JPS59232536A - 放射線透視装置 - Google Patents

放射線透視装置

Info

Publication number
JPS59232536A
JPS59232536A JP58107105A JP10710583A JPS59232536A JP S59232536 A JPS59232536 A JP S59232536A JP 58107105 A JP58107105 A JP 58107105A JP 10710583 A JP10710583 A JP 10710583A JP S59232536 A JPS59232536 A JP S59232536A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slit
width
slit width
ray
radiation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58107105A
Other languages
English (en)
Inventor
正司 藤井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP58107105A priority Critical patent/JPS59232536A/ja
Publication of JPS59232536A publication Critical patent/JPS59232536A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分計〕 本発明は、例えばCTスキャナやラインセンサX線テレ
ビジョンなどに適用して好適な放射線透視装置に係り、
特に所定の8N比の投影データを得るための制御手段を
持った放射線透視装置に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
従来、X線を用いたCTスキャナは、第1図(3)、(
B)に示すようにX線発生器(X線管)lのX線放射口
部側近傍に絞り2が配置され、この練り2を図示イ矢印
方向に操作することにより、被検体3へ照射するための
X線の幅Wを制御している。この被検体3より出力され
た透過X線は、多数の検出素子群より成る円弧状のX線
検出器4によって検出され、ここで被検体3の電気的な
投影データに変換されて出力される。
ところで、以上のような構成のCTスキャンを用いて被
検体3の断層像を得る場合、撮影領域を包含する扇状X
線を放射するX線発生器Iと、被検体3からの透過X線
を検出するX線検出器4とは一体的でかつ被検体3に対
し相対的に所定角度ずつ回転・停止を繰り返しながら投
影データを得、これらの投影データは再構成画像処理に
よって断層像として作成されるものである。
しかして、CTスキャナによって得られる断層像は、第
1図のようにX線照射幅Wの平均値における各ピクセル
のX線吸収係数μをもって表わされるが、X線検出器4
による投影データをより高い精度でスライスしようとす
る場合には絞り2をせばめてX線検出器4のスライス幅
を挾くする必要がある。しかし、以上のような構成のも
のでは、X線発生器1に近い位置に絞り2を設けている
ので、この絞り2でX線を充分絞ったとしても被検体3
内で散乱される散乱線がX線検出器4の開口部WDへそ
のまま入射されてしまうため、結果としてSN比の高い
投影データを得ることができない。また、絞り2はX線
発生器1のX線焦点に近い位置に配置されることかある
が、この場合絞り2を経て出力されるXmはX線検出器
4に向うに従って徐々に広がるため、本質的に所定の8
N比で、投影データを得ることができない。また、第2
図のようにX線検出器4に入射される透過X線のスライ
ス幅を焦点寸法つまり電子ビーム1aの衝突するクーゲ
ット1b部分の寸法よりも大きくした場合、被検体3へ
のX線の入射幅Xa  と出射幅Xb は大きく異なり
、このためX線検出器4によって検出される投影データ
に誤差が生ずるという問題がある。
〔発明の目的〕
本発明は、上記のような不具合を改善するためになされ
たもので、高い精度で所定のスライス幅を規定し得、ま
たスライス幅方向の散乱放射線や被検体への放射線の入
・出射幅の差によって生ずる誤データを放射線検出器へ
入射させないようにして所定のSN比で投影データを得
る放射線透視装置を提供することにある。
〔発明の概要〕
本発明は、放射線検出器の前面側にスライス幅を規定す
るためのスリット幅設定装置を配置し、このスリット幅
設定装置のスリット幅を任意の値に可変設定するととも
に、このスリット幅に応じた信号を取り出して放射線発
生器より出力する放射線を制御し、よって被検体より出
力された透過放射線を狭スライス幅をもって放射線検出
器へ入射させ、また各スライス幅に対応した規定のSN
比の投影データを得る放射線透視装置である。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の一実施例について例えばX線を用いたC
Tスキャナに適用した場合について第3図ないし第5図
を参照して説明する。なお、第3図は装置全体の構成を
示し、第4図はスライス幅設定装置を設けた場合のX線
検出器へのX線の入射状態を示し、第5図はスライス幅
設定装置の具体的構成を示している。
第3図において11はX線発生器であって、これには数
100個に及ぶ検出素子群を配列した円弧状のX線検出
器12が所要の間隔を有して対向設置され、これらのX
m発生器11とX線検出器12との間に被検体13が設
置されるようになっている。さらに、xr5)検出器1
2の前面側にスライス幅方向にスリット幅を可変し得る
スリット幅設定装置14が設けられている。
15はX線検出器I2で電気信号に変換された投影デー
タを収集するデータ収集部である。
16はデータ収集部15によって収集された投影データ
を組合せて公知のCTスキャンナ技術によって再構成画
像処理を行なうデータ処理部であって、ここで処理され
た断層像は制御部つまりコンソール17のCRT(図示
せず)などに表示される。このコンソールI7は、予め
定められたプログラム又は人為的な操作によって所要の
信号をスリット駆動部18へ送出する。
このスリット駆動部18は、コンソール17からの信号
を受けて後述する第4図および第5図に示すようにスリ
ット幅設定装置14のスリット体により形成されるスリ
ット幅を制御するものである。また、コンソール17は
スライス幅設定装置I4から出力される可変設定スライ
ス幅に相応するスリット幅検出信号と基本スライス幅に
相応する予め定められた基本スリット幅信号とを比較し
、例えばX線パルス幅又はX線管電流をmlJ御するた
めの信号をX線発生器制御系20に与える機能をもって
いる。このX線発生器制御系20は、X線制御部21.
スイッチ機能をもった高圧制御部22および高圧発生部
23などから構成されている。
而して、前記スリット幅設定装置14は、第4図のよう
な関係をもって配置され、更に第5図のように具体化さ
れている。即ち、同装置14は、X線検出器12の前面
側に一対のスリット体I4a、Z4bが配置され、これ
らのうち何れか一方又は両方がスライス幅方向(図示口
矢印方向)へ移動されて任意のスリット幅を形成するよ
うに設けられており、しかも一対のスリット体14a、
14bは充分なスリット厚みlのものを使用することに
よりX線検出器12で狭スライス幅の投影データが得ら
れるように構成されている。
前記スリット駆動部I8の一部およびスリット幅設定装
置I4は、具体的には第5図に示すように駆動モータ1
81および2つの支持部材182.183が所要の間隔
を有して配置され、これらの駆動モータ181、支持部
材182゜183にはそれぞれブー117 g 4〜1
87が取着され、ざらにこI9.らのブー’J 184
− I B 5間、ブー1+ 186−187間tこそ
れぞれベルト111S、z89などが掛は渡され、駆動
モータI8Iの回転がベルト1lJ8,189を介して
各支持部材182.183へ伝達されるようになってい
る。また、2つの支持部材182゜183の胴部側弁ね
じ部相互間に跨がってスリット体14a、端部側ねじ部
相互間に跨がってスリット体14bがそれぞれ架設され
ている。
そして、スリットI4aの一端部側には前記駆動モータ
I 81.他端側にはマグネスケールなどのスリット幅
検出器141がそれぞれ取り付けられ、駆動モータ18
1の回転によって例えば一方のスリット体14bが図示
ハ矢印方向に移動されてスリット体Z4aと14bとで
形成せられるスリット幅が可変せられ、かつこのスリッ
ト幅に対応するスリット幅検出信号がスリット幅検出器
141より出力されてコンソール17へ送られるように
なっている。従って、コンソール17は、スリット幅設
定装置14からのスリット幅検出信号を受けて所定の演
算を行ない、かつその演算結果の信号をX線発生器制御
系20へ送出することにより、X線発生器11を制御す
るものである。なお、CTスキャナにあっては、X線発
生器IIおよびX線検出器12が一体的にかつ被検体1
3に対し相対的に所定角度ごとに回転すること、或いは
他の走査方式によってX線発生器11などを走査するこ
とは言うまでもない。
次に、以上のように構成された装置の作用について説明
する。X線発生器11.!:X線検出器12との間に被
検体13が設置されるとともに、その被検体13その他
の要因をベースとして定められたプログラム又は人為的
な操作によりコンソール17からスリット駆動部I8へ
指令が与えられる。このスリット駆動部I8は、コンソ
ール17からの指令に基づいて駆動モータ181が回転
され、ベルト188.1119を介して各支持部材18
2,183に伝達される。
この結果、スリット体14bは図示ハ矢印方向に移動さ
れ、スリット体14aとで所要のスライス幅に規定する
ためのス11ット幅SWが形成される。なお、通常、ス
キャナでは21〜10m5のスライス幅をもって使用す
るが、断層像は各ピクセルともスライス幅の平均値とし
て算出されるため、より高い精度でスライスして投影デ
ータを得る場合にはX線検出器12のスライス幅を0.
1Uなどのように狭くする必要がある。
しかして、以上のようにスリット駆動部18によってス
リット幅設定装@14が所要のスリット幅SWに可変設
定されると、マグネスヶ一ルなどのスリット幅検出器1
41はそのスリット幅8Wを検出しスリット幅検出信号
をコンソール17へ送出する。ここで、コンソール17
は、スリット幅検出信号を受けてX線発生、器制制系2
0の制御を行なうが、主として次のような制御を行なう
ものである。
その1つの制御例としては、X線発生器11から出力さ
れるX線パルス幅を制御することにある。つまり、コン
ソール17は、スリット幅設定装Glz4から受ける設
定スライス幅に相応するスリット幅検出信号Sn  と
予め定められた基本スライス幅に相応する基本スリット
幅信号Sとを用いて、下記のような演算を行なう。
上式においてPは基本スライス幅に対応したX線パルス
幅、 Pw はスリット幅検出信号Sn  を受けてX
線発生器制御系20を制御してX線発生器IIより得る
べきX線パルス幅である。このように、本装置&瓜スリ
ット幅設定装置14のスリット幅検出器141で得たス
リット幅検出信号Snに基づいてそのスリット幅SWに
応じたX線パルス幅のX線(信号量)をX線発生器1ノ
より出力させるように制御するものである。
また、他の制御例としては、X線管電流を制御する手段
およびパルス幅とX線管電流の複合制御手段がある。前
者のX線管制御の場合には、次式の演算を行なってX線
発生器11を制御する。
但し、SmAは基本スライス幅に対応したX線管電流値
、mAはスリット幅検出信号Sn  に応じてX線発生
器11を制御するためのX線管電流値である。
次に、後者の複合制御は次式の演算に基づいてX線発生
器IIを制御する。
即ち、本装置はコンソール17によって(11式〜(3
)式のような演算を行ない、この演算結果によりX線発
生器11を制御すれば、各スリット幅SWに対しX線量
(信号量)は常に一定とし得、よってSN比を一定の値
に規定することができる。
従って、本装置は以上のような構成によれば、X線検出
器12の前面側にスリット幅設定装置I4を設け、その
スリット幅SWをX線発生器11の電子ビームIlaの
衝突するターゲット11bの寸法(焦点寸法)よりも小
さくできるので、X線発生器11のX線中心とX線検出
器12を結ぶ直線上のみの信号つまり有効分のデータの
みをX線検出器11によって検出することができる。ま
た、X線検出器12の前面側にスリット幅設定装置14
を設けるとともに、そのスリット幅設定装置14のスリ
ット体14a。
14bによって形成されるスリット幅SWを狭幅に設定
でき、かつスリット厚みlを充分な大きさとすることζ
こより、被検体13に当って発生する散乱X線は完全に
ブロックされ、X線検出器12には入射されないためデ
ータ精度を大幅に改善できる。また、スリット体Z4a
14bによって形成されるスリット幅8Wをスリット幅
検出器141で検出し、そのスリット幅検出信号に基づ
いてX線発生器11のX線パルス幅又はX線管電流の何
れか1つ又は両者を制御するようにしたので、各スリッ
ト幅SWに対し常に一定の信号量をX線検出器12に与
えることが可能となり、ひいては一定のSN比で規定さ
れた投影データ゛を収集することができるものである。
なお、上記実施例では、断面たんざく形の1対のスリッ
ト体14a、14bをスリット幅の形成に用いたが、例
えば第7図および第8図のように断面コ字形成いはL字
形のスリット体14a’、14b’又は14 a”、 
14 b’/)2用いてもよい。また、スリット体14
aを固定としたが、両方のスリット14a、14bを可
動としてもよいものである。また、X線発生器11では
なく他の放射線発生器例えば1線発生器を用いて被検体
13に照射してもよい。さらに、上記実施例ではCTス
キャナについて述べたが、例えば被検体13が帯状鋼板
のようなものでもよい。
この場合にはX線発生器11およびX線検出器12など
は固定設置となり、被検体13が所定方向に搬送されつ
つデータ収集が行なわれることになる。その他、本発明
はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できる
〔発明の効果〕
以上詳記したように本発明によれば、放射線検出器の前
面側にスリット幅の可変可能なスリット幅設定装置を設
けたので、散乱放射線や被検体への放射線の入・出射幅
の差に伴なうデータを除去し得てデータを高精度に収集
でき、またスリット幅に応じて放射線発生器の放射線出
力を制御でき、よって各スリット幅に対し一定のSN比
でデータを取り込むことが可能である、また、任意のス
ライス幅でデータを収集でき、かつ被検体の前後で均一
な幅を持つスライスデータを収集できる放射線透視装置
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図(At 、 (B)は従来装置の正面図および側
面図、第2図は従来装置の欠点を説明するための側面図
、第3図ないし第6図は本発明に係る放射線透視装置の
一実施例を説明するために示したもので、第3図は装置
全体の構成図、第4図(3)、(B)は各要素の配置関
係を示す正面図および側面図、第5図(A) 、 (B
)はスリット駆動部およびスリット幅設定装置の一具体
例を示す上面図および正面図、第6図は本装置の効果を
説明する側面図、第7図および第8図はそれぞれ他の形
状のスリット体を示す断面図である。 11・・・X線発生器、12・・・X線検出器、13・
・・被検体、14・・・スリット幅設定装置、14a。 14a’、14a”、14b、14b’、i4b“・・
・スリット体 15・・・データ収集部、16・・・C
P U。 17・・・コンソール、18・・・スリット駆動部、2
0・・・X線発生器制御系、141・・・スリット幅検
出器、181・・・駆動モータ、182,183・・・
支持部材。 第1図 (B) 第2図 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 放射線発生器と放射線検出器との間に被検体が設置され
    、前記放射線発生器から前記被検体を通って出力される
    透過放射線を前記放射線検出器により検出して被検体の
    投影データとして出力する放射線透視装置において、ス
    リット駆動部と、前記放射線検出器の前面側に設けられ
    、前記放射線検出器のスライス幅を規定するために前記
    スリット駆動部の駆動によって所要のスリット幅に可変
    設定されるとともに、このスリット幅に応じたスリット
    幅検出信号を出力するスリット幅設定装置と、このスリ
    ット幅設定装置より出力されるスリット幅検出信号に応
    じて前記放射線発生器の放射線出力を制御する放射線発
    生器制御系とを備え、所定のSN比で投影データを収集
    することを特徴とする放射線透視装置。
JP58107105A 1983-06-15 1983-06-15 放射線透視装置 Pending JPS59232536A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58107105A JPS59232536A (ja) 1983-06-15 1983-06-15 放射線透視装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58107105A JPS59232536A (ja) 1983-06-15 1983-06-15 放射線透視装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59232536A true JPS59232536A (ja) 1984-12-27

Family

ID=14450584

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58107105A Pending JPS59232536A (ja) 1983-06-15 1983-06-15 放射線透視装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59232536A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6990170B2 (en) X-ray computed tomographic imaging apparatus
JP3449561B2 (ja) X線ct装置
JP2825450B2 (ja) Ctスキャナ
EP1848985B1 (en) Multiple mode flat panel x-ray imaging system
EP0182529B2 (en) Radiographic system
JP3408848B2 (ja) 散乱x線補正法及びx線ct装置並びに多チャンネルx線検出器
US4672648A (en) Apparatus and method for radiation attenuation
US7706500B2 (en) X-ray CT apparatus
JP4159188B2 (ja) 管電流調節方法および装置並びにx線ct装置
JP2009125250A (ja) X線ct装置
US5812628A (en) Methods and apparatus for detecting partial volume image artifacts
JPH09224929A (ja) ツイン・ビーム計算機式断層写真スキャナ
US7839967B2 (en) Electron computer tomography method and electron computer tomograph
EP0200939A1 (en) Emission computed tomography apparatus
JP3774518B2 (ja) X線ctスキャナ
EP0049464B1 (en) Apparatus for collecting x-ray absorption data in a computerized tomographic apparatus
JP2007282740A (ja) X線ct装置
JP2003310599A (ja) X線ct装置
JPS59232536A (ja) 放射線透視装置
JP3532649B2 (ja) X線ct装置
JP2000083942A (ja) 放射線断層撮影方法および装置、放射線検出器並びにx線管
JP2001218761A (ja) X線照射条件調節方法および装置並びにx線ct装置
JP3746148B2 (ja) 放射線照射位置調節方法および放射線照射・検出装置並びに放射線断層撮影装置
JP3946986B2 (ja) X線コンピュータ断層撮影装置
JPS6146144B2 (ja)