JPS59200957A - ボルトゆるみ検出装置 - Google Patents
ボルトゆるみ検出装置Info
- Publication number
- JPS59200957A JPS59200957A JP58030977A JP3097783A JPS59200957A JP S59200957 A JPS59200957 A JP S59200957A JP 58030977 A JP58030977 A JP 58030977A JP 3097783 A JP3097783 A JP 3097783A JP S59200957 A JPS59200957 A JP S59200957A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bolt
- circuit
- output
- detector
- time
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/44—Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/4454—Signal recognition, e.g. specific values or portions, signal events, signatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/045—Analysing solids by imparting shocks to the workpiece and detecting the vibrations or the acoustic waves caused by the shocks
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/26—Scanned objects
- G01N2291/269—Various geometry objects
- G01N2291/2691—Bolts, screws, heads
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- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、衝撃応答振動波形の減衰をモニター″するこ
とによりボルトのゆるみを検出するようにしたボルトゆ
るみ、咲出装置に関する。
とによりボルトのゆるみを検出するようにしたボルトゆ
るみ、咲出装置に関する。
従来ボルトのゆるみ検出は、ノ・ンマー等によってボル
トに衝撃を与え、その衝撃音（例えばその音声）を熟練
者が聞いて判断１−ることにより行なわれていた。この
方法は、自動車工場などで簡易診断法として一般的に利
用されているが、その判断が人によって異なる、精度が
悪い等の問題点があった。
トに衝撃を与え、その衝撃音（例えばその音声）を熟練
者が聞いて判断１−ることにより行なわれていた。この
方法は、自動車工場などで簡易診断法として一般的に利
用されているが、その判断が人によって異なる、精度が
悪い等の問題点があった。
本発明゛は、このような問題点を解決するためになされ
□たものであり、ボルトのゆるみを定量的に把握するよ
うにしたボルトゆるみ検出装置を提供するものである。
□たものであり、ボルトのゆるみを定量的に把握するよ
うにしたボルトゆるみ検出装置を提供するものである。
本発明に係るボルトゆるみ検出装置は、上記の目的を達
成するために、検出器、バンドパスフィルタ回路、スタ
ートタイミング発生回路、ストップタイミング発生回路
及び減衰時間測定回路を備えている。
成するために、検出器、バンドパスフィルタ回路、スタ
ートタイミング発生回路、ストップタイミング発生回路
及び減衰時間測定回路を備えている。
検出器は、ボルトの衝撃応答振動を検出し、その出力を
バンドパスフィルタ回路に送出する。バンドパスフィル
タ回路は、該検出器の出力のうち所定周波数帯域の信号
のみを送出する。このバンドパスフィルタ回路の後には
、必要があれば、増幅器を設けて信号レベルを調整する
ようにしてもよい。バンドパスフィルタ回路の出力は、
スタートタイミング発生回路とストップタイミング発生
回路とに供給される。スタートタイミング発生回路は、
前記出力のピーク値を検出し、スタートパルスな送出１
−る。後述するように、前記出力σ）ピークポイントか
ら時間測定が開始する。一方、ストップタイミング発生
回路では、前記出力の包絡線を求めて、予め定められた
減衰量と前記の包絡線の減衰量とを比較し、一致したと
きストップパルスを送出する。減衰時間測定回路は、前
記スタートパルスにより時間測定を開始し、前記ストッ
プパルスにより停止する。このようにして、前記包絡線
か所定量減衰するまでの時間を測定し、この測定時間に
よりボルトのゆるみの有無を検出する。
バンドパスフィルタ回路に送出する。バンドパスフィル
タ回路は、該検出器の出力のうち所定周波数帯域の信号
のみを送出する。このバンドパスフィルタ回路の後には
、必要があれば、増幅器を設けて信号レベルを調整する
ようにしてもよい。バンドパスフィルタ回路の出力は、
スタートタイミング発生回路とストップタイミング発生
回路とに供給される。スタートタイミング発生回路は、
前記出力のピーク値を検出し、スタートパルスな送出１
−る。後述するように、前記出力σ）ピークポイントか
ら時間測定が開始する。一方、ストップタイミング発生
回路では、前記出力の包絡線を求めて、予め定められた
減衰量と前記の包絡線の減衰量とを比較し、一致したと
きストップパルスを送出する。減衰時間測定回路は、前
記スタートパルスにより時間測定を開始し、前記ストッ
プパルスにより停止する。このようにして、前記包絡線
か所定量減衰するまでの時間を測定し、この測定時間に
よりボルトのゆるみの有無を検出する。
以下、本発明の実施例７図面に基づいて説明する。
第１図は本発明の一実施例に係るボルトゆるみ検出装置
のブロック図である。
のブロック図である。
同図において、検出器（１）は、ボルト（図示せず）の
衝撃応答振動を検出するものであり、ビス、接着剤、又
はマグネット等によりボルトに固定される。この実施例
では、圧電形加速耐で、周波数４０ＫＨ２±３ｄＢのも
のが使用されている。チャージアンプ（２）は、チャー
ジコンバータＣυ、アッテネータ（２渇、ローカットフ
ィルタ（２３） 、ハイカットフィルタ（２（イ）及び
増幅器（２５）から構成されている。このチャージアン
プ（２）は、アナログ前処理部分に相当し、必要な伽動
周波数成分の抽出、増幅等に用いられる。
衝撃応答振動を検出するものであり、ビス、接着剤、又
はマグネット等によりボルトに固定される。この実施例
では、圧電形加速耐で、周波数４０ＫＨ２±３ｄＢのも
のが使用されている。チャージアンプ（２）は、チャー
ジコンバータＣυ、アッテネータ（２渇、ローカットフ
ィルタ（２３） 、ハイカットフィルタ（２（イ）及び
増幅器（２５）から構成されている。このチャージアン
プ（２）は、アナログ前処理部分に相当し、必要な伽動
周波数成分の抽出、増幅等に用いられる。
そのフィルタ（ハ）・（２４Ｊの設定値、増幅器（２９
倍率等は、被測定対象のボルトの形状、材質、ハンマリ
ング方向、ハンマチップ材質・形状、検出器（１］の取
付方法、場所等によって違ったものになる。このた ゛
め、事前に試験７行ない、被測定対象のボルトについて
上記項目ケ設定する必要がある。
倍率等は、被測定対象のボルトの形状、材質、ハンマリ
ング方向、ハンマチップ材質・形状、検出器（１］の取
付方法、場所等によって違ったものになる。このた ゛
め、事前に試験７行ない、被測定対象のボルトについて
上記項目ケ設定する必要がある。
ピークホールド回路（３）は、チャージアンプ（２）の
出力のピーク値ン検出し、スタートパルス発生回路（４
）はそのピーク値の検出によりスタートパルスを送出す
る。エンベロープ回路（５）は、チャージアンプ（２）
の出力の包絡線ケ求め、それケコンバレータ（６） Ｋ
送ｔｊ３する。コンパレータ（６）には、プログラマ
ブルゲインアンプ（７）で設定された減駁量も供給され
、包絡線の減衰量が前記設定減衰量と一致したとき、ス
トップパルスを送出する。
出力のピーク値ン検出し、スタートパルス発生回路（４
）はそのピーク値の検出によりスタートパルスを送出す
る。エンベロープ回路（５）は、チャージアンプ（２）
の出力の包絡線ケ求め、それケコンバレータ（６） Ｋ
送ｔｊ３する。コンパレータ（６）には、プログラマ
ブルゲインアンプ（７）で設定された減駁量も供給され
、包絡線の減衰量が前記設定減衰量と一致したとき、ス
トップパルスを送出する。
ストップウォッチ・表示回路（８）には、 Ｉ ＭＨ
ｚタイムベースの発生回路（９）からクロックパルスか
供Ｎ８ サれ、スタートパルスの入力により時間の測定
を開始し、ストップパルスの入力により停止し、これら
のパルス間師？測足−する。
ｚタイムベースの発生回路（９）からクロックパルスか
供Ｎ８ サれ、スタートパルスの入力により時間の測定
を開始し、ストップパルスの入力により停止し、これら
のパルス間師？測足−する。
−方、チャージアンプ（２）の出力は、ピークデテクタ
αりにも供給され、ここでピーク値が検出される。そし
て、そのピーク値は、コンパレータαυに供給され、そ
こに内蔵されたノイズレベル設定値と比較されろ。ピー
ク値がノイズレベル設定値より小さければ、ストップウ
ォッチ・表示回路（８）にパルス？送出し、時間測定ケ
停止、又は測定時間？ギャンセルするように指示する。
αりにも供給され、ここでピーク値が検出される。そし
て、そのピーク値は、コンパレータαυに供給され、そ
こに内蔵されたノイズレベル設定値と比較されろ。ピー
ク値がノイズレベル設定値より小さければ、ストップウ
ォッチ・表示回路（８）にパルス？送出し、時間測定ケ
停止、又は測定時間？ギャンセルするように指示する。
このようにして、ノイズ招号による＋ｉＡ ｍ１１定を
防止している。
防止している。
次に、本実施例の各部の出力について説明する。
ボルトにｆｉ撃７加えるとその衝撃振動により、検出器
（１）の出力は、ｉ２Ａ図に示すように、減衰波形にケ
ーブルノイズ等の低周波ノイズ、その他の不要なノイズ
が重畳した６号となる。チャージアンプ（２ンの出力は
、ローカットフィルタ（ハ）及びハイカットフィルタ（
２４）から７１７−、バンドパスフィルタにより、第２
Ｂ因に示すように、それぞれ所定の低周波及び高周波か
カットされた本のになる。ピークホールド（３）及びピ
ークデテクタ（男（ま、それぞれＭ２Ｃ図に示すように
、チャージアンプ（２］の出力のピーク値ＰＹ検出する
。このときのタイミングで時間測定が開始する。エンプ
ローブ回路（５）のの減放量かプログラマブルゲインア
ンプ（７ンで設定された減衰量ＤＭと一致するタイミン
グが検出される。このときのタイミングで時間測定が停
止する。このようにして、ストップウォッチ・表示回路
（８）に、包絡線ＥＶの減衰量か前記減衰ｉＤＭと一致
するまでの時１ｕｊ（、ζ）が表示さ」する。
（１）の出力は、ｉ２Ａ図に示すように、減衰波形にケ
ーブルノイズ等の低周波ノイズ、その他の不要なノイズ
が重畳した６号となる。チャージアンプ（２ンの出力は
、ローカットフィルタ（ハ）及びハイカットフィルタ（
２４）から７１７−、バンドパスフィルタにより、第２
Ｂ因に示すように、それぞれ所定の低周波及び高周波か
カットされた本のになる。ピークホールド（３）及びピ
ークデテクタ（男（ま、それぞれＭ２Ｃ図に示すように
、チャージアンプ（２］の出力のピーク値ＰＹ検出する
。このときのタイミングで時間測定が開始する。エンプ
ローブ回路（５）のの減放量かプログラマブルゲインア
ンプ（７ンで設定された減衰量ＤＭと一致するタイミン
グが検出される。このときのタイミングで時間測定が停
止する。このようにして、ストップウォッチ・表示回路
（８）に、包絡線ＥＶの減衰量か前記減衰ｉＤＭと一致
するまでの時１ｕｊ（、ζ）が表示さ」する。
第６Ａ図、第ろ３図及び第６Ｃ図は、それぞれＭ２４．
動刃ボルトの、シ＆哀波形図であり、第６Ａ図は締結力
か０．１ ’ｉｏｎ／（１１、第６Ｂ図ば１．２ ｔｏ
ｎ ／ ｃｎｉ、第６Ｃ図は４ ｔｏｎ ／ｃｎＫの場
合でＡｈる。これらの図から明らかなように、締結力か
弱い程減衰時間が短いことかわかる。
動刃ボルトの、シ＆哀波形図であり、第６Ａ図は締結力
か０．１ ’ｉｏｎ／（１１、第６Ｂ図ば１．２ ｔｏ
ｎ ／ ｃｎｉ、第６Ｃ図は４ ｔｏｎ ／ｃｎＫの場
合でＡｈる。これらの図から明らかなように、締結力か
弱い程減衰時間が短いことかわかる。
なお、本発明は、上述の冥施例に示された構成に限定さ
れるものではｒｘ ＜、適宜変形されるものであり、包
Ａ−１尿の減衰時間を測定匈−石ようにＪｆｌ成したも
のは全て含まオ１．小ことはいうまでもない。
れるものではｒｘ ＜、適宜変形されるものであり、包
Ａ−１尿の減衰時間を測定匈−石ようにＪｆｌ成したも
のは全て含まオ１．小ことはいうまでもない。
以上の説明から明らかなように、不危明に係るボルトゆ
るみ、、シ出装置は、ボルトの衝撃応答波形の減衰時間
を足置的に把握してボルトゆるみ？検出−ｆるようにし
たので、その精度はきわ２１）て旨いものとなっている
。
るみ、、シ出装置は、ボルトの衝撃応答波形の減衰時間
を足置的に把握してボルトゆるみ？検出−ｆるようにし
たので、その精度はきわ２１）て旨いものとなっている
。
第１図は本発明の一実施例に係るボルトゆるみ出力説明
図、ｉ？３Ａ図、ＦＡ３Ｂ図及び第３Ｃ図はそれぞれ締
結力に対応した衝撃応答振動波形の説明図である。 （１）・・・検出器、（２）・・・チャージアンプ、（
３）・・・ピークホルト回路、（４）・・・スタートパ
ルス発生回路、（５）°゛。 エンベロープ回路、（６）・・・コンパ７−タ、（７）
・・・プログラマブルゲインアンプ、（８）・・・スト
ップウォッチ・表示回路、（９）・・・タイムベース発
生回路、（ＩＱ・・・ピークデテクタ、（１υ・・・コ
ンパレータ。 代理人 フト浬十 木 村 三 朗 第１図
図、ｉ？３Ａ図、ＦＡ３Ｂ図及び第３Ｃ図はそれぞれ締
結力に対応した衝撃応答振動波形の説明図である。 （１）・・・検出器、（２）・・・チャージアンプ、（
３）・・・ピークホルト回路、（４）・・・スタートパ
ルス発生回路、（５）°゛。 エンベロープ回路、（６）・・・コンパ７−タ、（７）
・・・プログラマブルゲインアンプ、（８）・・・スト
ップウォッチ・表示回路、（９）・・・タイムベース発
生回路、（ＩＱ・・・ピークデテクタ、（１υ・・・コ
ンパレータ。 代理人 フト浬十 木 村 三 朗 第１図
Claims (1)
- ボルトの衝撃応答振動を検出する検出器；該検出器の出
力信号のうち所定の周波数帯域のみを送出するバンドパ
スフィルタ回路；該バンドパスフィルタ回路の出力のピ
ーク値を検出し、スタートパルス’ｔｔ 送出−するス
タートタイミング発生回路；前記バントパスフィルタの
出力の包絡線請求め１、濱包絡線が所定量減衰した時点
でストップパルス’Ｉ送出するストップタイミング発生
回路；及び、前記スタートパルスとストップパルスとカ
供給すれ、これらのパルス間隔を測定する減衰時間測定
回路：を備えたことを特徴とするボルトゆるみ検出装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58030977A JPS59200957A (ja) | 1983-02-28 | 1983-02-28 | ボルトゆるみ検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58030977A JPS59200957A (ja) | 1983-02-28 | 1983-02-28 | ボルトゆるみ検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59200957A true JPS59200957A (ja) | 1984-11-14 |
Family
ID=12318711
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58030977A Pending JPS59200957A (ja) | 1983-02-28 | 1983-02-28 | ボルトゆるみ検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59200957A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010261816A (ja) * | 2009-05-07 | 2010-11-18 | Asama Giken Co Ltd | 打音検査方法 |
| WO2013190973A1 (ja) * | 2012-06-20 | 2013-12-27 | 日本電気株式会社 | 構造物の状態判定装置および構造物の状態判定方法 |
| JP2014130135A (ja) * | 2012-11-28 | 2014-07-10 | Ihi Corp | 複合構造体の界面検査方法及び装置 |
| JP2015038462A (ja) * | 2013-07-19 | 2015-02-26 | 株式会社Ihi | 複合構造体の界面検査方法及び装置 |
| JP2016003915A (ja) * | 2014-06-16 | 2016-01-12 | 株式会社沢田テクニカルサービス | 検査方法、検査装置 |
-
1983
- 1983-02-28 JP JP58030977A patent/JPS59200957A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010261816A (ja) * | 2009-05-07 | 2010-11-18 | Asama Giken Co Ltd | 打音検査方法 |
| WO2013190973A1 (ja) * | 2012-06-20 | 2013-12-27 | 日本電気株式会社 | 構造物の状態判定装置および構造物の状態判定方法 |
| JPWO2013190973A1 (ja) * | 2012-06-20 | 2016-05-26 | 日本電気株式会社 | 構造物の状態判定装置および構造物の状態判定方法 |
| JP2014130135A (ja) * | 2012-11-28 | 2014-07-10 | Ihi Corp | 複合構造体の界面検査方法及び装置 |
| JP2015038462A (ja) * | 2013-07-19 | 2015-02-26 | 株式会社Ihi | 複合構造体の界面検査方法及び装置 |
| JP2016003915A (ja) * | 2014-06-16 | 2016-01-12 | 株式会社沢田テクニカルサービス | 検査方法、検査装置 |
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