JPWO2022097346A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JPWO2022097346A5
JPWO2022097346A5 JP2022560652A JP2022560652A JPWO2022097346A5 JP WO2022097346 A5 JPWO2022097346 A5 JP WO2022097346A5 JP 2022560652 A JP2022560652 A JP 2022560652A JP 2022560652 A JP2022560652 A JP 2022560652A JP WO2022097346 A5 JPWO2022097346 A5 JP WO2022097346A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reagent
channel
unit
flow path
cavity
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2022560652A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2022097346A1 (ja
JP7465993B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from PCT/JP2021/030163 external-priority patent/WO2022097346A1/ja
Publication of JPWO2022097346A1 publication Critical patent/JPWO2022097346A1/ja
Publication of JPWO2022097346A5 publication Critical patent/JPWO2022097346A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7465993B2 publication Critical patent/JP7465993B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

分析部2は、検体を分析用の試薬と反応させることによって生じる発光や変色を測定することにより検体を分析する装置であり、検体搬送路10、試薬保冷庫20、インキュベータ30、反応液測定部40を備える。
検体搬送路10は、血液や尿などの検体を収容する検体容器11を検体分注部12の分注位置まで搬送する機構である。検体分注部12は搬送された検体容器11から検体を吸引し、インキュベータ30に設置される反応容器13へ検体を吐出する。検体分注部12では搬送部14によって搭載ラック15から分注チップ着脱部搬送される分注チップ16が装着される。検体分注時のコンタミネーションを防止するため、分注チップ16は分注の度に交換される。
試薬保冷庫20は分析用の試薬が収容される試薬容器21を低温で保管する機構であり、試薬ディスク22と試薬ジャケット23を有する。試薬保冷庫20の内部温度は、例えば5~10度に保たれる。試薬ディスク22は試薬容器21を搭載し、鉛直方向の軸を回転軸として回転することにより試薬容器21を所定の位置、例えば試薬分注部24の分注位置に移動させる。試薬ジャケット23は試薬ディスク22の外側に位置する被覆部であり、試薬ディスク23が回転しても静止したままである。
反応液測定部40は、インキュベータ30に配置される反応容器13から反応液分注部41によって分注される反応液の変色や発光等を測定することにより検体の成分を分析する。反応液測定部40での測定結果は、制御部3が有する液晶ディスプレイやタッチパネルなどの出力部に表示される。反応液が分注された反応容器13は、搬送部14によってインキュベータ30から搭載ラック15へ搬送されることにより取り除かれる。
図2を用いて、本実施例の分析部2内部の試薬保冷庫20と関連機構の構造について説明する。図2は自動分析装置のA-A断面の構成概要を示す。本実施例の試薬保冷庫20は複数の流路205~215によって冷媒冷却部201および送風空気冷却部202とつながっている。また試薬保冷庫20は試薬分注部24が試薬容器21設置位置まで下降するための孔である試薬吸引孔203有する。分析部2の冷媒冷却部201、送風部204、送風空気冷却部202、更に反応液測定部40は、制御部3により制御される。
第8流路205を経て第7流路207を流れる冷媒は、試薬ジャケット23内部の空間を少なくとも一周以上循環する。その間に冷媒が試薬保冷庫20内の空気の熱を吸収することで、保冷庫内部の空間および保冷庫内に設置された試薬容器21を冷却する。冷媒は循環後に第4流路208を通り試薬保冷庫20の外部へ流れる。
送風空気冷却部202は送風部204から流れる空気を取り込む第5流路210、当該空気を冷却後に送風空気冷却部外部に送り出す第1流路211、冷媒を取り込む第4流路208、冷媒を送り出す第6流路206、および結露水を排出する第2流路212とつながる。さらに、送風空気冷却部202は、外気取入部である送風部204から取り入れた外気を第1流路211まで導く送風路となる第10流路214を備える。
第1流路211は試薬保冷庫20からドレイン経由で排出される結露水が流れる第3流路209とつながっている。送風空気冷却部202から第1流路211へ流れ出る冷却された送風空気は第3流路209を通り試薬保冷庫20の内部へと流れる。
図3および図4を用いて、本実施例の送風空気冷却部202の構造について説明する。送風空気冷却部202は内部に空洞を有し、当該空洞部は第4流路208および第6流路206とつながる。また送風空気冷却部202は空洞の中を通るように配置された送風路である第10流路214を有する。第10流路214は冷媒との接触面積を大きくするように一部に螺旋状にカーブした構造を含む。空洞内の螺旋構造部より下流側で、第10流路214は第1流路211につながる本流と第2流路212につながる支流に分岐する。ここで支流は本流よりも内径の小さい流路とする。
第4流路208から送風空気冷却部202内部に流入する冷媒は、空洞内を通り第6流路206から外部へ流出する。ここで流入量は流出量よりも大きく、空洞内の冷媒液量は時間の経過により増加し、一定時間が経過すると空洞内部は循環する冷媒で満たされた状態になる。
図6、図7を用いて、実施例3の送風空気冷却部202の構造を説明する。送風空気冷却部202は内部に空洞を有し、当該空洞部は第4流路208および第6流路206とつながる。また送風空気冷却部202は空洞部の中を通るように配置された送風路であるU字型の第11流路215を有する。第11流路215は空洞内で第1流路211につながる本流と、第2流路212につながる支流に分岐する。ここで支流は本流よりも径の小さい流路とする。
第4流路208から送風空気冷却部202内部に流入する冷媒は、空洞内を通り第6流路206から外部へ流出する。ここで流入量は流出量よりも大きく、空洞内の冷媒液量は時間の経過により増加し、一定時間が経過すると空洞内部は循環する冷媒で満たされた状態になる。送風空気冷却部202内の空洞が冷媒に満たされると、第11流路215は循環する冷媒に浸された状態となる。
1 自動分析装置
2 分析部
3 制御部
4 通信線
10 検体搬送路
11 検体容器
12 検体分注部
13 反応容器
14 搬送部
15 搭載ラック
16 分注チップ
20 試薬保冷庫
21 試薬容器
22 試薬ディスク
23 試薬ジャケット
24 試薬分注部
30 インキュベータ
40 反応液測定部
41 反応液分注部
201 冷媒冷却部
202 送風空気冷却部
203 試薬分注孔
204 送風部
205 第8流路
206 第6流路
207 第7流路
208 第4流路
209 第3流路
210 第5流路
211 第1流路
212 第2流路
213 第9流路
214 第10流路
215 第11流路
JP2022560652A 2020-11-05 2021-08-18 自動分析装置 Active JP7465993B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2020184940 2020-11-05
JP2020184940 2020-11-05
PCT/JP2021/030163 WO2022097346A1 (ja) 2020-11-05 2021-08-18 自動分析装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JPWO2022097346A1 JPWO2022097346A1 (ja) 2022-05-12
JPWO2022097346A5 true JPWO2022097346A5 (ja) 2023-07-07
JP7465993B2 JP7465993B2 (ja) 2024-04-11

Family

ID=81457722

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2022560652A Active JP7465993B2 (ja) 2020-11-05 2021-08-18 自動分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20230366902A1 (ja)
EP (1) EP4242664A1 (ja)
JP (1) JP7465993B2 (ja)
CN (1) CN116420079A (ja)
WO (1) WO2022097346A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20230390767A1 (en) * 2022-06-06 2023-12-07 Sysmex Corporation Sample measuring apparatus and sample measuring method

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3255001B2 (ja) * 1995-03-08 2002-02-12 株式会社日立製作所 試薬の効力低下を抑制するための試薬取扱方法およびその装置
JP2009270857A (ja) 2008-05-01 2009-11-19 Olympus Corp 自動分析装置
JP2010237021A (ja) 2009-03-31 2010-10-21 Sysmex Corp 分析装置
JP5836850B2 (ja) 2012-03-08 2015-12-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US11885824B2 (en) 2019-04-08 2024-01-30 Hitachi High-Tech Corporation Automatic analyzer
EP3985399A4 (en) * 2019-06-17 2023-07-19 Hitachi High-Tech Corporation AUTOMATIC ANALYSIS DEVICE

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7842237B1 (en) Automatic analyzer and rack transfer device
JP4940032B2 (ja) 自動分析装置及びその試薬庫
US20110223064A1 (en) Sample analyzer
JPS5841358A (ja) 自動分析装置
US20100248346A1 (en) Analyzer
JP4945342B2 (ja) 自動分析装置、および自動分析装置の分注方法
JP5836850B2 (ja) 自動分析装置
JP2009139269A (ja) 自動分析装置
WO2010021172A1 (ja) 自動分析装置および恒温槽安定化方法
JP7139525B2 (ja) 自動分析装置
US11067589B2 (en) Automated analyzer
JP2009270857A (ja) 自動分析装置
JPWO2022097346A5 (ja)
EP3705894B1 (en) Automatic analysis device
JP2023181437A (ja) 自動分析装置
JP5986436B2 (ja) 自動分析装置
JP7465993B2 (ja) 自動分析装置
JP2010204129A (ja) 自動分析装置及びラック搬送方法
JP2010159987A (ja) 自動分析装置
JP3159759U (ja) 自動分析装置
CN112730277A (zh) 自动分析装置及其试剂库
JPH0843402A (ja) 自動化学分析装置
WO2024080011A1 (ja) 自動分析装置
JP2010286357A (ja) 自動分析装置
JPH08101207A (ja) 自動化学分析装置