JPS5919305B2 - 螢光分光光度計 - Google Patents

螢光分光光度計

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JPS5919305B2
JPS5919305B2 JP51149298A JP14929876A JPS5919305B2 JP S5919305 B2 JPS5919305 B2 JP S5919305B2 JP 51149298 A JP51149298 A JP 51149298A JP 14929876 A JP14929876 A JP 14929876A JP S5919305 B2 JPS5919305 B2 JP S5919305B2
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/44Raman spectrometry; Scattering spectrometry ; Fluorescence spectrometry
    • G01J3/4406Fluorescence spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters

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  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は放射線測定装置に関し、特に試料が1波長の
光により放射され、かつその放射スペクトルがモノクロ
メータと検出系の使用により観測されるところのタイプ
の螢光分光光度計に関する。
本明細書および特許請求の範囲で使用される「光」とい
う用語は可視光線のみならず、可視スベクトルよりも長
いか、短い波長を有する放射線(RadiatiOn)
もまた含むものである。螢光および励起スペクトルの測
定において、光源からの単色光で試料を照射することお
よびモノクロメータおよび光電検出系を用いて試料の放
射光を観測することは慣用されている。励起もしくは放
射波長は励起もしくは放射波長の機能としてスペクトル
の強度を記録するために走査される。従来、上述のタイ
プの放射線測定装置はある欠点を有していた。より重要
な問題の一つは特にデイレート材料のスペクトルの測定
において、出力信号の強度が比較的低いことである。通
常使用される形態の装置においては、光源の拡大された
像は、励起モノクロメータの入ロスリツトに焦点が合わ
され、出口スリツトの縮小された像が第1の光学系によ
つて試料に焦点が合わされた。試料からの螢光は第2の
光学系により集束され、この後者の出口スリツトにおけ
る信号が、選ばれた波長の光の強度に比例するように放
射モノクロメータの入ロスリツトに焦点が合わされた。
該信号の強度を増加させようとする試みは、励起モノク
ロメータの出口スリツトの像の高さの短縮を含んでいた
。これらの試みは部分的には成功したが、しかしながら
測定される強度は低い強度の試料に関し、所望の精度の
読み取りをうるためには依然として不十分であつた。そ
こで本発明の主な目的は、試料を励起する光の強度に関
して試料により放射された光の強度を測定するための新
規かつ改良された装置を提供することである。
より詳細に述べれば、本発明の目的は高強度螢光信号を
発生するための有効な放射線測定装置を提供することで
ある。本発明の他の目的とするところは、安価に製造で
きかつ動作信頼性ある試料光学構成要素を対比的に利用
する螢光分光光度計を提供することである。
本発明の好適な実施態様において、装置は光源から単色
放射光の励起ビームを分離するために光源と励起モノク
ロメータからなる。
励起モノクロメータは励起出口スリツトとモノクロメー
タの分散手段により夫々形成される単色光用の第1およ
び第2の制限開口を含んでいる。光は第1の光学系によ
つて受けられ、試料として螢光を放射するために数値を
求められる試料へと導かれる。第2の光学系は試料から
の螢光を集束し、該モノクロメータの出口スリツトにお
いて単色放射ビームを発生するために、放射モノクロメ
ータの入ロスリツトに集束された放射線ビームの焦点を
合わせる。励起モノクロメータの態様と同様な態様で放
射モノクロメータは放射入ロスリツトと分散手段により
形成され、かつ試料に隣合つて像が作られる第3と第4
の制限開口を含んでいる。出口スリツトからの放射ビー
ムは光電検出器により受けられて選択された波長におい
て試料によつて放射された螢光光線の強度に比例した信
号を発生する。本発明の一つの特徴によれば、試料に隣
合つたスリツトの縦軸は、該励起および螢光ビームの軸
方向光線により定められた単一平面に存在する。ある場
合においては、このことは各励起および放射モノクロメ
ータの出口および入ロスリツトに関し、900の角度で
像を配向する光学系夫々における歪像ミラーとレンズ装
置により達成される。一方他の実施態様において、該ス
リツト自体は平面に対して平行に配向されている。該装
置は該放射モノクロメータの入ロスリツトに沿つた各ポ
イントが励起モノクロメータの出口スリツトの長さに沿
つた全てのポイントからの光で試料の照度に対応した強
度の光によつて満たされ、その結果として該出力信号の
強度における実質的増加が達成されるようなものである
。本発明のいくつかの格別好ましい実施態様における他
の特徴によれば、第1の制限開口の像は試料の第1の表
面に隣合つて形成され、そして第1の制御開口の像は試
料の第2の表面に隣合つて形成される。
同様にして、第3の制限開口の像は試料の第3の表面に
隣合つて形成され、そして第4の制限開口の像は試料の
第4の表面に隣合つて形成される。スリツトの幅は強度
と同じオーダーであるのが好ましく、倍率は試料を貫通
する各放射線ビームの高さを試料表面の各々において、
ほぼ同じにするように選ばれ、出力強度における付加的
改良を提供する。
本発明のある実施態様のさらに他の特徴によれば、励起
モノクロメータに於ける二つのアパーチャの像間の端部
光線は試料を長方形プリズムに近似する形状すなわち断
面が矩形の立体形状において照射し、そして放射モノク
ロメータの開ロニつの像間の端部光線は同様に長方形プ
リズムの形状をした試料から照射される。
試料を貫通するビームの巾は比較的均一で、出来るだけ
小さく維持され、その結果出力信号の強度は更に増加す
る。本発明の好ましい実施態様の他の特徴によれば、光
学的くさび形要素は各モノクロメータへのおよびそれか
らの光ビームの通路にある試料の近くに位置せしめられ
、励起ビームを軸交差において集縮および集中しかつよ
り多くの放射光をとらえ、出力強度において付加的改良
をもたらす。本発明は、その他の目的および利点ととも
に、添付図面に示されたある好ましい実施態様の次の記
載からより明確かつ完全に理解される。
第1図において、可視または不可視光線のキセノンアー
クまたは他の適切な光線10を有する螢光分光光度計が
概略的に図示されている。
光源10からの光は楕円面ミラー11によつて集束され
、励起モノクロメータ13の入ロスリツト12に焦点が
合わせられる。入ロスリツト12は長方形の形態をして
おり、その縦軸は図面の平面に対して垂直方向にのびて
いる。モノクロメータ13はエバートタイプであり、入
ロスリツト12のほかに、照準ミラー15、回折格子1
6、テレスコープミラー17および同様に図面の平面に
対して垂直にのびている縦軸を有する出口スリツト18
を含む。入ロスリツト12の入射光はミラー15によつ
て格子16に反射され、それからミラー17から出口ス
リツト18に反射される。格子の周囲は制限開口19を
形成する。励起スリツト18から発する光は、単色励起
ビームの形態をしている。
単色ビームは、重ね合わされたフラツトおよび球面ミラ
ー20および21と、円筒レンズ22と、球面レンズ2
3とからなる第一の光学系によつて受けられる。ミラー
20,21は付随するビームの主光線に関して452の
角度で配向されて、光を上方へ導いて、そして該レンズ
22と23の方向へ水平に導く。ミラー20,21はそ
の最初の方向に対して直角に励起ビームを反射する。球
面凸レンズ23は、25でまとめて示された試料ホルダ
ーもしくはセル上に該励起ビームの焦点を合わせる。
試料セル25は方形の形態であり、かつフラツトな対向
する2組の面26と27および28と29を含んでいる
。第1A図に最も良く示されている如く、レンズ23は
励起出口スリツト18により定められた開口の水平実像
30を形成する。像30は試料セル25の面26に密接
して位置せしめられている。励起出口スリツト像30に
加えて、第1の光学系は格子開口19の像31を形成す
るために有効である。像31は試料セル25の面27に
密接して即ち、その反対面は像30に隣合つて位置して
いる。像30と31の夫々の縦軸は、図面の平面に平行
な単一面に存在している。平坦な方形ミラー20と方形
球面ミラー21とは出口スリツト18の方向に対して直
角に像30と31を配向するように働く。かくして該ミ
ラー20と21とは、図面の平面に対して、それらの縦
のデイメンシヨンが平行であるように90らの範囲で像
を回転せしめる。レンズ22と23とともにミラー20
と21とは装置用の励起光学系を形成し、そして出口ス
リツト18から試料25へと励起ビームを導く。この光
学系はアナモーフイツクであり、かつその倍率は出口ス
リツト像30の長さと巾が開口の像31の長さと巾に夫
々大体等しいようにしてある。この装置に関して像30
と31との間の末端光線は長方形プリズムの相似形にお
いて試料を照射する。試料を通過するビームの巾は比較
的均一であり、そして実際には小さく維持されて、その
結果ビームの強度は実質的に増加せしめられる。試料2
5を通過するビームの強度をさらに増強するために、励
起モノクロメータ13に対向する面とぱ反対の試料表面
27に隣接して試料の背後に短かい距離をおいて、凹面
ミラー32が配置される。
このミラー32は、励起ビームをして試料を通る第2の
通路を通して後方に向ける。試料を通過する励起光は、
試料を励起し、励起ビームとは波長の異なる螢光を放射
させる。
この螢光は全ての方向に放射される。放射された螢光の
一部は、凹面レンズ33によつて集められ、円筒形レン
ズ34を通過して、軸をずらした球面ミラー35および
平らなミラー36に向けられる。レンズ33および34
、およびミラー35および36は、アナモーフイツク放
射光学系を形成し、これは、ミラー20および21、お
よびレンズ22および23からなる励起光学系と同じも
のである。ミラー20および21と同じ方法で、ミラー
35および36は、試料25から集められた放射ビーム
の主光線に関して45かの角度で配向されている。放射
ビームをさらに増強するために、試料の表面29と対面
するような関係で、試料25の背後に短かい距離を隔て
て球面ミラー37が設けられている。
このミラー37は、試料からの螢光をさらに集め、これ
を放射光学系に向ける。放射光学系からの螢光放射ビー
ムは球面ミラー36によつて放射モノクロメータ40の
入ロスリツト39に向けられる。
この入ロスリツトは長方形形状であり、その縦軸は図面
の平面に垂直な方向にのびている。モノクロメータ40
は、励起モノクロメータ13と同じであり、入ロスリツ
ト39に加えて、照準ミラー42、回折格子43、テレ
スコープミラー44、および入ロスリツトと平行な出口
スリツト45を有する。螢光は、まず入ロスリツト39
に入り、ミラー42によつて格子43に向けて反射され
、ついでテレスコープミラー44によつて出口スリツト
45上に集束される。格子43の周縁は、制限開口46
を形成する。出口スリツト45を出た光は、試料25か
らの放射螢光の中から選択された高度な単色光部分から
なる。この光は、光電検出器50によつて受入れられる
。この光電検出器50は、通常の構造のもので、好まし
くは、所望の特定波長で高い感度を有する形式のもので
ある。検出器50は、出口スリツト45からの光の強度
に比例した出力信号を発生する。放射モノクロメータ4
0のための光学系の球面レンズ33は、放射入ロスリツ
ト39によつて形成された開口の光学像52を形成する
この像は、試料セル25の表面28に近接して位置され
る。同様に、格子開口46の光学像が試料セルの反対側
の表面に近接して形成される。ミラー35および36の
軸をずらした配置のために、像52および53の縦軸は
、図面の平面に平行で、入ロスリツト39の縦軸に対し
て直角な単一の平面内に存在する。像52および53間
の末端の光線は、長方形のプリズム内に試料の形状の輪
かくをつくり、試料を通過するビームの幅は比較的均一
であり、そして実際のものよりも小さい。モノクロメー
タ13および放射モノクロメータ40に接近するビーム
は試料セル25で交叉する。
変形した開口像30,31,52および53は、これら
の主光線によつて形成された平面内に存在する。励起モ
ノクロメータ13のための出口スリツト18および放射
モノクロメータ40のための入ロスリツト39は、これ
に対して、主光線によつて形成された平面に対して垂直
な方向に延在する。出口スリツト18の像30は放射ビ
ームの通路に平行であり、また入ロスリツト39の像5
2は励起ビームの通路に平行である。この配置は、人白
スリツト39に沿つた各点が、出口スリツト18の全長
からの光による試料の照射に対応した強度の光で充たさ
れる。入ロスリツト39によつて集められた螢光の量に
ついて得られた増加は、理論的には、出口スリツト18
の像30の幅に対する長さの比に匹敵する。
モノクロメータの性質の点から、そして等しい長さおよ
び等しい幅のスリツト像および格子像によつて、この比
は、出口スリツトの長さと幅との比の平方根に等しい。
このスリツトの長さは、その縦軸を含む平面内における
スリツトの傾いた開口をスリツトの長さに乗じたもので
あり、またスリツトの幅は、横方向の平面内におけるス
リツトの傾いた開口をスリツトの幅に乗じたものである
。スリットの幅および収差の変化のために、幅に対する
長さの比をとくに大きくする点で予期した増大は認めら
れない。しかしビームの真の高さが試料の反対の面の高
さとほぼ等しい場合には、実際の増大は理論値にきわめ
て近づき、従来の装置によつて認められる値の約5〜1
0倍に及ぶ信号の増大が達成される。励起および放射光
学系において、球面レンズは、スリツト像および格子像
にある程度の非点収差を導入する。
この非点収差は、系内の円筒形レンズによつて補正され
る。この系は、スリツト像および格子像をこれらがとも
に同じ幅に対する長さ比を有するような方法で歪ませる
ような変形性を有する。ミラー32および37は、励起
および放射ビームを第二の通路のために試料25を通じ
て戻す方向に向けるように作用する。
ミラー32および37は球形の凹面であり、曲面の申心
は試料の中心におかれる。この配置のために、各ミラー
は、反対の表面に隣接する試料の対面する表面の像を形
成し、そして対面する表面に隣接する反対の表面の像を
形成する。これらのミラーによつてもたらされる強度の
増強は、ミラーを省略した装置の強度の約4倍である。
第1図および第2図に示した例は、それぞれ対をなすミ
ラー20および21.および35および36を使用し、
各スリツト像30および52を、他のビームの光の通る
方向に平行な方向に向けている。
これと同じ結果は、角度をつけて配置したミラーの必要
をなくす他の種々の光学系を使用することによつても達
成できる。たとえば第3図および第4図に示した例では
、スリツト自体が、反対のビームの方向に平行な方向に
延びるように配置されている。この装置は、キセノンア
ークの光源60および楕円ミラー61を有し、このミラ
ー61は、励起モノクロメータ63の入ロスリツト62
上に光を集める。第1図および第2図に示した例とは異
なり、入ロスリツト62は図面の平面上に位置する縦軸
を有する。入ロスリツトからの光の選択された単色光部
分は、凹面回折格子65によつて出口スリツト70上に
反射され、この出口スリツトは、同じく図面の平面上に
おかれた縦軸を有する。すでに述べた例におけると同様
に、格子65の周縁は、単色光のための制限開口71を
形成する。出口スリツト70から出た単色励起ビームは
、トロイド状レンズ72およびビームスプリツター74
を有する第一の光学系に受入れられる。ビームスプリツ
ター74は、たとえば平らな石英の板の形態をなす。こ
の光の既知の成分はスプリツター74を通つて、凹状球
面ミラー75によつて、凸状球面レンズ76に向けられ
る。このレンズ76は、ミラー75からの励起ビームを
試料セル78上に集光する。セル78の形状は、すでに
述べたセル25(第1図)のそれと同じであり、対向す
る2対の表面80および81、および82および83を
有する。このレンズは、出口スリツF.7Oによつて形
成された開口の真の水平像を形成するように働き、この
像は、レンズおよび試料表面80間に位置する。同様に
、格子開口71の真の水平像が反対の試料表面81に隣
接して形成される。第5図に詳細に示すように、試料セ
ル78は回転テーブル85の周縁に隣接レで支持されて
いる。
このテーブル85は円形のもので、それぞれ異なつた螢
光物質を収容した他の3個の試料セル88,89および
90を支持し、各セルは、相互に対向する2組の表面8
0および81、および82および83を有する。対応す
る角度内でテーブルを回転させるだけで検査すべき試料
を交換できるように、テーブル85上には90度間隔で
種々の試料セルがおかれる。試料セル78,88,89
および90にそれぞれ隣接して、表面81および83と
並置されるように、一対のミラー95および96が配置
されている。
このミラー95および96は、それらの後面の凹球状反
射面99および100を除いて光学的に透明である。第
1図および第2図の例と異なり、これらの表面は、対応
する格子像の位置におかれ、そしてその曲面の中心はス
リツト像の位置におかれる。このスリツト像は、出力信
号の強さを増すために、それ自身の背後に再生される。
試料78からの螢光は、この装置のための放射光学系の
凸球面レンズ105(第3図)よつて集光される。この
螢光放射ビームはついでレンズ107を通過し、レンズ
108によつて放射モノクロメータ110の入ロスリツ
ト109上に集光される。入ロスリツト109の縦軸は
図面の平面上におかれ、励起出口スリツト70のそれと
同一平面上におかれる。出口スリツト109を通つた放
射ビームは格子開口113を有する凹面回折格子112
で受けられ、出口スリツト114に向けられる。
この後者のスリツトの縦軸は他のスリツトのそれと同一
平面上におかれる。出口スリツト114から出た螢光は
、反射プリズム115によつて受けられたのち光電検出
器116に向けられ、これによつて出口スリツトからの
光の強度に比例する出力信号が得られる。試料78およ
び入ロスリツト109間の放射光学系は、球面ミラー7
5に代えて円筒レンズ107を使用している点を除けば
、出口スリツト70および試料間の励起光学系と同じも
のである。放射光学系は、試料の表面82および83に
それぞれ並んで、出口スリツト109および格子開口1
13の像を形成する。励起出口スリツト70および放射
入ロスリツト109の縦軸は、励起モノクロメータ63
からのビームの主光線と、放射モノクロメータ110に
向かうビームとによつて形成された単一の平面内におか
れる。
スリツト70および109の像は、格子開口71および
113の像とともに、この平面上に位置する縦軸を有す
る。上記の例で述べたように、放射入ロスリツト109
の各点は、励起出口スリツト70の全長を通つた光で照
射された試料に対応する強度の光で満たされる。ここに
得られた強度の向土は、試料セルに隣接したミラー95
および96を使用することによつて、前述の方法でさら
に増大される。すでに述べたように、ビームスプリツタ
ー74は、励起モノクロメータ63からの光の既知の成
分をミラー75、レンズ76および試料78に送るよう
に働く。
残りの成分は、ビームスプリツター74で反射され、つ
ぎのレンズ122および123を通つて、反射プリズム
115に、ついで光電セル116に向かう。この残りの
成分は、基準ビームとして使用され、そしてレンズ12
3および光電セル116間で連続的に回転するチヨツパ
120によつて周期的に遮られる。このチヨツパ120
は、螢光放射ビームをも周期的に遮るような位置で、レ
ンズ107および108間に向けられている。したがつ
て光電セル116は、冷光試料78からの光と、励起モ
ノクロメータ63からの基準光とによつて交互に照明さ
れる。
この光電セルによつて検出された光は、試料からの未知
の冷光と、基準ビームの強度とを交互に表わす。既知の
電気回路を使用することによつて、光電セルからの出力
信号は、正昧の基準信号に対する正昧の試料信号の比に
対応する正昧の出力信号に変換できる。
第6図は、キセノン・アークあるいは他の適当な可視ま
たは不可視光源210を有する螢光分光光度計を概略的
に示す。
光源210からの光は、凹面ミラー211によつて集光
され、励起モノクロメータ213の調節可能な入ロスリ
ツト212上に集束される。入ロスリツトによつて形成
された開口は長方形のもので、その縦軸は図面の平面と
平行な方向に延びる。モノクロメータ213は通常のも
ので、入ロスリツト212に加えて、回折格子216お
よび調節可能な出口スリツト218を有し、この出口ス
リツト218も、図面の平面に平行に延びる縦軸を有す
る。入ロスリツト212から入つた光は、格子216に
よつて出口スリツト218の方向に屈折する。格子21
6の周縁は、後で説明する目的のために、第1の制限開
口219を形成する。励起出口スリツト218から出た
光は、単色励起ビームの形態をなしている。
この単色光ビームは、フイルタ220および2つの凹面
パラボラ状のミラー221および222からなる第1の
光学系215によつて受入れられる。ミラー221およ
び222は、好ましくは、試料ホルダーすなわちセル2
25に光を向けるために、入射ビームの主光線に関して
45度の角度に向けられる。試料セル225は正方形の
もので、相対向する2組の平らな表面226および22
7と228および229とを有する。この光学系215
は、試料セル225の表面に最も近い励起出口スリツト
218によつて形成された開口の真の水平像をつくる。
この出口スリツト像に加えて、第1の光学系は、格子開
口219の像をつくるのに役立つ。
この後者の像は、試料セル225の表面227、すなわ
ち表面226および出口スリツト像と反対の面に近接し
て位置する。これらの像の縦軸は、図面の平面に平行な
一つの平面上におかれる。フイルタ220は、スリツト
218を出た励起ビームから不用の波長の光を除き、残
つた励起ビームを凹面ミラー221に送る。
この凹面ミラー221は、励起ビームの光軸に対して約
45度の角度にセツトされている。このビームはミラー
221に対して直角におかれたミラー222に反射され
る。ミラー221および222は、装置のための励起光
学系215を形成し、出口スリツト218からの励起ビ
ームを試料ホルダー225に向ける。試料225を通過
する励起ビームは、試料を励起し、励起光のそれとは異
なつた波長の螢光を発生させる。この螢光は全ての方向
に放射される。放射された螢光の一部は、凹面ミラー2
33によつて集められ、第2の凹面ミラー234に、つ
いでフイルタ235に向けられる。ミラー233および
234は、励起光学系215と同等の放射光学系31を
形成する。ミラー221および222と同じ方法で、ミ
ラー233および234は、試料225から集められた
放射ビームの主光線に関して45度の角度に向けられる
。これらのミラーは、水平および垂直の両方向において
同じ差焦点特性(DifferencialfOcal
prOperties)を有し、試料の照光された部分
の歪像を放射モノクロメータ240の入ロスリツト23
9および格子243の位置に形成する。入ロスリツト2
39は長方形のもので、図面の平面と平行な方向に延び
る縦軸を有する。またモノクロメータ240は、励起モ
ノクロメータ213と同じもので、入ロスリツト239
に加えて、さらに凹面回折格子243、および入ロスリ
ツトに平行な出口スリツト245を有する。入口スリツ
ト239から入つた螢光は、制限開口246を形成する
格子243によつて反射される。出口スリツト245を
出た光は、試料225から放射された螢光の中から選択
された高度の単色光部分からなり、この光は、凹面ミラ
ー248によつて反射され、光電検出器250上に集光
される。この光電検出器250は、通常の構成を有する
もので、好ましくは、所望の波長でとくに高い感度を有
する。この光電検出器250は、出口スリツト245か
らの光の強さに比例する出力信号を発生する。放射モノ
クロメータ240のための光学システムのミラー233
,234は、放射入ロスリツト239によつて形成され
た開口の光学像を形成する。
この像は、試料セル225の表面に近接してこれと平行
におかれる。同様に、格子開口246の縮小された像が
試料セルの反対の表面229に隣接して形成される。こ
れらの像の間の末端の光は、長方形のプリズムの形の中
に試料容積の外形をつくり、そして試料を通過したビー
ムの幅は比較的均一であり、実際よりも小さい。励起モ
ノクロメータ213からのビームおよび放射モノクロメ
ータ240に接近するビームの主光線は、試料セル22
5で交叉する。
開口の像の各々の縦軸は、これらの主な光によつて形成
された平面上に位置する。出口スリツト218の像は、
放射ビームの通路に平行である。入ロスリツト239の
像は励起ビームの通路に平行である。この配置は、入ロ
スリツト239に沿つた点が、出口スリツト218の全
長からの光による試料の照射に対応した強度の光で充填
されるようになつている。励起および放射光学系におい
て、集光のためにレンズではなくてミラーを使用するこ
とによつて、集光のためのレンズに主として依存する光
学系と比較して、系内での光収差が減少する。
光学系の好ましいミラーは、スリツトおよび格子像をこ
の両者が同じ幅二長さ比を有するように歪曲させるよう
な歪像特性を有するものである。試料セルに形成された
開口像は縮小され、そして格子開口の像を歪曲させる。
また第6図の分光光度計もまたビームスプリツタ一26
0を有し、これはミラー221によつて反射されたモノ
クロメータ励起ビームを受ける。
このビームスプリツタ一260は、例えば平らな石英板
もしくは部分反射ミラーの形態をなす。受けた光の既知
の成分がビームスプリツタ一260によつて反射され、
平凸(PlanO−COnvex)レンズ262を透過
して、ロダミンB(RhOdaOlineB)溶液もし
くは他のいわゆる検量液(QUantwLdetect
ingliquid)と呼ばれているもののような、入
射した全ての波長の光を吸収し、そして一定波長でこの
光の成分の一部を通す液体を収容した中空プリズム26
4に向けられる。また両凸(BOublecOnvex
)レンズ266は、放射された光を光電セル250上に
集光する。
この成分は、基準ビームとして使用され、スプリツタ一
260およびレンズ262間で連続的に回転するチヨツ
パ268によつて周期的に遮られる。チヨツパ268は
、第6図に示すように、スプリツタ一260およびミラ
ー222間でモノクロメータ励起ビームを周期的に遮る
ように配向されている。このチヨツパは弧状の切欠き2
69(第7図)を有し、この切欠きは、単色光ビームが
試料およびプロツクに通過するのを許容し、ついで単色
光ビームを遮断して基準ビームが光電セルに向かうのを
許容する。したがつて光電セル250は、セル225内
の冷光試料からの単色光と、カウンタ264からの基準
光とによつて交互に照光される。
この光電セルによつて検出された光は、試料からの未知
の冷光強度と、基準ビームの強さとを交互に表わす。通
常の電気回路を使用することによつて、光電セルからの
出力信号は、正味の基準信号に対する正味の試料信号の
比に対応した出力信号に変換することができる。試料セ
ル225中の試料が受ける光の強度は、第6図の例にお
いて、2つの光学素子270および271(第12図)
を使用することでさらに増強し得る。
この光学素子270および271は、球体から取出した
くさびのような形状をなし、それぞれ平らなもしくは斜
めの内方端272および273と、球面状の外表面27
4および275を有する。球形の表面274および27
5の曲面の中心は、くさび形(傘形)の中心近くに位置
される。これらの素子は、それぞれ試料ホルダー225
の面226および228に近接しておかれ、これによつ
て励起ビームおよび試料からの螢光放射ビームの光学的
な通路内に位置する。この発明の一つの態様においては
、最大半径から傘形部の内方端までの全体の長さが13
m71Lの素子が使用される。
この場合、傘形部の内方端は、試料セル225の中心か
ら2mm離れた位置におかれ、したがつて最大半径から
試料の中心までの距離は15m77!になる。これらの
素子は、第12図に示すように、互いに近づく2つの平
らな側面276および278を有し、励起光の大部分を
、素子および試料を通過する光ビームの光軸との交点で
試料上に集光するとともに、試料から放射された光を有
効に取出すように働く。また他の利点として、くさび形
の素子は、円錐またはピラミツド形の光学系に用いられ
ている2元的なテーパー面を有するものに比べて、安価
で製造が容易であるということも挙げられる。使用時に
おいて、モノクロメータ213の出口スリツト218の
像は、光つた帯(たとえば長さ6mmのもので、第12
図に二重頭部矢印1で示す)を形成するように、素子2
70内に投影される。
像の端部に行く光線は磨かれた表面276および278
で遮られ、円錐形の光学系の場合と同様に、傘形部を通
して反射される。図示の、そして上記の幾何学的配置に
よつて、くさび形素子は、元の6mmのスリツト像に代
えて、傘形部で2m77!の長さを照明する。得られた
帯は、くさび形素子270および271の軸心の交点で
約3mmに拡大される。すなわちこの交点での3mmの
ターゲツトは、くさび形素子がない場合に受けるであろ
う半分の光ではなくて、全ての光を受けることになる。
ターゲツト上における光の分布は、中心の2mmの部分
が光の3分の2、ある場合には4分の3を受けるような
状態になる。たとえば、図面の平面上で2龍の長さの試
料(たとえば紙面に垂直に立つ直径2mmのロツド)の
場合、くさび形素子270を使用しなければ励起光の3
分の1だけが切取れるのに対して、くさび形素子270
を使用することによつて、切取ることのできる光は4分
の3にも達する。
このことは、くさび形素子を使用せずに得られる値の2
.25倍に光が増強されることを意味する。同様に、く
さび形素子271は、これを除いた場合に比べて、試料
ロツドからの光を2.25倍だけ多くピツクアツプする
。小さい試料にとつて、この光の強度の改善は、励起お
よび放射ビームに対する累積となり、したがつて光学セ
ルに与えられる信号の強さは5倍になる。くさび形素子
270および271の球状の表面274および275は
、元のスリツト像を6mmよりも小さい像に縮小するこ
とによつて、信号をさらに増強するのに役立つ。
曲面の中心に近いスリツト像について、その縮小係数は
、屈折率(すなわちくさび形素子を形成する材料として
シリカ系の物質を使つた場合には約1.5)に等しい。
図面の平面において、これは前記の累積に加えられるさ
らに他の強度の増強を与える。しかし図面に垂直な平面
では、この増強分は累積されない。これは、試料ロツド
が照光されるべき部分よりも高いと考えられるからであ
る。すなわち表面の効果は、信号を3.37倍だけ増強
することであり、これは第3のパワーの1.5倍である
。これはすでに述べたくさび形素子の効果とは別である
ので、合計した信号の強さは、5×3.37、すなわち
ほぼ17倍になる。くさび形素子の内部反射による反射
損失のために、実際の信号強度は約13.5であり、ア
ルミナイズ処理したくさび形素子については約12.7
である。紙面に垂直に配向されたスリツト像を形成する
ような光度計における一連の試料光学系について同じく
さび形素子を使用した場合、くさび形素子の効果は、試
料上での強度を増すことであつて、失われる光を回収す
ることではなく、得られる利得は3である。
同時に、くさび形素子の球面による効果は、付加係数1
.5で信号を増強することであり、合計の増強は約4.
5になる。アルミナイズ処理したくさび形素子の反射損
失を考慮すると、この値は3.3倍になる。この値をす
でに検討した条件のもとで得られた12.7倍と比較す
ると3.8倍の差があるが、この差は、スリツト像が光
軸の平面にないときに試料のエツジを通つて失われた光
から主としてもたらされるものである。第8図に示した
この発明の実施例では、光源280および光源集光ミラ
ー281が設けられこの両者はすでに述べたものと同等
のものである。
励起モノクロメータ282は、垂直な入ロスリツト28
3を通過した光源280からの光を受け、この光はコリ
メーテイング(COllimating)ミラ1y一2
84に達し、そのダイパージェット・ビームが格子28
5を照光するための平行ビームに変換される。
格子から分散した光の一部はテレスコーブミラ一286
に達し、垂直な出口スリツト287にスペクトラムを集
光する。スリツト287は、分散されたスペクトラムの
一部を選択し、これを単色光に近いビームとして、ミラ
ー288F289,290,291および292を含む
光学系に送る。この光学系はいくつかの重要な機能を有
する。
第一に、この光学系は、試料ホルダー307の表面に近
い出口スリツト287の縮小された像、および反対の表
面に近い格子285からの制限開口の縮小された像を形
成する。第二にこれは自身で反射光学素子を構成し、色
収差に全つたく依存しない像を与える。第三に、これは
光のビームを伝ばんの方向を中心として90度だけ回転
させ、この結果、試料の近くに形成されたスリツト像の
長さ方向が、垂直ではなくて水平な平面と一致する。第
四に、スリツト像が実際のスリツトよりも短いが幅広く
なるように、そして格子像が実際の格子よりも長いが幅
はせまくなるように、スリツトおよび格子の像を歪ませ
る。さらに第五に、スリツトおよび格子の像がほぼ同じ
寸法および形状になるような値に縮小および歪みの量を
決定する。前述と同じ方法で、スリツト像および格子像
間に形成された光の通路は、小さい長方形のプリズム内
に包含される。ミラー288は、出口スリツト287か
らの単色光励起ビームを受け、これをミラー289に向
ける。
一例によれば、ミラー288は出口スリツト287から
48mmの位置におかれ、その形状は、水平な方向での
半径が116.5W111,、垂直方向での半径が82
.0mmのトロイド状のものである。これは、モノクロ
メータ282の背面内側に、高度に非点収差を有するス
リツト287の実像と、自身およびミラー289間に、
高度に非点収差を有する格子の虚像とを形成する。この
後者のミラーは平らであり、反射したビームを垂直な方
向に向けるために45度で上向きに傾いている。励起ビ
ームは、ミラー289から円筒形のミラー290に進み
、ついで平らなミラー291に進む。
このミラー290は、たとえばミラー289の26u上
方に位置し、入射光に対して45度だけ傾斜しているが
、ミラー289の面から90度だけ離れた平面上に位置
している。またミラー291は、入射光に対して45度
だけ傾斜しているが、第3の平面上に保たれる。第9図
および第10図に示すように、この群のミラーの一つの
作用は、まずミラー289からの光を上方に反射し、つ
いでミラー290からの光を水平に反射し、さらにミラ
ー291からの光をきた方向から後方に、しかし元の線
から2611Em上方に、そして20.7m1!L水平
方向にずれた方向に反射する。これらの反射において、
垂直なスリツトおよび格子の像は、水平な像を形成する
ように回転される。ミラー288(第8図)は2つの平
面内で凹面の半径を有し、したがつて入射光に対して4
5度の角度で使用されたとき、紙面と垂直な平面におけ
るよりも紙面の平面内において短い焦点距離、すなわち
より強いフオーカシングカを持つ。
従つてミラー288が垂直な平面上に形成する出口スリ
ツトの虚像は水平な平面上におけるスリツトの虚像より
も小さいし、出口スリツト287により近い。一方、格
子像は実像であるため、垂直な平面上における格子像、
およびミラー288からの格子像は、水平な平面上にお
ける格子像よりも大きい。円筒形のミラー290は、入
射光の平面内、すなわち出口スリツト像の長さ方向に垂
直な方向において285詣の凸面半径を有する。
このミラー290は、スリツトの長さ方向におけるより
も、この方向において負のフオーカシングカを示す。こ
の光学系におけるこの位置での負のフオーカシングカは
、トロイド状のミラー288によつて形成されたスリツ
ト像および格子像の両方に導入された非点収差を補正す
る。しかし2つのミラーによつて2つの像に導入された
歪は除去されない。これらの2つの結果を得るためには
、スリツトに近い方のミラー288は、スリツトの虚像
と格子開口の実像とを形成するものでなければならず、
そしてスリツトの幅の方向において、垂直な方向よりも
大きい正のフオーカシングカを有さなければならない。
一方ミラー290は垂直方向におけるよりもスリツト幅
の方向においてより小さな正のフオーカシングカ(すな
わちより大きい正のフオーカシングカ)を有さねばなら
ない。すなわちミラー288は、スリツト長に直角な方
向の焦点距離よりもスリツト長の方向において(すなわ
ち紙面に垂直な面において)より長い焦点距離を有する
。すなわちミラー290は、そこに直角な方向における
焦点距離よりもスリツト像の長さ方向においてより短か
い焦点距離を有する。スリツトの長さに垂直な平面内に
おいて、ミラー290の負のフオーカシングカは、ミラ
ー288によつてすでに形成されたスリツトの虚像およ
び格子像を縮小する。この系の適切な機能を得るのに必
要な精度の範囲内で、この像の位置は、ミラーによつて
他の平面上に形成される対応する像の位置と一致する。
ミラー291は、励起ビームを曲面ミラー292に向け
て反射する。
このミラーは楕円面を形成し、たとえばその長焦点距離
は132.7mm、短焦点距離は57.3m1Lである
。このミラー292は、セル307内の試料の中心から
51.0mmの位置におかれ、そして試料の背後に正確
な、しかし歪んだ格子像を、そして試料の前方に正確で
ない歪んだ出口スリツト像を?成する。またこのミラー
292は、これらの像をほぼ同じ大きさに縮小する。試
料ホルダー307の後方の表面に近接して凹メニスカス
ミラー293が並置されている。
このミラー293は、レトロミラ一として作用し、ホル
ダーの前面に近接した励起出口スリツトの第2の像を形
成するのに適した曲率半径を有する。これによつて同じ
試料中を励起光が2回にわたつて通過する。試料を通過
した励起ビームは試料を励起させ、励起光とは異なつた
波長の螢光を放射させる。
この螢光はすべての方向に放射される。放射された螢光
の=部は、試料セル107の他の表面について設けられ
た第2の光学系によつて集められ、放射ビームを形成す
る。この第2の光学系は、ミラー297,298,29
9および300を有し、これらは、像の形成、回転、歪
曲化、および縮小を、ミラー288〜292群が励起ビ
ームに対して作用したのと同様に、放射ビームに対して
与える。ミラー297および300は非球形の凹面を有
し、これらは対応するミラー292および288と同じ
ものであつてもよい。そしてスリツトおよび試料からの
距離、および相互間の距離は、励起ビームにおける対応
する距離と同じである。′第8図に示した例では、機械
的には必要でないために、放射系では平らなミラー29
1に対応する部材は設けられていない。
事実、他の実施例では、種々の要素の物理的な位置によ
つてはミラー291は不要のこともある。また放射系で
は、励起系におけるミラー290の負のフオーカシング
力はミラー299に見られる。またミラー299はミラ
ー290とは異なつた方向に傾いているので、その凸面
の半径は、142.67n71L、すなわちミラー29
0のそれの丁度半分である。しかしこれらの差異は、光
学系の性能にはほとんど影響を与えない。試料ホルダー
307の相対向する表面に隣接して、無収差の、しかし
歪んだスリット像および格子像が形成される。凹面のレ
トロミラ一320は、試料を通つてミラー297に向か
う他の放射光を反射し得る位置におかれる。
励起系におけるレトロミラ一293とは異なつて、ミラ
ー320は試料ホルダー307から遠く離れ、そして試
料の中心に近接した位置にその曲面の中心を有する。光
の通路は試料のほぼ同じ部分を2回にわたつて通るが、
この両者間での像は反対である。各系において、試料を
通る第2の光は、集められる螢光の強度を2倍にする。
励起系では、この増強は、試料中で励起力密度を2倍に
することから得られ、放射系では、試料の照光される有
効厚さを2倍にすることから得られる。凹面レトロミラ
一293および320たとえば平らなミラーの利点は、
凹面鏡の結像特性が、セルを通る第2の通路上でセルの
壁にあたるような分岐光を抑制することである。
このことは、螢光が壁からの散乱光によつてかくされる
ような弱い試料の測定においてとくに重要な特徴となる
。ミラー297〜300に続いて、放射ビームは、放射
モノクロメータ301の垂直入ロスリツト302を通る
。この放射モノクロメータ301は、励起モノクロメー
タ282と同じものであつてもよく、ほぼ平行なビーム
光で回折格子304を照光するコリメータ303を有す
る。回折したビームの一部は、テレスコープミラー30
5によつて集束され、垂直な出口スリツト306を通過
する。これによつて隔離された単色光は、光電倍増管検
出システム355に前記と同じ順序で到達する。第8図
の実施例において、試料セル307は回転テーブル31
1の周縁の近くに支持されている。このテーブル311
は円形のもので、それぞれ異なつた螢光物質を収容した
他の3つの試料セル308,309および310を有す
る。各試料セルは、検査すべき試料がテーブルを回転さ
せるだけで容易に位置を変えられるように、テーブル3
11上に90度の間隔で離れている。凹面メニスカスミ
ラー294,295および296は、ミラー293と同
じく、セル308,309および310の内側の面に隣
接して配置され、これによつて対応する試料の検査中、
励起ビームを第2の通路に戻す。ターレツトおよびレト
ロミラ一の他の有利な形態を第11図に示す。
4つの試料セル356,357,358および359が
方形のテーブル360の4つのコーナーに隣接して装備
され、このテーブル360は、垂直な軸361を中心と
して回転可能に支持される。
各セル356,357,358および359は、第8図
に示したように平らな表面が軸に対面するのではなくて
、1つのコーナーが軸310に対面するように配置され
ている。各セルに隣接する内側の表面の背後に、凹面の
反射体362および363が設けられている。第11図
の例では、各反射体362および363は2つの側面を
有する第1の表面ミラーの形態であるが、他の例では、
反射体は、第8図のミラー293,294,295およ
び296と同じものであつてもよい。この反射体362
および363は、すでに述べたのと同じ方法で、励起お
よび放射光学系のためのレトロミラ一として働く。なお
使用した用語および表現は、理解を容易にするために便
宜的に選択されたもので、これによつてぱ限定されない
。またこれらの用語および表現は、同等のものを除外す
ることは意図せず、そして請求の範囲の範囲内で種々の
変更を加えることができることはいうまでもない。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の一実施態様による螢光分光光度計の
概略化した図解平面図である。 第1A図は、第1図に示された分光光度計の試料ホルダ
ー近くの光路の拡大概略平面図である。第1B図は、第
1図の分光光度計のための試料ホルダーおよび光学系の
拡大フラグメンタリイ等軸である。第2図は、第1図の
2−2線から見たときの第1図に示された分光光度計の
一部分の概略正面図である。第3図は、本発明の他の実
施態様による螢光分光光度計の概略平面図である。第4
図は、第3図の4−4線から見たときの第3図の分光光
度計の一部分の概略正面図である。第5図は、第3図お
よび第4図の分光光度計の分光光度計に用いられた試料
ホルダーの拡大平面図である。第6図は、本発明の一実
施態様による螢光分光光度計の概略平面図である。第7
図は、第6図の分光光度計に関して用いられた光チヨツ
パを示す第6図の2−2線切断正面図である。第8図は
、本発明の他の実施態様による概略平面図である。第9
図は、第8図に示された分光光度計の一部分を示す第8
図の4−4線切断正面図である。第10図は、第9図に
示された分光光度計の部分を示す第8図の5−5線切新
正面図である。第11図は、本発明に関して有用な試料
ホルダーの横断面図である。第12図は、第6図に示さ
れた本発明に関して有用な光学的くさびおよび関連部品
の平面図である。第13図は、第12図の8−8線切断
正面図である。10・・・・・・光源、11・・・・・
・ミラー、12・・・・・・入口スリツト、13・・・
・・・モノクロメータ、16・・・・・・回折格子、1
8・・・・・・出口スリツト、23・・・・・・レンズ
、25・・・・・・試料ホルダー(セル)、26〜29
・・・・・・面、33,34・・・・・・レンズ、35
〜37・・・・・・ミラー、39・・・・・・入ロスリ
ツト、40・・・・・・モノクロメータ、43・・・・
・・回折格子、45・・・・・・出口スリツト、50・
・・・・・光電検出器、60・・・・・・光源、62・
・・・・・入口スリツト、63・・・・・・モノクロメ
ータ、65・・・・・・回折格子、70・・・・・・出
口スリツト、74・・・・・・ビームスプリツタ一、7
8,88〜90・・・・・・セル、85・・・・・・テ
ーブル、109・・・・・・入カスリツト、110・・
・・・・モノクロメータ、113・・・・・・回折格子
、114・・・・・・出口スリツト、115・・・・・
・プリズム、116・・・・・・光電検出器、120・
・・・・・チヨツバ210・・・・・・光源、212・
・・・・・入ロスリツト、213・・・・・・モノクロ
メータ、216・・・・・・回折格子、218・・・・
・・出口スリツト、220・・・・・・フイルタ、22
5・・・・・・試料セル、239・・・・・・入ロスリ
ツト、240・・・・・・モノクロメータ、245・・
・・・・出口スリツト、250・・・・・・光電検出器
、260・・・・・・ビームスプリツタ一、268・・
・・・・チヨツパ、270,271・・・・・・光学素
子、280・・・・・・光源、282・・・・・・モノ
クロメータ、283・・・・・・入ロスリツト、285
・・・・・格子、287・・・・・・出口スリツト、2
93,320・・・・・・レトロミラ一、301・・・
・・・モノクロメータ、302・・・・・・人ロスリツ
ト、304・・・・・・回折格子、303・・・・・・
コリメータ、306・・・・・・出口スリツト、311
・・・・・・テーブル、362,363・・・・・・反
射体。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 試料からの放射光を測定する装置であつて、(a)
    光源10と、(b)この光源から単色励起光を分離する
    ためのもので、上記光源からの励起光を受入れるための
    励起入口スリット12と、励起出口スリット18と、お
    よびこの励起出口スリットを通して受入れられた励起光
    を主光線を有する単色励起ビームの形式で導出する手段
    15、16、17、19とを有する励起モノクロメータ
    手段13と、(c)上記励起モノクロメータ手段と関連
    動作して、上記励起ビームを上記試料へ導きかつ上記試
    料に隣接して上記励起出口スリットの像を形成する第1
    の光学系と、(d)上記試料からの放射光を分離するた
    めのもので、上記試料からの主光線を有する放射ビーム
    を受入れるための放射入口スリット39と、放射出口ス
    リット45と、およびこの放射出口スリットを通して放
    射ビームから単色放射光を導出するための手段42、4
    3、44、46とを有する放射モノクロメータ手段と、
    (e)上記放射モノクロメータ手段と関連動作して、上
    記放射ビームを上記放射入口スリツトへ導きかつ上記試
    料に隣接して上記放射入口スリットの像を形成する第2
    の光学系と、(f)上記放射モノクロメータ手段からの
    単色放射光を受けるための放射光検出手段50と、から
    構成された装置において、 上記第1および第2の光学系が上記試料で交差する上記
    励起ビームと上記放射ビームとの主光線によつて形成さ
    れる平面内に上記各スリット像の縦軸が存在するように
    上記試料に上記各スリット像の焦点を合わせるための光
    学素子20〜23、33、36;72、75、76、1
    05、107、108を含んでいることを特徴とする装
    置。 2 上記励起出口スリット像の縦軸が、上記放射ビーム
    の主光線に平行な方向に延び、かつ上記放射入口スリッ
    ト像の縦軸が、上記励起ビームの主光線に平行な方向に
    延びている特許請求の範囲第1項記載の装置。 3 上記スリット像の少くとも1つに歪みをもたらすた
    めの手段をさらに備えてなる特許請求の範囲第1項記載
    の装置。 4 上記光学系の少くとも1つが湾曲反射面を含む特許
    請求の範囲第1項記載の装置。 5 上記各光学系が相互に角度をつけて配置された1対
    の凹面鏡から構成されてなる特許請求の範囲第4項記載
    の装置。 6 上記各対の一方の凹面鏡がその関連するモノクロメ
    ータ内における関連するスリットにより近く、かつ他方
    の凹面鏡が上記試料により近く、さらに上記一方の凹面
    鏡は上記スリットの長手方向に直角な方向の焦点距離よ
    りも上記スリットの長手方向のがより長い焦点距離を有
    し、かつ上記他方の凹面鏡は上記スリット像の長手方向
    に直角な方向の焦点距離よりもスリット像の長さ方向に
    おいてより短かい焦点距離を有している特許請求の範囲
    第5項記載の装置。 7 上記試料に隣接する凹面鏡が非球面である特許請求
    の範囲第6項記載の装置。 8 上記各スリット像が対応するスリットの長さ対幅の
    比率よりも小さい長さ対幅の比率を有する特許請求の範
    囲第1項記載の装置。 9 上記励起モノクロメータ手段の励起出口スリットと
    上記放射モノクロメータ手段の放射入口スリットとが両
    方とも水平である特許請求の範囲第8項記載の装置。 10 上記励起モノクロメータの励起出口スリットと上
    記放射モノクロメータの放射入口スリットとが両方とも
    垂直であり、かつ上記第1および第2の光学系が上記ス
    リット像を90°回転せしめるための手段を含んでいる
    特許請求の範囲第8項記載の装置。 11 上記試料が2組の対向面を有し、上記第1の光学
    系によつて形成されるスリット像が上記2組の一方の組
    にある上記試料面に近接並置され、かつ上記第2の光学
    系によつて形成されるスリット像が上記2組の他方の組
    にある上記試料の面に近接並置されている特許請求の範
    囲第1項記載の装置。 12 上記励起ビームと上記試料からの放射光を上記試
    料方向へ向け戻すために所定位置において上記試料の残
    りの面に対向関係にある反射手段をさらに備えた特許請
    求の範囲第11項記載の装置。 13 上記各第1および第2光学系はその入射光の主光
    線に関して45°の角度で配された1対の鏡を含んでな
    る特許請求の範囲第11項記載の装置。 14 上記各対における鏡の1つが球形の凹面鏡である
    特許請求の範囲第13項記載の装置。 15 上記モノクロメータ手段の各々が回折格子を含み
    上記試料が対向面の第1および第2の対を有し、かつ上
    記第1の光学系が上記第1の対において該面の1つに隣
    接して上記励起出口スリット像を形成しかつ上記第1の
    対における他の面に隣接して上記励起モノクロメータ手
    段に回折格子像を形成し、および上記第2の光学系が上
    記第2の対内の該面の1つに隣接して上記放射入口スリ
    ットを形成し上記第2の対における他の面に隣接して上
    記放射モノクロメータ手段に回折格子像を形成する特許
    請求の範囲第1項記載の装置。 16 上記励起ビームがほぼ断面が矩形の立体形状にお
    いて多量の試料を照射する上記第1および第2の像間の
    末端光線を有し、かつ上記放射ビームがほぼ断面が矩形
    の立体形状において多量の試料からの放射光によつて形
    成された上記第3および第4の像間の末端光線を有して
    いる特許請求の範囲第15項記載の装置。 17 上記励起モノクロメータ手段の出口スリットにお
    いて上記放射光から単色基準ビームを形成するための手
    段と、上記基準ビームを受けてそれを上記放射光検出装
    置へ導く手段とからさらになり、上記基準ビーム受光手
    段が所定位置における回転チョッパを含み、上記基準ビ
    ームと放射ビームとを交互に阻止してなる特許請求の範
    囲第15項記載の装置。 18 上記励起スリット像と上記励起モノクロメータ手
    段の回折格子像の縦軸が上記放射ビームの主光線に平行
    な方向に延び、かつ上記放射スリット像と上記放射モノ
    クロメータ手段の回折格子像の縦軸が上記励起ビームの
    主光線に平行な方向に延びている特許請求の範囲第15
    項記載の装置。 19 上記第1の組における上記試料面の一方が上記励
    起ビームと対向関係にあり、かつ上記第2の組における
    上記1つの試料面が上記放射ビームと対向関係にある位
    置へ上記試料を回動せしめるための回転支持手段をさら
    に備えた特許請求の範囲第15項記載の装置。
JP51149298A 1975-12-11 1976-12-11 螢光分光光度計 Expired JPS5919305B2 (ja)

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US000000639804 1975-12-11
US05/639,804 US4022529A (en) 1975-12-11 1975-12-11 Feature extraction system for extracting a predetermined feature from a signal
US000000731765 1976-10-12
US05/731,765 US4099872A (en) 1975-12-11 1976-10-12 Fluorescence spectrophotometer

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JPS5292583A JPS5292583A (en) 1977-08-04
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JP51149298A Expired JPS5919305B2 (ja) 1975-12-11 1976-12-11 螢光分光光度計

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DE2656417C2 (de) 1986-06-26
JPS5292583A (en) 1977-08-04
CA1068508A (en) 1979-12-25
DE2656417A1 (de) 1977-07-07

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