JPS59230162A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
- Publication number
- JPS59230162A JPS59230162A JP7650784A JP7650784A JPS59230162A JP S59230162 A JPS59230162 A JP S59230162A JP 7650784 A JP7650784 A JP 7650784A JP 7650784 A JP7650784 A JP 7650784A JP S59230162 A JPS59230162 A JP S59230162A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reagent
- evaporator
- sample
- cooling
- refrigerator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
- G01N35/02—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor using a plurality of sample containers moved by a conveyor system past one or more treatment or analysis stations
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は自動分析装置に係り、特に試薬冷蔵庫と反応容
器列恒温液供給部を肩するディスクリ−トタイプの自動
分析装置に関する。
器列恒温液供給部を肩するディスクリ−トタイプの自動
分析装置に関する。
従来のディスクリートタイプの臨床用自動分析装置は、
反応ライン上にある反応容器に試料上サンプリング機構
によってサンプリングし、その後、試料を収容した反応
容器に分析項目に応じて試薬を試薬分配装置によって供
給する。反応容器に試薬が供給されると試料は化学反応
を起こし、試料の呈色状態を光学的に測定する。光学的
な測定方法としては、反応容器内の反応液を別のフロー
セルに導いて光度計で吸光度全測定して、あるいは反応
容器に直接光を照射して吸光度測定をして測定すべき分
析項目を求めている。
反応ライン上にある反応容器に試料上サンプリング機構
によってサンプリングし、その後、試料を収容した反応
容器に分析項目に応じて試薬を試薬分配装置によって供
給する。反応容器に試薬が供給されると試料は化学反応
を起こし、試料の呈色状態を光学的に測定する。光学的
な測定方法としては、反応容器内の反応液を別のフロー
セルに導いて光度計で吸光度全測定して、あるいは反応
容器に直接光を照射して吸光度測定をして測定すべき分
析項目を求めている。
反応容器は恒温槽によって常に恒温化されているが、恒
温槽の温度制御には専用の冷却機構が必要であり、一方
、多数の試薬液を冷却する機構も別に必要であった。こ
のため、分析装置全体としては大型化し、高価にならざ
るを得なかった。
温槽の温度制御には専用の冷却機構が必要であり、一方
、多数の試薬液を冷却する機構も別に必要であった。こ
のため、分析装置全体としては大型化し、高価にならざ
るを得なかった。
本発明の目的は、冷却機構を簡素化して小形化をはかり
得る自動分析装置を提供することにある。
得る自動分析装置を提供することにある。
本発明は、分析装置が試料の分析動作の状態にあっても
なくても必要な試薬貯留部の冷却と、分析動作状態のと
きだけ必要な反応容器列のための恒温液の冷却とを、1
つの冷凍機で可能にしたことに特徴がある。
なくても必要な試薬貯留部の冷却と、分析動作状態のと
きだけ必要な反応容器列のための恒温液の冷却とを、1
つの冷凍機で可能にしたことに特徴がある。
すなわち、冷凍機からの冷媒が、試薬貯留部を冷却する
第1の蒸発器を経たあと、反応容器列を所定温度に保つ
だめの恒温液を供給する供給部を冷却する第2の蒸発器
を通って同じ冷凍機に戻る循環路を形成し、第3の蒸発
器を有するバイパス流路を第2の蒸発器に対して並列に
配置し、分析動作の停止状態の間には第2の蒸発器への
冷媒の流入を阻止して第3の蒸発器へ冷媒を導くととも
に、分析動作が行われている状態の間は第3の蒸発器へ
の冷媒の流入を阻止して第2の蒸発器へ冷媒を導く流路
開閉手段を設けたのである。
第1の蒸発器を経たあと、反応容器列を所定温度に保つ
だめの恒温液を供給する供給部を冷却する第2の蒸発器
を通って同じ冷凍機に戻る循環路を形成し、第3の蒸発
器を有するバイパス流路を第2の蒸発器に対して並列に
配置し、分析動作の停止状態の間には第2の蒸発器への
冷媒の流入を阻止して第3の蒸発器へ冷媒を導くととも
に、分析動作が行われている状態の間は第3の蒸発器へ
の冷媒の流入を阻止して第2の蒸発器へ冷媒を導く流路
開閉手段を設けたのである。
第1図は、本発明の一実施例である自動分析装置の全体
構成概略図である。第1図において、分析装置は機能的
にはサンプリング系9反応系、試薬貯留部、試薬分配系
および信号処理・制御系に分けることができる。
構成概略図である。第1図において、分析装置は機能的
にはサンプリング系9反応系、試薬貯留部、試薬分配系
および信号処理・制御系に分けることができる。
捷ず、サンプリング系について説明する。サンプリング
系はサンプラ一部とサンプリング機構40とで構成され
る。
系はサンプラ一部とサンプリング機構40とで構成され
る。
サンプラ一部10は試料テーブル11と、イオン分析槽
15と、これらを回転させる駆動部を備えている。試料
テーブル11には、外周側の複数の孔に分析すべき試料
を装填した普通試料容器列12と、内周側の複数の孔に
緊急検査用試料や標準試料を装填配列した特殊試料容器
列13が形成されており、これらの試料容器は必要に応
じて試料吸入位置44および44′に回転移送される。
15と、これらを回転させる駆動部を備えている。試料
テーブル11には、外周側の複数の孔に分析すべき試料
を装填した普通試料容器列12と、内周側の複数の孔に
緊急検査用試料や標準試料を装填配列した特殊試料容器
列13が形成されており、これらの試料容器は必要に応
じて試料吸入位置44および44′に回転移送される。
試料テーブル11の内側には回転可能なイオン分析槽1
5があシ、内部にナトリウムイオン用、カリウムイオン
用、塩素イオン用等の複数のイオン選択電極16、比較
電極17とが延在されている。
5があシ、内部にナトリウムイオン用、カリウムイオン
用、塩素イオン用等の複数のイオン選択電極16、比較
電極17とが延在されている。
これらの電極は図示しないサンプリング機構によって、
試料容器列からサンプリングされた試料が分析槽15内
に導入され、希釈液によって希釈されたときに、その液
に浸漬される状態になるよう調節される。
試料容器列からサンプリングされた試料が分析槽15内
に導入され、希釈液によって希釈されたときに、その液
に浸漬される状態になるよう調節される。
サンプリング機構40は、試料吸排管41を保持した回
転腕と、この回転腕の上下機構と、サンプル用ピペッタ
42を備えており、試料吸排管41を試料吸入位置44
および44′と、試料吐出位置450間に移動し得、各
位置において試料吸排管を上下動し得る。
転腕と、この回転腕の上下機構と、サンプル用ピペッタ
42を備えており、試料吸排管41を試料吸入位置44
および44′と、試料吐出位置450間に移動し得、各
位置において試料吸排管を上下動し得る。
サンプリング機構40の試料吸排管41は、試料吸入前
に洗浄部41で洗浄される。洗浄部41は試料吸排管4
1の移動経路中に設けられている。
に洗浄部41で洗浄される。洗浄部41は試料吸排管4
1の移動経路中に設けられている。
次に反応系について説明する。
反応部20は、ドーナツ状の恒温通路23とその上に配
設された反応テーブル21”k備えており、反応テーブ
ル21の高さ位置は、試料テーブル11とほぼ同じであ
る。恒温通路23は恒温槽からなり、恒温水供給部29
から恒温液を循環される。恒温水供給部29はたとえば
、25C〜37Cにわたって水温が可変できる。反応テ
ーブル21には多数の孔があり、それらの孔に角形透明
セルからなる反応容器22が装填され、反応容器列を形
成する。反応容器の下部は恒温液に浸される。
設された反応テーブル21”k備えており、反応テーブ
ル21の高さ位置は、試料テーブル11とほぼ同じであ
る。恒温通路23は恒温槽からなり、恒温水供給部29
から恒温液を循環される。恒温水供給部29はたとえば
、25C〜37Cにわたって水温が可変できる。反応テ
ーブル21には多数の孔があり、それらの孔に角形透明
セルからなる反応容器22が装填され、反応容器列を形
成する。反応容器の下部は恒温液に浸される。
図示しない駆動機構によって多数容器分を連続的にかつ
全体として間欠的に回転される反応テーブル21の内側
には光源25があり、光源25からの光束26は恒温通
路23内の反応容器22を通過して光度計27に導かれ
、光度計27内で回折格子によって光分散された後、特
定の波長光が光検知器を介して取り出される。反応容器
22内の内容物は攪拌機28によって攪拌される。
全体として間欠的に回転される反応テーブル21の内側
には光源25があり、光源25からの光束26は恒温通
路23内の反応容器22を通過して光度計27に導かれ
、光度計27内で回折格子によって光分散された後、特
定の波長光が光検知器を介して取り出される。反応容器
22内の内容物は攪拌機28によって攪拌される。
反応容器列上には純水吐出管および液体吸出管をそれぞ
れ複数備えた洗浄機24があシ、反応テーブル21の停
止時にこれらの雷が反応容器内に挿入されて洗浄操作が
行なわれる。洗浄機24は洗浄用シリンジ58を備えて
おり、液体吸出管による液体吸出→純水吐出管による純
水吐出→液体吸出管による純水吸出を一工程とした洗浄
操作を行う。1個の反応容器に対して3回洗浄操作を行
次に試薬貯留部について説明する。
れ複数備えた洗浄機24があシ、反応テーブル21の停
止時にこれらの雷が反応容器内に挿入されて洗浄操作が
行なわれる。洗浄機24は洗浄用シリンジ58を備えて
おり、液体吸出管による液体吸出→純水吐出管による純
水吐出→液体吸出管による純水吸出を一工程とした洗浄
操作を行う。1個の反応容器に対して3回洗浄操作を行
次に試薬貯留部について説明する。
試薬液貯留部30は、反応部20と近接して配室され、
試薬液容器31.31’の高さ位置は反応テーブル21
とほぼ同じにされる。貯留部30は冷蔵庫から成シ、内
部に直方体形状の試薬液容器31.31’が直列に2列
並べられている。各試薬液容器31は分析項目に応じて
準備される。
試薬液容器31.31’の高さ位置は反応テーブル21
とほぼ同じにされる。貯留部30は冷蔵庫から成シ、内
部に直方体形状の試薬液容器31.31’が直列に2列
並べられている。各試薬液容器31は分析項目に応じて
準備される。
次に試薬分配系について説明する。
試薬用ピペッタ35は、図示しないレール上を移送され
る試薬ピペッティング部36.37’に備えており、こ
れらのピペッティング部36.37には試薬吸排管38
,39が取り付けられている。
る試薬ピペッティング部36.37’に備えており、こ
れらのピペッティング部36.37には試薬吸排管38
,39が取り付けられている。
これらの試薬吸排管38と39は、それぞn独立に往復
移動される。試薬吸排管38は開口32の列に沿って移
動され、試薬吐出位置46まで移動される。試薬吸排管
39は開口32′の列に沿って移動され、試薬吐出位置
47まで移動される。
移動される。試薬吸排管38は開口32の列に沿って移
動され、試薬吐出位置46まで移動される。試薬吸排管
39は開口32′の列に沿って移動され、試薬吐出位置
47まで移動される。
試薬液容器310列と31′の列は平行に配列され、開
口32と32′の列も平行に配列されている。試薬液槽
31.31’は直方体であるので、極めて密に隣接して
多数並べることができる。試薬吸排管38,39は分析
項目に応じて適切な試薬液槽31.31’の開口上に停
止され、下降して試薬液を吸入保持し、上昇後、保持し
た試薬液を反応容器22内に吐出し得る。試薬吸排管3
8゜39は、試薬吸入前に洗浄部38A、39Aでそれ
ぞれ洗浄される。試薬容器列31の開口32と、洗浄部
38Aと、反応テーブル21の試薬吐出位置46は1直
線上にある。また試薬容器列31′の開口32′と、洗
浄部39Aと、反応テーブル21の試薬吐出位置47の
関係も同じである。試薬吸排管38.39は、図示して
いないが試薬の液面センサを備えており、その液面セン
サの出力によって試薬の液面位置を検出する。このセン
サの働きによって試薬吸排管38,39は常に一定量の
試薬を管内に吸入する。試薬ピペッティング部36.3
7は、図示しないがプレヒートを備えておシ、試薬吸排
管38,39が試薬吐出位置46.47に移動する間に
反応に適した温度まで試薬を加熱する。
口32と32′の列も平行に配列されている。試薬液槽
31.31’は直方体であるので、極めて密に隣接して
多数並べることができる。試薬吸排管38,39は分析
項目に応じて適切な試薬液槽31.31’の開口上に停
止され、下降して試薬液を吸入保持し、上昇後、保持し
た試薬液を反応容器22内に吐出し得る。試薬吸排管3
8゜39は、試薬吸入前に洗浄部38A、39Aでそれ
ぞれ洗浄される。試薬容器列31の開口32と、洗浄部
38Aと、反応テーブル21の試薬吐出位置46は1直
線上にある。また試薬容器列31′の開口32′と、洗
浄部39Aと、反応テーブル21の試薬吐出位置47の
関係も同じである。試薬吸排管38.39は、図示して
いないが試薬の液面センサを備えており、その液面セン
サの出力によって試薬の液面位置を検出する。このセン
サの働きによって試薬吸排管38,39は常に一定量の
試薬を管内に吸入する。試薬ピペッティング部36.3
7は、図示しないがプレヒートを備えておシ、試薬吸排
管38,39が試薬吐出位置46.47に移動する間に
反応に適した温度まで試薬を加熱する。
最後に信号処理・制御系について説明する。対数変換器
53は光度計27からの透過光強度に応じた測定信号を
対数変換する。この変換値はA/D変換器54に取シ込
まれ、ディジタル信号に変換される。プリンタ55は試
料の分析項目毎に測定結果を印字する。CRT56は測
定結果や分析条件等を表示する。カセットテープレコー
ダ57は分析条件が記憶されたカセットテープを用いて
分析を行うときに使用する。カセットテープレコーダ5
7でカセットテープを読ませた後、試薬槽を交換すれば
、自動的に分析項目は変更できる。
53は光度計27からの透過光強度に応じた測定信号を
対数変換する。この変換値はA/D変換器54に取シ込
まれ、ディジタル信号に変換される。プリンタ55は試
料の分析項目毎に測定結果を印字する。CRT56は測
定結果や分析条件等を表示する。カセットテープレコー
ダ57は分析条件が記憶されたカセットテープを用いて
分析を行うときに使用する。カセットテープレコーダ5
7でカセットテープを読ませた後、試薬槽を交換すれば
、自動的に分析項目は変更できる。
操作パネル52は、外部から項目キー、プロファイルキ
ー、テンキーを用いて分析項目1項目別分析東件を入力
するために使用する。マイクロコンピュータ51は本装
置の全体の制御を受は持つ。
ー、テンキーを用いて分析項目1項目別分析東件を入力
するために使用する。マイクロコンピュータ51は本装
置の全体の制御を受は持つ。
マイクロコンピュータ511dインターフエイス回路5
0を介してA/1)変換器54、プリンタ55、CRT
56、カセットテープレコーダ57、操作パネル52と
の情報のやりとりやサンプリング系、反応系、試薬貯蔵
部、試薬分配系の制御を行う。
0を介してA/1)変換器54、プリンタ55、CRT
56、カセットテープレコーダ57、操作パネル52と
の情報のやりとりやサンプリング系、反応系、試薬貯蔵
部、試薬分配系の制御を行う。
分析すべき試閃を載置した試料テーブル11をサンプラ
ー10に設置して、操作パネル52のスタートボタンを
押すと、分析装置の動作が開始される。サンプリング機
構40の試料吸排管41が、試料吸入位置44または4
4′から試料を吸入保持し、試料吐出位置45に保持試
料を吐出すると、反応容器220列は光束26を横切る
ように移送され、反応テーブル21が1回転とステップ
して試料を受入れた反応容器の次の反応容器が試料吐出
位置45に位置づけられる。このサンプリング動作は連
続的にくり返される。試料テーブル11は、分析項目数
だけサンプリングが行なわれたのち、1ステップ回転し
、次の試料の分析に備える。
ー10に設置して、操作パネル52のスタートボタンを
押すと、分析装置の動作が開始される。サンプリング機
構40の試料吸排管41が、試料吸入位置44または4
4′から試料を吸入保持し、試料吐出位置45に保持試
料を吐出すると、反応容器220列は光束26を横切る
ように移送され、反応テーブル21が1回転とステップ
して試料を受入れた反応容器の次の反応容器が試料吐出
位置45に位置づけられる。このサンプリング動作は連
続的にくり返される。試料テーブル11は、分析項目数
だけサンプリングが行なわれたのち、1ステップ回転し
、次の試料の分析に備える。
このように試料のサンプリング動作毎に反応テーブル2
1が1回転と1ステップ進みながら、最初に試料を受は
入扛た反応容器が試薬吐出位置48に達する。試薬ピペ
ッティング部37は、分析項目に応じた試薬を試薬液槽
31′から吸入し、それを保持した状態で試料吐出位置
48まで移動し、反応容器に吐出する。反応容器の試料
は試薬が添加されると化学反応を起し呈色する。
1が1回転と1ステップ進みながら、最初に試料を受は
入扛た反応容器が試薬吐出位置48に達する。試薬ピペ
ッティング部37は、分析項目に応じた試薬を試薬液槽
31′から吸入し、それを保持した状態で試料吐出位置
48まで移動し、反応容器に吐出する。反応容器の試料
は試薬が添加されると化学反応を起し呈色する。
試薬ピペッティング部37Fi試薬吐出後、洗浄部39
Aで試薬吸排管39を洗沖し、次の反応容器の試薬吐出
に備える。そして最初の反応容器が試薬吐出位置46に
到達すると、分析項目に応じて試薬分配の必要性があれ
ば、試薬ピペッティング部36が試薬分配を実施する。
Aで試薬吸排管39を洗沖し、次の反応容器の試薬吐出
に備える。そして最初の反応容器が試薬吐出位置46に
到達すると、分析項目に応じて試薬分配の必要性があれ
ば、試薬ピペッティング部36が試薬分配を実施する。
試薬ピペッティング部36.37はそれぞれレールに垂
下されておシ、レールに沿って移動するが、これらは、
レールとともに上下動することができる。試薬吸排管3
8,39は各試薬液槽の開口32.32’の位置に必要
に応じて停止し得る。
下されておシ、レールに沿って移動するが、これらは、
レールとともに上下動することができる。試薬吸排管3
8,39は各試薬液槽の開口32.32’の位置に必要
に応じて停止し得る。
ピペッティング部36.37の駆動部の動作はマイクロ
コンピュータ51によって制御される。吐出位置46.
47に来た試料の分析項目に対応する試薬が試薬ピペッ
ティング部36.37によって選択され、対応する試薬
液槽31.31’の上で吸排管38.39が一旦停止す
る。続いてピペッティング部36.37が下降して試薬
用ピペッタ35の動作によシ、吸排管38,39内に所
定量の試薬液を吸入保持した後ピペッティング部36.
37を上昇し、吸排管38,39を試薬吐出位置46.
47まで水平移動して、対応する反応容器内へ吸排管内
に保持していた試薬液を吐出する。
コンピュータ51によって制御される。吐出位置46.
47に来た試料の分析項目に対応する試薬が試薬ピペッ
ティング部36.37によって選択され、対応する試薬
液槽31.31’の上で吸排管38.39が一旦停止す
る。続いてピペッティング部36.37が下降して試薬
用ピペッタ35の動作によシ、吸排管38,39内に所
定量の試薬液を吸入保持した後ピペッティング部36.
37を上昇し、吸排管38,39を試薬吐出位置46.
47まで水平移動して、対応する反応容器内へ吸排管内
に保持していた試薬液を吐出する。
反応容器内の試料は、反応テーブル21がサンプリング
動作の都度回転さnるから、サンプリング動作にともな
って光束26を横切り、呈色状態を観測できる。つまシ
、反応容器が洗浄機24の位置に達するまでの間抜数回
にわたって同じ試料について光学的特性が観測される。
動作の都度回転さnるから、サンプリング動作にともな
って光束26を横切り、呈色状態を観測できる。つまシ
、反応容器が洗浄機24の位置に達するまでの間抜数回
にわたって同じ試料について光学的特性が観測される。
光度計27の光電検出器によって受光された光は、図示
しない波長選択回路により分析項目に応じた必要な波長
が選択さf1透過光強度に応じた大きさの信号が対数変
換器53に導かnる。アナログ信号はその後A/D変換
器54によってディジタル信号に変換さn1インタ一フ
エース50回路を介してマイクロコンピュータ51に導
かれ、必要な演算が行なわn1結果がメモリに記憶され
る。特定分析項目についての複数回にわたる測光動作の
すべてが終了したとき、複数回の測光データが比較され
、必要な演算がなされて、成核分析項目の濃度値がプリ
ンタ55に印字される。
しない波長選択回路により分析項目に応じた必要な波長
が選択さf1透過光強度に応じた大きさの信号が対数変
換器53に導かnる。アナログ信号はその後A/D変換
器54によってディジタル信号に変換さn1インタ一フ
エース50回路を介してマイクロコンピュータ51に導
かれ、必要な演算が行なわn1結果がメモリに記憶され
る。特定分析項目についての複数回にわたる測光動作の
すべてが終了したとき、複数回の測光データが比較され
、必要な演算がなされて、成核分析項目の濃度値がプリ
ンタ55に印字される。
このようにして最初に試料を入れた反応容器が光度計位
置を通過すると測定は完了する。七七で洗浄位置に達す
ると洗浄機24によって洗浄され、次の試料の測定に備
える。
置を通過すると測定は完了する。七七で洗浄位置に達す
ると洗浄機24によって洗浄され、次の試料の測定に備
える。
第2図は第1図に示した分析装置の外観図を示す。第2
図に示すように、サンプラ一部1o1反応部20および
試薬貯蔵部30は隣接し、はぼ同一面上に配置されてい
る。恒温水供給部29、サンプル用ピペッタ42、洗浄
用シリンジ5B、試薬用ピペッタ35、マイクロコンピ
ュータ51、インターフェイス回路50、対数変換器5
3、A/D変換器54の他電源回路、洗浄用蒸留水タン
ク、廃液タンク等は本体に内蔵されている。サンプラ一
部10において、試料テーブル11は2個の穴が形成さ
nたテーブルカバー10AKよってふたされる。2個の
穴はそれぞれ普通試料容器12と特殊試料容器13にそ
nぞれ対応し、サンプリング機構40の試料吸排管41
は、テーブルカバー1OAの穴を通して試料を吸入する
。テーブルカバー1OAは試料容器に収容した試料が汚
染するのを防止する。また、カバー61は、分析を行っ
ている間ぶたされてお9、反応部20.試薬貯留部30
を外部汚染から防止している。
図に示すように、サンプラ一部1o1反応部20および
試薬貯蔵部30は隣接し、はぼ同一面上に配置されてい
る。恒温水供給部29、サンプル用ピペッタ42、洗浄
用シリンジ5B、試薬用ピペッタ35、マイクロコンピ
ュータ51、インターフェイス回路50、対数変換器5
3、A/D変換器54の他電源回路、洗浄用蒸留水タン
ク、廃液タンク等は本体に内蔵されている。サンプラ一
部10において、試料テーブル11は2個の穴が形成さ
nたテーブルカバー10AKよってふたされる。2個の
穴はそれぞれ普通試料容器12と特殊試料容器13にそ
nぞれ対応し、サンプリング機構40の試料吸排管41
は、テーブルカバー1OAの穴を通して試料を吸入する
。テーブルカバー1OAは試料容器に収容した試料が汚
染するのを防止する。また、カバー61は、分析を行っ
ている間ぶたされてお9、反応部20.試薬貯留部30
を外部汚染から防止している。
第2図からも明らかなように、従来の分析装置に比べ、
簡素で小形な構造となる。
簡素で小形な構造となる。
次に試薬貯留部30について第3図〜第11図を参照し
て説明する。第3図(r:a 、試薬貯留部の全体構成
を示し、分析装置の冷蔵装置としてユニットで組み込ま
れている。第3図において、試薬貯留部30はふた70
によって、上部が被われ、冷凍機部80によって冷蔵さ
れる。第1図、第2図はふた70を取った状態を示す。
て説明する。第3図(r:a 、試薬貯留部の全体構成
を示し、分析装置の冷蔵装置としてユニットで組み込ま
れている。第3図において、試薬貯留部30はふた70
によって、上部が被われ、冷凍機部80によって冷蔵さ
れる。第1図、第2図はふた70を取った状態を示す。
なお、恒温水供給部29は反応部20へ恒温水を供給す
る。ふた70には案内枠70A、70I3が取り付けら
れている。案内枠?OA、70Bはそれぞれ試薬ピペッ
ティング部36.37の試薬吸排管38,39の通路と
なる。
る。ふた70には案内枠70A、70I3が取り付けら
れている。案内枠?OA、70Bはそれぞれ試薬ピペッ
ティング部36.37の試薬吸排管38,39の通路と
なる。
第4図および第5図は、試薬貯留部30の内部構造を示
す。第4図および第5図において、冷媒ガスを通ず蒸発
器301の全側壁に冷蔵箱302−が溶接などで取り付
けている。収納箱303は呈温を保持する。冷蔵箱30
2と収納箱303は外箱304によってつつま九でいる
。冷蔵箱302の全側面および下面は断熱材309が外
箱304との間に隙間なくつめられていふ。冷蔵箱30
2と収納箱303との間には断冷バッキング310がは
めこまれており、収納箱303が冷蔵されるのを防ぐ。
す。第4図および第5図において、冷媒ガスを通ず蒸発
器301の全側壁に冷蔵箱302−が溶接などで取り付
けている。収納箱303は呈温を保持する。冷蔵箱30
2と収納箱303は外箱304によってつつま九でいる
。冷蔵箱302の全側面および下面は断熱材309が外
箱304との間に隙間なくつめられていふ。冷蔵箱30
2と収納箱303との間には断冷バッキング310がは
めこまれており、収納箱303が冷蔵されるのを防ぐ。
外気が高湿度の場合や高温の場合、冷蔵箱302内の冷
気伝導による外箱304の結露防止のために、外箱30
4の内側にはヒータ311が張りめぐらしである。冷蔵
箱302と収納箱303内には、試薬液槽31.31’
が規定位置にセットできるように仕切板305,306
が取りはずし可能に入っている。仕切板305,306
は、1中間板307.3084持ち上げることによって
、冷蔵箱302と収納箱303から出すこと第6図に冷
却配管系路(太線)と電気制御回路図を示す。冷凍機8
0は、詳細に図示されていないが圧縮機と受液器と凝縮
器等によシ構成されている。冷凍機80から出た冷媒ガ
スは一方、キャピラリーチューブ801を通シ電磁弁8
02および803に分岐されている。電磁弁802は試
薬液貯留部30に巻付けられている蒸発器301に接続
され、また電磁弁803は蒸発器301の出口に接続さ
れていて、電磁弁802と電磁弁803との開閉は互に
反対に作動するように回路構成されている。
気伝導による外箱304の結露防止のために、外箱30
4の内側にはヒータ311が張りめぐらしである。冷蔵
箱302と収納箱303内には、試薬液槽31.31’
が規定位置にセットできるように仕切板305,306
が取りはずし可能に入っている。仕切板305,306
は、1中間板307.3084持ち上げることによって
、冷蔵箱302と収納箱303から出すこと第6図に冷
却配管系路(太線)と電気制御回路図を示す。冷凍機8
0は、詳細に図示されていないが圧縮機と受液器と凝縮
器等によシ構成されている。冷凍機80から出た冷媒ガ
スは一方、キャピラリーチューブ801を通シ電磁弁8
02および803に分岐されている。電磁弁802は試
薬液貯留部30に巻付けられている蒸発器301に接続
され、また電磁弁803は蒸発器301の出口に接続さ
れていて、電磁弁802と電磁弁803との開閉は互に
反対に作動するように回路構成されている。
試薬液貯留部30を通ったガスは、電磁弁804と80
5に分岐さnl一方の電磁弁804側は恒温槽部29内
の蒸発器291に接続されている。
5に分岐さnl一方の電磁弁804側は恒温槽部29内
の蒸発器291に接続されている。
1だ他方の電磁弁805側は、冷気放出器806内の蒸
発器807に接続されていてその出口は前記蒸発器29
1の出口と結合し冷凍機80に戻される。電磁弁804
と805との開閉は互に反対に作動するように回路構成
されている。
発器807に接続されていてその出口は前記蒸発器29
1の出口と結合し冷凍機80に戻される。電磁弁804
と805との開閉は互に反対に作動するように回路構成
されている。
冷凍機80から分岐した他方はキャピラリーチューブ8
08を通り電磁弁809に接続されている。電磁弁80
9の出口は前述の電磁弁804の出口と結合一体化され
ている。これ等一群の電磁弁のうち802と803は試
薬液貯留部30の冷蔵箱302に取付けたサーモスタツ
)320によって作動する接点部321に接続され、冷
蔵箱302が設定した温度以下になったときに接点32
1はL側に接続さfて電磁弁802は閉路し、電磁弁8
03は開路となる。電磁弁804,805は、自動分析
装置のメインスイッチ810によって制御される。即ち
ON側に投入したとき電磁弁804が開路になシ恒温槽
部29内の水は冷却されていく。該恒温槽部29内には
ヒータ292およびサーミスタ293が取付けてあシ、
水温検知して一定温度になるようにマインロコンビュー
ク51により制御される。冷気放出器806には冷気全
消滅させるヒータ811が取付けである。リレー812
は接点部321のL側に接続されていて電磁弁802の
駆動回路を開閉する。試薬液貯留部30は昼夜連続運転
とし恒温槽部29は試料を分析測定づ−る昼間のみの運
転とするため、この切換えをメインスイッチ810で行
っている。即ち、メインスイッチ810i0Fl”側に
したとき、冷凍機部80と電磁弁802と電磁4F80
5およびヒータ811が接点部3210FI側で動作し
、冷媒ガスか流れて試薬液貯留部30は冷却される。
08を通り電磁弁809に接続されている。電磁弁80
9の出口は前述の電磁弁804の出口と結合一体化され
ている。これ等一群の電磁弁のうち802と803は試
薬液貯留部30の冷蔵箱302に取付けたサーモスタツ
)320によって作動する接点部321に接続され、冷
蔵箱302が設定した温度以下になったときに接点32
1はL側に接続さfて電磁弁802は閉路し、電磁弁8
03は開路となる。電磁弁804,805は、自動分析
装置のメインスイッチ810によって制御される。即ち
ON側に投入したとき電磁弁804が開路になシ恒温槽
部29内の水は冷却されていく。該恒温槽部29内には
ヒータ292およびサーミスタ293が取付けてあシ、
水温検知して一定温度になるようにマインロコンビュー
ク51により制御される。冷気放出器806には冷気全
消滅させるヒータ811が取付けである。リレー812
は接点部321のL側に接続されていて電磁弁802の
駆動回路を開閉する。試薬液貯留部30は昼夜連続運転
とし恒温槽部29は試料を分析測定づ−る昼間のみの運
転とするため、この切換えをメインスイッチ810で行
っている。即ち、メインスイッチ810i0Fl”側に
したとき、冷凍機部80と電磁弁802と電磁4F80
5およびヒータ811が接点部3210FI側で動作し
、冷媒ガスか流れて試薬液貯留部30は冷却される。
このときの冷媒ガスは、キャピラリーチューブ801、
電磁弁802、蒸発器301、電磁弁805、蒸発器8
07を通って冷凍機部80に戻る。所定温度に冷却され
るとサーモスタツ)320が動作して接点部321のL
側に切換えられ、電磁弁803が動作して開路となシ、
またリレー812が動作して電磁弁802″4r、閉路
としてガス流路を確実に閉じる。このときの冷媒ガスは
冷凍機部80の動作停止により流れは止まるが圧縮機内
の圧力差が無くなるまで流れて試薬液貯留部30を冷却
するICめ電磁弁802を動作させて閉路とする必要が
おる。
電磁弁802、蒸発器301、電磁弁805、蒸発器8
07を通って冷凍機部80に戻る。所定温度に冷却され
るとサーモスタツ)320が動作して接点部321のL
側に切換えられ、電磁弁803が動作して開路となシ、
またリレー812が動作して電磁弁802″4r、閉路
としてガス流路を確実に閉じる。このときの冷媒ガスは
冷凍機部80の動作停止により流れは止まるが圧縮機内
の圧力差が無くなるまで流れて試薬液貯留部30を冷却
するICめ電磁弁802を動作させて閉路とする必要が
おる。
従来の冷蔵庫は単に試薬を保冷するために使用されるの
が一般的であった。本実施例の冷蔵装置60は試薬全保
冷する一方、恒温槽部29内の水を一定温度例えば25
tr、30C,37C±0.05Cに制御するための冷
却源としても利用しているところに特徴がある。即ち試
薬液貯留部30は空気冷却方式であり、恒温槽部29は
水冷却方式である。このように負荷条件の全く異なる冷
却物を直列に接続して1個の冷凍機部80で制御する。
が一般的であった。本実施例の冷蔵装置60は試薬全保
冷する一方、恒温槽部29内の水を一定温度例えば25
tr、30C,37C±0.05Cに制御するための冷
却源としても利用しているところに特徴がある。即ち試
薬液貯留部30は空気冷却方式であり、恒温槽部29は
水冷却方式である。このように負荷条件の全く異なる冷
却物を直列に接続して1個の冷凍機部80で制御する。
メインスイッチ810がOF li’状態でサーモスタ
ット320の接点部321がHにあるとき、恒温槽部2
9を接続したと同じ負荷に相当する冷気放出器806−
が接続されていて、昼間使用して夜間使用しないときあ
るいは分析動作をするときとしナイトキの負荷条件のバ
ランスヲ保っテイル。
ット320の接点部321がHにあるとき、恒温槽部2
9を接続したと同じ負荷に相当する冷気放出器806−
が接続されていて、昼間使用して夜間使用しないときあ
るいは分析動作をするときとしナイトキの負荷条件のバ
ランスヲ保っテイル。
恒温槽部29内の水は前述したように温度精度子0.0
5trに制御する必要がある。このため恒温槽部29内
には蒸発器291とヒータ292およびサーミスタ29
3が水中に侵されている。蒸発器291には常に一定の
冷媒ガスが流されているが、試薬液貯留部3oに取付け
た廿−モスタット320の動作により電磁弁803開路
から電磁弁802開路に切換えられたとき、ガス流路の
長さの比によシ一時的に恒温槽部29の蒸発器291に
冷却能力のあるガスが流れてとないときがある。
5trに制御する必要がある。このため恒温槽部29内
には蒸発器291とヒータ292およびサーミスタ29
3が水中に侵されている。蒸発器291には常に一定の
冷媒ガスが流されているが、試薬液貯留部3oに取付け
た廿−モスタット320の動作により電磁弁803開路
から電磁弁802開路に切換えられたとき、ガス流路の
長さの比によシ一時的に恒温槽部29の蒸発器291に
冷却能力のあるガスが流れてとないときがある。
このためヒータ292の動作が停止してもその余熱によ
り一時的に0.20 C程度水温上昇となる。
り一時的に0.20 C程度水温上昇となる。
この温度ドリフトを防止するために設けたのが前述のキ
ャピラリーチューブ808と電磁弁809によるバイパ
ス回路である。即ち上述の温度ドリフトを鑑みて考案さ
れた回路であり、電磁弁802と803の如何なる動作
にも無関係にしかもマイクロコンピュータ51によって
制御される電磁弁809は試薬液貯留部30が最初に冷
却を始めるときのみ閉路し、通常は開路にしておく。従
って恒温槽部29の蒸発器291には常に冷媒ガスが流
れ、温度ドリフ)k完全に防止することができる。
ャピラリーチューブ808と電磁弁809によるバイパ
ス回路である。即ち上述の温度ドリフトを鑑みて考案さ
れた回路であり、電磁弁802と803の如何なる動作
にも無関係にしかもマイクロコンピュータ51によって
制御される電磁弁809は試薬液貯留部30が最初に冷
却を始めるときのみ閉路し、通常は開路にしておく。従
って恒温槽部29の蒸発器291には常に冷媒ガスが流
れ、温度ドリフ)k完全に防止することができる。
第7図に冷蔵装置60の温度状態を示す。即ち試薬液容
器31.31’内の温度変化は322の如くなだらかな
冷却曲線を画き、また恒温槽部29内の水温変化は32
3の如<ノ・イレスポンスで短時間に一定温度に制御さ
れている。
器31.31’内の温度変化は322の如くなだらかな
冷却曲線を画き、また恒温槽部29内の水温変化は32
3の如<ノ・イレスポンスで短時間に一定温度に制御さ
れている。
第6図に示すように、蒸発器301に対して並列配置さ
れた第1のバイパス流路は、蒸発器301に冷媒を導入
するのを休止したときに、送られてくる冷媒を通す流路
となる。第6図の実施例では、蒸発器301に冷媒を供
給するのを止めたと、き、冷凍機80も休止するのであ
るが、圧縮機内では冷媒の圧力が高まっておシ、シばら
くの間冷媒が供給され続けるから、その冷媒を第1のバ
イパス流路を通して逃がす。
れた第1のバイパス流路は、蒸発器301に冷媒を導入
するのを休止したときに、送られてくる冷媒を通す流路
となる。第6図の実施例では、蒸発器301に冷媒を供
給するのを止めたと、き、冷凍機80も休止するのであ
るが、圧縮機内では冷媒の圧力が高まっておシ、シばら
くの間冷媒が供給され続けるから、その冷媒を第1のバ
イパス流路を通して逃がす。
冷気放出器806用の蒸発器807は、恒温槽部29用
の蒸発器291に対するバイパス流路に形成されている
。自動分析装置の分析動作が行われている間、すなわち
、試料と試薬との反応を行わせている間は、恒温槽部2
9の温度制御をするために蒸発器291に冷媒が流され
るが、第3の蒸発器807には全く冷媒が流されない。
の蒸発器291に対するバイパス流路に形成されている
。自動分析装置の分析動作が行われている間、すなわち
、試料と試薬との反応を行わせている間は、恒温槽部2
9の温度制御をするために蒸発器291に冷媒が流され
るが、第3の蒸発器807には全く冷媒が流されない。
蒸発器8071−j、自動分析装置が分析動作を止めた
とき、例えば夜間にオペレータが勤務をやめるとき、そ
の動作を開始する。第6図の例では、分析動作を止めた
ときメインスイッチ810がOFF側にされ、蒸発器3
01からの冷媒は蒸発器807に送られる。蒸発器80
7とヒータ811を備えた冷気放出器806でもって、
恒温槽部29に代わる負荷を与えることによシ、冷凍機
80の故障を防止する。
とき、例えば夜間にオペレータが勤務をやめるとき、そ
の動作を開始する。第6図の例では、分析動作を止めた
ときメインスイッチ810がOFF側にされ、蒸発器3
01からの冷媒は蒸発器807に送られる。蒸発器80
7とヒータ811を備えた冷気放出器806でもって、
恒温槽部29に代わる負荷を与えることによシ、冷凍機
80の故障を防止する。
冷凍機80は試薬冷蔵庫30を冷却するために夜間も働
きつづける。第6図の実施例では、試薬冷蔵庫30が所
定温度範囲の中で低温になったときに、蒸発器301へ
の冷媒の供給が止められ、同時に冷凍機80の動作も休
止されるが、試薬冷蔵庫30か高温になったときには再
び冷凍機80が動作する。冷凍機80Fi試薬冷蔵庫の
温度制御のために一時的に短時間の動作休止はするけれ
ども、長い時間の停止はしない。この冷凍機の一時的休
止状態は、連続運転動作の概念に含まれる。
きつづける。第6図の実施例では、試薬冷蔵庫30が所
定温度範囲の中で低温になったときに、蒸発器301へ
の冷媒の供給が止められ、同時に冷凍機80の動作も休
止されるが、試薬冷蔵庫30か高温になったときには再
び冷凍機80が動作する。冷凍機80Fi試薬冷蔵庫の
温度制御のために一時的に短時間の動作休止はするけれ
ども、長い時間の停止はしない。この冷凍機の一時的休
止状態は、連続運転動作の概念に含まれる。
試薬冷蔵庫30が、冷媒の流入又は停止だけによって温
度コントロールされるのに対して、恒温槽部29はヒー
タ292のON、OFFによって温度コントロールされ
る。試薬冷蔵庫30が空冷であり1.シかも、設定温度
の幅はかなシ広くできるので、冷媒の出入だけで制御可
能である。これに対し、恒温槽部29の温度は試料の反
応状態に多大な影脅を及ぼすので、温度制御の許容幅は
非常に小さい。このため、恒温槽部29に対しては冷媒
の出入による温度制御ケ行わず、ヒーターのオン、オフ
だけで微小な温度を制御する。
度コントロールされるのに対して、恒温槽部29はヒー
タ292のON、OFFによって温度コントロールされ
る。試薬冷蔵庫30が空冷であり1.シかも、設定温度
の幅はかなシ広くできるので、冷媒の出入だけで制御可
能である。これに対し、恒温槽部29の温度は試料の反
応状態に多大な影脅を及ぼすので、温度制御の許容幅は
非常に小さい。このため、恒温槽部29に対しては冷媒
の出入による温度制御ケ行わず、ヒーターのオン、オフ
だけで微小な温度を制御する。
本発明によれば、1つの冷凍機でもって試料の分析動作
の状態の有無にかかわシなく試料貯留部全冷却でき、し
かも分析状態のときだけ必要な反応容器列のだめの恒温
液を冷却できるので、冷却機構を簡略化できる。
の状態の有無にかかわシなく試料貯留部全冷却でき、し
かも分析状態のときだけ必要な反応容器列のだめの恒温
液を冷却できるので、冷却機構を簡略化できる。
第1図は本発明の一実施例の全体構成を示す概略図、第
2図は第1図の実施例の外観図、第3図〜第5図は試薬
液貯留部の説明図、第6図は第1図の実施例における冷
却および温度制御系の配管および配線図、第7図は第6
図の例を用いたとき10・・・サンプラー、2o・・・
反応部、22・・・反応容器、29・・・恒温水供給部
、3o・・・試薬液貯留部、31.31’・・・試薬液
容器、8o・・・冷凍機、29]、301,807・・
・蒸発器、292゜811・・・ヒータ、293,32
0・・・サーミスタ、321・・・接点、802,80
3,804,805・・・電磁弁、806・・・冷気放
出器、81o・・・メインスイッチ。
2図は第1図の実施例の外観図、第3図〜第5図は試薬
液貯留部の説明図、第6図は第1図の実施例における冷
却および温度制御系の配管および配線図、第7図は第6
図の例を用いたとき10・・・サンプラー、2o・・・
反応部、22・・・反応容器、29・・・恒温水供給部
、3o・・・試薬液貯留部、31.31’・・・試薬液
容器、8o・・・冷凍機、29]、301,807・・
・蒸発器、292゜811・・・ヒータ、293,32
0・・・サーミスタ、321・・・接点、802,80
3,804,805・・・電磁弁、806・・・冷気放
出器、81o・・・メインスイッチ。
Claims (1)
- 1、冷凍機からの冷媒が、試薬貯留部を冷却する第1の
蒸発器を経たあと、反応容器列を所定温度に保つだめの
恒温液を供給する供給部を冷却する第2の蒸発器を通っ
て上記冷凍機に戻る循環路を形成し、第3の蒸発器を有
するバイパス流路を上記第2の蒸発器に対して並列に配
置し、分析動作の停止状態の間には上記第2の蒸発器へ
の冷媒の流入を阻止して上記第3の蒸発器へ冷媒を導く
とともに、分析動作が行われている状態の間は上記第3
の蒸発器への冷媒の流入を阻止して上記第2の蒸発器へ
冷媒を導く流路開閉手段を設けた自動分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7650784A JPS59230162A (ja) | 1984-04-18 | 1984-04-18 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7650784A JPS59230162A (ja) | 1984-04-18 | 1984-04-18 | 自動分析装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56138444A Division JPS5841358A (ja) | 1981-09-04 | 1981-09-04 | 自動分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59230162A true JPS59230162A (ja) | 1984-12-24 |
Family
ID=13607156
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7650784A Pending JPS59230162A (ja) | 1984-04-18 | 1984-04-18 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59230162A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5102623A (en) * | 1987-10-09 | 1992-04-07 | Seiko Instruments, Inc. | Infinitesimal liquid reactor |
-
1984
- 1984-04-18 JP JP7650784A patent/JPS59230162A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5102623A (en) * | 1987-10-09 | 1992-04-07 | Seiko Instruments, Inc. | Infinitesimal liquid reactor |
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