JPS59228720A - 整合装置 - Google Patents

整合装置

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Publication number
JPS59228720A
JPS59228720A JP58103735A JP10373583A JPS59228720A JP S59228720 A JPS59228720 A JP S59228720A JP 58103735 A JP58103735 A JP 58103735A JP 10373583 A JP10373583 A JP 10373583A JP S59228720 A JPS59228720 A JP S59228720A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
roller
rollers
rotation
moment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58103735A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Iizuka
和夫 飯塚
Shuichi Yabu
薮 修一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP58103735A priority Critical patent/JPS59228720A/ja
Publication of JPS59228720A publication Critical patent/JPS59228720A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体製造に係るシリコンウェハの様な薄板を
所望の配置に設定するための装置に関し、特に半導体パ
ターン焼伺装置のブリ・アライメントあるいは種々の検
査装置等の検査に先立つ位置合わせを実現する装置に関
する。
従来この種の整合装置は、第1図に示すように3ツノ駆
動ローラー2,5.6と自由回転ロー5−6、ウェハ支
持台26タでウェハ4を支持し、駆動ローラーにウェハ
を寄せる手段としてアーム19、引きバネ22、アーム
開放ピストン21から成る押付機構に結合された自由回
転ローラーで寄せるように構成されていた。この為ウェ
ハが従動回転している際、オリエンテーションフラット
4′の一端が自由回転ローラー1にさしかかった時、ウ
ェハのオリエンチーシロンフラット4′の長さとその時
の押し付は力の作用する方向からウェハを逆回転方向に
回すモーメントが発生し、同時にff1illローラー
に寄せる力が減少するという力学的関係にある。その結
果、ウェハを回転不能に陥らせない為には、ウェハと駆
動ローラー間の摩擦係数を高摩擦係数に維持していかな
ければならない。
一方つエバと駆動ローラー間の摩擦係数は周辺の状況(
油や、はこり等)によって減少して行くので、正常な整
合動作を継続させる為には、駆動ローラーの清−掃等を
ひんばんにして、必要な摩擦係数看維持していかなけれ
ばならないという欠点があった。
本発明は、上述従来の整合装置のかかる点を除去し厳密
な摩擦係数の管理をしなくても、正常なウェハ整合動作
を継続させることが可能ならしめるべく提供されるもの
である。
第2図は本発明の実施例で、4はウェハ、2は駆動ロー
ラー、3,5.6は自由回転ローラー、7゜8は駆動伝
達ローラー、9 、10.11.12.13.14.は
自由回転ローラー5.6と駆動ローラーと連ill関係
にする手段。15.16はオリエンテーションフラット
の長さの半分の長さ程度離れた自由回転ローラー、17
は2つのローラー15.16をシーソー回転可能にする
支持軸で、18は回転ローラー15.16を連結する部
材、19はアーl1.20はアーム回転支持軸、21.
22は押し付はアームを駆動する手段、23はウェハ支
持台である。尚、自由回転ローラー16の加圧方向はウ
ェハの回転中心に向い、もう1つのローラーの加圧方向
は中心よりローラー6寄りである。ウェハ支持台23上
に空圧で支持されたウェハ4は駆動ローラー2,5,6
、回転ローラー乙に、シーソー型押付ローラ−15〜1
8によって寄せられ回転動作をする。ウェハのオリエン
テーションフラットの一端がシーソー型押付ローラーの
回転ローラー15にさしかかった時、押付力の分力がウ
ェハ4に逆方向にモーメントを働かせる。しかし、その
逆回転方向のモーメントは、第1図と比較して小さくで
きる為回転不能に陥いることを緩和している。
また、ウエノ14を駆動ローラー2に寄せる為に有効に
働く力は、第1図よりも大きくなっているという両者の
利点から、ウェハ4を整合作業中(回転中)に回転不能
に陥いれさせる要因であるウニ/・4と駆動ローラー2
との間の摩擦係数の下限値を第1図の場合の60%〜5
0%に下げることができる。加えて、他自由回転ローラ
ー6の位置にオリエンテーションフラットの一端がさし
かかった時はこの位置での逆回転力は押付ローラーのウ
ェハ上での作用点の位置関係から極端に小さく回転不能
に陥ることはない。
そしてオリエンテーションフラットが6つの駆動ローラ
ーに接した時、オリエンテーションフラットを光学的に
検知する装置(不図示)からの信号で2つの駆動ローラ
ー5,6を自由回転状態にもどせば、前記の逆回転のモ
ーメントが働き、積極的にウェハ回転停止が再現できる
為、回転慣性゛によるいわゆるウェハのオーバーランを
防止し、整合不能を防止している。
また、上述の例ではローラー2,5.6を駆動してウェ
ハを回転させていたが、これらを自由回転ローラーとし
、一方、自由回転ローラー15.16を回転駆動してウ
ェハを回転させることも可能である。
以上説明したように押付ローラーをシーソー型にするこ
とで駆動ローラーとウェハ間に必要な摩擦係数の最低値
を下げることができ、回転不能に陥るという欠点を押え
、厳密な摩擦係数管理をしなくても正常なウェハ整合動
作を継続させる効果がある。また本体装置自体の駆動に
伴って振動が加わることがあっても確実な押圧を与えら
れる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来例を示す平面図。第2図は本発明の実施例
を示す平面図。 図中、4はウェハ、4′はオリエンテーションフラット
、15と16は自由回転ローラー、17は支持軸、18
は連絡部材である。 出願人 キャノン株式会社

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)回転するローラをウェハの周端面に接触させて、
    ウェハを回転させ、これを所定の関係に配置するための
    装置において。 回転可能なローラを連絡部材で連絡し、これらローラ間
    の一点を運動自在な状態に支持すると共に、支持点に押
    付力を付与してローラーをウェハに押圧するための手段
    を設けることを特徴とする整合装置。
JP58103735A 1983-06-10 1983-06-10 整合装置 Pending JPS59228720A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58103735A JPS59228720A (ja) 1983-06-10 1983-06-10 整合装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58103735A JPS59228720A (ja) 1983-06-10 1983-06-10 整合装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS59228720A true JPS59228720A (ja) 1984-12-22

Family

ID=14361885

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58103735A Pending JPS59228720A (ja) 1983-06-10 1983-06-10 整合装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS59228720A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5700297A (en) * 1992-08-28 1997-12-23 Ipec Precision, Inc. Apparatus for providing consistent, non-jamming registration of notched semiconductor wafers
US6652216B1 (en) 1998-05-05 2003-11-25 Recif, S.A. Method and device for changing a semiconductor wafer position
US6961639B2 (en) 2002-01-29 2005-11-01 Recif, Societe Anonyme Apparatus and process for identification of characters inscribed on a semiconductor wafer containing an orientation mark
US10133186B2 (en) 2016-10-20 2018-11-20 Mapper Lithography Ip B.V. Method and apparatus for aligning substrates on a substrate support unit

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US7108476B2 (en) 1998-05-05 2006-09-19 Recif Technologies Sas Method and device for changing a semiconductor wafer position
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US10133186B2 (en) 2016-10-20 2018-11-20 Mapper Lithography Ip B.V. Method and apparatus for aligning substrates on a substrate support unit

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