JPS593648A - 情報処理システムの自動試験方式 - Google Patents
情報処理システムの自動試験方式Info
- Publication number
- JPS593648A JPS593648A JP57113463A JP11346382A JPS593648A JP S593648 A JPS593648 A JP S593648A JP 57113463 A JP57113463 A JP 57113463A JP 11346382 A JP11346382 A JP 11346382A JP S593648 A JPS593648 A JP S593648A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- processing system
- test
- test program
- attribute data
- information processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、情報処理システムの汎用的な自動試験方式に
関し、特に試験対象の情報処理システムについて、オペ
レータとの会話を必要とせずに、Ｉｌｏ等の試験対象装
置の機番、版数、記憶容量、媒体形式などの構成情報を
対象システムから取得し、必要となる試験プログラムを
自動的に編成して、人手を介さずに試験を連続的に実行
できる試験方式に関する。
関し、特に試験対象の情報処理システムについて、オペ
レータとの会話を必要とせずに、Ｉｌｏ等の試験対象装
置の機番、版数、記憶容量、媒体形式などの構成情報を
対象システムから取得し、必要となる試験プログラムを
自動的に編成して、人手を介さずに試験を連続的に実行
できる試験方式に関する。
技術の背景
従来の情報処理システムでは、定期保守点検、出荷検査
、障害発生などの際に、Ｉ１０デバイス等の各構成機器
について系統的な試験が実施される。しかし、情報処理
システムは、ユーザにより、また時期により、その構成
内容は著しく異なるので、画一的な試験を行なうことは
できず、個々のシステムについて、その都度試験の条件
、すなわちシステム構成、機器の属性等を設定してやら
なければならない。
、障害発生などの際に、Ｉ１０デバイス等の各構成機器
について系統的な試験が実施される。しかし、情報処理
システムは、ユーザにより、また時期により、その構成
内容は著しく異なるので、画一的な試験を行なうことは
できず、個々のシステムについて、その都度試験の条件
、すなわちシステム構成、機器の属性等を設定してやら
なければならない。
第１図は、このような試験対象となる情報処理システム
の典型的な構成例を示す。図示されたシステムは、中央
処理装置１、主記憶装置２、ｍ台の入出力制御装置３−
１乃至３−ｍ１各入出力制御装置に接続されたそれぞれ
ル台、３台、２台、・・・、７台のＩ１０デバイス４−
１１乃至４−ｍτにより構成されている。各Ｉ１０デバ
イス４−１１乃至４−ｍｒは、ユーザシステムにより、
主記憶の容量やＩ１０種別、台数など、様々な構成をと
り、また磁気ディスク、磁気テープなどの装置では規格
、性能の異なる機種が混在している場合がある。たとえ
ば記憶媒体では、その記憶容量、転送速度、フォーマッ
トなどが機種によって異っている０また同一の情報処理
システムでも、改訂があればその版数により異なってく
るというような状況にあるＯ このため、オペレータが、何らかの手段により、試験に
必要な上述したような環境条件を外部から設定する操作
が必要となるＯしたがって、情報処理システムが複数の
装置で構成されているものにおいては、１つの装置の試
験が終了する度に、次の装置の試験に入る前に、オペレ
ータとの会話が必要となり、たとえば工場出荷試験など
では、１回に試験できる台数が制限されたり、試験が夜
間にかかった場合にはオペレータの勤務の問題が生じ、
特に試験の実施を短期間で終了させたい場合などには、
大きな困難があった。
の典型的な構成例を示す。図示されたシステムは、中央
処理装置１、主記憶装置２、ｍ台の入出力制御装置３−
１乃至３−ｍ１各入出力制御装置に接続されたそれぞれ
ル台、３台、２台、・・・、７台のＩ１０デバイス４−
１１乃至４−ｍτにより構成されている。各Ｉ１０デバ
イス４−１１乃至４−ｍｒは、ユーザシステムにより、
主記憶の容量やＩ１０種別、台数など、様々な構成をと
り、また磁気ディスク、磁気テープなどの装置では規格
、性能の異なる機種が混在している場合がある。たとえ
ば記憶媒体では、その記憶容量、転送速度、フォーマッ
トなどが機種によって異っている０また同一の情報処理
システムでも、改訂があればその版数により異なってく
るというような状況にあるＯ このため、オペレータが、何らかの手段により、試験に
必要な上述したような環境条件を外部から設定する操作
が必要となるＯしたがって、情報処理システムが複数の
装置で構成されているものにおいては、１つの装置の試
験が終了する度に、次の装置の試験に入る前に、オペレ
ータとの会話が必要となり、たとえば工場出荷試験など
では、１回に試験できる台数が制限されたり、試験が夜
間にかかった場合にはオペレータの勤務の問題が生じ、
特に試験の実施を短期間で終了させたい場合などには、
大きな困難があった。
発明の目的および構成
本発明の目的は、情報処理システムの試験に必要な構成
要素に関する各種の属性データを、外部から与える代り
に、試験プログラム自動認識させることにより、オペレ
ータの介在を不要にして、無人の自動連続試験を可能に
する手段を提供することにある。
要素に関する各種の属性データを、外部から与える代り
に、試験プログラム自動認識させることにより、オペレ
ータの介在を不要にして、無人の自動連続試験を可能に
する手段を提供することにある。
そして本発明は、そのための構成として、システムを構
成する各装置を試験するための複数の試験プログラムを
有するデータ処理システムにおいて、ＩＰＬ時にシステ
ムを構成する各装置の属性データを収集して処理システ
ム構成テーブルを作成し、該処理システム構成テーブル
と、予め格納されている試験プログラム毎の実行可能な
装置の属性データを保持する試験プログラムテーブルと
を突き合わせることによシ、順次各試験グログラムにつ
いて実行可能な装置を選択して連続的に試験を進めるこ
とを特徴としている。
成する各装置を試験するための複数の試験プログラムを
有するデータ処理システムにおいて、ＩＰＬ時にシステ
ムを構成する各装置の属性データを収集して処理システ
ム構成テーブルを作成し、該処理システム構成テーブル
と、予め格納されている試験プログラム毎の実行可能な
装置の属性データを保持する試験プログラムテーブルと
を突き合わせることによシ、順次各試験グログラムにつ
いて実行可能な装置を選択して連続的に試験を進めるこ
とを特徴としている。
以下に、本発明を実施例にしたがって説明する。
第２図は、本発明方式により情報処理システムの試験を
実施する場合の、概念的構成を示したものである。同図
は、第１図に示した・システムと対照可能な構成要素に
は同一番号を付して示しである。なお、以後の説明、図
面においては、「試験プログラム」を、便宜上ＴＰと表
わす場合がある０図中、１は中央処理装置、２け主記憶
装置、４１１ 、４−１２ 、− 、４−ｍｙはＩ１０
デバイスであり、この場合は磁気ディスク装置として示
しである。中央処理装置内の５は試験プログラム管理部
であり、試験プログラム（ＴＰ）の選択と実行に必要な
管理を行なう。また６は、試験プログラム実行部であり
、試験プログラム管理部５により選択された試験プログ
ラム（ＴＰ）を実行する０主記憶装置２内の７は処理シ
ステム構成テーブルであり、処理システム内の構成要素
の編成と試験に必要な各構成要素の属性とを保持してい
るつ８はＴＰ（試験プログラム）テーブルであり、各Ｔ
Ｐ毎に試験可能な装置の範囲を表示する。９は実行のた
めにロードされたＴＰであり、試験グログラム実行部６
により実行される０ 第３図は、処理システム構成テーブル７の１実施例を示
している。このテーブルは、情報処理システム種別、そ
の版数、主記憶容量、および各入出力制御装置［０，［
２］、・・・毎に、系列下のデ・ぐイスの属性、たとえ
ば磁気ディスクでは、アドレス、転送速度、容量、デバ
イス名などを保持しているＯこれらのデータは、そのデ
・々イスに適合する試験プログラム（ＴＰ）を選択し、
実行する際に使用される。
実施する場合の、概念的構成を示したものである。同図
は、第１図に示した・システムと対照可能な構成要素に
は同一番号を付して示しである。なお、以後の説明、図
面においては、「試験プログラム」を、便宜上ＴＰと表
わす場合がある０図中、１は中央処理装置、２け主記憶
装置、４１１ 、４−１２ 、− 、４−ｍｙはＩ１０
デバイスであり、この場合は磁気ディスク装置として示
しである。中央処理装置内の５は試験プログラム管理部
であり、試験プログラム（ＴＰ）の選択と実行に必要な
管理を行なう。また６は、試験プログラム実行部であり
、試験プログラム管理部５により選択された試験プログ
ラム（ＴＰ）を実行する０主記憶装置２内の７は処理シ
ステム構成テーブルであり、処理システム内の構成要素
の編成と試験に必要な各構成要素の属性とを保持してい
るつ８はＴＰ（試験プログラム）テーブルであり、各Ｔ
Ｐ毎に試験可能な装置の範囲を表示する。９は実行のた
めにロードされたＴＰであり、試験グログラム実行部６
により実行される０ 第３図は、処理システム構成テーブル７の１実施例を示
している。このテーブルは、情報処理システム種別、そ
の版数、主記憶容量、および各入出力制御装置［０，［
２］、・・・毎に、系列下のデ・ぐイスの属性、たとえ
ば磁気ディスクでは、アドレス、転送速度、容量、デバ
イス名などを保持しているＯこれらのデータは、そのデ
・々イスに適合する試験プログラム（ＴＰ）を選択し、
実行する際に使用される。
第４図は、’Ｉ’Ｐテーブル８の１実施例を示す。
このテーブルは、ｋ個の試験プログラムＴＰＩ 、 Ｔ
Ｐ２ ｒ’ｒｐａ 、 ＴＰ４ 、・・・・・・、ＴＰ
ｋについて、それぞれが適用可能な対象装置の種別、版
数、記憶容量などを表示している。ここに表示されてい
る条件に合致している装置のみに、そのＴＰの実行が許
可される０第５図は、本実施例試験方式の処理手順を示
すフロー図である。以下に第２図を参照しつつ、第５図
のフローにしたがって処理手順を説明する。
Ｐ２ ｒ’ｒｐａ 、 ＴＰ４ 、・・・・・・、ＴＰ
ｋについて、それぞれが適用可能な対象装置の種別、版
数、記憶容量などを表示している。ここに表示されてい
る条件に合致している装置のみに、そのＴＰの実行が許
可される０第５図は、本実施例試験方式の処理手順を示
すフロー図である。以下に第２図を参照しつつ、第５図
のフローにしたがって処理手順を説明する。
■ 試験プログラム管理部５は、システムのＩＰＬ時に
、第２図■で示すように各デバイスからそこに保持され
ている属性データを、読出して主記憶装置２へ読込み、
処理システム構成テーブル７を作成する。
、第２図■で示すように各デバイスからそこに保持され
ている属性データを、読出して主記憶装置２へ読込み、
処理システム構成テーブル７を作成する。
■ 次にＴＰ子テーブルを、第２図＠で示すように、シ
ステムレジデンスボリュームのデバイス４−１１から主
記憶装置２へ読込む。
ステムレジデンスボリュームのデバイス４−１１から主
記憶装置２へ読込む。
■ ＴＰ子テーブルの中から１つのＴＰを敗り上げ、そ
の属性データを読出す。
の属性データを読出す。
■ そのＴＰＯ属性データを用いて、試、験をすること
が可能な装置を、処理システム構成テーブル７から検索
する。
が可能な装置を、処理システム構成テーブル７から検索
する。
■ 該当装置を見出したとき、■へ進み、該当装置を見
出せなかったとき、■へ戻り、他のＴＰを取上げる。
出せなかったとき、■へ戻り、他のＴＰを取上げる。
以下繰り返す。
■ 該当装置を有するＴＰを、第２図＠で示すように、
デバイス４−１２から主記憶装置２のＴＰ領域９へ読込
み、また同様に、その装置の属性データを、同図■で示
すようにＴＰ子テーブルからＴＰ領域９へ移す。ここで
、制御を試験プログラム実行部６に渡す（同図ｅ）０′
■ 試験プログラム実行部６け、ＴＰ領域９のＴＰを起
動する。
デバイス４−１２から主記憶装置２のＴＰ領域９へ読込
み、また同様に、その装置の属性データを、同図■で示
すようにＴＰ子テーブルからＴＰ領域９へ移す。ここで
、制御を試験プログラム実行部６に渡す（同図ｅ）０′
■ 試験プログラム実行部６け、ＴＰ領域９のＴＰを起
動する。
■ 試験終了後、オペレータからの試験打ち切り指示が
あるか否かを調べ、打ち切り指示があれば処理を終了し
、指示がなければ■へ戻り、他のＴＰについて試験要否
を調べ、処理を進める０発明の効果 以上のように、本発明によれば、処理システム構成テー
ブルとＴＰテーブルの情報により、各試験プログラムは
自己の試験対象装置の選択と、試験に必要なその装置の
属性データの獲得とを自動的に行なうことができるので
、試験実施作業者は試験の間、処理システムから離れて
いることができ、作業負担を著しく軽減することができ
るＯ
あるか否かを調べ、打ち切り指示があれば処理を終了し
、指示がなければ■へ戻り、他のＴＰについて試験要否
を調べ、処理を進める０発明の効果 以上のように、本発明によれば、処理システム構成テー
ブルとＴＰテーブルの情報により、各試験プログラムは
自己の試験対象装置の選択と、試験に必要なその装置の
属性データの獲得とを自動的に行なうことができるので
、試験実施作業者は試験の間、処理システムから離れて
いることができ、作業負担を著しく軽減することができ
るＯ
第１図は試験対象となる情報処理システムの構成同図、
第２図は本発明方式実施例の説明図、第３図は処理シス
テム構成テーブルの実施例説明図、第４図はＴＰテーブ
ルの実施例説明図、第５図は実施列の制御手順を示すフ
ロー図である０図中、１は中央処理装置、２は主記憶装
置、４−１１乃至４−ｍｒＶｉＩ１０デバイス、５は試
験プログラム管理部、６は試験プログラム実行部、７は
処理システム構成テーブル、８はＴＰテーブル、９はＴ
Ｐを表わす。 特許出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 長径 川 文 廣（外１名） 中１ 層
第２図は本発明方式実施例の説明図、第３図は処理シス
テム構成テーブルの実施例説明図、第４図はＴＰテーブ
ルの実施例説明図、第５図は実施列の制御手順を示すフ
ロー図である０図中、１は中央処理装置、２は主記憶装
置、４−１１乃至４−ｍｒＶｉＩ１０デバイス、５は試
験プログラム管理部、６は試験プログラム実行部、７は
処理システム構成テーブル、８はＴＰテーブル、９はＴ
Ｐを表わす。 特許出願人 富士通株式会社 代理人弁理士 長径 川 文 廣（外１名） 中１ 層
Claims (1)
- システムを構成する各装置を試験するための複数の試験
プログラムを有するデータ処理システムにおいて、ＩＰ
Ｌ時にシステムを構成する各装置の属性データを収集し
て処理システム構成テーブルを作成し、該処理システム
構成テーブルと、予め格納されている試験プログラム毎
の実行可能な装置の属性データを保持する試験プログラ
ムテーブルとを突き合わせることにより、順次各試験プ
ログラムについて実行可能な装置を選択して連続的に試
験を進めることを゛特徴とする自動試験方式０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57113463A JPS593648A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 情報処理システムの自動試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57113463A JPS593648A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 情報処理システムの自動試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS593648A true JPS593648A (ja) | 1984-01-10 |
| JPS6227418B2 JPS6227418B2 (ja) | 1987-06-15 |
Family
ID=14612872
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57113463A Granted JPS593648A (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 情報処理システムの自動試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS593648A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62231342A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-09 | Pfu Ltd | マイクロテストプログラムのダウンロ−ド制御方式 |
| JPH01295339A (ja) * | 1988-05-24 | 1989-11-29 | Fujitsu Ltd | 試験項目自動選択方式 |
| JPH03142634A (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-18 | Nec Field Service Ltd | オンライン機器診断装置 |
| JPH0553852A (ja) * | 1991-08-28 | 1993-03-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | テスト装置 |
| JPH0713794A (ja) * | 1993-06-29 | 1995-01-17 | Nec Corp | 端末装置環境の確認装置 |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP57113463A patent/JPS593648A/ja active Granted
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62231342A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-09 | Pfu Ltd | マイクロテストプログラムのダウンロ−ド制御方式 |
| JPH0416812B2 (ja) * | 1986-03-31 | 1992-03-25 | Pfu Ltd | |
| JPH01295339A (ja) * | 1988-05-24 | 1989-11-29 | Fujitsu Ltd | 試験項目自動選択方式 |
| JPH03142634A (ja) * | 1989-10-30 | 1991-06-18 | Nec Field Service Ltd | オンライン機器診断装置 |
| JPH0553852A (ja) * | 1991-08-28 | 1993-03-05 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | テスト装置 |
| JPH0713794A (ja) * | 1993-06-29 | 1995-01-17 | Nec Corp | 端末装置環境の確認装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6227418B2 (ja) | 1987-06-15 |
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