JPS59201453A - 半導体装置およびその製造方法 - Google Patents
半導体装置およびその製造方法Info
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- H01L2224/85045—Reshaping, e.g. forming the ball or the wedge of the wire connector by heating means, e.g. "free-air-ball" using a corona discharge, e.g. electronic flame off [EFO]
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- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
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- H01L2224/85148—Aligning involving movement of a part of the bonding apparatus
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- H01L2224/85181—Translational movements connecting first on the semiconductor or solid-state body, i.e. on-chip, regular stitch
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はパッケージとチップを接続する金属細線(ワイ
ヤ)の先端部を改良した半導体装置、およびその製造方
法に関する。
ヤ)の先端部を改良した半導体装置、およびその製造方
法に関する。
半導体装置におけるチップとパッケージの接続に関して
は、熱圧着法、超音波ボンディング法などのワイヤボン
ディング法が広く用いられている。
は、熱圧着法、超音波ボンディング法などのワイヤボン
ディング法が広く用いられている。
そして、これらボンディングの一方法として、ワイヤの
先端をボール状(ネイルヘッド)にしてチップに接着す
るボールボンディング法がある。
先端をボール状(ネイルヘッド)にしてチップに接着す
るボールボンディング法がある。
第1図乃至第3図を参照して従来技術を説明する。第1
図は従来装置の断面図である。ノ(ツケージ1にはチッ
プ2が固着され、それらの上;二はそれぞれ対応するパ
ッケージ電極およびチップ電極が設けられている。パッ
ケージ1とチップ2を電気的に接続する金、アルミニウ
ム等のワイヤ(金属細線)3のチップ2に接着された部
分4はネイルヘッドになっており、パッケージ1に接着
された部分5はステッチ(ニなっている。
図は従来装置の断面図である。ノ(ツケージ1にはチッ
プ2が固着され、それらの上;二はそれぞれ対応するパ
ッケージ電極およびチップ電極が設けられている。パッ
ケージ1とチップ2を電気的に接続する金、アルミニウ
ム等のワイヤ(金属細線)3のチップ2に接着された部
分4はネイルヘッドになっており、パッケージ1に接着
された部分5はステッチ(ニなっている。
第2図は従来のワイヤボンディング法(ネイルヘッド法
)による半導体装置の製造工程を説明する図で、第1図
と同一要素は同一符号で示r0まず、菌2図(a)に示
す如く、キャピラリ6(二連したワイヤ3をクランパ7
で支え、キャピラリ6の先端部にネイルヘッド8を形成
する。flお、クランパ9はクランパ7と相まつ°Cワ
イヤ3を切断(プルカット)する際(二用いるものであ
る。
)による半導体装置の製造工程を説明する図で、第1図
と同一要素は同一符号で示r0まず、菌2図(a)に示
す如く、キャピラリ6(二連したワイヤ3をクランパ7
で支え、キャピラリ6の先端部にネイルヘッド8を形成
する。flお、クランパ9はクランパ7と相まつ°Cワ
イヤ3を切断(プルカット)する際(二用いるものであ
る。
次に、第2図(b)に示す如く、クランノ々7を開いて
キャピラリ6を降下させ、ワイヤ3を接着部4に熱圧着
する。
キャピラリ6を降下させ、ワイヤ3を接着部4に熱圧着
する。
次に、第2図(C);二示す如(キャピラリ6を上昇さ
せて先端部からワイヤ3を°所定の長さだけ弓Iき出し
、第2図(山に示す如く、キャビ2す6を再び降下させ
てワイヤ3を〕(ツケージ1の接着部5;二熱圧着する
。
せて先端部からワイヤ3を°所定の長さだけ弓Iき出し
、第2図(山に示す如く、キャビ2す6を再び降下させ
てワイヤ3を〕(ツケージ1の接着部5;二熱圧着する
。
次;二、クランパ9を閉じてワイヤ3をプルカットする
。そして、第2図(e)(二示す如く、シ気トーチ10
凹よっCキャピラリ6の先端¥J(Sに突き出し1こ所
定のテール量のワイヤ3′を熱し、第2図(f)(=示
す如きネイルヘッド8とする。
。そして、第2図(e)(二示す如く、シ気トーチ10
凹よっCキャピラリ6の先端¥J(Sに突き出し1こ所
定のテール量のワイヤ3′を熱し、第2図(f)(=示
す如きネイルヘッド8とする。
第3図はワイヤ3の)くツケー・ジ1(−おける接着部
分の断面内で、第1図郭よび第2図と同−戟素は同一符
号で示しである。図(二がV如く、ワイヤ3そのものが
キャピラリORi二よつCつぶされてパッケージ1に接
着されている。
分の断面内で、第1図郭よび第2図と同−戟素は同一符
号で示しである。図(二がV如く、ワイヤ3そのものが
キャピラリORi二よつCつぶされてパッケージ1に接
着されている。
上記の如く、チップ側の接着はホ゛−)L・ボンディン
グされているため、接着面積が広く力)つ接着強度も大
きいので、接着(二対する信頼性カ≦高し)。これ(二
反し、パッケージ側の接着はステッチボンディングされ
ているため、接着面積が狭く力)つ接着強度も小さいの
で、接着に対する信頼性がチップ側に比べて低い。特に
近年はパッケージ電極のメッキが薄くなりボンディング
のマージンが低下しているので、パッケージ側にワイヤ
をボンディングする際のボンディング温度、加重、超音
波印加時間等の制御が難しくなってきている。また、ボ
ンディング速度の高速化につれてボンディング時間が短
くなってきているので、パッケージ側の接合不良を生じ
たりするなど品質管理上の問題も大きくなっている。
グされているため、接着面積が広く力)つ接着強度も大
きいので、接着(二対する信頼性カ≦高し)。これ(二
反し、パッケージ側の接着はステッチボンディングされ
ているため、接着面積が狭く力)つ接着強度も小さいの
で、接着に対する信頼性がチップ側に比べて低い。特に
近年はパッケージ電極のメッキが薄くなりボンディング
のマージンが低下しているので、パッケージ側にワイヤ
をボンディングする際のボンディング温度、加重、超音
波印加時間等の制御が難しくなってきている。また、ボ
ンディング速度の高速化につれてボンディング時間が短
くなってきているので、パッケージ側の接合不良を生じ
たりするなど品質管理上の問題も大きくなっている。
本発明は上記の従来技術の欠点に鑑みてなさnたもので
、パッケージ電極とワイヤの接着に関し、その接着面積
を広くして接着強度を大きくシ、信頼性を向上させた半
導体装置およびその製造方法を提供することを目的とす
る。
、パッケージ電極とワイヤの接着に関し、その接着面積
を広くして接着強度を大きくシ、信頼性を向上させた半
導体装置およびその製造方法を提供することを目的とす
る。
上記の目的を実現するため本発明は、チップ電極(=接
着されるワイヤ(金属細線)の一方の端部のみならず、
パッケージ電極に接着されるワイヤの他方の端部をもネ
イルヘッドにした半導体装置を提供すると共(二、ワイ
ヤの一端をネイルヘッド法によりチップ電極にボンディ
ングした後に、該ワイヤの所定の部分をボール状(ニし
てパッケージ電極にボンディングする半導体装置の製造
方法を提供するものである。
着されるワイヤ(金属細線)の一方の端部のみならず、
パッケージ電極に接着されるワイヤの他方の端部をもネ
イルヘッドにした半導体装置を提供すると共(二、ワイ
ヤの一端をネイルヘッド法によりチップ電極にボンディ
ングした後に、該ワイヤの所定の部分をボール状(ニし
てパッケージ電極にボンディングする半導体装置の製造
方法を提供するものである。
以下、第4図乃至第6図を参照して本発明の詳細な説明
する。第4図は本発明の一実施例の断面図で、第1図と
同一の要素は同一の符号で示しである。第1図(二示す
従来装置と異なり、ワイヤ3のチップ電極に接着された
部分4のみならずパッケージ電極(二接着さnた部分5
′もネイルヘッドになっている。
する。第4図は本発明の一実施例の断面図で、第1図と
同一の要素は同一の符号で示しである。第1図(二示す
従来装置と異なり、ワイヤ3のチップ電極に接着された
部分4のみならずパッケージ電極(二接着さnた部分5
′もネイルヘッドになっている。
第5図は本発明のワイヤボンディング法による半導体装
置の製造工程を説明する図で、第1図乃至第4図と同一
要素は同一符号で示しである。まず、第5図(a) 、
(b) i二示す如くワイヤ3をチップ2上のチップ電
極1ニボンデイングする。
置の製造工程を説明する図で、第1図乃至第4図と同一
要素は同一符号で示しである。まず、第5図(a) 、
(b) i二示す如くワイヤ3をチップ2上のチップ電
極1ニボンデイングする。
次に、第5図(c)lニー示す如く、キャピラリ6を上
昇させて先端部からワイヤ3を所定の長さだけ引き出し
、電気トーチ11(酸素トーチ等でもよい)を用いてキ
ャピラリ6の先端部から出たワイヤ3にボール8′を形
成する。
昇させて先端部からワイヤ3を所定の長さだけ引き出し
、電気トーチ11(酸素トーチ等でもよい)を用いてキ
ャピラリ6の先端部から出たワイヤ3にボール8′を形
成する。
充に、第5図(d)に示す如くキャピラリ6を降下させ
、ボール8/をパッケージ側の接着部5′に熱圧着する
。
、ボール8/をパッケージ側の接着部5′に熱圧着する
。
次に、クランパ9を閉じてワイヤ3をプルカットし、第
5図(e) 、 (f)に示す如く再びネイルヘッド8
を形成する。
5図(e) 、 (f)に示す如く再びネイルヘッド8
を形成する。
第6図はワイヤ3のパッケージ1+:おける接着部分の
断面図で、第1図乃至第5図と同一要素は同一符号で示
しである。図に示す如く、パッケージ1に接着される面
積が広くなっている。また、キャピラリ6とパッケージ
1との間の間障も従来のものより大きくなっている。
断面図で、第1図乃至第5図と同一要素は同一符号で示
しである。図に示す如く、パッケージ1に接着される面
積が広くなっている。また、キャピラリ6とパッケージ
1との間の間障も従来のものより大きくなっている。
上記の如く本発明によれば、チップ電極に接着されるワ
イヤの一方の端部のみならず、パッケージ電極に接着さ
れるワイヤの他方の端部をもネイルヘッドにしたので、
パッケージ側の接着面積を大きくしてチップ側とパッケ
ージ側の接着強度を同程度に大きくし、信頼性を向上さ
せた半導体装置が得られる。
イヤの一方の端部のみならず、パッケージ電極に接着さ
れるワイヤの他方の端部をもネイルヘッドにしたので、
パッケージ側の接着面積を大きくしてチップ側とパッケ
ージ側の接着強度を同程度に大きくし、信頼性を向上さ
せた半導体装置が得られる。
また、ワイヤの一端をネイルヘッド法によりチップ電極
にボンディングした後に、該ワイヤの所定の部分をボー
ル状にしてパッケージ電極にボンディングするようにし
たので、パッケージ側とチップ側の接着強度を同程度に
大きくした半導体装置の製造方法が得られる。特(−1
ガラスエポキシ基板へのボンデインタで接着強度の増大
を図り(従来方法ではボンディング温度が170υ近傍
であるためこれができなかった)、パッケージ側へのオ
ープン不良を無くすことができる。また、銅フレームに
対するメンキレス直接ボンディングも可能(二なる。さ
らに、本発明に係る製造方法ではワイヤの途中にボール
を形成しているため、パッケージ電極とチップ電極との
間でループになるワイヤの長さが一定になり、ループの
高さが安定するという効果がある。
にボンディングした後に、該ワイヤの所定の部分をボー
ル状にしてパッケージ電極にボンディングするようにし
たので、パッケージ側とチップ側の接着強度を同程度に
大きくした半導体装置の製造方法が得られる。特(−1
ガラスエポキシ基板へのボンデインタで接着強度の増大
を図り(従来方法ではボンディング温度が170υ近傍
であるためこれができなかった)、パッケージ側へのオ
ープン不良を無くすことができる。また、銅フレームに
対するメンキレス直接ボンディングも可能(二なる。さ
らに、本発明に係る製造方法ではワイヤの途中にボール
を形成しているため、パッケージ電極とチップ電極との
間でループになるワイヤの長さが一定になり、ループの
高さが安定するという効果がある。
第1図)才従来装置の断面図、第2図は第1図の従来装
置の製造工程を説明する図、第3図は第2図の製造工程
でワイヤをパッケージにボンディングする際の接着部の
断面図、第4図は本発明の一実施例の断面図、第5図は
第4図の実施例の製造工程を説明する図、第6図は第5
図の製造工程でワイヤをパッケージにボンディングする
際の接着部の断面図である。 1・・・パッケージ、2・・・チップ、3.3’・・・
ワイヤ、4,3.5’・・・接着部、6・・・キャピラ
リ、7.9・・・クランパ、8 /? 8′・・・ボー
ル(ネイルヘッド)、10 、11・・・電気トーチ。 出願人代理人 猪 股 清 第1図 第2図 (α) (e) 第4図 (a、) (e) ″″″1′″1′ 膠釘図 1(J f1
置の製造工程を説明する図、第3図は第2図の製造工程
でワイヤをパッケージにボンディングする際の接着部の
断面図、第4図は本発明の一実施例の断面図、第5図は
第4図の実施例の製造工程を説明する図、第6図は第5
図の製造工程でワイヤをパッケージにボンディングする
際の接着部の断面図である。 1・・・パッケージ、2・・・チップ、3.3’・・・
ワイヤ、4,3.5’・・・接着部、6・・・キャピラ
リ、7.9・・・クランパ、8 /? 8′・・・ボー
ル(ネイルヘッド)、10 、11・・・電気トーチ。 出願人代理人 猪 股 清 第1図 第2図 (α) (e) 第4図 (a、) (e) ″″″1′″1′ 膠釘図 1(J f1
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、パッケージ電極を有するパッケージと、該パッケー
ジに取り付けてなり前記パッケージ電極に対応するチッ
プ電極を有するチップと、前記パッケージ電極をチップ
電極に電気的に接続するワイヤとを備え、前記パッケー
ジへの接着部分がネイルヘッドをなしている半導体装置
。 2、所定のテール量のワイヤをキャピラリの先端部から
突出させ、該所定のテール量のワイヤをトーチで加熱し
てネイルヘッドとし、該ネイルヘッドを前記キャピラリ
によってチップ上のチップ電極にボンディングし、前記
ワイヤを前記チップ電極に対応するパツゲ゛−ジ上のパ
ッケージ電極に架けわたすことができる程度に前記キャ
ピラリの先端部から抜き出し、前記キャピラリの先端部
のワイヤをトーチで加熱してボールを形成し、該ボール
を前記キャピラリによって1’ffJ 記パツケ・−ジ
電極にボンディングし、前記キャピラリ側のワイヤを前
記ボールから切り離すことにより前記ワイヤの接着部を
ネイルヘッドとする半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58075100A JPS59201453A (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | 半導体装置およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58075100A JPS59201453A (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | 半導体装置およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59201453A true JPS59201453A (ja) | 1984-11-15 |
Family
ID=13566411
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58075100A Pending JPS59201453A (ja) | 1983-04-28 | 1983-04-28 | 半導体装置およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59201453A (ja) |
-
1983
- 1983-04-28 JP JP58075100A patent/JPS59201453A/ja active Pending
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