JPS59230106A - 伸び計 - Google Patents
伸び計Info
- Publication number
- JPS59230106A JPS59230106A JP10478983A JP10478983A JPS59230106A JP S59230106 A JPS59230106 A JP S59230106A JP 10478983 A JP10478983 A JP 10478983A JP 10478983 A JP10478983 A JP 10478983A JP S59230106 A JPS59230106 A JP S59230106A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test piece
- light
- optical sensor
- parallel light
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/16—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. optical strain gauge
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
本発明は相別試験機番ご用いられる伸び計に関する。
（ロ） 従来技術
一般（こ月別試験機たとえば引張試験機をこおいてをよ
、試；倹片の歪ｔＶ１等を測定するため【こ伸び計が用
いられる。従来のこの種の伸び計１こは標点間伸び計や
径軸変換伸び計と称せられるものがある。ところが両者
ともその検出部は主として機械的要素で構成され、かつ
、試験片に直接取付ける構造となっているので、検出部
を試験片に取付ける際薔こ試験片を傷っけたり、また、
試験中に試験片との間ですべりを生じたりして試験片の
正確な歪量が測定できなくなる場合がある。また、高速
度で引張試験を行なう場合などには速度に対する応答性
が悪く、ざら番こ高温や高圧の雰囲気下では適用が困難
であるなどの問題がある。一方、試験片にポイント状の
マークをつけ、試験片の伸縮１こともなうマークの移動
を光で検出することにより非接触で試験片の歪量を測一
定するようにした構造のものも提案されている。しかし
ながらこの構造のものは、試験片の変形番こよりマーク
が剥落しゃすく、また、速度（こ対する応答性も充分で
ない等の難点がある。
、試；倹片の歪ｔＶ１等を測定するため【こ伸び計が用
いられる。従来のこの種の伸び計１こは標点間伸び計や
径軸変換伸び計と称せられるものがある。ところが両者
ともその検出部は主として機械的要素で構成され、かつ
、試験片に直接取付ける構造となっているので、検出部
を試験片に取付ける際薔こ試験片を傷っけたり、また、
試験中に試験片との間ですべりを生じたりして試験片の
正確な歪量が測定できなくなる場合がある。また、高速
度で引張試験を行なう場合などには速度に対する応答性
が悪く、ざら番こ高温や高圧の雰囲気下では適用が困難
であるなどの問題がある。一方、試験片にポイント状の
マークをつけ、試験片の伸縮１こともなうマークの移動
を光で検出することにより非接触で試験片の歪量を測一
定するようにした構造のものも提案されている。しかし
ながらこの構造のものは、試験片の変形番こよりマーク
が剥落しゃすく、また、速度（こ対する応答性も充分で
ない等の難点がある。
１９ 目 的
本発明は上述の問題点（こ鑑みてなされたものでろって
、試験月番こ対して非接触状態で正確に試験の軸方向の
伸縮を測定できるようにして従来の問題点を解消するこ
とを目的とする。
、試験月番こ対して非接触状態で正確に試験の軸方向の
伸縮を測定できるようにして従来の問題点を解消するこ
とを目的とする。
に）構 成
本発明はこのような目的を達成するため、平行光を発生
する光源と、断面円形状の試験片からの反射光の幅広が
り用を検出する光センサとを設けている。
する光源と、断面円形状の試験片からの反射光の幅広が
り用を検出する光センサとを設けている。
Ｑ１９ 実 施 例
以ド、本発明を実施例１こついて図面（こ基づいて１；
ｒ、有Ｉｌｌこ説明する。
ｒ、有Ｉｌｌこ説明する。
第１図を」：伸び計と試験片を一部省略して示す平面図
、第２図は同正面図である。これらの図【こおい−（１
１１坤び計、２は図示省略した引張試験機などの（」Ｋ
１試験機【こ取イ；１けられた断面円形状の試験ｊ“１
である１、４は平行光を発生する光源で、この光源４
）ｌｌｌ試験ｊ１２の径方向（第２図中Ｘ方回）ｌこ所
定の間ｈ′；＋を、ｒ１シて試験ハ２と対向して配置さ
れている。６ ｆ：Ｊ光源４と試験片２との間【こ設げ
られた・・−フミラーである。また８は試験Ｂ’ ２か
らの反ＩＩ ）Ｙ；をハーフミラ−６を介し−Ｃ受）シ
シ、その反射）１ｒ４の’ｌ’ｉ１ｆ ！ムがり１１Ｆ
を検出する光センサで、この尤センーリ８Ｑ：またとえ
はＣＣｌ） （Ｃｈａｒｇｅｄ Ｃｏｕｐｌｅｄ ＋、
）ｃｖｉｃｃｌやＰ Ｄ Ａ （Ｐｂｏｔｏ Ｄｉｏｄ
、ｅ Ａｒｒｅｙ ）が適用される。
、第２図は同正面図である。これらの図【こおい−（１
１１坤び計、２は図示省略した引張試験機などの（」Ｋ
１試験機【こ取イ；１けられた断面円形状の試験ｊ“１
である１、４は平行光を発生する光源で、この光源４
）ｌｌｌ試験ｊ１２の径方向（第２図中Ｘ方回）ｌこ所
定の間ｈ′；＋を、ｒ１シて試験ハ２と対向して配置さ
れている。６ ｆ：Ｊ光源４と試験片２との間【こ設げ
られた・・−フミラーである。また８は試験Ｂ’ ２か
らの反ＩＩ ）Ｙ；をハーフミラ−６を介し−Ｃ受）シ
シ、その反射）１ｒ４の’ｌ’ｉ１ｆ ！ムがり１１Ｆ
を検出する光センサで、この尤センーリ８Ｑ：またとえ
はＣＣｌ） （Ｃｈａｒｇｅｄ Ｃｏｕｐｌｅｄ ＋、
）ｃｖｉｃｃｌやＰ Ｄ Ａ （Ｐｂｏｔｏ Ｄｉｏｄ
、ｅ Ａｒｒｅｙ ）が適用される。
１０は光センサ８で検出した反射光の幅広がり量から試
験片２の軸方向（第２図中γ方向）の伸縮量を算出する
径軸歪変換部である。
験片２の軸方向（第２図中γ方向）の伸縮量を算出する
径軸歪変換部である。
改番こ上記構成を有する伸び計１を用いて試験片２のＩ
Ｉ！ｌｌＪ方向の伸びを測定する場合の方法につりで説
明する。
Ｉ！ｌｌＪ方向の伸びを測定する場合の方法につりで説
明する。
まず、試験片２をたとえは引張状、験機に取付ける。次
いで光源４により平行光を発生し、この平行光を試、験
片２に対してその径方向（Ｘ方向）から照射する。試験
片２に照射された平行光は試験片２の表面で反射きれる
際幅広がりを生じ、その反射光は・・−フミラー６で屈
曲され光センサ８１こ受光される。光センサ８は受光し
た反射光の幅広がり一１Ｌｏを検出し、これに対応した
出力を径輔歪変換部１０（こ送出する。この状態では未
だ試験ハ２（ζげ応力が加４つっていないので、径軸歪
変換部１０では光センサ８からの出力を試４％片２の軸
方向（γ方向）の伸びが零の基準値として設定する。
いで光源４により平行光を発生し、この平行光を試、験
片２に対してその径方向（Ｘ方向）から照射する。試験
片２に照射された平行光は試験片２の表面で反射きれる
際幅広がりを生じ、その反射光は・・−フミラー６で屈
曲され光センサ８１こ受光される。光センサ８は受光し
た反射光の幅広がり一１Ｌｏを検出し、これに対応した
出力を径輔歪変換部１０（こ送出する。この状態では未
だ試験ハ２（ζげ応力が加４つっていないので、径軸歪
変換部１０では光センサ８からの出力を試４％片２の軸
方向（γ方向）の伸びが零の基準値として設定する。
引張状、験を開始して試験片２が軸方向（ｙ方向）（こ
引っ張られると、その結果試験片２の直径（・ゴー二点
＞Ｊ’ｉ線で示すよ知こ細くなる。従って、試、験片２
からの反射）’（： ｋｊ第１図の二点鎖線で示すよう
に広がりを生し、反！ＩＪ ）’（Ｌを光センサ８か受
光したとき１こＱ：ｊその幅広がり１１目、１ｉｊ引っ
張り前のｆｆ１ｌ−ｏよりも火きくなっている。光セン
サ８からげその幅広がりＩＩｏ、１（こ対応した出力が
径軸歪変換部１０１こ出力σれる。径軸歪変換２部１０
でけ光センサ８からの出力の；（・より試験片２の軸方
向（ｙ方向）の伸びを岬１１冒［る。このよう昏こ、径
軸歪閲換部１０では試験片２の直径のザ化から試験片２
の伸びが遂次ｄ所定σれる。
引っ張られると、その結果試験片２の直径（・ゴー二点
＞Ｊ’ｉ線で示すよ知こ細くなる。従って、試、験片２
からの反射）’（： ｋｊ第１図の二点鎖線で示すよう
に広がりを生し、反！ＩＪ ）’（Ｌを光センサ８か受
光したとき１こＱ：ｊその幅広がり１１目、１ｉｊ引っ
張り前のｆｆ１ｌ−ｏよりも火きくなっている。光セン
サ８からげその幅広がりＩＩｏ、１（こ対応した出力が
径軸歪変換部１０１こ出力σれる。径軸歪変換２部１０
でけ光センサ８からの出力の；（・より試験片２の軸方
向（ｙ方向）の伸びを岬１１冒［る。このよう昏こ、径
軸歪閲換部１０では試験片２の直径のザ化から試験片２
の伸びが遂次ｄ所定σれる。
−１，記説明は試験片２が引張られて直径が細くなる鳴
合；Ｃあるが、逆に試験片２が圧縮されて直径が太くな
った場合も同様に反射光の幅広がり量のｌｎｉ’ｉ少に
より試験片２の縮みが測定される。
合；Ｃあるが、逆に試験片２が圧縮されて直径が太くな
った場合も同様に反射光の幅広がり量のｌｎｉ’ｉ少に
より試験片２の縮みが測定される。
ｆＳお、光源４や光センサ８の光学系の配置は本例（こ
限定されるものではなくレンズや反射ミラーゝ’ｉ−Ｃ
Ｉ”合せることにより適宜設定できるのは勿論゛Ｃある
。Ｉ （へ） 効 果 り、」二のように本発明１こよれは、断面円形状の試験
片（こ対して、この試験片の径方向から平行光を照射す
る光源と、試験片からの反射光の幅広がり量を検出する
光センサとを設けたので、試験片１こマークをつけるよ
うなことをしなくても試（倹片の伸縮を確実かつ正確に
非接触状態でもって測定することができる。しかも光を
利用しているので、試験片の変形に対する応答性も早い
。また、高温や高圧の雰囲気Ｆでの試験においても適用
で、きる。
限定されるものではなくレンズや反射ミラーゝ’ｉ−Ｃ
Ｉ”合せることにより適宜設定できるのは勿論゛Ｃある
。Ｉ （へ） 効 果 り、」二のように本発明１こよれは、断面円形状の試験
片（こ対して、この試験片の径方向から平行光を照射す
る光源と、試験片からの反射光の幅広がり量を検出する
光センサとを設けたので、試験片１こマークをつけるよ
うなことをしなくても試（倹片の伸縮を確実かつ正確に
非接触状態でもって測定することができる。しかも光を
利用しているので、試験片の変形に対する応答性も早い
。また、高温や高圧の雰囲気Ｆでの試験においても適用
で、きる。
ざら番こ、試験片へ照射される平行光を試験片の’１ｉ
ｌ１１方向（こ沿って平行に移動できるよう番こすれは
連醗的な線径測定器とすることができるので応用範囲が
広まるなどの憂れた効果が得られる。
ｌ１１方向（こ沿って平行に移動できるよう番こすれは
連醗的な線径測定器とすることができるので応用範囲が
広まるなどの憂れた効果が得られる。
図面は本発明の実施例を示し、第１図は沖び３１と試験
片とを一部省略して示す平面図、第２図は同正面図であ
る。 １・・・伸び計、２・・・試１験片、４・・・光源、８
・・・光センサ。
片とを一部省略して示す平面図、第２図は同正面図であ
る。 １・・・伸び計、２・・・試１験片、４・・・光源、８
・・・光センサ。
Claims (1)
- ＋ｌ＋ 平行光を発生する光源と、断面円形状の試験
片からの反射光の幅広がり量を検出する光センサとを備
え、光源で発生する平行光を試験片ｆこ苅してその径方
向から照射し光センサで検出した反射光の幅広がり量か
ら試験片の軸方向の伸縮をｄ［Ｉ定することを特徴とす
る伸び計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10478983A JPS59230106A (ja) | 1983-06-11 | 1983-06-11 | 伸び計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10478983A JPS59230106A (ja) | 1983-06-11 | 1983-06-11 | 伸び計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59230106A true JPS59230106A (ja) | 1984-12-24 |
| JPH0423204B2 JPH0423204B2 (ja) | 1992-04-21 |
Family
ID=14390223
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10478983A Granted JPS59230106A (ja) | 1983-06-11 | 1983-06-11 | 伸び計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59230106A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20140108701A (ko) | 2010-04-22 | 2014-09-12 | 히타치가세이가부시끼가이샤 | 유기 일렉트로닉스 재료, 중합 개시제 및 열중합 개시제, 잉크 조성물, 유기 박막 및 그 제조 방법, 유기 일렉트로닉스 소자, 유기 일렉트로 루미네센스 소자, 조명 장치, 표시 소자, 및 표시 장치 |
-
1983
- 1983-06-11 JP JP10478983A patent/JPS59230106A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0423204B2 (ja) | 1992-04-21 |
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