JPS59224548A - 表面分析装置 - Google Patents

表面分析装置

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Publication number
JPS59224548A
JPS59224548A JP9779083A JP9779083A JPS59224548A JP S59224548 A JPS59224548 A JP S59224548A JP 9779083 A JP9779083 A JP 9779083A JP 9779083 A JP9779083 A JP 9779083A JP S59224548 A JPS59224548 A JP S59224548A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
oxygen
lamp
nozzle
low pressure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9779083A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Yanagisawa
柳沢 寛
Yoshishige Suzuki
鈴木 良重
Michio Suzuki
道夫 鈴木
Tetsukazu Hashimoto
哲一 橋本
Hidehito Obayashi
大林 秀仁
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Microcomputer Engineering Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Microcomputer Engineering Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP9779083A priority Critical patent/JPS59224548A/ja
Publication of JPS59224548A publication Critical patent/JPS59224548A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/40Concentrating samples

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、真空容器を具備した表面分析装置に係υ、特
に分析操作直前に試料表面の有機物汚染を除去するのに
好適な表面分析装置に関する。
〔発明の背景〕
従来の表面分析装置は、油回転ポンプ、油拡散ポンプ等
からの有機物によシ試料表面が汚染される事を防ぐため
に種々の技術改良がなされている。
すなわち、排気系からの油蒸気を液体窒素等を用いたト
ラップに捕獲し、試料表面に到達しないようにする、あ
るいは、ターボモレキュラーポンプ。
クライオポンプ、イオンポンプ等油蒸気を出さない排気
系を使用するなどである。しかし、呪実には、試料野面
の有機物汚染は完全には除去できず分析に先だってAr
等不活性ガスにより試料表面をスパッタリングして洗浄
する手法が用いられている。このような従来技術では、
表面に付着した有機物汚染のみならず、試料表面自体も
エツチングする事となシ、試料の最外側表面の分析がで
きない欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、前記のような欠点を克服し、試料表面
に付着した有機物汚染のみを有効に除去する機構を具備
した表面分析装置を提供する事にある。
〔発明の概要〕
本発明は、分析試料をエツチングする事なく、表面に付
着した有機物汚染を有効に分解、除去するために、紫外
線とオゾンの相乗効果を利用するものである。すなわち
、低圧水銀灯から放射される1 84.256 nmの
紫外線を有機物に照射すると、有機物は励起9分解され
る。さらにこの時、雰囲気に1裳素を存在させるとより
高い洗浄効果が得られる。すなわち、酸素が184nm
紫外光により励起されてオゾンとなり、このオゾンが有
機物を酸化し、H2OおよびCO2として試料表面から
除去される。
〔発明の実施例〕
以下本発明の一実施例を第1図により説明する。
第1図は、本発明を適用したオージェ電子分光装置の構
成図である。図のように分析試料11に対向した位置に
低圧水銀灯12と酸素供給ノズル13どが設置されてい
る。
通常の操作に従って分析試料11を試料台14に取付け
、分析室内を真空排気した。ついで、低圧水銀灯12を
点灯し、試料11の表面に紫外線を照射した。ついで、
ノズル13から酸素を微量リークさせ、試料表面に酸素
を供給した。以上の操作にエリ、試料表面近傍ではオゾ
ンが生成し、これが試料表面の有機物汚染を除去する。
3分間処理した後、酸素供給を停止し、低圧水銀灯12
を消灯した。引続き20分真空排気した後、連続して試
料の分析を行った。この結果の1例を第2図に示す。す
なわち、上記操作によって得られたスペクトルは、第2
図曲線21で、同図に併せ示した従来操作によって得ら
れた曲線22のスペクトルと比較すると、本発明の効果
が明白に確認できる。すなわち、本発明によるスペクト
ル21には、表面の有機物汚染にもとづく、炭素に同定
される吸収が全く認められない。
なお、紫外線および酸素を試料に照射する処理は、発明
者らの実験によれば、試料の汚染度によシ異るが、通常
の脱脂処理等を施しだ試料の場合高々10分根度で十分
であった。
〔発明の効果〕
上記説明から明らかなように、本発明によれば、分析試
料の表面を変化させる事なく、清浄化できると同時に、
分析室内で処理できるために、清浄化された試料表面が
再汚染される事がない。また、本発明で使用した低圧水
銀灯は、小型、軽量、安価であり、いかなる真空装置に
も具備できる。本発明では、オージェ電子分光装置に適
用した例を示したが、イオンマイクロアナライザ、E8
CA等他の分析装置度にも同様に適用できる事は明かで
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す模式図、第2図の本発
明の効果で示す曲線図である。 11・・・試料、12・・・水銀灯、13・・・ノズル
代理人 弁理士 高橋明夫 −25: 第1図 Y z  図 tJL了IL ”g ”−(ev) 国分寺市東窪ケ窪1丁目280番 地株式会社日立製作所中央研究 所内 ■出 願 人 日立マイクロコンピュータエンジニアリ
ング株式会社 小平市上水本町1479番地

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、被分析試料を真空容器内において分析する表面分析
    装置において、真空容器内の試料と対向する位置に低圧
    水銀灯を具備し、かつ、試料表面に酸素を供給できる機
    構を具備した事を特徴・とする表面分析装置。
JP9779083A 1983-06-03 1983-06-03 表面分析装置 Pending JPS59224548A (ja)

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JP9779083A JPS59224548A (ja) 1983-06-03 1983-06-03 表面分析装置

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JP9779083A JPS59224548A (ja) 1983-06-03 1983-06-03 表面分析装置

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Publication Number Publication Date
JPS59224548A true JPS59224548A (ja) 1984-12-17

Family

ID=14201603

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JP (1) JPS59224548A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1826808A1 (en) * 2006-02-23 2007-08-29 ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH Charged particle beam device with ozone supply

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1826808A1 (en) * 2006-02-23 2007-08-29 ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH Charged particle beam device with ozone supply
US7629578B2 (en) 2006-02-23 2009-12-08 Ict Integrated Circuit Testing Gesellschaft Fur Halbleiterpruftechnik Mbh Charged particle beam device

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