JPS59204709A - 変位量検出器の製造方法 - Google Patents

変位量検出器の製造方法

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JPS59204709A
JPS59204709A JP8000783A JP8000783A JPS59204709A JP S59204709 A JPS59204709 A JP S59204709A JP 8000783 A JP8000783 A JP 8000783A JP 8000783 A JP8000783 A JP 8000783A JP S59204709 A JPS59204709 A JP S59204709A
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中村 繁和
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は磁化パターンを検出する磁気センサ、特に磁気
抵抗効果素子を具える磁気センサを具える変位量検出装
置およびその製造方法に関するものである。
このような変位量検出装置としては、例えば磁気エンコ
ーダがあり、2個の磁気センサから互いに90°の位相
差を有する出力信号を発生させている。これらの90°
の位相差を有する信号を適切に処理することにより変位
方向および変位量を検出することができる。このように
900の位相差を有する2つの信号を取出すために、従
来は第1図に示すように変位方向Aに延在する記録媒体
1の上方に第1および第2の磁気センサ2Aおよび2B
を変位方向と直交する方向に並べて配置し、記録媒体1
には変位方向に位相をずらして第1および第2の磁化パ
ターントラックIAおよびIBを形成している。しかし
、このように位相をずらして磁化パターントラックIA
 、IBを記録する方法は、陶磁化パターントラック間
でのクロストークが生じ、信号のS/Nが低下すると共
に磁化パターントラックを記録するときに、両トラック
を正確に半ピツチずつずらして記録することが困難であ
り、所望の位相差を有する信号が得られず、変位量の検
出精度が低いという欠点がある。
このような欠点を解決するために、第2図に示すように
、単一の磁化パターントラックを記録した磁気記録媒体
1′の上方に第1および第2の磁気センサ2Aおよび2
Bを、変位方向Aに磁化パターンのピッチの半分だけ相
互にずらして配置することが考えられる。しかしながら
、このような方法では2つの磁気センサ2Aおよび2B
を変位方向に所定の距離だけ正確に離間させることが非
常に困難となる。特に変位量検出分解能を上げるために
磁化パターンのピッチを狭くすると、磁気センサ2Aお
よび2Bを所定の距離だけ離間させるのが益々困難とな
る。したがって、この方法でも変位量を正確に検出する
ことができないという欠点がある。
本発明の目的は、上述した従来の欠点を除去し、記録媒
体には単一の磁化パターントラックを記録するだけで足
り、しかも磁気センサを変位方向にずらせる必要がなく
、シたがって所望の位相差を有する信号を正確に得るこ
とができるような変位量検出器を提供しようとするもの
である。
本発明の変位量検出器は、少なく共2組の磁気センサを
共通の基板上に並べて装着し、この共通基板と磁化パタ
ーンとを、変位方向と直交する方向において相対的に傾
斜させて配置し、所定の位相差を有する少なく共2つの
信号を発生させるよう構成したことを特徴とするもので
ある。
本発明はさらに、このような変位量検出器の製造方法に
も関するものであり、磁化パターンと共通基板とを容易
かつ正確に所定の角度だけ傾斜させることができるよう
にした変位量検出器の製造方法を提供しようとするもの
である。
本発明は、少なく共2組の磁気センサを並べて装着した
共通基板と磁化パターンとを、変位方向と直交する方向
において相対的に傾斜させて配置した変位量検出器を製
造するに当たり、少なく共2組の磁気センサを装着した
共通基板を、磁化パターンを記録すべき磁気記録媒体に
対して固定的に取付け、変位方向と直交する方向に対し
て回動自在に配置した記録ヘッドによって前記磁気記録
媒体に磁化パターンを記録し、この記録した磁化パター
ンに応答して磁気センサから出力される少なく共2つの
信号が所定の位相差を有するように前記記録ヘッドを回
動させることを特徴とするものである。
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する0第8図
は本発明の変位量検出器の基本的構成を示す線図である
。本発明においては、磁気記録媒体11には単一の磁化
パターンを記録する。また、第1および第2の磁気セン
サ12Aおよび12Bを共通の基板18上に並べて装着
する。磁気記録媒体11と磁気センサ12A、12Bと
の相対変位方向を矢印Aで示すように定め、この変位方
向Aと直交する方向において、磁化パターンと共通基板
18とを相対的に傾斜させる。第、8図番こおいては、
磁化パターンは変位方向と直交する方向に形成されてい
るので、共通基板18が変位方向と直交する方向に対し
て角度θだけ傾斜させである。
このように、共通基板18を磁化パターンの方向に対し
て傾斜させることにより、2つの磁気センサ12Aおよ
び12Bからは、上記角度θによって決まる位相差を有
する信号が得ら′れることになる。次に傾斜角度θと位
相差との関係について説明する。今、記録媒体ll上に
記録した磁化パターンのピッチをPとし、磁気センサ1
2Aおよび12Bはそれぞれ長さlを有しており、これ
らが基板18上に互いに隣接して並置されているとする
。また、傾斜角度θのときに2つの信号の間には第4図
に示すように位相差βが生ずるものとすると、 となり、したがって となる。例えば、今記録媒体11として直径が20tn
vnのドラムを用い、その周囲に1000個の・パルス
を記録し、長さ2.8朋の磁気センサ12Aおよび12
Bを基板18上に並置し、90°の位相差βを有する2
つの信号を発生させる場合には、記録した磁化パターン
のピッチPは20×π/1000 =0.068mmと
なるので、となる。すなわち、基板18と磁化パターン
とを、変位方向と直交する方向において、0.82°の
角度だけ傾けることにより、磁気センサ12Aおよび1
2Bからは互いに90°の位相差を有する2つの信号が
得られることになる0 第5図は磁化パターンと磁気センサとを傾斜させること
による出力振幅の変化を示すグラフであり、横軸には2
つの信号間の位相差βおよびそれに対応する傾斜角θを
プロットし、縦軸には傾斜角θ=0のときの出力に対す
る相対出力■(β)/■(β=0)をプロットしである
。上述した例のように、傾斜角θを0.82°として位
相差β=900の信号を得るときには、相対出力は90
%以上となり、十分大きな出力が得られることがわかる
このように本発明の変位量検出器においては、単一の磁
化パターントラックを有する磁気記録媒体を用い、2つ
の磁気センサを装着した共通基板を磁化パターンに対し
て角度θだけ傾けることによって所望の位相差βを有す
る2つの信号が得られることになる。
次に、本発明の変位量検出器に用いる磁気センサについ
て詳細に説明する。
第6図Aは本発明の磁気センサの一例の構成を示す線図
的平面図であり、第6図Bは線図的斜視図である。第6
図AおよびBでは図面を明瞭とするために上側の絶縁層
は省いであると共に第6図Aにおいては磁気抵抗膜には
斜線を付けて示した。
本例では4個の磁気抵抗素子MRI〜MR4を具えるも
のであり、素子MRIとMR2およびMR8とMR4は
それぞれ同じ磁気抵抗膜をパターニングして形成されて
おり、素子MRIとMR8おJ:びMR2とMR4は上
下に積層されている。これらの素子はシリコン基板Sの
上に形成されており、素子MRI、MR8とMR2、M
R4との間には絶縁膜INSが介挿されている。4つの
磁気抵抗素子MRI〜MR4は第6図Cに示すようにブ
リッジ回路を構成するように接続されているOすなわち
、下側の素子MHIとMR2の一端は接点C1およびC
2で導体L1に接続され、この導体は端子T1に接続さ
れている。上側の素子MR8とMR4の一端は接点C8
およびC4で導体L2に接続され、この導体は端子T2
に接続されている。下側の素子MHIの他端は接点C5
および導体L8を経て端子T8に接続され、上側の素子
MR8の他端は接点C6および導体L4を経て端子T4
に接続され、下側の素子MR2の他端は接点C7および
導体L5を経て端子T5に接続され、上側の素子MR4
の他端は接点C8および導体L6を経て端子T6に接続
されている。第6図Aにおいては、下側の素子MRIお
よびMR2に対する接点は2重枠で示しである0第6図
Cに示すように、端子T1およびT2はブリッジ回路の
出力端子であり、差動増幅器DAの差動入力端子Gこ・
接続され、端子T3とT4は電源Eの正端子に共通に接
続され、端子T5とT6は負端子に共通に接続される。
したがって端子T8とT4およびT5とT6はそれぞれ
1個の端子とすることもできるが、製造工程途中で磁気
抵抗素子の短絡試験などを行なうためには、上述したよ
うに別個に端子を設けておくのが好適である。このよう
な構成においては、バイアス効果による相互バイアスは
第6図Cにおいて素子MR2とMB8には紙面の下から
上に向うバイアス磁界が印加され、素子MHIとMB2
には紙面の上から下へ向うバイアス磁界が印加されるこ
とになり、出力信号が得られる結合となる。したがって
差動増幅器DAの出力端子からは磁気検出出力がノイズ
に影響されずに高速度で得られることになる0また、基
板Sとしてシリコン基板を用いているが、シリコンはガ
ラスに比べ10倍以上の熱伝導率を有しているので放熱
作用が高く、磁気抵抗素子で発生されるジュール熱を有
効に放散させることができる口したがって大きな駆動電
流を流すことができるので、検出感度が非常に高くなる
利点がある。また、シリコン基板は半導体装置の製造分
野で良質のものが容易に得られると云う利点もある。
次に本例の磁気センサにおける不平衡電圧を考察してみ
る。今、第1および第2の素子MRIおよびMB2を構
成する第1の磁気抵抗膜の温度係数をもった比抵抗をρ
、(T)、膜厚をち□とし、第8および第4の素子MR
8およびMB2を構成する第2の磁気抵抗膜の比抵抗を
ρ2(T)、膜厚をt、とし、第1および第8の素子M
HIおよびMB8のパターン形状係数(すなわち長さ7
幅)をに工、第2および第4の素子MR2およびMB2
のパターン形状係数をに2とすると、第1〜第4の磁気
抵抗素子MRI〜MR4の抵抗値R工〜R4は次のよう
になる。
Ro−ρ、(T)・k工/10 R,=ρ、(T)・k 2 / t tR=ρ (T)
・kよ/12 2 R,=ρ、(T)・k 、 / t、 2したがって被
検出磁界がない場合の不平衡電圧ΔVは電源Eの電圧を
vsとすると、 Δv=v1− v。
となる。すなわち、ρ□(T)←ρ2(T) p t1
←t2あるいはに1→に2であっても不平衡電圧Δ■は
常に零となり、オフセットや温度ドリフトもなく、正確
な磁気検出を行なうことができる。
次に上述した磁気センサを製造する方法について説明す
る。第7図に示すように、シリコン基板21の上に厚さ
500人のTa 、05より成る第1絶縁膜22、厚さ
800人の81チNi −19チ・Feパーマロイより
成る第1磁気抵抗膜28、厚さ1500人の8102よ
り成る第2絶縁膜24、厚さ500人のTa2O,より
成る第8絶縁膜25、厚さ800人のNiFeパーマロ
イより成る第2磁気抵抗膜26および厚さ1500Aの
S10.より成る第4絶縁膜27の6層を順次に蒸着す
る0この蒸着はシリコン基板21を800°Cの湿度に
加熱して行なう。次Gこ、ポジタイプのフォトレジスト
膜を被着する0この蒸着中、基板21は例えば800℃
の温度に加熱しておくoフォトレジスト膜としては、例
えばドライエツチング用のAZ−1850を用いること
ができる0 次に、第8図に示すように、形成すべき磁気抵抗素子の
パターンに対応する所望の、<ターンを有するフォトマ
スクM1を用いて光を選択的に照射し、フォトマスクM
1の透明部分Mlaを透過した光が当ったフォトレジス
ト膜の非硬化部分を除去する0本例ではフォトマスクM
1により形成される磁気抵抗素子の長さLを約1 mm
とし、幅Wを50μとする0このバターニングはT a
 20 r、およびSiO□より成る絶縁膜を除去する
OF、ガスと、F、eNiより成る磁気抵抗膜を除去す
るaci、ガスと、このOOl、ガスの作用を補助する
0、ガスとを含むガスを用いるドライエツチングにより
行なう。このようにして6層全部を一回のエツチング処
理により除去するので工程が簡単になると共に上下に積
層される磁気抵抗素子の寸法形状を完全に一致させるこ
とができ、特性の等しいものが容易に得られる。また、
第1および第2の磁気抵抗素子は第1の抵抗膜から形成
し第8および第4の磁気抵抗素子は第2の磁気抵抗膜か
ら形成するのでこれらの膜厚や特性も揃ったものとなる
次に第9図に示すように、新たなネガタイプのフォトレ
ジスト膜28を被着した後、第10図に示すように下側
の第1磁気抵抗膜23に対する接点を形成すべき位置に
不透明部M2aを形成したフォトマスクM2によりフォ
トレジスト膜28の対応する位置に孔28aをあける。
次に、第4絶縁膜27、第2磁気抵抗膜26および第8
絶縁膜25に対してエツチング処理を施し、第11図に
示すように第2絶縁膜24まで達するスルーホール80
を形成する0この場合にも、第1図に示した工程で用い
たOF、ガス、aal、ガス、02ガスを用いるドライ
エツチングを採用できる。この工程では第2絶縁膜24
の表面が露出するまで行なえばよく、この第2絶縁膜が
多少エツチングされてもよいので、エツチングの制御を
それほど厳密に行なう必要はない0また、このエツチン
グはウェットエツチングで行なうこともでき、この場合
には5102に対してはフッ酸系エッチャント、Ta2
05に対してはアルカリ系エッチャント、磁気抵抗膜を
構成するFeNiに対しては強酸混液エッチャントをそ
れぞれ用いることができる。
次に第12図に示すようにネガタイプのポリイミド系の
絶縁性フォトレジスト膜31を被着した後、第18図に
示すようなフォトマスクM8を用いて、フォトレジスト
膜81に孔81aおよび81bをあける0孔81aは上
述したスルーホール80の底部に形成されるものであり
、これと対応するフォトマスクM8の不透明部を符号M
8aで示す。また、他の不透明部M8bは上側の磁気抵
抗膜26に対する接点を形成するための孔81bに対応
している。また、フォトマスクM8には不透明部M8c
を形成するが、これは後にボンディングするためにこの
部分の絶縁性フォトレジスト膜31を除去するためのも
のであり、この部分に対応するフォトレジスト膜81の
孔は第12図ではボしていない。
次に、第14図に示すように7オトレジスト膜81にあ
けた孔81aおよびflllbを経てSiO2より成る
第2絶縁膜24と同じ< SiO2より成る第4絶縁膜
27を、SiO□を選択的に侵すがTa、05は侵さな
いエッチャント、例えばフッ酸系エッチャントであるI
F + 6NH,Fによりウェットエツチングして除去
し、それぞれ第1および第2磁気抵抗膜28および26
に達する孔24aおよび27aを形成する。このように
、Sin、を選択的に腐食除去するエッチャントを用い
て孔を形成するため、第1および第2の磁気抵抗膜28
および26がピンホールを介して短絡するのを有効に防
止することができる。
次に、第15図に示すよう(こ、フォトレジスト膜81
上に、2000人の厚さのMo膜および500OAのA
u膜を順次に蒸着して金属膜38を形成する。この間、
基板21は約250℃の温度に加熱する。
次に、ポジタイプのフォトレジスト膜を被着した後に、
第16図に示すフォトマスクM4を用いて金属膜83を
バターニングして第17図に示すような導体パターンを
形成する。
次に、第18図に示すように、ガラスエポキシより構成
した絶縁基板上に5μの厚さのNi層の上に1μの厚さ
のAu層を被着した後、所定のパターニングを行なった
共通基板34の金属部分85a上に、それぞれ上述した
ようにして形成した4個の磁気抵抗素子を有する2つの
磁気センサ86および87を並べて載せ、シリコン基板
21を金属部分85aにボンディングする。この金属部
分85aを大面積とすることにより、これを介しての放
熱作用が助長される効果が得られる。上述したように各
磁気センサ86および87はそれぞれ4個の磁気抵抗素
子を有しており、各磁気センサの導体の端子T1〜T6
およびT 1’〜T 6’はそれぞれ微細なワイヤ88
を介して共通基板34の導体部分85aおよび35b&
こ接続する0このワイヤボンディングを良好に行なうた
めに、導体端子T1〜T6、T 1’〜T 6’の下側
では、絶縁性フォトレジスト膜81は上述したように除
去しである。
これら2個の磁気センサ86および87に形成された8
個の磁気抵抗素子MRI〜MR4およびMRI’〜M 
R4’は第19図に示すように接続されるので、共通基
板84上の端子89aおよび39fは電源Eの正および
負端子(こそれぞれ接続され、端子89bおよび89c
は第1差動増幅器DAに接続され、端子39dおよび8
9eは第2差動増幅器D A’にそれぞれ接続される0
これら差動増幅器DAおよびD A’の出力は互いに所
定の位相差βを持ったものとなり、これらの出力は信号
処理回路SPCに供給され、ここで信号処理され、変位
の方向および変位量を表わす信号が出力されることにな
る。
上述したように本発明の変位量検出器(こおいては、2
個の磁気センサを並べて装着した共通基板と磁化パター
ンとを、変位方向と直交する方向において相対的に傾け
るが、この傾斜角度θは、例えば0.82°ときわめて
僅かである。実際にこのように小さな傾斜角度θを持つ
ように調整することは非常に困難であり、面倒な調整作
業を必要とすると共に精度の高い調整機構を1個1個の
変位量検出器に設けるとコスト高を招くことになる。
本発明はこのような欠点を除去し、共通基板と磁化パタ
ーンとを所望の角度だけ容易かつ迅速に傾斜させること
ができ、しかも各変位量検出器には高精度で高価な調整
機構を設ける必要がないようにした変位量検出器の製造
方法を提供するものである。以下、この製造方法につい
て説明する。
第20図は、磁気記録媒体として磁気ドラムを用い、そ
の回転方向および回転量を検出するようにした本発明の
変位量検出器の一実施例を示す平面図であり、第21図
は断面図である。磁気ドラム41はほぼ円筒状の保持体
42に軸受48によって回転自在に支承した軸44に固
着する。保持体42には、磁気センサを装着した共通基
板45を取付板4,6を介して取付ける。第20図およ
び第21図においては磁気センサは示していないが、第
21図において上下方向に並べて共通基板45に装着さ
れており、この共通基板45は取付板46に固着されて
おり、この取付板はねじにより保持体42に固着されて
いる。した〜がって共通基板45は保持体42、したが
って磁気ドラム41に対して固定的に取付けられている
。軸44はモータ47に連結され、このモータにはロー
タリエンコーダ48が連結されている。一方、磁気ドラ
ム41に磁化パターンを記録するために磁気ヘッド49
を設け、この磁気ヘッドをアーム5oを介して回転ステ
ージ51に連結し、磁気ヘッド49を線X−Xを中心と
して回動できるようにする。
ロータリエンコーダ48の出力をパルス発生器52に供
給して軸44、したがって回転ドラム41の回転に完全
に一対一に対応するパルスを発生させ、このパルスを磁
気ヘッド49に供給して磁化パターンを記録するように
する。ロータリエンコーダ48およびパルス発生器52
を適切に構成し、磁気ドラム41の円周面に1000個
のパルスを等間隔で記録できるようにする。
今、磁気ヘッド49のギャップが第22図Aに示すよう
に軸44と平行になっていると、磁気ドラム41の表面
には第22図Bに示すように変位方向Aに対して直交す
る方向に磁化パターンが記録されることになる。一方、
回転ステージ51を角度ψだけ回転させると、第23図
Aに示すように磁気ヘッド49のギャップは軸44に対
して角度ψだけ傾斜することになる。したがってこの場
合には第28図Bに示すように変位方向Aと直交する方
向に対して角度ψだけ傾いた磁化パターンが記録される
ことになる。したがって、第21図に示すように共通基
板45に装着した2つの磁気センサからの出力信号をモ
ニタ58に表示し、こ・れら2つの信号が所望の位相差
βとなるように回転ステージ51を操作しながら磁気ド
ラム41に磁化パターンを記録すれば、共通基板45と
磁化パターンとは変位方向と直交する方向において所望
の角度θだけ傾斜することになる。この場合、磁気ヘッ
ド49により以前に記録した磁化パターンの上に新たな
磁化パターンを重畳して記録してもよいが、第20図に
おいて鎖線で示すように消去ヘッドを設けたり、磁気ヘ
ッド49を消失ヘッドとして用いて以前に記録した磁化
パターンを消去するようにしてもよい。
上述したように、本発明の製造方法によれば、磁気セン
サを装着した共通基板45は磁気ドラム41に対して固
定的に配置し、磁化パターンを記録ヘッド49を磁気ド
ラム41に対して傾斜させるようにしたため、共通基板
と磁化パターンを容易かつ迅速に所定の角度だけ相対的
に傾斜させることができる。しかも、磁気ヘッド49を
回転自在に保持する回転ステージ51は多数の変位量検
出器に対して共通に使用することができるので、・安価
に実施することができる。
本発明は上述した例にのみ限定されるものではなく、幾
多の変更や変形が可能である。例えば上述した例では2
個の磁気−センサを用い、互いに900の位相差を有す
る2つの信号を発生させるようにしたが、3つの磁気セ
ンサを用い、相互に45°の位相差を有する8つの信号
を発生させたり、5つの磁気センサを用い、相互に45
°の位相差を有する5つの信号を発生させることもでき
る。また、磁気記録媒体は磁気ドラムに限定されるもの
ではなく、磁気ディスクとすることもでき、またリニア
エンコーダとして用いることもできる。
さらに、磁気センサを固定し、磁化パターンを移動させ
る代りに、磁化パターンを固定し、磁気センサを移動さ
せることもできる。また、磁気センサも上述した例に限
定されるものではなく、種々の形式、構成の磁気センサ
を用いることができる。
さらに、第21図に示す例ではモニタ上に2つの信号を
再生表示し、これを見ながら回転ステージを回転させる
ようにしたが、2つの信号の位相差が所望の値になるよ
うしこ回転ステージを自動的に回転させるサーボループ
を設けてもよい0上述したようGこ、本発明の変位量検
出器は、磁気センサを並べて装着した共通基板と磁化パ
ターンとを、変位方向と直交する方向において相対的に
傾斜させたため、単一の磁化パターンを用いて互いに所
定の位相差を有する信号を得ることができ、変位の方向
および変位量を正確に検出することができる。また、本
発明の製造方法によれば、共通基板と磁化パターンとを
容易かつ正確に所定の角度だけ傾斜させることができる
と共に個々の変位値検出器には調整機構を設ける必要が
ないので、安価に実施することができる0
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は従来の変位量検出器の構成を示す
線図、 第3図は本発明の変位量検出器の原理的構成を示す線図
、 第4図および第5図は本発明の変位量検出器の動作を説
明するための図、 第6図A、BおよびCは本発明の変位量検出器に用いる
磁気センサの一例の構成を示す図、第7図〜第18図は
同じく磁気センサの順次の製造工程を示す図、 第19図は同じく磁気センサの回路図、第20図および
第21図は本発明の製造方法を説明するための平面図お
よび断面図、 第22図A、Bおよび第23図A、Bは同じくその製造
方法を説明するための図である011・・・磁気記録媒
体 12A、12B・・・磁気センサ 18・・・共通基板    A・・変位方向θ・傾斜角
      β 位相差 34・共通基板    86.37・・磁気センサ41
・・・磁気ドラム   42・・保持体44 ・軸  
     45 ・共通基板46・・・取付板    
 47 ・モータ48・・・ロータリエンコーダ 49・・・磁気ヘッド   51・・回転テーブル52
・・・パルス発IJE、器58・・・モニタ0第1図 2A b 第2図 第4図 第9図 第10図 第11図 第12図 第13図 第14図 第15図 第16図 第22図 AB 第23図 B

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 少なく共2組の磁気センサを共通の基板上に並べて
    装着し、この共通基板と磁化パターンとを、変位方向と
    直交する方向において相対的に傾斜させて配置し、所定
    の位相差を有する少なく共2つの信号を発生させるよう
    構成したことを特徴とする変位量検出器。 2 前記磁化パターンを変位方向と直交する方向に延在
    させると共に前記共通の基板を変位方向と直交する方向
    に対して傾斜させたことを特徴とする特許請求の範囲l
    記載の変位量検出器。 & 前記共通基板を変位方向と直交する方向に延在させ
    ると共に前記磁化パターンを変位方向と直交する方向に
    対して傾斜させたことを特徴とする特許請求の範囲l記
    載の変位量検出器。 表 前記磁化パターンを変位方向と直交する方向に対し
    て傾斜させると共に前記共通基板を変位方向と直交する
    方向に対して傾斜させたことを特徴とする特許請求の範
    囲1記載の変位量検出器。 五 少なく共2組の磁気センサを並べて装着した共通基
    板と磁化パターンとを、変位方向と直交する方向におい
    て相対的に傾斜させて配置した変位量検出器を製造する
    に当たり、少なく共2組の磁気センサを装着した共通基
    板を、磁化パターンを記録すべき磁気記録媒体に対[7
    て固定的に取付け、変位方向と直交する方向に対して回
    動自在に配置した記録ヘッドによって前記磁気記録媒体
    に磁化パターンを記録し、この記録した磁化パターンに
    応答して磁気センサから出力される少なく共2つの信号
    が所定の位相差を有するように前記記録ヘッドを回動さ
    せることを特徴とする変位量検出器の製造方法。
JP8000783A 1983-05-10 1983-05-10 変位量検出器の製造方法 Granted JPS59204709A (ja)

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