JPS592407B2 - ムアンテイマルチバイブレ−タ - Google Patents

ムアンテイマルチバイブレ−タ

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Publication number
JPS592407B2
JPS592407B2 JP50156209A JP15620975A JPS592407B2 JP S592407 B2 JPS592407 B2 JP S592407B2 JP 50156209 A JP50156209 A JP 50156209A JP 15620975 A JP15620975 A JP 15620975A JP S592407 B2 JPS592407 B2 JP S592407B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
circuit
resistor
potential
capacitor
Prior art date
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Expired
Application number
JP50156209A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5279645A (en
Inventor
耕一 山田
勝 柱野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP50156209A priority Critical patent/JPS592407B2/ja
Publication of JPS5279645A publication Critical patent/JPS5279645A/ja
Publication of JPS592407B2 publication Critical patent/JPS592407B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/023Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of differential amplifiers or comparators, with internal or external positive feedback
    • H03K3/0231Astable circuits

Description

【発明の詳細な説明】 従来の一般的な無安定マルチバイブレークの回路図を第
1図に示す。
図においてR1、R2はそれぞれトランジスタTI、T
2のコレクタ抵抗、R3、R4及びCLC2は発振周期
Tを決定する抵抗とコンデンサ、DI 、D2はトラン
ジスタTI、T2のペースエミッタ間破壊を保護する為
のダイオードである。
次に、動作原理について説明すると、初期状態がT 1
=ONffbe ) O)、T 2 = OF F
(Vbe 2 <0)であるとする。
Ubc 2 < OであるのはコンデンサC1の充電電
圧のためと考えられるので、時間の経過とともに0に近
づき、Ubc2 = Oになる。
さらに時間が経過すると抵抗R3によりUbc2 >
0となり、トランジスタT2はオフからオンへ切換わる
トランジスタT2がオンにかわるさ、オフ期間中にコン
デンサC2が抵抗R2を通じて■CC近くまで充電され
ているので、この充電電圧がトランジスタT1のUbe
lになり、該トランジスタT1をオフする。
トランジスタT1のオフ状態はコンデンサC2の充電電
圧によるものであるから、いずれは抵抗R4を通じて放
電が進むと、IJBe2=0となり、その時トランジス
タT1はオフからオンへ切換わる。
トランジスタT1がオンに変われば、オフ期間中にコン
デンサC1へ充電された電圧がUbc2に加わりトラン
ジスタT2をオフにする。
以上の動作が自動的に繰り返される。
この結果、トランジスタTI、T2のコレクタ・エミッ
タ間には互いに逆位相の方形波電圧が得られる。
以上が従来の無安定マルチバイブレークの動作原理であ
るが、時定数回路を構成するコンデンサがその増幅素子
たるトランジスタのコレクタ・ベース間に接続されるの
で、半導体集積回路化する場合は、そのコンデンサを外
付けとし、そのための外付は用端子を複数個必要とする
ため、このパルス遅延回路としての単安定マルチバイブ
レークは半導体集積回路化に適さなかった。
そこで本発明は、半導体集積化に適した無安定マルチバ
イブレークを提供するものである。
本発明の無安定マルチバイブレークの一実施例を第2図
に示し、該無安定マルチバイブレークの動作波形図を第
3図に示す。
尚第2図において破線で囲んだ部分は集積化部分である
抵抗RAの一方の直流電圧源VCCに接続すると共に、
他方をコンデンサC3を介して接地させている。
抵抗RAとコンデンサC3の接続点に、エミッタを接地
したトランジスタT3のコレクタと、差動増幅器を構成
するトランジスタT4のベースに接続する。
トランジスタT4のエミッタは抵抗R7の一方と、トラ
ンジスタT5のエミッタとに接続し、抵抗R7の他方は
接地する。
トランジスタT4のコレクタは抵抗R5を介してVCC
に接続シ、トランジスタT5のコレクタは抵抗R6を介
してvCCに接続する。
更にトランジスタT5のベースは、一方をトランジスタ
T4のコレクタに且つ他方を抵抗R2を介して接地した
抵抗8の該接続点に接続すると共に、エミッタを接地し
たトランジスタT11のコレクタに接続する。
トランジスタT5と抵抗R6との接続点を抵抗R10を
介してPNPトランジスタT9のベースに接続し、該ト
ランジスタT9のエミッタはVCCと、またコレクタは
抵抗R17を介して接地する。
以上が、第1の遅延回路の構成である。
次に第2の遅延回路の構成について説明すると、抵抗R
Bの一方は直流電圧源■CCに接続され、他方はコンデ
ンサC4を介して接地されている。
抵抗RBとコンデンサC4の接続点にエミッタを接地し
たトランジスタT6のコレクタと、差動増幅器を構成す
るトランジスタTIのベースとを接続する。
トランジスタTIのエミッタは、抵抗F15の一方とト
ランジスタT8のエミッタに接続し、R15の他方は接
地する。
またトランジスタT7のコレクタは抵抗R11を介して
VCCに接続する。
トランジスタT8のコレクタは抵抗12を介してVCC
に接続する。
更にトランジスタT8のベースは、一方をトランジスタ
T17のコレクタに接続され且つ他方を抵抗R14を介
して接地する抵抗R13の上記抵抗R14との接続点に
接続すると共に、エミッタを接地したトランジスタT1
2のコレクタに接続する。
またトランジスタT8吉抵抗R12の接続点を抵抗R1
6を介してPNPトランジスタTIOのベースに接続し
、該トランジスタT10のエミッタはVCCと、コレク
タは抵抗R18を介して接地する。
トランジスタT10と抵抗R18吉の接続点より出力
を取り出す一方、抵抗R20を介してトランジスタT3
とTllのベースに接続する。
才だ、トランジスタT9と抵抗R17の接続点より抵抗
R19を介してトランジスタT6とT12のベースに接
続する。
以上が本発明無安定マルチバイブレータの構成で、次に
動作原理について第3図を用いて説明する。
今、直流電圧線vCCが投入された瞬間、トランジスタ
T9のコレクタの電位(波形二)がHi電位(キVcc
)になったとすると、トランジスタT6 、Tl 2
はオン状態となり、トランジスタT7..T8がオフ状
態となり、トランジスタT8のコレクタの電位(波形ト
)はHi電位(キVcc)になる為、トランジスタT1
0はオフ状態となりトランジスタTIOのコレクタの電
位(波形チ)はLOW電位(キGND)になっている。
よってトランジスタT3.T11がオフ状態となり、v
CCよって抵抗RAを介して、コンデンサC3に充電電
流が流れ、トランジスタT4のベースの電位(波形イ)
が上昇してくる。
該トランジスタT4のベースの電位(波形イ)がVAに
なった瞬間、トランジスタT4がオントランジスタT5
がオフ状態トなり、トランジスタT4のコレクタの電位
(波形口)は、Vaから(VA−VBE)に下がる。
VAとvaは、 で求まる。
トランジスタT5のコレクタの電位(波形/X)はHi
(キVcc )電位となるので、トランジスタT9はオ
フ状態となり、トランジスタT9のコレクタの電位(波
形二)はLOW(キGND)電位になる。
よってトランジスタT6 、Tl 2はオンからオフ状
態となり、トランジスタTIがオフ状態、T8がオフか
らオン状態になる。
トランジスタTIのコレクタの電位(波形へ)は(VB
−VBE)からvbの電位まで上がり、トランジスタT
8のコレクタの電位(波形ト)はHi(キVcc)電位
から(VB−VBE)まで下がる。
VBとvbは、で求められる。
トランジスタT8のコレクタの電位(波形ト)が下がる
為、トランジスタT10はオン状態となり、トランジス
タT10のコレクタの電位(波形チ)はLow(キGN
D)電位からHi(キVcc)電位まで上がりこの状態
を保持する。
また、トランジスタT10のコレクタ電位(波形チ)が
H’i (キVcc)電位となる為、トランジスタT3
およびT11がオフ状態からオン状態になる。
よって、コンデンサC3の充電によりトランジスタT4
のベース電位(波形イ)がVAまで上がった瞬間、トラ
ンジスタT3を通して電流が流れるのでT4のベース電
位(波形イ)はLow(キGND)電位におとされ、こ
の状態を保持する。
直流電圧源■CCを投入時から、この瞬間までの時間t
1は、 で求められる。
またトランジスタT9がオフ状態となり、且つトランジ
スタT6がオン状態からオフ状態になった瞬間より、V
ccから抵抗RBを介してコンデンサC4に充電電流が
流れ、トランジスタTIのベース電位(波形ホ)が上昇
してくる。
トランジスタTIのベースの電位(波形ホ)がVBにな
った瞬間、トランジスタT7がオン、トランジスタT8
がオフ状態となり、トランジスタTIのコレクタの電位
(波形へ)はvbから(VB−VBB)に下がり、トラ
ンジスタT8のコレクタの電位(波形ト)は(VB−V
BE)の電位からHi(:VCC)電位になる。
よってトランジスタT10はオフ状態となり、トランジ
スタT5のコレクタの電位(波形ハ)はHi(キVcc
)電位からffA−VBE)まで下がるので、トランジ
スタT9はオン状態となる。
トランジスタT9がON状態となるATSのコレクタの
電位(波形二)はHi(キVcc)電位となるので、ト
ランジスタT6.T12をオン状態にする。
すなわち、コンデンサC4の充電によりトランジスタT
7のベース電位(波形ホ)が■まで上がった瞬間、トラ
ンジスタT6を通して電流が流れるので、トランジスタ
TIのベース電位(波形ホ)はLOW(キGND)電位
におとされ、この状態を保持する。
コンデンサC4の充電開始からVB電位まで達する時間
t9は、 で求められる。
今、I・ランジスクT6がオン状態になった瞬間、トラ
ンジスタTIOはオフ状態となり、トランジスタT10
のコレクタ電位(波形チ)は、LOW(キGND )電
位となり、トランジスタT6がオフ状態となるから、再
びvCCから抵抗RAを介してコンデンサC3に充電電
流が流れる。
この動作を繰り返すことによって、周期Tで安定に発振
動作をする。
周期Tは、となる。
なお、上記実施例では、抵抗RAとコンデンサC3、抵
抗RBとコンデンサC4によってそれぞれ第1、第2の
時定数回路が構成されており、第1のシュミット回路は
第1、第2のトランジスタとしてのトランジスタT4.
T5ならびに抵抗R5、R6、R7、R8、R9で構成
され、第2のシュミット回路は第3、第4のトランジス
タとしてのトランジスタT7 、T8ならひに抵抗R1
1,R12,R13,R14,R15で構成され、第1
の検出回路は抵抗RI O、R17とトランジスタT9
で構成され、第2の検出回路は抵抗R16、R18とト
ランジスタTIOで構成され、第1のスイッチング部は
抵抗R20とトランジスタT3、T11で構成され、第
2のスイッチング部は抵抗R19とトランジスタT6、
T12で構成されている。
以上が本発明無安定マルチバイブレークであるが、本発
明回路方式にすることによって、半導体集積化する際に
おいて、ピン数の削減を図ることが出来るので、半導体
集積化には適した無安定マルチバイブレークを提供でき
る。
また、直流電圧源Vccが、所定電圧より低下した場合
コンデンサC3およびC4は共に充電されるため、本発
明の無安マルチバイブレークの発振が停止するため、外
部同期が容易にできる他、直流電圧源、Vccの低下検
出が可能である。
更に、集積化に適する無安定マルチバイブレークとして
、従来では第2レベル検出回路と第2レベル検出回路と
R−Sフリップフロップ回路とを設け、上記第1、第2
レベル検出回路の出力によりR−Sフリップフロップ回
路をトリガし、R−Sフリップフロップ回路の出力によ
り交互に第1、第2レベル検出回路をトリガするように
構成したものが特開昭50−155160にみられるが
、このようなものに比べて本発明の無安定マルチバイブ
レークではR−Sフリップフロップを必要とせず、また
回路構成がより簡単であり、半導体集積化する上で非常
に有効なものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の無安定マルチバイブレークの回路図、第
2図は本発明無安定マルチバイブレークの一実施例回路
図、第3図は本発明無安定マルチバイブレーク回路の各
接続点動作波形図を示す。 T4〜T12・・・・・・トランジスタ、RAとRBお
よびR5−R2O・・・・・・抵抗、C3およびC4・
・・・・・コンテ゛ンサ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 コンデンサと抵抗器の直列回路で構成される第1、
    第2の時定数回路と、第1のトランジスタのベースが第
    1の時定数回路に接続され第2のトランジスタのベース
    に第1の設定電圧が印加され第1の時定数回路のコンデ
    ンサ端子電圧が第1の設定電圧に達したことを検出する
    第1のシュミット回路と、第1および第2のトランジス
    タのベースと基準電位との間に介装され導通して第1.
    の特定数回路のコンデンサの電荷を放電させる第1のス
    イッチング部と、第1のシュミット回路出力が反転した
    ことを検出する第「の検出回路と、第3のトランジスタ
    のベースが第2の時定数回路に接続され第4のトランジ
    スタのベースに第2の設定電圧が印加され第2の時定数
    回路のコンデンサ端子電圧が第2の設定電圧に達したこ
    とを検出する第2のシュミット回路と、第3および第4
    のトランジスタのベースと基準電位との間に介装され導
    通して第2の時定数回路のコンデンサの電荷を放電させ
    る第2のスイッチング部と、第2のシュミット回路出力
    が反転したことを検出する第2の検出回路とを設け、第
    1の検出回路が反転を検出した間に第2のスイッチング
    部を導通させ、第2の検出回路が反転を検出した時に第
    1のスイッチング部を導通させ、第1の検出回路または
    第2の検出回路から出力信号を取出したことを特徴とす
    る無安定マルチバイブレータ。
JP50156209A 1975-12-25 1975-12-25 ムアンテイマルチバイブレ−タ Expired JPS592407B2 (ja)

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JPS5279645A JPS5279645A (en) 1977-07-04
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60166492U (ja) * 1984-04-12 1985-11-05 市川毛織株式会社 ベルトプレス脱水機用濾布
JPH0195224U (ja) * 1987-12-16 1989-06-23

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS50155160A (en) * 1974-06-03 1975-12-15 Mitsubishi Electric Corp Integrated astable multivibrator

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JPS5279645A (en) 1977-07-04

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