JPS5923941B2 - 加工間隙制御方法及び装置 - Google Patents
加工間隙制御方法及び装置Info
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- JPS5923941B2 JPS5923941B2 JP981580A JP981580A JPS5923941B2 JP S5923941 B2 JPS5923941 B2 JP S5923941B2 JP 981580 A JP981580 A JP 981580A JP 981580 A JP981580 A JP 981580A JP S5923941 B2 JPS5923941 B2 JP S5923941B2
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- JP
- Japan
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- gap
- machining
- command signal
- machining gap
- predetermined
- Prior art date
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H7/00—Processes or apparatus applicable to both electrical discharge machining and electrochemical machining
- B23H7/14—Electric circuits specially adapted therefor, e.g. power supply
- B23H7/18—Electric circuits specially adapted therefor, e.g. power supply for maintaining or controlling the desired spacing between electrode and workpiece
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は放電加工用電極と被加工物との間の距離を精度
よく所定の長さに制御する加工間隙制御方法及び装置に
関する。
よく所定の長さに制御する加工間隙制御方法及び装置に
関する。
一般に、放電加において効率のよい放電を持続させるた
めには、加工用電極と被加工物との間の間隙長が所定の
長さに維持されるように制御されることが必要であるが
、このためには、応答性の良好なサーボ駆動系が要求さ
れる。
めには、加工用電極と被加工物との間の間隙長が所定の
長さに維持されるように制御されることが必要であるが
、このためには、応答性の良好なサーボ駆動系が要求さ
れる。
ところで、放電加工における電極送りの如く、１回当り
の送り量が極めて少ない量の機械応答は非常に遅く、数
１００Ｃｍｓ〕程度の応答時間を必要とし、このため数
〔Ｍｓ〕毎に放電間隙長をチエツクして前進、後退の制
御を行なう方式の場合には、サーボハンチングを引き起
すことがある。また、加工間隙で発生する切削粉等によ
り、放電間隙長が、駆動系の応答速度より速い速度で変
化した場合に、放電間隙長の変化に対して間隙調節用の
駆動系が迅速に追従することができず、短絡状態を直ち
に解除することができない。このように、放電加工機の
加工間隙の調節のためのサーボは、通常はむしろ細かい
ステツプでゆるやかなサーボを行ない、いつたん間隙長
が急激に変化した場合には速い応答のサーボを行なうこ
とが必要である。
の送り量が極めて少ない量の機械応答は非常に遅く、数
１００Ｃｍｓ〕程度の応答時間を必要とし、このため数
〔Ｍｓ〕毎に放電間隙長をチエツクして前進、後退の制
御を行なう方式の場合には、サーボハンチングを引き起
すことがある。また、加工間隙で発生する切削粉等によ
り、放電間隙長が、駆動系の応答速度より速い速度で変
化した場合に、放電間隙長の変化に対して間隙調節用の
駆動系が迅速に追従することができず、短絡状態を直ち
に解除することができない。このように、放電加工機の
加工間隙の調節のためのサーボは、通常はむしろ細かい
ステツプでゆるやかなサーボを行ない、いつたん間隙長
が急激に変化した場合には速い応答のサーボを行なうこ
とが必要である。
本発明の目的は、従つて、加工間隙長の急激な変化に対
し通常のサーボ速度の数倍の速度でサーボハンチングを
起すことなくサーボ系を応答させることができる加工間
隙制御方法及び装置を提供することにある。
し通常のサーボ速度の数倍の速度でサーボハンチングを
起すことなくサーボ系を応答させることができる加工間
隙制御方法及び装置を提供することにある。
以下、図示の実施例により本発明の方法及び装置を詳細
に説明する。
に説明する。
第１図には、本発明による間隙制御装置１が示されてい
る。
る。
間隙制御装置１は、加工タンク２内の加工液３中に浸漬
されている被加工物４と加工用電極５との間の放電間隙
６の間隙長１が所定の値に維持されるように加工用電極
５の送り量を制御するための装置である。加工用電極５
は減速駆動機構７に接続されている電極ホルダ８に取付
けられており、駆動用モータ９の回転方向に従つて間隙
長が調節される。放電間隙６には、パルス制御回路１０
、直流電源１１、パルス制御回路１０からのパルス信号
Ｓ１によりオン、オフ制御されるスイッチングトランジ
スタ１２から成る加工用パルス電源１３からの加工用パ
ルスＰ１が印加される。放電間隙６における電圧のレベ
ルを検出するため、放電間隙６と並列に間隙電圧検出用
の可変抵抗器１４が接続されており、可変抵抗器１４に
より適宜のレベルにレベルダウンされて取出された間隙
検出電圧Ｖ１は、基準電圧設定抵抗器１５からの基準電
圧Ｖ２が一方の入力に印加されている差信号発生回路１
６の他方の入力に印加されている。差信号発生回路１６
は、入力された電圧Ｖｌ，Ｖ２の差の積分値に従う出力
電圧Ｖ３を出力し、この出力電圧Ｖ３は比較回路１７，
１８，１９の各一方の入力に印加され、各他方の入力に
印加されている基準電圧Ｖ４，Ｖ，，Ｖ６と夫々レベル
比較される。これらの基準電圧Ｖ４，Ｖ，，Ｖ６は、可
変抵抗器２０，２１，２２により任意に設定することが
出来、電圧Ｖ，は、放電加工に最適な間隙長１より所定
長Δ１だけ長くなつた時の間隙電圧と等しく設定されて
おり、一方、電圧Ｖ６はｌよりΔｌだけ短かくなつた時
の間隔電圧と等しく設定されている。電圧Ｖ４は、間隙
長１がΔｌより充分に長い距離△１１（《ｌ）だけ短か
くなつた時の間隙電圧と等しくなるように設定されてい
る。これらの比較回路１７，１８，１９は、夫々、Ｖ３
く４、Ｖ３〉Ｖ５、Ｖ３くＶ６の条件に応答してその出
力信号Ｄｌ，Ｄ２，Ｄ３のレベルが「Ｏ」から「１」と
なる。出力信号Ｄｌ，Ｄ２はＲ−Ｓフリツプ・フロツプ
２３のセツト入力端子Ｓ及びりセツト入力端子Ｒに夫々
入力されており、出力Ｑｌ，Ｑｌはアンドゲート２５，
２６に夫々印加されている。アンドゲート２５，２６の
各出力は可逆カウンタ２７の加算入力端子２７ａ及び減
算入力端子２７ｂに夫々接続され、可逆カウンタ２７の
出力は、セツト入力端子Ｓに出力信号Ｄ１が印加されて
いるＲ−Ｓフリツプ・フロツプ２４のりセツト入力端子
Ｒに印加される。Ｒ−Ｓフリツブ・フロツプ２４の出力
Ｑ２はアンドゲート２５，２６に入力され、他方の出力
Ｑ２は出力信号Ｄ２，Ｄ３が夫々一方の入力端子に印加
されているアンドゲート２８，２９の各他方の入力端子
に入力されている。これらのアンドゲート２８，２９の
出力は、各一方の入力にサンプリングパルス発生器３０
からのサンプリングパルス列Ｐ２が各々印加されている
アンドゲート３１，３２の各他方の入力に印加されてお
り、サンプリングパルス列Ｐ２は更にアンドゲート２５
，２６の残りの入力端子にも夫々印加されている。アン
ドゲート２５，２６の出力はオアゲート３３の各入力に
各各印加されており、ゲート３１〜３３の出力は切換ス
イツチから成るパルス量設定器３４，３５，３６を介し
て、夫々、クロツク発振器４０からのクロツクパルスＣ
Ｐが供給されているパルス分配回路３７，３８，３９に
印加される。各パルス分配回路は、対応して設けられて
いるパルス量設定器により設定された個数のパルスをサ
ンプリングパルスが１つ入力される毎に出力するように
なつている。従つてサンプリングパルス列Ｐ２の周期は
クロツクパルスＣＰの周期より長くなつている。パルス
分配回路３７からの出力パルスＰ３はオアゲート４１を
介して可逆カウンタから成る誤差カウンタ４３の減算入
力端子４３ａに印加され、パルス分配回路３８からの出
力パルスＰ４はオアゲート４２を介して誤差カウンタ４
３の加算入力端子４３ｂに印加される。一方、パルス分
配回路３９からの出力パルスＰ，は、アンドゲート４４
，４５から成る切換回路４６を介して取出され、出力Ｑ
ｌ，Ｑｌの状態に従つて加算入力端子４３ｂ又は減算入
力端子４３ａに印加される。誤差カウンタ４３には、更
に、モータ９に接続されたパルスエンコーダ４７からの
フイードバツクパルスＰ６が入力されており、モータ９
が正又は負方向に回転すると、その回転量に相応したパ
ルス数がパルスエンコーダ４７から誤差カウンタ４３Ｖ
Ｃ入力され、誤差カウンタ４３の内容を、モータ９の回
転により生ずる間隙長１の変化によつて常に修正するこ
とができる。
されている被加工物４と加工用電極５との間の放電間隙
６の間隙長１が所定の値に維持されるように加工用電極
５の送り量を制御するための装置である。加工用電極５
は減速駆動機構７に接続されている電極ホルダ８に取付
けられており、駆動用モータ９の回転方向に従つて間隙
長が調節される。放電間隙６には、パルス制御回路１０
、直流電源１１、パルス制御回路１０からのパルス信号
Ｓ１によりオン、オフ制御されるスイッチングトランジ
スタ１２から成る加工用パルス電源１３からの加工用パ
ルスＰ１が印加される。放電間隙６における電圧のレベ
ルを検出するため、放電間隙６と並列に間隙電圧検出用
の可変抵抗器１４が接続されており、可変抵抗器１４に
より適宜のレベルにレベルダウンされて取出された間隙
検出電圧Ｖ１は、基準電圧設定抵抗器１５からの基準電
圧Ｖ２が一方の入力に印加されている差信号発生回路１
６の他方の入力に印加されている。差信号発生回路１６
は、入力された電圧Ｖｌ，Ｖ２の差の積分値に従う出力
電圧Ｖ３を出力し、この出力電圧Ｖ３は比較回路１７，
１８，１９の各一方の入力に印加され、各他方の入力に
印加されている基準電圧Ｖ４，Ｖ，，Ｖ６と夫々レベル
比較される。これらの基準電圧Ｖ４，Ｖ，，Ｖ６は、可
変抵抗器２０，２１，２２により任意に設定することが
出来、電圧Ｖ，は、放電加工に最適な間隙長１より所定
長Δ１だけ長くなつた時の間隙電圧と等しく設定されて
おり、一方、電圧Ｖ６はｌよりΔｌだけ短かくなつた時
の間隔電圧と等しく設定されている。電圧Ｖ４は、間隙
長１がΔｌより充分に長い距離△１１（《ｌ）だけ短か
くなつた時の間隙電圧と等しくなるように設定されてい
る。これらの比較回路１７，１８，１９は、夫々、Ｖ３
く４、Ｖ３〉Ｖ５、Ｖ３くＶ６の条件に応答してその出
力信号Ｄｌ，Ｄ２，Ｄ３のレベルが「Ｏ」から「１」と
なる。出力信号Ｄｌ，Ｄ２はＲ−Ｓフリツプ・フロツプ
２３のセツト入力端子Ｓ及びりセツト入力端子Ｒに夫々
入力されており、出力Ｑｌ，Ｑｌはアンドゲート２５，
２６に夫々印加されている。アンドゲート２５，２６の
各出力は可逆カウンタ２７の加算入力端子２７ａ及び減
算入力端子２７ｂに夫々接続され、可逆カウンタ２７の
出力は、セツト入力端子Ｓに出力信号Ｄ１が印加されて
いるＲ−Ｓフリツプ・フロツプ２４のりセツト入力端子
Ｒに印加される。Ｒ−Ｓフリツブ・フロツプ２４の出力
Ｑ２はアンドゲート２５，２６に入力され、他方の出力
Ｑ２は出力信号Ｄ２，Ｄ３が夫々一方の入力端子に印加
されているアンドゲート２８，２９の各他方の入力端子
に入力されている。これらのアンドゲート２８，２９の
出力は、各一方の入力にサンプリングパルス発生器３０
からのサンプリングパルス列Ｐ２が各々印加されている
アンドゲート３１，３２の各他方の入力に印加されてお
り、サンプリングパルス列Ｐ２は更にアンドゲート２５
，２６の残りの入力端子にも夫々印加されている。アン
ドゲート２５，２６の出力はオアゲート３３の各入力に
各各印加されており、ゲート３１〜３３の出力は切換ス
イツチから成るパルス量設定器３４，３５，３６を介し
て、夫々、クロツク発振器４０からのクロツクパルスＣ
Ｐが供給されているパルス分配回路３７，３８，３９に
印加される。各パルス分配回路は、対応して設けられて
いるパルス量設定器により設定された個数のパルスをサ
ンプリングパルスが１つ入力される毎に出力するように
なつている。従つてサンプリングパルス列Ｐ２の周期は
クロツクパルスＣＰの周期より長くなつている。パルス
分配回路３７からの出力パルスＰ３はオアゲート４１を
介して可逆カウンタから成る誤差カウンタ４３の減算入
力端子４３ａに印加され、パルス分配回路３８からの出
力パルスＰ４はオアゲート４２を介して誤差カウンタ４
３の加算入力端子４３ｂに印加される。一方、パルス分
配回路３９からの出力パルスＰ，は、アンドゲート４４
，４５から成る切換回路４６を介して取出され、出力Ｑ
ｌ，Ｑｌの状態に従つて加算入力端子４３ｂ又は減算入
力端子４３ａに印加される。誤差カウンタ４３には、更
に、モータ９に接続されたパルスエンコーダ４７からの
フイードバツクパルスＰ６が入力されており、モータ９
が正又は負方向に回転すると、その回転量に相応したパ
ルス数がパルスエンコーダ４７から誤差カウンタ４３Ｖ
Ｃ入力され、誤差カウンタ４３の内容を、モータ９の回
転により生ずる間隙長１の変化によつて常に修正するこ
とができる。
誤差カウンタ４３からの並列２進出力Ｐ７はＤ／Ａ変換
回路４８において対応するアナログ電圧信号Ｓ２に変換
され、増幅器４９により電力増幅された後、モータ９に
印加される。次に、この装置の動作について説明する。
回路４８において対応するアナログ電圧信号Ｓ２に変換
され、増幅器４９により電力増幅された後、モータ９に
印加される。次に、この装置の動作について説明する。
第２図ａには、第１図に示す装置により放電加工を行な
つた場合の間隙検出電圧Ｖ１の波形の一例が示されてお
り、この電圧Ｖ，は差信号発生回路１６において処理さ
れ、第２図ｂの実線で示される如きレベル変化を示す出
力電圧Ｖ３として取出される。第２図ｂにおいて点線で
示されるのは、夫々基準電圧４，Ｖ，，６の各レベルで
ある。従つて、この場合の出力信号Ｄｌ，Ｄ２，Ｄ３の
レベルは第２図Ａ，ｃ，ｄに示されるように変化する。
時刻ｔ＝ｔ１付近において間隙長１が所定の値より長い
と、３〉Ｖ５となり、出力信号Ｄ２のレベルの，みが「
１」となり他の出力信号Ｄ２，Ｄ３のレベルは「０」と
なつている。この場合には、後述の理由によりＲ−Ｓフ
リツプ・フロツプ２３，２４はりセツトされており、従
つてアンドゲート２８の出力が「１」となり、アンドゲ
ート３２が開かれているのでサンプリングパルス列Ｐ２
はパルス分配回路３８に入力され、サンプリングタイミ
ング毎に所定個数のパルスが誤差カウンタ４３の加算入
力端子４３ｂに入力され、誤差カウンタ４３をカウント
アツプする。モータ９はこの誤差カウンタ４３からの並
列２進出力Ｐ７の正負と、その大きさに従つて回転駆動
される。この場合は、間隙長１を短かくするようにモー
タ９ぱ駆動され、モータ９の回転量に従つたパルスがフ
イードバツクパルスＰ６として誤差カウンタ４３に印加
され、これによりカウンタ４３のカウント内容が減算さ
れ、従つて誤差カウンタ４３の内容が零となるようにモ
ータ９が，駆動される。この場合、出力Ｑｌ，Ｑ２、出
力信号Ｄ３は共に「Ｏ」レベルとなつているので、アン
ドゲート３１，２５，２６ぽ閉じられており、他のパル
ス分配回路３９，３７から出力パルスＰ３，Ｐ５が出力
されることはない。
つた場合の間隙検出電圧Ｖ１の波形の一例が示されてお
り、この電圧Ｖ，は差信号発生回路１６において処理さ
れ、第２図ｂの実線で示される如きレベル変化を示す出
力電圧Ｖ３として取出される。第２図ｂにおいて点線で
示されるのは、夫々基準電圧４，Ｖ，，６の各レベルで
ある。従つて、この場合の出力信号Ｄｌ，Ｄ２，Ｄ３の
レベルは第２図Ａ，ｃ，ｄに示されるように変化する。
時刻ｔ＝ｔ１付近において間隙長１が所定の値より長い
と、３〉Ｖ５となり、出力信号Ｄ２のレベルの，みが「
１」となり他の出力信号Ｄ２，Ｄ３のレベルは「０」と
なつている。この場合には、後述の理由によりＲ−Ｓフ
リツプ・フロツプ２３，２４はりセツトされており、従
つてアンドゲート２８の出力が「１」となり、アンドゲ
ート３２が開かれているのでサンプリングパルス列Ｐ２
はパルス分配回路３８に入力され、サンプリングタイミ
ング毎に所定個数のパルスが誤差カウンタ４３の加算入
力端子４３ｂに入力され、誤差カウンタ４３をカウント
アツプする。モータ９はこの誤差カウンタ４３からの並
列２進出力Ｐ７の正負と、その大きさに従つて回転駆動
される。この場合は、間隙長１を短かくするようにモー
タ９ぱ駆動され、モータ９の回転量に従つたパルスがフ
イードバツクパルスＰ６として誤差カウンタ４３に印加
され、これによりカウンタ４３のカウント内容が減算さ
れ、従つて誤差カウンタ４３の内容が零となるようにモ
ータ９が，駆動される。この場合、出力Ｑｌ，Ｑ２、出
力信号Ｄ３は共に「Ｏ」レベルとなつているので、アン
ドゲート３１，２５，２６ぽ閉じられており、他のパル
ス分配回路３９，３７から出力パルスＰ３，Ｐ５が出力
されることはない。
このようにして加用電極５が前進し、ｔ＝Ｔ２で間隙長
１が所定の長さになると、５〉Ｖ３となり、出力信号Ｄ
２のレベルも「Ｏ］となる。
１が所定の長さになると、５〉Ｖ３となり、出力信号Ｄ
２のレベルも「Ｏ］となる。
この結果、ゲート回路３２も閉じられ、入力端子４３ａ
，４３ｂを介して出力パルスが誤差カウンタ４３に入力
されることはなく、フイードバツクパルスＰ６のみがカ
ウンタ４３の内容が零となるまで入力される。何らかの
理由で、間隙長１が更に短かくなり、Ｖ３くＶ６となる
と、出力信号Ｄ３のみが「１」レベルとなり、アンドゲ
ート２９，３１が開かれ、パルス分配回路３７のみから
出力パルスＰ３が出力され、誤差カウンタ４３がカウン
トダウンされる。
，４３ｂを介して出力パルスが誤差カウンタ４３に入力
されることはなく、フイードバツクパルスＰ６のみがカ
ウンタ４３の内容が零となるまで入力される。何らかの
理由で、間隙長１が更に短かくなり、Ｖ３くＶ６となる
と、出力信号Ｄ３のみが「１」レベルとなり、アンドゲ
ート２９，３１が開かれ、パルス分配回路３７のみから
出力パルスＰ３が出力され、誤差カウンタ４３がカウン
トダウンされる。
従つて並列２進出力Ｐ７の内容は負となり、モータ９を
逆転させ、加工用電極５を被加工物６から離反させる動
作を行なう。上述の如きサーボ動作が行なわれている場
合に、加工屑が加工間隙に入つて間隙長１がいきなり大
幅にせばめられると、間隙検出電圧Ｖ１は急激にレベル
ダウンし、基準電圧Ｖ４より小さくなる。
逆転させ、加工用電極５を被加工物６から離反させる動
作を行なう。上述の如きサーボ動作が行なわれている場
合に、加工屑が加工間隙に入つて間隙長１がいきなり大
幅にせばめられると、間隙検出電圧Ｖ１は急激にレベル
ダウンし、基準電圧Ｖ４より小さくなる。
このような状態は、第２図でｔ＝Ｔ４の時点に相当して
おり、ｔ＝Ｔ４において出力信号Ｄ１のレベルが「０」
から［１」に変化する。このため、各Ｒ−Ｓフリツプ・
フロツプ２３，２４がセツトされ、出力Ｑｌ，Ｑ２が「
１］となり、出力Ｑｌ，Ｑ２は［０」となるから、アン
ドゲート２８，２９は閉じられ、これらの出力は「Ｏ」
となつてアンドゲート３１，３２も閉じられる。それ故
、パルス分配回路３７，３８から出力パルスＰ３，Ｐ４
が出力されるのが停止される。また、アンドゲート２５
も出力Ｑ１が「０」となることにより閉じられる。しか
し、アンドゲート２６は出力Ｑ，，Ｑ２が「１」のため
開かれ、サンプリングパルス列Ｐ２は、アンドゲート２
６を介して可逆カウンタ２７の加算入力端子２７ａ及び
オアゲート３３に印加される。可逆カウンタ２７の内容
は、初期状態においては零であり、上述の如くして加算
入力端子２７ａにサンプリングパルス列Ｐ２が印加され
ることにより、１パルス入力毎に１だけカウントアツプ
する。一方、オアゲート３３に入力されたサンプワング
パルス列Ｐ２はパルス量設定器３６を介してパルス分配
回路３９に印加される。パルス量設定器３６は、他のパ
ルス量設定器３４，３５により設定されたパルス量より
大きなパルス量となるように設定されており、従つて、
１サンプリングパルスによりパルス分配回路３９から得
られる出力パルスのパルス数は他の回路のそれより多く
なつている。出力パルスＰ，はアンドゲート４５を介し
てのみ取出され、誤差カウンタ４３の減算入力端子４３
ａに印加される。このため誤差カウンタ４３の内容は、
早い速度で負方向に増大し、これにより加工用電極６を
急速に被加工物４から離反させる後退勤作を行なう。こ
の結果、後退勤作に従つて間隙検出電圧Ｖ１が増大する
が、この後退勤作中において加工屑等が加工液の噴流に
より除去されるとＶ３〉Ｖ５となる。第２図に示す例で
は、ｔ＝Ｔ５において出力信号Ｄ２が「１」レベルとな
り、Ｒ−Ｓフリツプ・フロツプ２３がりセツトされ、ア
ンドゲート２６が閉じられ、アンドゲート２５が開かれ
る。このため、ｔ＝Ｔ５以後においては、サンプリング
パルス列Ｐ２は可逆カウンタ２７の減算入力端子２７ｂ
に印加されることになる。従つて、ｔ＝Ｔ５における可
逆カウンタ２７の内容は、ｔ＝Ｔ５以後、減算入力端子
２７ｂにパルスが１つ入力される毎に１だけ減じられる
。また、Ｒ−Ｓフリツプ・フロツプ２３がりセツトされ
ることにより、出力パルスＰ５はアンドゲート４４の出
力から取出され、誤差カウンタ４３の加算入力端子４３
ｂに印加される。従つて、誤差カウンタ４３は早い速度
でカウントアツプされ、加工用電極５を急速に前進させ
る。即ち、加工屑のために一旦急速に後退勤作を行なつ
た加工用電極５はこの後退勤作中に加工屑が除去され後
退勤作中において最初に出力信号Ｄ２が「Ｏ］から「１
］に変化したことにより前進させられる。ところで、加
工屑に起因する後退勤作が開始されてから再び前進動作
を開始するまでの間に動いた加工用電極５の移動距離は
、時間Ｔ４からＴ，までの期間に出力されたサンプリン
グパルス列Ｐ２のパルス数として可逆カウンタ２７にお
いて記憶されている。従つて、加工用電極５が再び前進
動作を開始し、ｔ−Ｔ５における可逆カウンタ２７の内
容を１サンプリングパルス毎に１つだけ減すると、可逆
カウンタ２７の内容が再び零に戻つた時に、加工用電極
５は加工屑による後退勤作を行なう直前の位置にまで戻
つたことになる。可逆カウンタ２７は、その内容が零と
なつた時にりセツトパルスＰ８が出力されるようになつ
ており、りセツトパルスＰ８によりＲ−Ｓフリツプ・フ
ロツプ２４もりセツトされ、ゲート２５，２６は閉じら
れ、ゲート２８，２９が開かれる。
おり、ｔ＝Ｔ４において出力信号Ｄ１のレベルが「０」
から［１」に変化する。このため、各Ｒ−Ｓフリツプ・
フロツプ２３，２４がセツトされ、出力Ｑｌ，Ｑ２が「
１］となり、出力Ｑｌ，Ｑ２は［０」となるから、アン
ドゲート２８，２９は閉じられ、これらの出力は「Ｏ」
となつてアンドゲート３１，３２も閉じられる。それ故
、パルス分配回路３７，３８から出力パルスＰ３，Ｐ４
が出力されるのが停止される。また、アンドゲート２５
も出力Ｑ１が「０」となることにより閉じられる。しか
し、アンドゲート２６は出力Ｑ，，Ｑ２が「１」のため
開かれ、サンプリングパルス列Ｐ２は、アンドゲート２
６を介して可逆カウンタ２７の加算入力端子２７ａ及び
オアゲート３３に印加される。可逆カウンタ２７の内容
は、初期状態においては零であり、上述の如くして加算
入力端子２７ａにサンプリングパルス列Ｐ２が印加され
ることにより、１パルス入力毎に１だけカウントアツプ
する。一方、オアゲート３３に入力されたサンプワング
パルス列Ｐ２はパルス量設定器３６を介してパルス分配
回路３９に印加される。パルス量設定器３６は、他のパ
ルス量設定器３４，３５により設定されたパルス量より
大きなパルス量となるように設定されており、従つて、
１サンプリングパルスによりパルス分配回路３９から得
られる出力パルスのパルス数は他の回路のそれより多く
なつている。出力パルスＰ，はアンドゲート４５を介し
てのみ取出され、誤差カウンタ４３の減算入力端子４３
ａに印加される。このため誤差カウンタ４３の内容は、
早い速度で負方向に増大し、これにより加工用電極６を
急速に被加工物４から離反させる後退勤作を行なう。こ
の結果、後退勤作に従つて間隙検出電圧Ｖ１が増大する
が、この後退勤作中において加工屑等が加工液の噴流に
より除去されるとＶ３〉Ｖ５となる。第２図に示す例で
は、ｔ＝Ｔ５において出力信号Ｄ２が「１」レベルとな
り、Ｒ−Ｓフリツプ・フロツプ２３がりセツトされ、ア
ンドゲート２６が閉じられ、アンドゲート２５が開かれ
る。このため、ｔ＝Ｔ５以後においては、サンプリング
パルス列Ｐ２は可逆カウンタ２７の減算入力端子２７ｂ
に印加されることになる。従つて、ｔ＝Ｔ５における可
逆カウンタ２７の内容は、ｔ＝Ｔ５以後、減算入力端子
２７ｂにパルスが１つ入力される毎に１だけ減じられる
。また、Ｒ−Ｓフリツプ・フロツプ２３がりセツトされ
ることにより、出力パルスＰ５はアンドゲート４４の出
力から取出され、誤差カウンタ４３の加算入力端子４３
ｂに印加される。従つて、誤差カウンタ４３は早い速度
でカウントアツプされ、加工用電極５を急速に前進させ
る。即ち、加工屑のために一旦急速に後退勤作を行なつ
た加工用電極５はこの後退勤作中に加工屑が除去され後
退勤作中において最初に出力信号Ｄ２が「Ｏ］から「１
］に変化したことにより前進させられる。ところで、加
工屑に起因する後退勤作が開始されてから再び前進動作
を開始するまでの間に動いた加工用電極５の移動距離は
、時間Ｔ４からＴ，までの期間に出力されたサンプリン
グパルス列Ｐ２のパルス数として可逆カウンタ２７にお
いて記憶されている。従つて、加工用電極５が再び前進
動作を開始し、ｔ−Ｔ５における可逆カウンタ２７の内
容を１サンプリングパルス毎に１つだけ減すると、可逆
カウンタ２７の内容が再び零に戻つた時に、加工用電極
５は加工屑による後退勤作を行なう直前の位置にまで戻
つたことになる。可逆カウンタ２７は、その内容が零と
なつた時にりセツトパルスＰ８が出力されるようになつ
ており、りセツトパルスＰ８によりＲ−Ｓフリツプ・フ
ロツプ２４もりセツトされ、ゲート２５，２６は閉じら
れ、ゲート２８，２９が開かれる。
従つて、加工用電極５の出力パルスＰ５による駆動は停
止され、すでに説明した、出力パルスＰ３，Ｐ４による
駆動に切換えられる。このように、比較回路１７により
間隙長１が大幅にせばめられたことを検出し、これによ
り加工用電極の後退勤作、即ち、間隙長をひろげるため
の相対運動を行なわせる場合に、検出時以後における後
退勤作量を可逆カウンタ２７によつて記憶しておき、こ
の後退勤作中に比較回路１８からの前進指令信号が発せ
られた場合、可逆カウンタ２７によつて記憶された量だ
け前進動作を行なわせるものであるから、チツプを除く
ための上述の動作を高速にて行なつてもサーボハンチン
グに移行することがない。
止され、すでに説明した、出力パルスＰ３，Ｐ４による
駆動に切換えられる。このように、比較回路１７により
間隙長１が大幅にせばめられたことを検出し、これによ
り加工用電極の後退勤作、即ち、間隙長をひろげるため
の相対運動を行なわせる場合に、検出時以後における後
退勤作量を可逆カウンタ２７によつて記憶しておき、こ
の後退勤作中に比較回路１８からの前進指令信号が発せ
られた場合、可逆カウンタ２７によつて記憶された量だ
け前進動作を行なわせるものであるから、チツプを除く
ための上述の動作を高速にて行なつてもサーボハンチン
グに移行することがない。
従つて、間隙にチツプ等が残留せず正常に放電加工が行
なわれている場合の通常のサーボ動作の１サンプリング
当りの移動量を短かく設定しても、チツプ等の残留によ
る異常状態が生じた時には、前述の如く、サーボハンチ
ングを起すことなく、高速動作を行なわせることができ
る。本発明によれば、上述の如く、通常のサーボ動作は
１サンプリング当りの移動量を細かく設定して微細な制
御を行ない、一旦チツプの残留等の異常事態が間隙に生
ずると、この急激な変化に対応して加工用電極又は被加
工物をサーボ・・ンチングを起すことなく高速で移動さ
せるという理想的な間隙制御を行なうことができる。
なわれている場合の通常のサーボ動作の１サンプリング
当りの移動量を短かく設定しても、チツプ等の残留によ
る異常状態が生じた時には、前述の如く、サーボハンチ
ングを起すことなく、高速動作を行なわせることができ
る。本発明によれば、上述の如く、通常のサーボ動作は
１サンプリング当りの移動量を細かく設定して微細な制
御を行ない、一旦チツプの残留等の異常事態が間隙に生
ずると、この急激な変化に対応して加工用電極又は被加
工物をサーボ・・ンチングを起すことなく高速で移動さ
せるという理想的な間隙制御を行なうことができる。
第１図は本発明の一実施例のプロツク図、第２図ａ乃至
第２図ｅは第１図の装置の動作を説明するための波形図
である。 １・・・・・・間隙制御装置、４・・・・・・被加工物
、５・・・・・・加工用電極、６・・・・・・放電間隙
、１６・・・・・・差信号発生回路、１７，１８，１９
・・・・・・比較回路、２０，２１，２２・・・・・・
可変抵抗器、２３，２４・・・・・・ＲＳフリツプ・フ
ロツプ、２７・・・・・・可逆カウンタ、３０・・・・
・・サンプリングパルス発生器、Ｄｌ，Ｄ２，Ｄ３・・
・・・・出力信号、Ｐ２・・・・・・サンプリングパル
ス列、Ｐ３，Ｐ４，Ｐ，・・・・・・出力パルス、Ｐ６
・・・・・・フィードバックパルス、Ｐ７・・・・・・
並列２進出力、Ｐ８・・・・・・りセツトパルス、Ｓ１
・・・・・・パルス信号、Ｖ１・・・・・・間隙検出電
圧、Ｖ２・・・・・・基準電圧、３・・−・・・出力電
圧、４，Ｖ５，Ｖ６・・・・・・基準電圧。
第２図ｅは第１図の装置の動作を説明するための波形図
である。 １・・・・・・間隙制御装置、４・・・・・・被加工物
、５・・・・・・加工用電極、６・・・・・・放電間隙
、１６・・・・・・差信号発生回路、１７，１８，１９
・・・・・・比較回路、２０，２１，２２・・・・・・
可変抵抗器、２３，２４・・・・・・ＲＳフリツプ・フ
ロツプ、２７・・・・・・可逆カウンタ、３０・・・・
・・サンプリングパルス発生器、Ｄｌ，Ｄ２，Ｄ３・・
・・・・出力信号、Ｐ２・・・・・・サンプリングパル
ス列、Ｐ３，Ｐ４，Ｐ，・・・・・・出力パルス、Ｐ６
・・・・・・フィードバックパルス、Ｐ７・・・・・・
並列２進出力、Ｐ８・・・・・・りセツトパルス、Ｓ１
・・・・・・パルス信号、Ｖ１・・・・・・間隙検出電
圧、Ｖ２・・・・・・基準電圧、３・・−・・・出力電
圧、４，Ｖ５，Ｖ６・・・・・・基準電圧。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 加工用電極と被加工物とを相対的に移動させて加工
間隙を指令された任意の量だけ拡大又は縮小する位置制
御手段を含み、放電加工間隙の間隙電圧を間歇的にサン
プリングし、このサンプリング結果にもとづいて前進指
令信号又は後退指令信号を出力し、これらの信号に応じ
て第１の所定量だけ前記加工間隙を拡大又は縮小するよ
うに前記位置制御手段に指令を与えて、放電加工間隙長
が所定の長さに維持されるように制御する加工間隙制御
方法において、前記間隙長が前記後退指令信号が出力さ
れる時の間隙長より短かい所定の間隙長となつたことを
検出して前記第１の所定量より大きい第２の所定量を前
記位置制御手段に与えて前記間隙長をひろげるための後
退動作を行なわせると同時に該後退動作による後退量を
記憶しておき、該後退動作中に前記前進指令信号が発せ
られた時に前記間隙長を記憶されている前記後退量に相
応する量だけ前進動作を行なわせることを特徴とする加
工間隙制御方法。 ２ 加工用電極と被加工物とを相対的に移動させて加工
間隙を指令された任意の量だけ拡大又は縮小する位置制
御手段を含み、放電加工間隙の間隙電圧を間歇的にサン
プリングし、このサンプリング結果にもとづいて前進指
令信号又は後退指令信号を出力し、これらの信号に応じ
て第１の所定量だけ前記加工間隙を拡大又は縮小するよ
うに前記位置制御手段に指令を与えて、放電加工間隙長
を所定の長さに維持するように制御する加工間隙制御装
置において前記間隙長が所定の設定値以下となつたこと
を検出する検出器と、該検出時における加工用電極と被
加工物との間の相対位置関係を記憶しておくため該検出
時に所定の値にセットされる可逆カウンタと、前記検出
器による検出動作により、前記第１の所定量より大きい
第２の所定量を前記位置制御手段に与えて早送り後退動
作を行なわせると共に前記可逆カウンタにおいて所定の
一連のパルスを一方のカウントモードでカウントさせる
第１回路と、前記早送り後退動作中に前記前進指令信号
が発せられた時早送り前進動作を行なわせると共に前記
可逆カウンタにおいて他方のカウントモードでパルスを
カウントさせる第２回路と、前記可逆カウンタの内容が
前記所定の値に戻つたことにより前記前進指令信号又は
前記後退指令信号による制御に切換える手段とを備えた
ことを特徴とする加工間隙制御装置。 ３ 放電加工間隙の間隙電圧を間歇的にサンプリングし
、このサンプリング結果にもとづいて前進指令信号又は
後退指令信号を駆動系に出力して放電加工間隙長を所定
の長さに維持するように制御する加工間隙制御装置にお
いて、前記間隙長が所定の設定値以下となつたことを検
出する検出器と、該検出時における加工用電極と被加工
物との間の相対位置関係を記憶しておくため該検出時に
所定の値にセットされる可逆カウンタと、前記検出器に
よる検出動作により、早送り後退動作を行なわせるため
早送り後退指令パルスを発生させると共に前記可逆カウ
ンタにおいて所定の一連のパルスを一方のカウントモー
ドでカウントさせる第１論理回路と、前記早送り後退動
作中に前記前進指令信号が発せられた時前進指令パルス
を発生させると共に前記可逆カウンタにおいて他方のカ
ウントモードで入力パルス数をカウントさせる第２論理
回路と、前記可逆カウンタの内容が前記所定の値に戻つ
たことにより前記前進指令信号又は前記後退指令信号に
よる制御に切換える手段とを備えたことを特徴とする加
工間隙制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP981580A JPS5923941B2 (ja) | 1980-01-30 | 1980-01-30 | 加工間隙制御方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP981580A JPS5923941B2 (ja) | 1980-01-30 | 1980-01-30 | 加工間隙制御方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56107842A JPS56107842A (en) | 1981-08-27 |
| JPS5923941B2 true JPS5923941B2 (ja) | 1984-06-06 |
Family
ID=11730645
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP981580A Expired JPS5923941B2 (ja) | 1980-01-30 | 1980-01-30 | 加工間隙制御方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5923941B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20200090870A (ko) | 2017-12-28 | 2020-07-29 | 후지필름 가부시키가이샤 | 광학 적층체의 제조 방법, 광학 적층체 및 화상 표시 장치 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1313245C (zh) | 2001-12-26 | 2007-05-02 | 光洋机械工业株式会社 | 磨削磨具的整形修整方法及其整形修整装置与磨削装置 |
-
1980
- 1980-01-30 JP JP981580A patent/JPS5923941B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20200090870A (ko) | 2017-12-28 | 2020-07-29 | 후지필름 가부시키가이샤 | 광학 적층체의 제조 방법, 광학 적층체 및 화상 표시 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56107842A (en) | 1981-08-27 |
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