JPS59205135A - 撮像管タ−ゲツト - Google Patents

撮像管タ−ゲツト

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Publication number
JPS59205135A
JPS59205135A JP7901183A JP7901183A JPS59205135A JP S59205135 A JPS59205135 A JP S59205135A JP 7901183 A JP7901183 A JP 7901183A JP 7901183 A JP7901183 A JP 7901183A JP S59205135 A JPS59205135 A JP S59205135A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
concentration
lif
sensitivity
increased
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7901183A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaru Yamazaki
勝 山崎
Yasuo Nakamura
安男 中村
Michihisa Yano
矢野 三千久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP7901183A priority Critical patent/JPS59205135A/ja
Publication of JPS59205135A publication Critical patent/JPS59205135A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/02Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
    • H01J29/10Screens on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted or stored
    • H01J29/36Photoelectric screens; Charge-storage screens
    • H01J29/39Charge-storage screens
    • H01J29/45Charge-storage screens exhibiting internal electric effects caused by electromagnetic radiation, e.g. photoconductive screen, photodielectric screen, photovoltaic screen
    • H01J29/451Charge-storage screens exhibiting internal electric effects caused by electromagnetic radiation, e.g. photoconductive screen, photodielectric screen, photovoltaic screen with photosensitive junctions
    • H01J29/456Charge-storage screens exhibiting internal electric effects caused by electromagnetic radiation, e.g. photoconductive screen, photodielectric screen, photovoltaic screen with photosensitive junctions exhibiting no discontinuities, e.g. consisting of uniform layers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は撮像管ターケ゛ットに関する。
背景技術とその問題点 従来、光導電膜として、Se(セレン)、As(砒素)
、Te(テルル)を主成分とする非晶質蒸着膜の使用さ
れた撮像管ターデッドが提案されている。
第1図はこれを示すもので、(1)はガラスフェースプ
レート、(2)は透明導電膜、(3)は上述したSe 
* A31Teを主成分とする光導電膜、(4)は5b
2S3(三硫化アンチモン)よ)なるビームランディン
グ補助膜としての導電膜である。また(5)は入射光、
(6)は走査電子ビームである。
第2図は光導電膜(3)におけるSe + As + 
Teの濃度分布例を示すものである。
このような撮像管ターゲットは高感度で暗電流の少ない
ことに特徴を有するものであるが、緑から赤の感度が比
較的低く、例えば単管カラー撮像管のターデッドとして
はさらに高感度化が要望されている。即ち、単管カラー
撮像管としては、白色光に対して感度をあげるだけでは
不充分で、宵から赤までの可視光に対して内蔵色フィル
レターの透過特性にあったバランスのよい感度特性が必
要とされる。
発明の目的 本発明は斯る点に鑑み、他に不都合を生じさせることな
く一層高感度となる撮像管ターケ゛ットを提供するもの
である。
発明の概要 本発明は上記目的を達成するため、光導電膜のTe層の
濃度が高くされると共にその膜厚が厚くされ、さらに透
明導電膜側から、Te層の直前所定領域を除きTe層の
504以上の領域までLiF(フッ化リチウム)が所定
量添加されるものである。
本発明はこのように構成され、Te層の濃度が高くされ
ると共にその膜層が厚くされるので高感度となる。捷た
、LiFが添加されるので、TeNの濃度が高くされる
と共にその膜厚が厚くされても暗電流が少なく、低残像
となると共に焼付きを生じ難い。捷だ、LiFがTe層
の504以上の領域まで添加されるので、信号電流の変
化量が改善される。さらに、Te層の直前所定領域には
LjFが添加されないので、LiFの添加によってTe
の熱拡散が助長され感度の低下を招くことがない。
実施例 以下第3図以降を参照しながら本発明の一実施例につい
て説明しよう。
上述炉た第1図及び第2図に示す撮像管ターグットにお
いて、光導電膜(3)のTe層の濃度を高くするか、あ
るいはその膜厚を厚くすることによシ感度を上げること
ができる。
例えば、第3図Aに示すようにTe層の濃度が31重量
条で、その膜厚が6001であるとき(従来)に対し、
同図Bに示すようにTe層の濃度が38重量%で、その
膜厚が600 Xであるとき、白色光の感度は略1.9
倍、赤色光の感度は略2倍、緑色光の感度は略1.7倍
、色フィルタ込みの感度は略1.4倍となる。また、同
図Cに示すようにTe層の濃度が34重量%で、その膜
厚が900iであるとき、白色光の感度は略1.6倍、
赤色光の感度は略1.9倍、緑色光の感度は略1.9倍
、色フィルタ込みの感度は略1,5倍となる。さらに、
同図りに示すようにTe層の濃度が36重量%で、その
膜厚が750Xであるとき、白色光の感度は略1.8倍
、赤色光の感度は略1.8倍、緑色光の感度は略1.5
倍、色フィルタ込みの感度は略1,5倍となる。
また、第4図はTe層の膜厚を600 Xとしたときの
、Te層の濃度と感度(信号電流〕との関係を示したも
のであシ、Te層の濃度が高い程、感度が高くなること
がわかる。また、第5図はTe層のm度を38重量%と
したときの、Te層の膜厚と感度(信号電流)との関係
を示したものであり、Te層の膜厚が厚い程感度が高く
なることがわかる。
このように、Te層の濃度を高くするか、あるいはその
膜厚を厚くすれば感度は高くなるが、感度を高くするた
めにむやみにTe層の濃度を高く、あるいはその膜厚を
厚くすると、透明導電膜(2)と光導電膜(3)との間
の阻止型接触が弱くな9、暗電流が増大し、残像が増大
すると共に焼付を生じ易くする。
即ち、第6図はTe層の膜厚を600XとしたときのT
e層の濃度と暗電流との関係を示したものであり、Te
層の濃度が高い穆暗電流が増加することがわかる。また
、第7図はTe層の濃度を38重量%としたときのTe
層の膜厚と暗電流との関係を示したものであり、Te層
の膜厚が厚い程暗電流が増加することがわかる。
このように暗電流が増加するのは上述したように透明導
電膜(2)と光導電膜(3)との阻止型接触が弱くなる
ためであり、これを改善するため、光導電膜(3)にL
IF(フッ化リチウム)を添加することが知られている
(第8図に図示)。第9図はTe1iの濃度が38重量
%で、その膜厚が600Xであるときの、暗電流動作特
性を示すものである。この特性は、一定光量、例えば信
号電流が150 nAとなる光量の下で動作させたとき
のものである。
LIFを添加したもの(同図実線aで示す)においては
、Llli”を添加しないもの(同図実線すて示す)に
比べて、初期暗電流(時間0のときの暗電流)が減シ、
しかも長時間動作させても暗電流が少ないことがわかる
このように、LiFを添加したものにおいては、阻止型
接触が改善される。
ところで、単に阻止型接触を改善するためだけならば、
透明導電膜(2)側の薄い領域(501〜150X)に
添加するだけでよい。しかし、上述したようにTe層の
濃度を高くしたシ、その膜厚を厚くすると、信号電流(
感度〕が時間と共に犬きく変るようになる。この点を改
善するにはLiFの添加をTe層の領域まで延ばす必要
がある。
第10図は動作時間に対する信号電流変化量の関係を示
すものである。同図において実線gは、Te層の濃度が
31重量%、その膜厚が600Xで、Te層に対しての
LiFの重なυ量t(第8図参照)がOXの」場合であ
り、これに対して同図実線jは、Te層の濃度が36重
量%、その膜厚が12001で、重なりitがOXの場
合である。この実線g及びjからも明らかなように、T
e層の濃度を高くしたり、その膜厚を厚くすると、信号
電流変化量が大きくなることがわかる。
壕だ第10図において、実線り及びlは、Te層の濃度
が31重量%、その膜厚が600Xで、重なり量tが夫
々300X及び500Xの場合である。また同図におい
て、実線には、Te層の濃度が36重量%、その膜厚が
1200 Xで、重な!ll量tが600Xの場合であ
る。
これらからも明らかなように、重なp量tをTe層の例
えば50チ以上としたときには、信号変化量が確かに改
善されることがわかる。
ところで、As及びTeを含むSe系の光導電膜を使用
した撮像管ターゲットにおいては、高温になるとTeの
熱拡散が顕著となり、感度の低下が起こる。これを改善
するものとして、第11図に示すようにTe層の直前の
Asの濃度を高くすることが提案されている。
一方、上述したようにLiFを添加することは、Toの
熱拡散をし易くする。例えば、60℃で略100時間保
存したときの赤感度化は、初期状態に対し、LIFを添
加しない場合には0.8であり、LiFを添加し、た場
合には0.5となる。従って例えば、上述したようにT
e Niの直前のAsの濃度を高くするものに、LiF
を添加すると熱拡散防止の効果が薄れることとなる。
第12図は以上の点が考慮された本発明の一実施例にお
ける光導電膜(3′)の濃度分布例を示すものである。
同図においてTe層の濃度は高く、例えば34重量%〜
50重量%とされると共に、その膜厚は厚く、例えば6
00 X〜2000 Xとされる。また、この光導電膜
(3′)の透明導電膜(2)側からTe層の50 %の
領域まで、LiFが0.01重景チ〜1重量%の濃度で
添加される。ただしこの場合、Te層の直前の領域d1
例えば50 X〜150Xの領域には添加されない。
また、Te層の直前の領域のAl1の濃度が高くされる
光導電膜(3′)以外の部分は従来同様に構成される。
このように本例の撮像管ターゲットによれば、光導電膜
(3′)のTe層の濃度は高く、シかもその膜厚は厚く
されるので、感度は高くなる。また、LIFが添加され
るので、透明導電膜(2)と光導電膜(3′)との阻止
型接触が改善され、暗電流が少なくなり、残像が減少す
ると共に焼付きが生じ難くなる。また、LiFがTe層
の50%以上の領域まで添加されるので、16号電流の
変化量が改善される。また、Te層の直前領域dを除き
LiFを添加するものであるから、Teの熱拡散を助長
することなく、感度の低下を招くことがない。また、T
e層の面前のAsの濃度全土けるので、TeO熱拡散防
止がされる。
尚、上述実施例においては、光導電膜(3′)のT。
層の直前のAsの濃度を上げたものであるが、これは必
ずしも高くする必要はない。
発明の効果 以上述べた本発明によれば、光導電膜のTe層の濃度が
高くされると共に、その膜厚が厚くされるので高感度と
なる。また、LIFが添加されるので、Te層の濃度が
高くされると共にその膜厚が厚くされても暗電流が少な
く、低残像となると共に焼付を生じ難い。また、LiF
がTe層の50係以上の領域まで添加されるので、Te
層の濃度が高くされると共にその膜厚が厚くされても、
信号電量の変化量が改善され、少なくされる。さらに、
Te層の面前所定領域にはLiFが添加されないので、
LiF’の添加によってToの熱拡散を助長し感度の低
下を招くことがない。
【図面の簡単な説明】
第1図は撮像管ターゲットの一例を示す要部の断面図、
第2図はその光導電膜の各成分の濃度分布を示す図、第
3図〜第11図は夫々本発明の説明のための図、第12
図は本発明の一実施例における光導電膜の各成分の濃度
分布を示す図である。 (2)は透明導電膜、(3′)は光導電膜、(4)は導
電膜である。 第1図 第2図 旦  膜厚 第6図 1層の濃度C1fクリ 第7図 Te層のR1厚(,4) 第9図 動作鍔間C特開〕 第10図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. As及びTeを含むSe系光導電膜を有し、上記Te層
    の濃度が34重景壬〜50重量係とされると共にその膜
    厚が600χ〜2000 Xとされ、上記光導電膜の透
    明導電膜側から、上記Te層の直前50X〜150xの
    領域を除き上記Te層の50係以上の領域まで、LiF
    が0−01重量憾〜1重量係添加されることを特徴とす
    る撮像管ターデッド。
JP7901183A 1983-05-06 1983-05-06 撮像管タ−ゲツト Pending JPS59205135A (ja)

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JP7901183A JPS59205135A (ja) 1983-05-06 1983-05-06 撮像管タ−ゲツト

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JP7901183A JPS59205135A (ja) 1983-05-06 1983-05-06 撮像管タ−ゲツト

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JPS59205135A true JPS59205135A (ja) 1984-11-20

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ID=13678004

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JP7901183A Pending JPS59205135A (ja) 1983-05-06 1983-05-06 撮像管タ−ゲツト

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JP (1) JPS59205135A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6145543A (ja) * 1984-08-10 1986-03-05 Hitachi Ltd 光導電形撮像管
JPS62223951A (ja) * 1986-03-26 1987-10-01 Hitachi Ltd 光導電膜

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6145543A (ja) * 1984-08-10 1986-03-05 Hitachi Ltd 光導電形撮像管
JPS62223951A (ja) * 1986-03-26 1987-10-01 Hitachi Ltd 光導電膜

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