Ｘ）としては、具体的には
フツ素、塩素、臭素、ヨウ素が挙げられ、殊にフ
ツ素、塩素を好適なものとして挙げることが出来
る。補助層を上記の非晶質材料で構成する場合の層
形成法としてはグロー放電法、スパツターリング
法、イオンインプランテーシヨン法、イオンプレ
ーテイング法、エレクトロンビーム法等が挙げら
れる。これ等の製造法は、製造条件、設備資本投
下の負荷程度、製造規模、作製される光導電部材
に所望される特性等の要因によつて適宜選択され
て採用されるが、所望する特性を有する光導電部
材を製造する為の作製条件の制御が比較的容易で
ある、シリコン原子と共に窒素原子、必要に応じ
て水素原子やハロゲン原子を作製する補助層中に
導入するのが容易に行える等の利点からグロー放
電法或いはスパツターリング法が好適に採用され
る。更に、本発明に於いては、グロー放電法とスパ
ツターリング法とを同一装置系内で併用して補助
層を形成しても良い。グロー放電法によつて、ａ−SiN（Ｈ，Ｘ）で
構成される補助層を形成するには、基本的にはシ
リコン原子（Si）を供給し得るSi供給用の原料ガ
スと窒素原子（Ｎ）導入用の原料ガスと、必要に
応じて水素原子（Ｈ）導入用の又は／及びハロゲ
ン原子（Ｘ）導入用の原料ガスを、内部が減圧に
し得る堆積室内に導入して、該堆積室内にグロー
放電を生起させ、予め所定位置に設置されてある
所定の支持体表面上にａ−SiN（Ｈ，Ｘ）からな
る補助層を形成させれば良い。又、スパツタリング法で補助層を形成する場合
には、例えば次の様にされる。第一には、例えばAr，He等の不活性ガス又は
これ等のガスをベースとした混合ガスの雰囲気中
でSiで構成されたターゲツトをスパツタリングす
る際、窒素原子（Ｎ）導入用の原料ガスを、必要
に応じて水素原子（Ｈ）導入用の又は／及びハロ
ゲン原子（Ｘ）導入用の原料ガスと共にスパツタ
リングを行う真空堆積室内に導入してやれば良
い。第二には、スパツタリング用のターゲツトとし
てSi₃N₄で構成されたターゲツトか、或いはSiで
構成されたターゲツトとSi₃N₄で構成されたター
ゲツトの二枚か、又はSiとSi₃N₄とで構成された
ターゲツトを使用することで形成される補助層中
へ窒素原子（Ｎ）を導入することが出来る。この
際、前記の窒素原子（Ｎ）導入用の原料ガスを併
せて使用すればその流量を制御することで補助層
中に導入される窒素原子（Ｎ）の量を任意に制御
することが容易である。補助層中へ導入される窒素原子（Ｎ）の含有量
は、窒素原子（Ｎ）導入用の原料ガスが堆積室中
へ導入される際の流量を制御するか、又は窒素原
子（Ｎ）導入用のターゲツト中に含有される窒素
原子（Ｎ）の割合を、該ターゲツトを作成する際
に調整するか、或いは、この両者を行うことによ
つて、所望に従つて任意に制御することが出来
る。本発明において使用されるSi供給用の原料ガス
となる出発物質としては、SiH₄，Si₂H₆，Si₃H₈，
Si₄H₁₀等のガス状態の又はガス化し得る水素化硅
素（シラン類）が有効に使用されるものとして挙
げられ、殊に、層作成作業の扱い易や、Si供給効
率の良さ等の点でSiH₄，Si₂H₆が好ましいものと
して挙げられる。これ等の出発物質を使用すれば、層形成条件を
適切に選択することによつて、形成される補助層
中にSiと共にＨも導入し得る。 Si供給用の原料ガスとなる有効な出発物質とし
ては、上記の水素化硅素の他にハロゲン原子
（Ｘ）を含む硅素化合物、所謂、ハロゲン原子で
置換されたシラン誘導体、具体的には例えば、
SiF₄，Si₂F₆，SiCl₄，SiBr₄等のハロゲン化硅素
が好ましいものとして挙げることが出来、更には
SiH₂F₂，SiH₂I₂，SiH₂Cl₂，SiHCl₃，SiH₂Br₂，
SiHBr₃等のハロゲン置換水素化硅素、等々のガ
ス状態の或いはガス化し得る、水素原子を構成要
素の１つとするハロゲン化物も有効な補助層形成
の為のSi供給用の出発物質として挙げる事が出来
る。これ等のハロゲン原子（Ｘ）を含む硅素化合物
を使用する場合にも前述した様に、層形成条件の
適切な選択によつて形成される補助層中にSiと共
にＸを導入することが出来る。上記した出発物質の中、水素原子を含むハロゲ
ン化硅素化合物は、補助層形成の際に層中にハロ
ゲン原子（Ｘ）の導入と同時に電気的或いは光電
的特性の制御に極めて有効な水素原子（Ｈ）も導
入されるので、本発明においては好適なハロゲン
原子（Ｘ）導入用の出発物質として使用される。本発明において補助層を形成する際に使用され
るハロゲン原子（Ｘ）導入用の原料ガスとなる有
効な出発物質としては、上記したものの他に例え
ば、フツ素、塩素、臭素、ヨウ素のハロゲンガ
ス、BrF，ClF，ClF₃，BrF₅，BrF₃，IF₃，IF₇，
ICl，IBr等のハロゲン間化合物、HF，HCl，
HBr，HI等のハロゲン化水素を挙げることが出
来る。補助層を形成する際に使用される窒素原子
（Ｎ）導入用の原料ガスに成り得るものとして有
効に使用される出発物質は、Ｎを構成原子とする
或いはＮとＨとを構成原子とする例えば窒素
（N₂）、アンモニア（NH₃）、ヒドラジン（H₂
NNH₂）、アジ化水素（HN₃）、アジ化アンモニ
ウム（NH₄N₃）等のガス状の又はガス化し得る
窒素、窒化物及びアジ化物等の窒素化合物を挙げ
ることが出来る。この他に、窒素原子（Ｎ）の導
入に加えて、ハロゲン原子（Ｘ）の導入も行える
という点から、三弗化窒素（F₃Ｎ）、四弗化窒素
（F₄N₂）等のハロゲン化窒素化合物を挙げること
が出来る。本発明に於いて、補助層をグロー放電法又はス
パツターリング法で形成する際に使用される稀釈
ガスとしては、所謂、稀ガス、例えばHe，Ne，
Ar等が好適なものとして挙げることが出来る。本発明の補助層を構成するａ−SiN（Ｈ，Ｘ）
なる非晶質材料は、補助層の機能が、支持体と非
晶質層との間の密着を強固にし、加えてそれ等の
間に於ける電気的接触性を均一にするものである
から、補助層に要求される特性が所望通りに与え
られる様にその作成条件の選択が厳密に成され
て、注意深く作成される。本発明の目的に適つた特性を有するａ−SiN
（Ｈ，Ｘ）から成る補助層が形成される為の層作
成条件の中の重要な要素として、層作成時の支持
体温度を挙げる事が出来る。即ち、支持体の表面にａ−SiN（Ｈ，Ｘ）から
成る補助層を形成する際、層形成中の支持体温度
は、形成される層の構造及び特性を左右する重要
な因子であつて、本発明に於いては、目的とする
特性を有するａ−SiN（Ｈ，Ｘ）が所望通りに作
成され得る様に層作成時の支持体温度が厳密に制
御される。本発明に於ける目的が効果的に達成される為の
補助層を形成する際の支持体温度としては補助層
の形成法に併せて適宜最適範囲が選択されて、補
助層の形成が実行されるが、通常の場合、50℃〜
350℃、好適には、100℃〜250℃とされるのが望
ましいものである。補助層の形成には、同一系内
で補助層から非晶質層、更には必要に応じて非晶
質層上に形成される他の層まで連続的に形成する
事が出来る、各層を構成する原子の組成比の微妙
な制御や層厚の制御が他の方法に比べて比較的容
易である事等の為に、グロー放電法やスパツター
リング法の採用が有利であるが、これ等の層形成
法で補助層を形成する場合には、前記の支持体温
度と同様に層形成の際の放電パワー、ガス圧が、
作成される補助層の特性を左右する重要な因子と
して挙げることが出来る。本発明に於ける目的が達成される為の特性を有
する補助層が生産性よく効果的に作成される為の
放電パワー条件としては、通常１〜300W好適に
は２〜150Wである。又、堆積室内のガス圧は通
常３×10^-3〜5Torr、好適には８×10^-3〜
0.5Torr程度とされるのが望ましい。本発明の光導電部材に於ける補助層に含有され
る窒素原子の量及び必要に応じて含有される水素
原子、ハロゲン原子の量は、補助層の作製条件と
同様、本発明の目的を達成する所望の特性が得ら
れる補助層が形成される重要な因子である。補助層中に含有される窒素原子（Ｎ）の量、水
素原子（Ｈ）の量、ハロゲン原子（Ｘ）の量の
夫々は、本発明の目的が効果的に達成される様に
上記の層作成条件を考慮し乍ら所望に従つて任意
に決定される。補助層をａ−Si_aN_1-aで構成する場合には、窒
素原子補助層中の含有量は好ましくは１×10^-3〜
60atomic％、より好適には１〜50atomic％、ａ
の表示では好ましくは0.4〜0.99999、より好適に
は0.5〜0.99とされるのが望ましい。ａ−（Si_bN_1-b）_cH_1-cで構成する場合には、窒素
原子（Ｎ）の含有量としては、好ましくは１×
10^-3〜55atomic％、より好適には１〜55atomic
％、水素原子の含有量としては、好ましくは２〜
35atomic％、より好適には５〜30atomic％とさ
れ、ｂ，ｃで表示すれば、ｂとしては通常0.43〜
0.99999、より好適には0.43〜0.99、ｃとしては通
常0.65〜0.98、好適には0.7〜0.95とされ、ａ−
（Si_dN_1-d）_e（Ｈ，Ｘ）_1-eで構成する場合には、窒
素原子の含有量は、好ましくは１×10^-3〜
60atomic％、より好適には１〜60atomic％、ハ
ロゲン原子の含有量、又は、ハロゲン原子と水素
原子とを併せた含有量は、好ましくは１〜
20atomic％、より好適には２〜15atomic％とさ
れ、この場合の水素原子の含有量は好ましくは
19atomic％以下、より好適には13atomic％以下
とされるのが望ましい。ｄ，ｅの表示で示せば、
ｄとしては、好ましくは0.43〜0.99999、より好
ましくは0.43〜0.99、ｃとしては好ましくは、0.8
〜0.99、より好ましくは0.85〜0.98とされるのが
望ましい。本発明に於ける光導電部材を構成する補助層の
層厚としては、該補助層上に設けられる非晶質層
の層厚及び非晶質層の特性に応じて、所望に従つ
て適宜決定される。本発明に於いて補助層の層厚としては、通常
は、30Å〜2μ、好ましくは、40Å〜1.5μ、最適に
は50Å〜1.5μとされるのが望ましい。第１図に示される光導電部材１００に於ける非
晶質層１０３は、構成原子として酸素原子を含有
する第一の層領域（Ｏ）１０４、周期律表第族
に属する原子（第族原子）を含有する第二の層
領域（Ｖ）１０５、及び第二の層領域（Ｖ）１０
５上に、酸素原子及び第族原子が含有されてな
い表面層領域１０７とから成る層構造を有する。第一の層領域（Ｏ）１０４と表面層領域１０７
との間に設けられている層領域１０６には第族
原子は含有されているが酸素原子は含有されてな
い。第一の層領域（Ｏ）１０４に含有される酸素原
子は、或いは第二の層領域（Ｖ）１０５に含有さ
れる第族原子は、各層領域に於いて、層厚方向
には連続的に均一に分布し、支持体１０１の表面
に実質的に平行な面内に於いては連続的に且つ実
質的に均一に分布されるのが好ましいものであ
る。第１図に示す場合の例の様な本発明の光導電部
材に於いては、非晶質層１０３の表面部分には、
酸素原子及び第族原子が含有されない層領域
（第１図に示す表面層領域１０７に相当）を有す
るが、第族原子は含有されているが、酸素原子
は含有されない層領域（第１図に示す層領域１０
６）は必ずしも設けられることを要しない。即ち、例えば第１図に於いて、第一の層領域１
０４（Ｏ）と第二の層領域（Ｖ）１０５とが同じ
層領域であつても良いし、又、第一の層領域
（Ｏ）１０４の中に第二の層領域（Ｖ）１０５が
設けられても良いものである。本発明の光導電部材に於いては、第一の層領域
（Ｏ）には、酸素原子の含有によつて、高暗抵抗
化と、非晶質層が直接設けられる補助層との間の
密着性の向上が重点的に計られ、表面層領域には
酸素原子を含有させずに耐湿性、耐コロナイオン
性の一層の向上と高感度化が重点的に計られてい
る。殊に、第１図に示す光導電部材１００の様に、
非晶質層１０３が、酸素原子を含有する第一の層
領域（Ｏ）１０４、第族原子を含有する第二の
層領域（Ｖ）１０５、酸素原子の含有されていな
い層領域１０６、及び酸素原子及び第族原子の
含有されていない表面層領域１０７とを有し、第
一の層領域（Ｏ）１０４と第二の層領域（Ｖ）１
０５とが共有する層領域を有する層構造の場合に
より良好な結果が得られる。本発明の光導電部材に於いては非晶質層の一部
を構成し酸素原子の含有される第一の層領域
（Ｏ）は、１つには非晶質層の補助層との密着性
の向上を計る目的の為に、又、非晶質層の一部を
構成し第族原子の含有される第二の層領域
（Ｖ）は、１つには、非晶質層の自由表面側より
帯電処理を施された際、支持体側より非晶質層の
内部に電荷が注入されるのを阻止する目的の為に
夫々、非晶質層の一部として支持体と非晶質層と
が接合する層領域として、少なくとも互いの一部
を共有する構造で設けられる。又、別には第二の層領域（Ｖ）の補助層と、或
いは第二の層領域（Ｖ）の上に直接設けられる層
領域との密着性の向上をより一層効果的に達成す
るには、第一の層領域（Ｏ）を補助層との接触界
面から、第二の層領域（Ｖ）を内包する様に設け
る、詰り、補助層との接触界面から第二の層領域
（Ｖ）の上方まで延在させて第二の層領域（Ｖ）
を含んだ層構造となる様に第一の層領域（Ｏ）を
非晶質層中に設けるのが好ましいものである。本発明において、非晶質層を構成する第二の層
領域（Ｖ）中に含有される周期律表第族に属す
る原子として使用されるのは、Ｐ（燐）、As（砒
素）、Sb（アンチモン）、Bi（ビスマス）等であり、
殊に好適に用いられるのはＰ，Asである。本発明において、第二の層領域（Ｖ）中に含有
される第族原子の含有量としては、本発明の目
的が効果的に達成される様に所望に従つて適宜決
められるが、層領域（Ｖ）に於いて、通常は30〜
５×10⁴atomic ppm、好ましくは50〜１×10⁴
atomic ppm、最適には100〜５×10³atomic
ppmとされるのが望ましいものである。第一の層領域（Ｏ）中に含有される酸素原子の
量に就いても形成される光導電部材に要求される
特性に応じて所望に従つて適宜決められるが、通
常の場合、0.001〜50atomic％、好ましくは、
0.002〜40atomic％、最適には0.003〜30atomic％
とされるのが望ましいものである。本発明の光導電部材に於いては、第族原子の
含有されている層領域（Ｖ）の層厚t_Bと（第１図
では層領域１０４の層厚）、層領域（Ｖ）の上に
設けられた、層領域（Ｖ）を除いた部分の層領域
（第１図では層領域１０６）の層厚Ｔとは、その
関係が先に示した様な関係式を満足する様に決め
られるものであるが、より好ましくは、先に示し
た関係式の値が0.35以下、最適には0.3以下とさ
れるのが望ましい。本発明に於いて、第族原子の含有される層領
域（Ｖ）の層厚t_Bとしては、通常は30Å〜5μ、好
適には40Å〜4μ、最適には50Å〜3μとされるの
が望ましいものである。又、前記層厚Ｔと層厚t_Bとの和（Ｔ＋t_B）とし
ては、通常は１〜100μ、好適には１〜80μ、最適
には２〜50μとされるのが望ましいものである。酸素原子の含有される層領域（Ｏ）の層厚toと
しては、少なくともその一部の層領域を共有する
層領域（Ｖ）の層厚t_Bとの関係に於いて適宜所望
する目的に従つて決定されるのが望ましい。即
ち、層領域（Ｖ）と、該層領域（Ｖ）と直に接触
する補助層との間の密着性の強化を計る目的であ
れば、層領域（Ｏ）は、層領域（Ｖ）の支持体側
端部層領域に少なくとも設けられてあれば良いか
ら、層領域（Ｏ）の層厚toとには高々層領域
（Ｖ）の層厚t_B分だけあれば良い。又、層領域（Ｖ）と該層領域（Ｖ）上に直に設
けられる層領域（第１図で示せば層領域１０７に
相当する）との間の密着性の強化を計るのであれ
ば、層領域（Ｏ）は層領域（Ｖ）の支持体の設け
てある側とは反対の端部層領域に少なくとも設け
てあれば良いから、層領域（Ｏ）の層厚toとして
は、高々、層領域（Ｖ）の層厚t_B分だけあれば良
い。更に、上記２つの点を満足する場合を考慮すれ
ば層領域（Ｏ）の層厚toとしては、少なくとも層
領域（Ｖ）の層厚t_Bだけである必要があり、且
つ、この場合は、層領域（Ｏ）中に層領域（Ｖ）
が設けられた層構造とされる必要がある。層領域（Ｖ）と、該層領域（Ｖ）上に直に設け
られる層領域との間の密着性を一層効果的に計る
には層領域（Ｏ）を層領域（Ｖ）の上方（支持体
のある側とは反対方向）に延在させるのが好まし
いものである。本発明に於いて、非晶質層（）の非晶質層
（）側端層領域に酸素原子の含有されない部分
を設け層領域（Ｏ）を非晶質層（）の支持体側
に局所的に偏在させる場合に層厚toとしては上記
した点を考慮しつつ所望に従つて適宜決められる
が、通常の場合10Å〜10μ、好適には20Å〜8μ、
最適には30Å〜5μ、とされるのが望ましいもの
である。本発明において使用される支持体としては、導
電性でも電気絶縁性であつても良い。導電性支持
体としては、例えば、NiCr，ステンレス，Al，
Cr，Mo，Au，Nb，Ta，Ｖ，Ti，Pt，Pd等の
金属又はこれらの合金が挙げられる。電気絶縁性支持体としては、ポリエステル、ポ
リエチレン、ポリカーボネート、セルローズ、ア
セテート、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル、ポ
リ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド等
の合成樹脂のフイルム又はシート、ガラス、セラ
ミツク、紙等が通常使用される。これ等の電気絶
縁性支持体は、好適には少なくともその一方の表
面を導電処理され、該導電処理された表面側に他
の層が設けられるのが望ましい。例えば、ガラスであれば、その表面に、NiCr，
Al，Cr，Mo，Au，Ir，Nb，Ta，Ｖ，Ti，Pt，
Pd，In₂O₃，SnO₂，ITO（In₂O₃＋SnO₂）等から
成る薄膜を設けることによつて導電性が付与さ
れ、或いはポリエステルフイルム等の合成樹脂フ
イルムであれば、NiCr，Al，Ag，Pb，Zn，Ni，
Au，Cr，Mo，Ir，Nb，Ta，Ｖ，Ti，Pt等の金
属の薄膜を真空蒸着、電子ビーム蒸着、スパツタ
リング等でその表面に設け、又は前記金属でその
表面をラミネート処理して、その表面に導電性が
付与される。支持体の形状としては、円筒状、ベ
ルト状、板状等任意の形状とし得、所望によつ
て、その形状は決定されるが、例えば、第１図の
光導電部材１００を電子写真用像形成部材として
使用するのであれば連続高速複写の場合には、無
端ベルト状又は円筒状とするのが望ましい。支持
体の厚さは、所望通りの光導電部材が形成される
様に適宜決定されるが、光導電部材として可撓性
が要求される場合には、支持体としての機能が充
分発揮される範囲内であれば可能な限り薄くされ
る。而乍ら、この様な場合支持体の製造上及び取
扱い上、機械的強度等の点から、通常は、10μ以
上とされる。本発明において、ａ−Si（Ｈ，Ｘ）で構成され
る非晶質層を形成するには例えばグロー放電法、
スパツタリング法、或いはイオンプレーテイング
法等の放電現象を利用する真空堆積法によつて成
される。例えば、グロー放電法によつて、ａ−Si
（Ｈ，Ｘ）で構成される非晶質層を形成するには、
基本的にはシリコン原子（Si）を供給し得るSi供
給用の原料ガスと共に、水素原子（Ｈ）導入用の
又は／及びハロゲン原子（Ｘ）導入用の原料ガス
を、内部が減圧にし得る堆積室内に導入して、該
堆積室内にグロー放電を生起させ、予め所定位置
に設置されてある所定の支持体表面上に、ａ−Si
（Ｈ，Ｘ）から成る層を形成させれば良い。又、
スパツタリング法で形成する場合には、例えば
Ar，He等の不活性ガス又はこれ等のガスをベー
スとした混合ガスの雰囲気中でSiで構成されたタ
ーゲツトをスパツタリングする際、水素原子
（Ｈ）又は／及びハロゲン原子（Ｘ）導入用のガ
スをスパツタリング用の堆積室に導入してやれば
良い。本発明において、必要に応じて非晶質層中に含
有されるハロゲン原子（Ｘ）としては、具体的に
はフツ素、塩素、臭素、ヨウ素が挙げられ、殊に
フツ素、塩素を好適なものとして挙げることが出
来る。本発明において使用されるSi供給用の原料ガス
としては、SiH₄，Si₂H₆，Si₃H₈，Si₄H₁₀等のガ
ス状態の又はガス化し得る水素化硅素（シラン
類）が有効に使用されるものとして挙げられ、殊
に、層作成作業の扱い易さ、Si供給効率の良さ等
の点でSiH₄、Si₂H₆が好ましいものとして挙げら
れる。本発明において使用されるハロゲン原子導入用
の原料ガスとして有効なのは、多くのハロゲン化
合物が挙げられ、例えばハロゲンガス、ハロゲン
化物、ハロゲン間化合物、ハロゲンで置換された
シラン誘導体等のガス状態の又はガス化し得るハ
ロゲン化合物が好ましく挙げられる。又、更には、シリコン原子とハロゲン原子とを
構成要素とするガス状態の又はガス化し得るハロ
ゲン原子を含む硅素化合物も有効なものとして本
発明においては挙げることが出来る。本発明において好適に使用し得るハロゲン化合
物としては、具体的には、フツ素、塩素、臭素、
ヨウ素のハロゲンガス、BrF，ClF，ClF₃，
BrF₅，BrF₃，IF₃，IF₇，ICl，IBr等のハロゲン
間化合物を挙げることが出来る。ハロゲン原子を含む硅素化合物、所謂、ハロゲ
ン原子で置換されたシラン誘導体としては、具体
的には例えばSiF₄，Si₂F₆，SiCl₄，SiBr₄等のハ
ロゲン化硅素が好ましいものとして挙げることが
出来る。この様なハロゲン原子を含む硅素化合物を採用
してグロー放電法によつて本発明の特徴的な光導
電部材を形成する場合には、Siを供給し得る原料
ガスとしての水素化硅素ガスを使用しなくとも、
所定の支持体上に既に設けてある補助層上にハロ
ゲン原子を含むａ−Siから成る非晶質層を形成す
る事が出来る。グロー放電法に従つて、ハロゲン原子を含む非
晶質層を形成する場合、基本的には、Si供給用の
原料ガスであるハロゲン化硅素ガスとAr，H₂，
He等のガス等を所定の混合比とガス流量になる
様にして非晶質層を形成する堆積室に導入し、グ
ロー放電を生起してこれ等のガスのプラズマ雰囲
気を形成することによつて、所定の支持体上に非
晶質層を形成し得るものであるが、水素原子の導
入を計る為にこれ等のガスに更に水素原子を含む
硅素化合物のガスも所定量混合して層形成しても
良い。又、各ガスは単独種のみでなく所定の混合比で
複数種混合して使用しても差支えないものであ
る。反応スパツタリング法或いはイオンプレーテイ
ング法に依つてａ−Si（Ｈ，Ｘ）から成る非晶質
層を形成するには、例えばスパツタリング法の場
合にはSiから成るターゲツトを使用して、これを
所定のガスプラズマ雰囲気中でスパツタリング
し、イオンプレーテイング法の場合には、多結晶
シリコン又は単結晶シリコンを蒸発源として蒸着
ボートに収容し、このシリコン蒸発源を抵抗加熱
法、或いはエレクトロンビーム法、（EB法）等に
よつて加熱蒸発させ飛翔蒸発物を所定のガスプラ
ズマ雰囲気中を通過させる事で行う事が出来る。この際、スパツタリング法、イオンプレーテイ
ング法の何れの場合にも形成される層中にハロゲ
ン原子を導入するには、前記のハロゲン化合物又
は前記のハロゲン原子を含む硅素化合物のガスを
堆積室中に導入して該ガスのプラズマ雰囲気を形
成してやれば良いものである。又、水素原子を導入する場合には、水素原子導
入用の原料ガス、例えば、H₂、或いは前記した
シラン類等のガスをスパツタリング用の堆積室中
に導入して該ガスのプラズマ雰囲気を形成してや
れば良い。本発明においては、ハロゲン原子導入用の原料
ガスとして上記されたハロゲン化合物或いはハロ
ゲンを含む硅素化合物が有効なものとして使用さ
れるものであるが、その他に、HF，HCl，
HBr，HI等のハロゲン化水素、SiH₂F₂，SiH₂
I₂，SiH₂Cl₂，SiHCl₃，SiH₂Br₂，SiHBr₃等のハ
ロゲン置換水素化硅素、等々のガス状態の或いは
ガス化し得る、水素原子を構成要素の１つとする
ハロゲン化物も有効な非晶質層形成用の出発物質
として挙げる事が出来る。これ等の水素原子を含むハロゲン化物は、非晶
質層形成の際に層中にハロゲン原子の導入と同時
に電気的或いは光電的特性の制御に極めて有効な
水素原子も導入されるので、本発明においては好
適なハロゲン原子導入用の原料として使用され
る。水素原子を非晶質層中に構造的に導入するに
は、上記の他にH₂、或いはSiH₄，Si₂H₆，Si₃
H₈，Si₄H₁₀等の水素化硅素のガスをSiを供給す
る為のシリコン化合物と堆積室中に共存させて放
電を生起させる事でも行う事が出来る。例えば、反応スパツタリング法の場合には、Si
ターゲツトを使用し、ハロゲン原子導入用のガス
及びH₂ガスを必要に応じてHe，Ar等の不活性ガ
スも含めて堆積室内に導入してプラズマ雰囲気を
形成し、前記Siターゲツトをスパツタリングする
ことによつて、補助層上にａ−Si（Ｈ，Ｘ）から
成る非晶質層が形成される。更には、不純物のドーピングも兼ねてB₂H₆等
のガスを導入してやることも出来る。本発明において、形成される光導電部材の非晶
質層中に含有される水素原子（Ｈ）の量又はハロ
ゲン原子（Ｘ）の量又は水素原子とハロゲン原子
の量の和（Ｈ＋Ｘ）は通常の場合１〜40atomic
％、好適には５〜30atomic％とされるのが望ま
しい。非晶質層中に含有される水素原子（Ｈ）又は／
及びハロゲン原子（Ｘ）の量を制御するには、例
えば支持体温度又は／及び水素原子（Ｈ）、或い
はハロゲン原子（Ｘ）を含有させる為に使用され
る出発物質の堆積装置系内へ導入する量、放電々
力等を制御してやれば良い。非晶質層に、第族原子を含有する層領域
（Ｖ）及び酸素原子を含有する層領域（Ｏ）を設
けるには、グロー放電法や反応スパツタリング法
等による非晶質層の形成の際に、第族原子導入
用の出発物質及び酸素原子導入用の出発物質を
夫々前記した非晶質層形成用の出発物質と共に使
用して、形成される層中にその量を制御し乍ら含
有してやる事によつて成される。非晶質層を構成する、酸素原子の含有される層
領域（Ｏ）及び第族原子の含有される層領域
（Ｖ）を夫々形成するのにグロー放電法を用いる
場合、各層領域形成用の原料ガスとなる出発物質
としては、前記した非晶質層形成用の出発物質の
中から所望に従つて選択されたものに、酸素原子
導入用の出発物質又は／及び第族原子導入用の
出発物質が加えられる。その様な酸素原子導入用
の出発物質又は第族原子導入用の出発物質とし
ては、少なくとも酸素原子或いは第族原子を構
成原子とするガス状の物質又はガス化し得る物質
をガス化したものの中の大概のものが使用され得
る。例えば層領域（Ｏ）を形成するのであれば、シ
リコン原子（Si）を構成原子とする原料ガスと、
酸素原子（Ｏ）を構成原子とする原料ガスと、必
要に応じて水素原子（Ｈ）又は／及びハロゲン原
子（Ｘ）を構成原子とする原料ガスとを所望の混
合比で混合して使用するか、又は、シリコン原子
（Si）を構成原子とする原料ガスと、酸素原子
（Ｏ）及び水素原子（Ｈ）を構成原子とする原料
ガスとを、これも又所望の混合比で混合するか、
或いは、シリコン原子（Si）を構成原子とする原
料ガスと、シリコン原子（Si）、酸素原子（Ｏ）
及び水素原子（Ｈ）の３つを構成原子とする原料
ガスとを混合して使用することが出来る。又、別には、シリコン原子（Si）と水素原子
（Ｈ）とを構成原子とする原料ガスに酸素原子
（Ｏ）を構成原子とする原料ガスを混合して使用
しても良い。酸素原子導入用の出発物質となるものとして具
体的には、例えば酸素（O₂）、オゾン（O₃）、一
酸化窒素（NO）、二酸化窒素（NO₂）、一二酸化
窒素（N₂Ｏ）、三二酸化窒素（N₂O₃）、四二酸化
窒素（N₂O₄）、五二酸化窒素（N₂O₅）、三酸化窒
素（NO₃）、シリコン原子（Si）と酸素原子（Ｏ）
と水素原子（Ｈ）とを構成原子とする、例えば、
ジシロキサンH₃SiOSiH₃、トリシロキサンH₃
SiOSiH₂OSiH₃等の低級シロキサン等を挙げるこ
とが出来る。層領域（Ｖ）をグロー放電法を用いて形成する
場合に第族原子導入用の出発物質として、本発
明において有効に使用されるのは、燐原子導入用
としては、PH₃，P₂H₄等の水素化燐、PH₄Ｉ，
PF₃，PF₅，PCl₃，PCl₅，PBr₃，PBr₅，PI₃等の
ハロゲン化燐が挙げられる。この他、AsH₃，
AsF₃，AsCl₃，AsBr₃，AsF₅，SbH₃，SbF₃，
SbF₅，SbCl₃，SbCl₅，BiH₃，BiCl₃，BiBr₃等も
第族原子導入用の出発物質の有効なものとして
挙げることが出来る。第族原子を含有する層領域（Ｖ）に導入され
る第族原子の含有量は、堆積室中に流入される
第族原子導入用の出発物質のガス流量、ガス流
量比、放電パワー、支持体温度、堆積室内の圧力
等を制御することによつて任意に制御され得る。スパツターリング法によつて、酸素原子を含有
する層領域（Ｏ）を形成するには、単結晶又は多
結晶のSiウエーハー又はSiO₂ウエーハー、又はSi
とSiO₂が混合されて含有されているウエーハー
をターゲツトとして、これ等を種々のガス雰囲気
中でスパツターリングすることによつて行えば良
い。例えば、Siウエーハーをターゲツトとして使用
すれば、酸素原子と必要に応じて水素原子又は／
及びハロゲン原子を導入する為の原料ガスを、必
要に応じて稀釈ガスで稀釈して、スパツター用の
堆積室中に導入し、これ等のガスのガスプラズマ
を形成して前記Siウエーハーをスパツターリング
すれば良い。又、別には、SiとSiO₂とは別々のターゲツト
として、又はSiとSiO₂の混合した一枚のターゲ
ツトを使用することによつて、スパツター用のガ
スとしての稀釈ガスの雰囲気中で又は少なくとも
水素原子（Ｈ）又は／及びハロゲン原子（Ｘ）を
構成原子として含有するガス雰囲気中でスパツタ
ーリングすることによつて成される。酸素原子導
入用の原料ガスとしては、先述したグロー放電の
例で示した原料ガスの中の酸素原子導入用の原料
ガスが、スパツターリングの場合にも有効なガス
として使用され得る。本発明において、非晶質層をグロー放電法で形
成する際に使用される稀釈ガス、或いはスパツタ
リング法で形成される際に使用されるスパツター
リング用のガスとしては、所謂稀ガス、例えば、
He，Ne，Ar等が好適なものとして挙げること
が出来る。第２図には、本発明の光導電部材の他の好適な
実施態様例の層構成が示される。第２図に示される光導電部材２００が、第１図
に示される光導電部材１００と異なるところは、
非晶質層２０３がその中に、下部補助層２０２−
１と同様の機能を果す上部補助層２０２−２を有
することである。即ち、光導電部材２００は、支持体２０１、該
支持体２０１上に順に積層された、下部補助層２
０２−１、非晶質層２０３とを具備し、非晶質層
２０３は、酸素原子の含有されている第一の層領
域（Ｏ）２０４と、第族原子の含有されている
第二の層領域（Ｖ）２０５と、層領域２０６と層
領域２０７との間に上部補助層２０２−２とを有
している。上部補助層２０２−２は、層領域（Ｖ）２０５
と層領域２０７との間の密着を強固にし、両者の
接触界面に於ける電気的接触を均一にしていると
同時に、層領域（Ｖ）２０５上に直に設けること
によつて層領域（Ｖ）２０５の層質を強靱なもの
としている。第２図に示される光導電部材２００を構成する
下部補助層２０２−１及び上部補助層２０２−２
は、第１図に示した光導電部材１００を構成する
補助層１０２の場合と同様の非晶質材料を使用し
て、同様の特性が与えられる様に同様な層作成手
順と条件によつて形成される。非晶質層２０３も、第１図に示す非晶質層１０
３と同様の特性及び機能を有し、第１図の場合と
同様な層作成手順と条件によつて作成される。本発明の光導電部材に於いては、第族原子の
含有される層領域（Ｖ）の上に設けられ、第族
原子の含有されない層領域（Ｂ）（第１図では層
領域１０６に相当する）には、伝導特性を制御す
る物質を含有させることにより、該層領域（Ｂ）
の伝導特性を所望に従つて任意に制御することが
出来る。この様な物質としては、所謂、半導体分野で云
われる不純物を挙げることが出来、本発明に於い
ては、形成される非晶質層（）を構成する。ａ
−Si（Ｈ，Ｘ）に対して、Ｐ型伝導特性を与える
Ｐ型不純物、具体的には、周期律表第族に属す
る原子、（第族原子）、例えば、Ｂ（硼素）、Al
（アルミニウム）、Ga（ガリウム）、In（インジウ
ム）、Tl（タリウム）等があり、殊に好適に用い
られるのは、Ｂ，Gaである。本発明に於いて、層領域（Ｂ）に含有される伝
導特性を制御する物質の含有量は、該層領域
（Ｂ）に要求される伝導特性、或いは該層領域Ｂ
に直に接触して設けられる他の層領域の特性や、
該他の層領域との接触界面に於ける特性との関係
等、有機的関連性に於いて、適宜選択することが
出来る。本発明に於いて、層領域（Ｂ）中に含有される
伝導特性を制御する物質の含有量としては、通常
の場合、0.001〜1000atomic ppm、好適には0.05
〜500atomic ppm、最適には0.1〜200atomic
ppmとされるのが望ましいものである。層領域Ｂ中に伝導特性を制御する物質、例えば
第族原子を構造的に導入するには、層形成の際
に第族原子導入用の出発物質をガス状態で堆積
室中に、非晶質層を形成する為の他の出発物質と
共に導入してやれば良い。この様な第族原子導
入用の出発物質と成り得るものとしては、常温常
圧でガス状の又は、少なくとも層形成条件下で容
易にガス化し得るものが採用されるのが望まし
い。その様な第族原子導入用の出発物質として具
体的には硼素原子導入用としては、B₂H₆，B₄
H₁₀，B₅H₉，B₅H₁₁，B₆H₁₂，B₆H₁₀，B₆H₁₄等
の水素化硼素、BF₃，BCl₃，BBr₃等のハロゲン
化硼素等が挙げられる。この他、AlCl₃，GaCl₃，
Ga（CH₃）₃，InCl₃，TlCl₃等も挙げることが出来
る。本発明の光導電部材に於いては、第１図及び第
２図に示した例に於いて説明した様に、非晶質層
（）を構成する層領域（Ｏ）が、非晶質層（）
に於いて支持体側の方に局所的に偏在されている
場合を好適な実施態様例とするが、本発明は、こ
れに限定されることはなく、例えば、層領域
（Ｏ）を非晶質層（）の全層領域として非晶質
層（）を形成しても良いものである。この場合、非晶質層（）が光導電性を示すも
のとして作成される必要があることから、層領域
（Ｏ）中に含有される酸素原子の量の上限として
は、通常30atomic％、好適には10atomic％、最
適には5atomic％とすることが望ましいものであ
る。下限としては、この場合も勿論前記した値と
される。次に、第３図にグロー放電分解法による光導電
部材の製造装置を示す。図中の３０２，３０３，３０４，３０５，３０
６のガスボンベには、本発明の夫々の層領域を形
成するための原料ガスが密封されており、その１
例としてたとえば３０２は、Heで稀釈された
SiH₄ガス（純度99.999％、以下SiH₄／Heと略
す。）ボンベ、３０３はHeで稀釈されたPH₃ガス
（純度99.999％、以下PH₃／Heと略す。）ボンベ、
３０４はHeで稀釈されたSiF₄ガス（純度99.999
％、以下SiF₄／Heと略す。）ボンベ、３０５は
NOガス（純度99.999％）ボンベ、３０６はNH₃
ガス（純度99.999％）ボンベである。これらのガスを反応室３０１に流入させるには
ガスボンベ３０２〜３０６のバルブ、３２２〜３
２６、リークバルブ３５５が閉じられていること
を確認し、又、流入バルブ３１２〜３１６、流出
バルブ３１７〜３２１、補助バルブ３３２が開か
れていることを確認して先づメインバルブ３３４
を開いて反応室３０１、ガス配管内を排気する。
次に真空計３３６の読みが約５×10^-6torrになつ
た時点で補助バルブ、３３２，３３３、流入バル
ブ３２２〜３２６、流出バルブ３１７〜３２１を
閉じる。その後、反応室３０１内に導入すべきガ
スのボンベに接続されているガス配管のバルブを
所定通り操作して、所望するガスを反応室３０１
内に導入する。次に第１図に示す構成と同様の構成の光導電部
材を作成する場合の一例の概略を述べる。先ず、基体シリンダー３３７上に補助層を形成
する場合の１例をあげると、ガスボンベ３０２よ
りSiH₄／Heガス、ガスボンベ３０６よりNH₃ガ
スをバルブ３２２，３２６を開いて出口圧ゲー
ジ、３２７，３３１の圧を１Kg／cm²に調整し、流
入バルブ、３１２，３１６を徐々に開けて、マス
フロコントローラ３０７，３１１内に流入させ
る。引き続いて流出バルブ３１７，３２１、補助
バルブ３３２，３３３を徐々に開いて夫々のガス
を反応室３０１に流入させる。このときの
SiH₄／Heガス流量とNH₃ガス流量との比が所望
の値になるように流出バルブ３１７，３２１を調
整し、又、反応室３０１内の圧力が所望の値にな
るように真空計３３６の読みを見ながらメインバ
ルブ３３４の開口を調整する。そして基体シリン
ダー３３７の温度が加熱ヒーター３３８により50
〜400℃の範囲の温度に設定されていることを確
認した後、電源３４０を所望の電力に設定して反
応室３０１内にグロー放電を生起させて補助層を
基体シリンダー３３７（支持体）上に形成する。
形成される補助層中に、ハロゲン原子を導入する
には、例えば上記の補助層の作成に就いての説明
に於いて、SiH₄ガスの代りに、SiF₄ガスを用い
るか、SiH₄ガスにSiF₄ガスを加えて層形成する
ことによつて成される。補助層中に含有される窒
素原子や水素原子、ハロゲン原子の含有量は、こ
れ等の原子を構成原子とする補助層形成用の出発
物質を反応室３０１に導入する際の流量を調整す
ることによつて制御される。例えば、窒素原子の
含有量の制御は、NH₃ガスの流量を、又、ハロ
ゲン原子の含有量の制御は、SiF₄ガスの流量を、
夫々調整することによつて成される。続いて、上記の様にして基体シリンダー３３７
上に形成された補助層上に非晶質層を構成する層
領域（）を形成する場合の１例をあげると、ガ
スボンベ３０２よりSiH₄／Heガス、ガスボン
ベ、３０３よりPH₃／Heガスを、バルブ３２２，
３２３を夫々開いて出口圧ゲージ３２７，３２８
の圧を１Kg／cm²に調整し、流入バルブ３１２，３
１３を徐々に開けて、マスフロコントローラ３０
７，３０８内に流入させる。引き続いて流出バル
ブ３１７，３１８、補助バルブ３３２を徐々に開
いて夫々のガスを反応室３０１に流入させる。こ
のときのSiH₄／Heガス流量とPH₃／Heガス流量
との比が所望の値になるように流出バルブ３１
７，３１８を調整し、又、反応室３０１内の圧力
が所望の値になるように真空計３３６の読みを見
ながらメインバルブ３３４の開口を調整する。そ
して基体シリンダー３３７の温度が加熱ヒーター
３３８により50〜400℃の範囲の温度に設定され
ていることを確認した後、電源３４０をONにし
て所望の電力に設定して反応室３０１内にグロー
放電を生起させて層領域（）を補助層上に形成
する。層領域（Ｏ）を形成するには層領域（）の形
成の際に使用したPH₃／Heガスのかわりに又は
該ガスに加えてNOガスを用いて層形成を行な
う。本発明の光導電部材に於いては、非晶質層を構
成する層領域（Ｏ）と層領域（）とは、少なく
ともその一部の層領域を共有するものであるか
ら、非晶質層を形成する際に、例えばPH₃ガスと
NOガスとを所望の流量で反応室３０１に同時に
導入する時間を所望の長さ設ける必要がある。例えば、非晶質層の形成開始時から所望の時
間、PH₃ガスとNOガスとを反応室３０１内に導
入し、該時間の経過後、いずれかのガスを反応室
３０１内に導入するのを止めることによつて層領
域（Ｏ）又は層領域（）のいずれか一方の層領
域中に他の層領域を設けることが出来る。或いは、非晶質層の形成の際にPH₃ガスか、
NOガスのいずれか一方を、所望持間反応室３０
１内に導入した後、他方を更に反応室３０１内に
導入して所望時間の層形成を行うことによつて、
燐か酸素のいずれかが含有されている層領域上
に、燐と酸素の両者が含有されている層領域を形
成することが出来る。又、この際、PH₃ガスか又はNOガスのいずれ
か一方だけを反応室３０１内に導入するのを止
め、他方を引き続き導入することによつて、燐と
酸素の両者が含有されている層領域上に燐か又は
酸素のいずれか一方が含有されている層領域を形
成することが出来る。第１図に示す光導電部材１００の層領域１０７
に相当する層領域を形成するには、前記した層領
域（）の形成の際に使用する第族原子導入用
のガス、例えばPH₃ガスを反応室３０１内に導入
せずに、例えば、SiH₄ガス、SiH₆ガス、SiF₄ガ
ス、或いは、これ等の混合ガスを非晶質層形成の
際に反応室３０１に導入してやることによつて成
される。第２図に示す光導電部材２００の例の場合の様
に、非晶質層２０３中に上部補助層２０２−２を
有する光導電部材の場合には、非晶質層２０３の
形成の途中に於いて、下部補助層２０２−１と同
様の層形成を行うことによつて、非晶質層中に上
部補助層を設けることが出来る。上記に於いて、夫々の層を形成する際に必要な
ガス以外の流出バルブは全て閉じることは言うま
でもなく、又、夫々の層を形成する際、前層の形
成に使用したガスが反応室３０１内、流出バルブ
３１７〜３２１から反応室３０１内に至る配管内
に残留することを避けるために、流出バルブ３１
７〜３２１を閉じ補助バルブ３３２，３３３を開
いてメインバルブ３３４を全開して系内を一旦高
真空に排気する操作を必要に応じて行なう。又、層形成を行なつている間は層形成の均一化
を計るため基体シリンダー３３７はモータ３３９
により一定速度で回転させる。実施例１第３図に示した製造装置により、シリンダ状、
アルミニウム基体上に以下の条件で層形成を行な
つた。こうして得られた像形成部材を帯電露光現像装
置に設置し、5KVで0.2sec間コロナ帯電を行な
い、直ちに光像を照射した。光源はタングステン
ランプを用い、1.0lux・secの光量を、透過型の
テストチヤートを用いて照射した。その後直ちに
荷電性の現像剤（トナーとキヤリアを含む）を
部材表面にカスケードすることによつて部材表面
上に良好なトナー画像を得た。このようにして得られたトナー像を一旦ゴムブ
レードでクリーニングし、再び上記、作像、クリ
ーニング工程を繰り返した。繰り返し回数10万回
以上行なつても画像の劣化はみられなかつた。

【表】実施例２実施例１において像形成部材の作成の第２段階
でHeガスで10000vppmに稀釈したPH₃ガス並び
にNOガスの流量を各々変化させた他は全く同様
の作製条件で像形成部材を作製し、その後実施例
１と同様の方法で評価を行なつた。さらに各試料
の作製の第２段階で含有される燐及び酸素量をイ
オンマイクロアナリシス（IMA法）により分析
した。上記の結果第２表に示す。

【表】

【表】実施例３実施例１において第２段階で形成される層領域
の層厚を変化させた他は実施例１と全く同様の条
件で像形成部材を作製し、実施例１と同様の方法
で評価した。その結果を第３表に示す。

【表】 ◎：非常に良好 ○：良好 ×：実
用上やや使用に劣る
実施例４実施例１で第１段階の作製条件を次のように変
化させた他は実施例１と全く同様な条件で像形成
部材を作製し同様の方法で評価したところ層強
度、画像性ともに良好であつた。

【表】実施例５第３図に示した製造装置によりシリンダ状、ア
ルミニウム基体上に以下の条件で層形成を行なつ
た。この様にして得られた像形成部材を実施例１と
同様にして評価したところ膜強度、画像性共に極
めて良好な結果が得られた。

【表】

【表】実施例６第３図に示した製造装置によりシリンダ状、ア
ルミニウム基体上に以下の条件で層形成を行なつ
た。この様にして得られた像形成部材について実施
例１と同様の方法で評価を行なつたところ良好な
結果が得られた。

【表】実施例７第３図に示した製造装置により、Al基板上に
以下の条件にした他は実施例１と同様にして層形
成を行つた。この様にして得られた電子写真用像形成部材に
実施例１と同様の評価を行つたところ、良好な結
果が得られた。

【表】実施例８第３図に示した製造装置により、Al基板上に
以下の条件で層形成を行つた。その他の条件は、実施例１と同様にして行つ
た。こうして得られた像形成部材に就いて、実施例
１と同様の評価を行つたところ、高品質の画像が
得られ、耐久性に優れたものであつた。

【表】実施例９実施例７の第３，４層作成段階に於ける、層作
成条件を下記の第９表に示す各条件にした以外
は、実施例７に示した条件と手順に従つて、電子
写真用像形成部材の夫々を作製し、実施例１と同
様の方法で評価したところ、夫々に就て、特に画
質耐久性の点に於いて良好な結果が得られた。

【表】【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は、夫々本発明の光導電部材
の好適な実施例態様例の層構造を模式的に示した
模式的層構成図、第３図は、本発明の光導電部材
を製造する為の装置の一例を示す模式的説明図で
ある。１００，２００……光導電部材、１０１，２０
１……支持体、１０２，２０２−１，２０２−２
……補助層、１０３，２０３……非晶質層、１０
４，２０４……第一の層領域（Ｏ）、１０５，２
０５……第二の層領域（）、１０８，２０８…
…自由表面。

Claims

【特許請求の範囲】１光導電部材用の支持体と、シリコン原子を母
体とし、構成原子として窒素原子を含有する非晶
質材料で構成された補助層と、シリコン原子を母
体とする非晶質材料で構成され、光導電性を示す
非晶質層とを有し、該非晶質層が、構成原子とし
て酸素原子を含有する第一の層領域と、構成原子
として周期律表第族に属する原子を含有する第
二の層領域とを有し、これ等は、少なくとも互い
の一部を共有して前記補助層に接して前記支持体
側の方に内在されており、前記第二の層領域の層
厚をt_Bとし、前記第一の非晶質層の層厚と第二の
層領域の層厚t_Bとの差をＴとすれば t_B／（Ｔ＋t_B）≦0.4 の関係が成立している事を特徴とする光導電部
材。