JPS5926996A - 単結晶の製造方法 - Google Patents

単結晶の製造方法

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Publication number
JPS5926996A
JPS5926996A JP13473082A JP13473082A JPS5926996A JP S5926996 A JPS5926996 A JP S5926996A JP 13473082 A JP13473082 A JP 13473082A JP 13473082 A JP13473082 A JP 13473082A JP S5926996 A JPS5926996 A JP S5926996A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
single crystal
raw material
crystal
schedule
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13473082A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Nakada
中田 和男
Masao Tsunoda
角田 柾雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP13473082A priority Critical patent/JPS5926996A/ja
Publication of JPS5926996A publication Critical patent/JPS5926996A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/20Controlling or regulating
    • C30B15/22Stabilisation or shape controlling of the molten zone near the pulled crystal; Controlling the section of the crystal
    • C30B15/26Stabilisation or shape controlling of the molten zone near the pulled crystal; Controlling the section of the crystal using television detectors; using photo or X-ray detectors

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は単結晶の製造方法に係り、特にルツボ内の結晶
原料の温度を予め定められた温度スケジュールに従って
制御し、溶融種付は後、所定径の単結晶を引上げ可能に
した単結晶の製造方法に関するものである。
〔発明の技術的背景〕
例えば弾性表面波素子の基板に使用されるLiTaO3
は結晶引上げ装置を用いて単結晶のLiTaO5を引上
げ方法により育成したのちスライス、ラッピングを行な
って製造される。
このように単結晶を画成する場合、ルツボ内に結晶原料
を入れ高温溶融状態を保持したのち種結晶を結晶原料の
融液につけ、仄いで引上げ、徐冷することにより単結晶
を育成している。
従来、このような卑粘晶肯成においては結晶原料のルツ
ボ内で加熱溶融時、温度保持特種結晶を入れる時、結晶
の肩作り時、引上げ時の温度を知るには光学的な1視検
五によって判定が行なわれていた。
即ち、炉体の一部に設けられた観察用のぞき窓を通して
炉内を観際し、溶融したかどうかを判定し、手動で昇温
を停止したのち、縄付けなどの操作を行っていた。しか
しなから、この目伐による方法は通當メガネを層相して
おり、高温溶融状態の結晶L’AHに焦点を合せるのか
むずかしく、目の疲労が大きい問題点かある。このため
、予め所定の温度スケジュールを使用するプログラム方
式によりルツボを加熱すると、溶融時点を見過すことが
あり、その結果、ルツボや炉体を損傷したり、またステ
ップ方法で溶融時点をl1fi kし々がらルツボを加
熱すると多大な作業時間を扱するなどの間匙点がある。
更に近帷単結晶の大口径化が進みこのような単結晶を高
能率に製造するためには結晶製造工程の自動化をはかる
ことが望まれている。しがし従来の目視検査により溶融
時点などを検知する方法は不可能に近い。
〔発明の目的〕
本発明は前述した従来の諸問題点に鑑みなされたもので
ある。
炉内の結晶原料を予め定められた温度スケジュール、慣
に素材の加熱スタート時から液相状態を経て、シードイ
ン1での温度スケジュールに従って制御する場合、この
結晶原料の溶−前後を通じてその表面温度を赤外線温度
計で測定し、この測定値を標準温度スケジュールと比較
し両者間に温度差がある時はルツボを加熱しているコイ
ルに入力される高周波電力を制御することにより、常に
標準温度スケジュールと同一な温度で結晶原料の温度を
制御することが可能な単結晶の製造方法を提供すること
を目的としている。
〔発明の概袈」 即ち本発明はルツボ内の結晶原料を加熱するコイルに入
力される高周波電力を予め定められた標準温度スケジュ
ールに従って制御するに陥り、結晶原料の温度を赤外線
温度計で測定する手段と、赤外線温度計て測定された温
度と予め記憶されている温度スケジュールとを比較して
温度差を求める手段と、この温度差に対応してコイルに
入力される高周波電力を制御する手段とを貝掘している
ことを特徴とする単結晶の製造方法でるる。
〔発明の実施例」 次に本発明の単結晶の製造方法の一実施例を図に従って
説明する。
先ず第1図は弾性表面波素子などに使用される1、1T
aosの単結晶引上けのルツボ内のLiTa0Il結晶
原料の標準温度スケジュールの曲線(1)を示す図であ
り、A点は牛溶融状態、B点は先金溶融状態、C点は種
付時、D部は単結晶の肩作り部、E部は単結晶を径の制
御を行ないながら引き上ける部、l、1部は冷却部を示
している。
次に第2図により単結晶の製造方法のブロック図を説明
する。
即ち、ルツボ0])内には結晶原料(12+が入れられ
ており、この結晶原料(12)の破線で示すfm (1
3)に対応する部位の温度は赤外線温度計<14)によ
り此犀され、結晶原料02)はルツボ(11)に巻かれ
たコイルα5ノに高周波発振装置α6)から供給される
電力によって加熱されるようになっている。
また赤外線温度計<141により測定された温度(M号
は比較器07)に入力されると共にこの比φメ器α7j
には第1図に示す所定の標準温度スケジュールを記憶し
ている標準温度スケジュール記憶装置11t11からの
温度信号が入力され両温度信号の比較値が制価器Q91
に入力される。
と高周波電力測定器(2Cjからの信号を受は比較値が
零となるような信号を高周波発振装置αQの電源装置(
21)に入力し、高周波発振装置([6)からの出力を
制御するようになっている。
前記実施例は特に1000°C乃至1680°C近傍の
温度制御に好適であるのであり第1図のA点から168
0°Cの一定温度部、種付けのC点迄の従来コントロー
ルが困難であった温度スケジュールの部位を極めて安定
して制御することか可能である。
前記実施例は主としてLi TaO2の単結晶の製造方
法について述べたが、これに限定されるものではなく他
の部組の単結晶の製造方法にも羊のまま適用できること
は勿論である。
〔発明の効果〕
上述のように本発明の単結晶の製造方法によれは、1り
l定の標準温度スケジュールに従って単結晶を製造する
ことがi」能であり、特性、外形などのそろった単結晶
を得ることか出来るのでその工業的価値は極めて犬であ
る。
第1図は単結晶の製造工程の温度スケジュールを示す曲
線図、第2図は本発明の製造方法の一実施例に使用する
各装置の関係を示すブロック図である。
11・・・ル ツ ボ   12・・・結晶原料14・
・・赤外線温度計  15・・・コ イ ル16・・・
高周波発振装置 17・・・比 較 器18・・・標単
温度スケジュール記憶装置19・・・制 御 器   
20・・・高周波電力測定器21・・・電源装置 代理人 弁理士 井 上 −男

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ルツボ内の結晶原料を加熱するコイルに入力される高周
    波電力を予め定められた標準温度スケジュールに従って
    制御するに当り、前記結晶原料の温度を赤外線温度計で
    測定する手段と、前記赤外線温度計で測定された温度と
    前記標準温度スケジュールの温度とを比較して温度差を
    求める手段と、との温度差に対応して前記コイルに入力
    される高周波電力を制御する手段とを具備することを特
    徴とする単結晶の製造方法。
JP13473082A 1982-08-03 1982-08-03 単結晶の製造方法 Pending JPS5926996A (ja)

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JP13473082A JPS5926996A (ja) 1982-08-03 1982-08-03 単結晶の製造方法

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JPS5926996A true JPS5926996A (ja) 1984-02-13

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JPS60251194A (ja) * 1984-05-25 1985-12-11 Res Dev Corp Of Japan 高解離圧化合物単結晶成長方法
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JPH04325488A (ja) * 1991-04-26 1992-11-13 Mitsubishi Materials Corp 液面温度制御方法

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JPS55140796A (en) * 1979-04-21 1980-11-04 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Automatic crystal growing method

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