JPH0768162A - 付着物の洗浄方法及びその装置 - Google Patents

付着物の洗浄方法及びその装置

Info

Publication number
JPH0768162A
JPH0768162A JP24196793A JP24196793A JPH0768162A JP H0768162 A JPH0768162 A JP H0768162A JP 24196793 A JP24196793 A JP 24196793A JP 24196793 A JP24196793 A JP 24196793A JP H0768162 A JPH0768162 A JP H0768162A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cleaning
internal space
ultraviolet lamp
oxygen
cleaned
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP24196793A
Other languages
English (en)
Inventor
Shuhei Shinozuka
脩平 篠塚
Masao Matsumura
正夫 松村
Koji Ono
耕司 小野
Takeshi Yoshioka
毅 吉岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ebara Corp filed Critical Ebara Corp
Priority to JP24196793A priority Critical patent/JPH0768162A/ja
Publication of JPH0768162A publication Critical patent/JPH0768162A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cleaning In General (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 被洗浄物に形成された内部空間の内表面に付
着した付着物を分子レベルで効果的に取除く。 【構成】 着脱もしくは挿入可能な紫外線ランプ4を真
空容器2の内部空間3に配設し、着脱可能な供給口14
を介して供給される空気、酸素及びオゾンのうち少なく
ともいずれかを含む洗浄用ガスの下で、紫外線ランプ4
から発せられる紫外線を内部空間3の内表面8に照射す
ることにより、内表面8に付着した付着物を取除く。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、容器や配管部品などの
内表面に付着した付着物を取除く洗浄方法及びその装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】真空中においては、気流が全く無いか又
は気流があったとしても極くわずかであるため、内部が
真空の容器または配管部品の壁に付着している微粒子を
剥離させたり、床面上の微粒子を舞い上げたりするよう
なことは少ない。
【0003】したがって、真空中ではクラス0(零)の
空間を作り出せる可能性がある。半導体製造プロセスが
真空の下で行われることがあり、例えば真空中で半導体
や液晶パネルに成膜する場合がある。また、ウエハやガ
ラス基板などの対象物を真空中で保管したり搬送したり
する場合がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】このように真空中にお
いてはクラス0(零)の高清浄度の空間を作り出せる可
能性がある反面、その時に問題になることの一つにプロ
セス中または保管中における汚染の問題がある。汚染の
中でも分子レベルの汚染は特に解決が困難な問題であ
り、近年特に注目されてきた。分子レベルの汚染でも酸
素(O2 )による酸化物の形成は、真空中の保管や搬送
では酸素濃度が低いのでその分低減され、問題になるこ
とは少ない。
【0005】しかしながら有機物による汚染の問題が残
る。この有機物汚染は、真空状態を形成するための排気
ポンプに使用されている油の蒸気の逆流や、真空容器や
配管部品などに付着した汚染物が離脱して分子状になる
ことにより発生する。即ち、ウエハやガラス基板などの
保管対象物または製造中の対象物に炭素系(C系)の分
子が付着するために引き起こされる。
【0006】真空中でウエハやガラス基板に付着する有
機物の膜厚は、1乃至数分子に相当する数オングストロ
ーム乃至数十オングストローム程度である。有機物がウ
エハやガラス基板などに付着した状態で、その上に成膜
を行った場合には、膜が剥離しやすくなり製品の歩留り
低下の原因となる。
【0007】油の蒸気の逆流を原因とする有機物汚染に
対しては、最近はドライポンプを使用したり、排気ポン
プと真空容器などとの間に油を吸収するゼオライト等の
物質を装着することにより、次第に減ってきている。
【0008】しかしながら、真空容器などに付着した汚
染物を原因とする有機物汚染に関してはいまだ効果的な
解決策がなく、大きな問題として残っている。これは、
真空容器などの内表面に付着した有機物を取除くには、
内表面を洗浄し且つベーキングをしなくてはならない
が、内表面に付着した分子オーダの有機物を完全に取除
くことは非常に困難であるからである。
【0009】本発明は上述の事情に鑑みてなされたもの
で、真空容器や配管部品などの被洗浄物に形成された内
部空間の内表面に付着した付着物を分子レベルで効果的
に取除くことができる付着物の洗浄方法及びその装置を
提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
め、本発明に係る付着物の洗浄方法は、着脱もしくは挿
入可能な紫外線ランプを被洗浄物の内部空間に配設し、
着脱可能な供給口を介して供給される空気、酸素及びオ
ゾンのうち少なくともいずれかを含む洗浄用ガスの下
で、前記紫外線ランプから発せられる紫外線を前記内部
空間の内表面に照射することにより、この内表面に付着
した付着物を取除くことを特徴とするものである。な
お、前記内部空間の開口部を覆う着脱可能な板部材に前
記紫外線ランプ及び前記洗浄用ガスの供給口を取付けて
もよい。
【0011】また、本発明に係る付着物の洗浄装置は、
被洗浄物の内部空間に着脱もしくは挿入可能に配設さ
れ、前記内部空間の内表面に紫外線を照射して、この内
表面に付着した付着物を取除く紫外線ランプと、前記被
洗浄物に着脱可能に取付けられ、空気、酸素及びオゾン
のうち少なくともいずれかを含む洗浄用ガスを前記内部
空間に供給するガス供給装置とを備えたことを特徴とす
るものである。なお、前記内部空間の開口部を覆う着脱
可能な板部材に前記紫外線ランプ及び前記洗浄用ガスの
供給口を取付けてもよい。
【0012】
【作用】本発明においては、空気、酸素(O2 )及びオ
ゾン(O3 )のうち少なくともいずれかを含む洗浄用ガ
スの下で、紫外線ランプから発せられる紫外線(UV=
Ultraviolet Rays)によって、被洗浄物の内表面に付着
した有機物を除去している。このように紫外線とオゾン
とを組合せた乾式の洗浄方法は「UV/O3 洗浄」と呼
ばれている。
【0013】紫外線ランプ(UVランプ)から照射され
る紫外線の波長はランプの種類によって様々であるが、
その中で低圧水銀ランプがUV/O3 洗浄には広く用い
られている。低圧水銀ランプから発せられる紫外線の輝
線は184.9nmと253.7nmである。波長が1
84.9nmの紫外線は空気中の酸素に吸収されて酸素
をオゾンに変化させる作用を有している。波長が25
3.7nmの紫外線は酸素に吸収されることはないが、
有機物に吸収されてこの有機物を励起する作用を有して
おり、更に、オゾンを分解して酸素(O2 )と発生基の
酸素(O* )とに分解する作用も有している。炭素
(C)、水素(H)及び酸素(O)を含む有機物(Cl
mn )に紫外線が照射されると、有機物は励起され
る。これと同時に、接合力が強い発生基の酸素イオンが
有機物と結合して、一酸化炭素(CO)と二酸化炭素
(CO2)と水(H2O)になり、有機物は灰化(アッシ
ング)されて消滅する。
【0014】本発明に係る洗浄方法及びその装置はこの
原理を応用することにより、被洗浄物の内表面に付着し
た炭素系(C系)の有機物を含む付着物を除去してい
る。
【0015】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1乃至図5に基
づいて説明する。図1は、本発明の第1実施例に係る付
着物の洗浄装置を示す正面断面図であり、洗浄時に紫外
線ランプを取付けるタイプを示している。図2は図1の
洗浄装置のII−II線断面図、図3は本発明の原理を示す
説明図である。図1及び図2に示すように、付着物の洗
浄装置1は、容器又は配管部品などの被洗浄物2の内部
空間3に着脱可能に配設された複数の紫外線ランプ4
と、被洗浄物2に着脱可能に取付けられ、空気、酸素及
びオゾンのうち少なくともいずれかを含む洗浄用ガスを
内部空間3に供給するガス供給装置5とを備えている。
【0016】被洗浄物としての真空容器2の内部空間3
にウエハやガラス基板などを収納してこれらを真空状態
で保管又は搬送している。真空容器2は、容器本体6
と、容器本体6に着脱可能に取付けられて容器本体6と
ともに内部に内部空間3を形成する蓋材7とを備えてお
り、内部空間3は密封構造になっている。
【0017】紫外線ランプ4は、内部空間3の内表面8
に紫外線を照射して、内表面8に付着した有機物などの
付着物を取除くためのものである。紫外線ランプ4は、
低圧水銀ランプ、高圧水銀ランプ、キセノンランプ及び
重水素ランプ等紫外線を発するものであればどのような
ランプであってもよいが、好ましくは低圧水銀ランプが
よく、又ランプを構成するガラスには合成石英ガラスを
用いるのがよい。この低圧水銀ランプは有機物の灰化
(アッシング)に必要なオゾン(O3 )を、酸素
(O2 )→オゾン(O3 )の変化によって作り出せる1
84.9nmの波長の紫外線を発することができる性質
を有しており、また合成石英ガラスは184.9nmの
紫外線を吸収しないので好ましい。
【0018】真空容器2の内部空間3を形成する壁面9
には、紫外線ランプ4を着脱可能に装着するためのハウ
ジング(ソケット)10が予め取付けられている。ハウ
ジング10に装着された各紫外線ランプ4は、内部空間
3の密封状態を保持するように容器本体6に取付けられ
たハウメチックシール11を介して外部電源12と電気
的に接続されている。なお、被洗浄物が真空容器以外の
場合には、内部空間3を密封状態にする必要がないの
で、ハウメチックシール11を使用しなくてもよい。
又、紫外線ランプ4をソケット10に取付けずに、内部
空間3に挿入するようにしてもよい。
【0019】蓋材7には、洗浄用ガスを内部空間3に流
すための供給口14が着脱可能に設けられている。洗浄
用ガスは、ガス供給装置5から供給口14、供給バルブ
13を通り蓋材7内を通って内部空間3に流れ込む。洗
浄用ガスを発生させるガス供給装置5としては、オゾン
を発生させるオゾナイザが好ましい。アッシング速度を
高めるためにはオゾン濃度が高いほうが効果的であるの
で、オゾナイザとしては、数十乃至十万ppmのオゾン
を作り出せる能力のものであればよい。オゾナイザで作
り出されたオゾンは、オゾナイザと内部空間3とを接続
する連通管15を介して供給口14と供給バルブ13と
を通って内部空間3に供給される。なお、オゾナイザの
代わりに、空気又は酸素を供給するガス供給装置5を用
いた場合には、紫外線ランプ4から発せられる184.
9nmの紫外線が酸素又は空気中の酸素をオゾンに変化
させるので、この場合にも有機物の洗浄を行うことがで
きる。
【0020】洗浄装置1は、洗浄により内部空間3で発
生したガスを処理するための除害装置16と、除害装置
16に接続された排気ポンプ17とを備えている。蓋材
7には、排気口18が着脱可能に取付けられている。排
気口18は蓋材7に取付けられた排気バルブ19に接続
されており、蓋材7、排気バルブ19、除害装置16及
び排気ポンプ17は連通管20により接続されている。
したがって、排気ポンプ17を運転すれば真空容器2の
内部空間3にあるガスを排気することができる。又、洗
浄により内部空間3で発生して残留するオゾン、一酸化
炭素、炭酸ガス及び水分などは、連通管20、排気バル
ブ19、排気口18及び連通管20を通って除害装置1
6に排出されてここで無害化処理されたのち排気ポンプ
17により外部に排出されるので、人体には悪影響を与
えない。
【0021】次に、図3により本発明の原理を説明す
る。図示するように、真空容器2の内表面8に有機物
(Clmn )31等の付着物が付着している場合に、
紫外線ランプ4から発せられた紫外線Rが有機物31に
照射される。内部空間3の雰囲気中に、ガス供給装置5
のオゾナイザから供給されたオゾン(又はガス供給装置
5から供給された酸素又は空気中の酸素に184.9n
mの波長の紫外線を照射して生成されたオゾン)がある
と、253.7nmの波長の紫外線がオゾンを分解して
発生基の酸素イオン(O* )を発生させる。酸素イオン
は、有機物31を一酸化炭素(CO)、二酸化炭素(C
2)及び水分(H2O)に分解してアッシングする。こ
れにより、有機物31は完全に分解されて内表面8は清
浄な状態に洗浄される。
【0022】次に、この原理を用いた洗浄装置1により
真空容器2を洗浄する場合について説明する。まず、図
1及び図2に示すように洗浄装置1の各構成部材を真空
容器2に取付ける。外部電源12をオンして各紫外線ラ
ンプ4を点灯させる。次いで供給バルブ13を開けてガ
ス供給装置5からオゾン(空気又は酸素であってもよ
い)を内部空間3に供給する。この時のガス流量は、1
0l/min程度で十分である。又、紫外線ランプ4を
点灯して紫外線を内表面8に照射する時間は、内表面8
の汚染の程度にもよるが10分間程度で十分である。こ
のようにして洗浄用ガスの下で紫外線を内表面8に照射
することにより、内表面8に付着した有機物が完全に分
解されて内表面8は清浄な状態になる。その後、排気ポ
ンプ17をオンして内部空間3のガスを無害化して外部
に排出する。
【0023】こうして洗浄が終了すれば、ガス供給装置
5、除害装置16及び排気ポンプ17を取外したのち、
蓋材7を取って内部空間3の開口部を開放させた状態で
各紫外線ランプ4をハウジング10から取外す。これに
より、真空容器2を再び使用することができる。
【0024】図4は本発明の第2実施例にかかる付着物
の洗浄装置を示す正面断面図であり、洗浄時に、紫外線
ランプを有する板部材を被洗浄物の開口部に取付けるタ
イプを示している。図5は図4の洗浄装置のV−V線断
面図である。
【0025】本実施例の付着物の洗浄装置40において
は、真空容器2aの内部空間3の開口部を覆う着脱可能
な板部材41を準備し、板部材41に複数の紫外線ラン
プ4a及び洗浄用ガスの供給口15、更に排気の接続口
を取付けている。すなわち、紫外線ランプ4aを有する
板部材41は洗浄時のみ使用される専用の部品である。
なお、被洗浄物としては真空容器2aのほか配管部品で
もよく、また板部材41の形状は平面状の平板でも曲面
を有する曲板でもよく、その他矩形でも円形でもよく、
被洗浄物の形状に合わせて製作すればよい。なお、第1
実施例と同一又は相当の構成部材には同一の符号を付し
てその説明を省略する。
【0026】本実施例の洗浄装置40では、紫外線ラン
プ4a及び洗浄用ガスの供給口15を洗浄専用の板部材
41に取付けたので、板部材41と紫外線ランプ4aと
を一緒に容器本体6に対して取付け取外しができること
となり、洗浄作業が極めて簡単になる。
【0027】表1は、図4及び図5に示すタイプの洗浄
装置40を用いて真空容器2aの内表面8を洗浄した時
の実験結果を示している。
【表1】洗浄評価として超純水を対象表面に滴下してそ
の接触角度から汚染の度合いを知る接触角度法を用い
た。接触角度法によれば、接触角度が大きいほど有機物
が付着し、接触角度が小さくなればなるほど有機物の付
着は少ないことを示している。洗浄実験によれば、洗浄
前には内表面8の接触角度が65°程度あり汚れた状態
であったが、洗浄後には4°程度に著しく低下しており
極めて清浄な状態になった。
【0028】以上述べたように、本発明によれば、簡単
な洗浄作業により完全に有機物を取除くことができるこ
ととなり、有機洗浄や超純水洗浄による汚染有機物除去
のように洗浄後のベーキングも必要ない。
【0029】なお、前記各実施例では、ガス供給装置5
としてオゾナイザを用いたが分子レベルの有機汚染を引
き起こす有機物は内表面8に極薄く付着した有機物であ
り、多量のオゾンを必要としないので、必ずしもオゾナ
イザを用いる必要性はない。なお、各図中同一符号は同
一又は相当部分を示す。
【0030】
【発明の効果】本発明は上述のように構成したので、被
洗浄物に形成された内部空間の内表面に付着した付着物
を分子レベルで効果的に取除くことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1乃至図5は本発明の一実施例を示す図で、
図1は本発明の第1実施例にかかる付着物の洗浄装置を
示す正面断面図であり、洗浄時に紫外線ランプを取付け
るタイプを示している。
【図2】図1の洗浄装置のII−II線断面図である。
【図3】本発明の原理を示す説明図である。
【図4】本発明の第2実施例にかかる付着物の洗浄装置
を示す正面断面図であり、洗浄時に、紫外線ランプを有
する板部材を被洗浄物の開口部に取付けるタイプを示し
ている。
【図5】図4の洗浄装置のV−V線断面図である。
【符号の説明】
1,40 洗浄装置 2 真空容器(被洗浄物) 3 内部空間 4,4a 紫外線ランプ 5 ガス供給装置 8 内表面 14 供給口 31 有機物(付着物) 41 板部材 R 紫外線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉岡 毅 神奈川県藤沢市本藤沢4丁目2番1号 株 式会社荏原総合研究所内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 着脱もしくは挿入可能な紫外線ランプを
    被洗浄物の内部空間に配設し、着脱可能な供給口を介し
    て供給される空気、酸素及びオゾンのうち少なくともい
    ずれかを含む洗浄用ガスの下で、前記紫外線ランプから
    発せられる紫外線を前記内部空間の内表面に照射するこ
    とにより、この内表面に付着した付着物を取除くことを
    特徴とする付着物の洗浄方法。
  2. 【請求項2】 前記内部空間の開口部を覆う着脱可能な
    板部材に前記紫外線ランプ及び前記洗浄用ガスの供給口
    を取付けたことを特徴とする請求項1記載の付着物の洗
    浄方法。
  3. 【請求項3】 被洗浄物の内部空間に着脱もしくは挿入
    可能に配設され、前記内部空間の内表面に紫外線を照射
    して、この内表面に付着した付着物を取除く紫外線ラン
    プと、 前記被洗浄物に着脱可能に取付けられ、空気、酸素及び
    オゾンのうち少なくともいずれかを含む洗浄用ガスを前
    記内部空間に供給するガス供給装置とを備えたことを特
    徴とする付着物の洗浄装置。
  4. 【請求項4】 前記内部空間の開口部を覆う着脱可能な
    板部材に前記紫外線ランプ及び前記洗浄用ガスの供給口
    を取付けたことを特徴とする請求項3記載の付着物の洗
    浄装置。
JP24196793A 1993-09-02 1993-09-02 付着物の洗浄方法及びその装置 Pending JPH0768162A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24196793A JPH0768162A (ja) 1993-09-02 1993-09-02 付着物の洗浄方法及びその装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24196793A JPH0768162A (ja) 1993-09-02 1993-09-02 付着物の洗浄方法及びその装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0768162A true JPH0768162A (ja) 1995-03-14

Family

ID=17082249

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24196793A Pending JPH0768162A (ja) 1993-09-02 1993-09-02 付着物の洗浄方法及びその装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0768162A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1190370A (ja) * 1997-09-22 1999-04-06 Iwasaki Electric Co Ltd 表面処理装置及びその処理方法
WO1999044760A1 (en) * 1998-03-03 1999-09-10 Applied Materials, Inc. In situ cleaning of the surface inside a vacuum processing chamber
WO2018042626A1 (ja) * 2016-09-02 2018-03-08 株式会社 荏原製作所 振動監視装置
CN113412166A (zh) * 2019-02-12 2021-09-17 应用材料公司 用于清洁真空系统的方法、用于真空处理基板的方法以及用于真空处理基板的设备

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1190370A (ja) * 1997-09-22 1999-04-06 Iwasaki Electric Co Ltd 表面処理装置及びその処理方法
WO1999044760A1 (en) * 1998-03-03 1999-09-10 Applied Materials, Inc. In situ cleaning of the surface inside a vacuum processing chamber
US6098637A (en) * 1998-03-03 2000-08-08 Applied Materials, Inc. In situ cleaning of the surface inside a vacuum processing chamber
WO2018042626A1 (ja) * 2016-09-02 2018-03-08 株式会社 荏原製作所 振動監視装置
CN113412166A (zh) * 2019-02-12 2021-09-17 应用材料公司 用于清洁真空系统的方法、用于真空处理基板的方法以及用于真空处理基板的设备
CN113412166B (zh) * 2019-02-12 2024-02-20 应用材料公司 用于清洁真空腔室的方法、用于真空处理基板的方法以及用于真空处理基板的设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW466558B (en) Method of removing contamination adhered to surfaces and apparatus used therefor
JP2770883B2 (ja) 基体処理用の濃縮流体光化学処理方法
TWI397443B (zh) Cleaning method of substrate and cleaning method of substrate
JP5083318B2 (ja) 基板洗浄装置および基板洗浄方法
JP2001015472A (ja) 紫外光照射方法及び装置
JP4088810B2 (ja) 基板洗浄装置及び基板洗浄方法
JP2005158796A (ja) 処理装置
JPH07114191B2 (ja) 洗浄方法
JP2000260396A (ja) エキシマランプ、エキシマ照射装置および有機化合物の分解方法
JP2000012500A (ja) 基板処理方法及びその装置
JP4640421B2 (ja) 紫外線照射装置
JPH0768162A (ja) 付着物の洗浄方法及びその装置
JP4045682B2 (ja) 紫外線照射による基板処理装置
JP3327492B2 (ja) 基体表面からの気相ゴミ除去装置及び除去方法並びにプロセス装置及びプロセスライン
JP3457059B2 (ja) 容器の洗浄方法及び洗浄装置
JP2003344601A (ja) 光学素子の洗浄装置及び光学素子の洗浄方法、および光学素子の製造方法
JPS5994823A (ja) 紫外線洗浄装置
JP2005317555A (ja) エキシマランプ及びエキシマ照射装置
JPH0885861A (ja) 被処理物体表面または当該表面上の物質を減圧下で酸化する方法
JP2006116542A (ja) 基板処理方法及びその装置
JP3460855B2 (ja) 洗浄方法及び洗浄装置
JPH06343938A (ja) 付着物の洗浄方法及びその装置
KR101672735B1 (ko) 포토마스크 블랭크용 투명 기판의 자외선 세정장치 및 세정 방법
JP3359696B2 (ja) チャンバの洗浄装置
JP2003119054A (ja) 光学部品の洗浄方法及び光学部品の洗浄装置