JP2008116469A - 顕微分光気体分析装置 - Google Patents

顕微分光気体分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2008116469A
JP2008116469A JP2007313925A JP2007313925A JP2008116469A JP 2008116469 A JP2008116469 A JP 2008116469A JP 2007313925 A JP2007313925 A JP 2007313925A JP 2007313925 A JP2007313925 A JP 2007313925A JP 2008116469 A JP2008116469 A JP 2008116469A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
detector
infrared beam
scanning mirror
spectrometer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007313925A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008116469A5 (ja
Inventor
James T Russell
ラッセル・ジェームス・ティー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Respironics Inc
Original Assignee
Respironics Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Respironics Inc filed Critical Respironics Inc
Publication of JP2008116469A publication Critical patent/JP2008116469A/ja
Publication of JP2008116469A5 publication Critical patent/JP2008116469A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/30Measuring the intensity of spectral lines directly on the spectrum itself
    • G01J3/36Investigating two or more bands of a spectrum by separate detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • G01J3/06Scanning arrangements arrangements for order-selection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/18Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

【課題】広範なスペクトルに及ぶ単一の、多数の及び均一に重なる吸収スペクトル又は放射スペクトルを用いて、気体試料中の多種の気体の各濃度又は各分圧を決定する頑強かつ小型の分光装置を提供する。
【解決手段】赤外ビームを照射する赤外線光源と、ビームの光路内に配置される気体試料セルと、気体試料セルを通過した後の光路内に配置される走査ミラーと、走査ミラーを揺動させるミラー駆動装置と、複数の平行線を含む回折格子を支持し、走査ミラーから反射される光路内に配置されかつ赤外ビームの目標となる帯域光を反射し、回折し及び集束する第1の集束ミラーと、目標となる帯域光の光路内に配置される第1の検出器と、第1の検出器に作動接続され、第1の検出器から信号を受信する第1の検出器読出回路と、ミラー駆動装置及び第1の検出器読出回路に作動接続され、第1の検出器読出回路の出力に走査ミラーの揺動を同期させる同期装置とを備える分光計。
【選択図】図4B

Description

優先権主張
米国特許法第119条(e)の規定により、本願は、2001年8月31日に出願された米国仮特許出願第60/316,763号の利益を主張する。
本発明は、呼吸気体及び麻酔ガスの気体濃度/気体分圧を効率的かつ確実に計測できる方法及び装置に属する。
当業者に周知の非分散形赤外(NDIR)線吸収式の気体分析装置は、下記の工程のように、特定の気体濃度を決定できる原理によって、動作する:(a)気体混合物の試料中に赤外線(IR)放射光を指向し、(b)放射された赤外線光をフィルタにより個々に濾光し、各特定の気体により吸収される帯域外のエネルギを最小化し、(c)1又は2以上の検出装置に衝突する濾光された赤外線放射光を測定し、(d)各気体の赤外線吸収度の計測値を気体濃度に関連付ける。赤外スペクトルの特定波長では、測定可能な気体は、吸収度が増加(及び透過度が低下)し、気体濃度が増加するほど、吸収度は比例して増加し透過度は低下する。この非分散形赤外線吸収法の拡張技術は、連続的な線形帯域通過フィルタを使用し、次に線形アレイ検出器を使用する。
気体分析装置は、医療用途に幅広く使用され、患者の呼吸気体の主要通路(主流分析装置)内又は主要通路に通常並行な補助通路(側流分析装置)内の何れかに気体分析装置を設けることができる。対象者の吸気及び呼気の呼吸気体が気体分析装置を取り付けた気道アダプタを通過するように、主流分析装置が配置される。患者に比較的接近する位置でかつ患者に連絡する呼吸循環路又は患者の気道に連絡される光学電子構成装置を主流分析装置に設けることが必要となる。この結果、臨床用途に適用できるように、小型化し軽量化し、保健施設での長期使用に伴う典型的な機械的酷使及び温度変化に影響されない強固な構造に主流気体分析装置を設計しなければならない。
従来の主流気体分析装置は、少数の特定の非重複スペクトル波長に対しては良好に機能するが、目標となる波長を変更することは困難である。目標となる波長が2又は3以上あると、システム効率が格段に低下し、赤外領域では、半値幅(FWHM)0.1ミクロンより分解能を大幅に上げることは困難であり高価となる。
気体分析に格子分光計を使用することは公知である。写真フィルムの帯状又は線形アレイ検出器にスペクトルを最初に分散させる分光写真器と、適正な位置又は角度に設定される単一の検出器を使用して特定のスペクトル要素を記録する分光計とのほぼ2つの形態に格子分光計を大別できる。
赤外線光源は、視準されかつ気体試料セルを通過する広帯域エネルギを赤外線気体測定装置に供給する。また、特定の波長で減衰する視準された広帯域エネルギは、回折格子に照射されて回折格子から回折され、連続スペクトルに拡散され、ミラーにより小型検出器に集光される。回折格子は、回折格子の面に実質的に同軸でかつ回折線に平行な軸の周囲に揺動(回動)される。回折格子を回転すると、スペクトルは単一の検出器を通過して走査される。回折格子の回転は、検出器からデータを読み出す電子装置に同期されるので、特定であるが任意のスペクトル特性を分離し記録できる。
従来の多くの分光計に生ずる主欠陥は、回折格子の回転に数種のモータと、モータから回折格子を駆動する揺動リンク装置と、軸受組立体とを必要とする点にある。前記装置は良好な結果を達成できるが、前記構造により、比較的大型化し高重量かつ高価となる。他の従来の分光計では、モータ及び連結装置の代わりに検流計用駆動装置とも指称される振動モータを使用する。この装置は、あまり高価ではないが、依然として大型化かつ高重量化し比較的に高価である。
チェン(Chen)他名義の下記特許文献1、ワイルク(Wilke)他名義の下記特許文献2及びケイルバック(Keilbach)他名義の下記特許文献3は、全て比較的小さいサイズであっても、過度に嵩張りかつ複雑な設計もある分光計を開示する。
米国特許第6,249,346号(2001年) 米国特許第6,039,697号(2000年) 米国特許第5,931,161号(1999年)
従って、本発明の目的は、従来の気体分析装置の複数の欠点を克服する分光計を提供することである。本目的は、広範なスペクトル範囲にわたる多数の及び重複する吸収スペクトル又は放射スペクトルのみならず、単一の吸収スペクトル又は放射スペクトルを用いて、気体試料内の多種の気体の各濃度又は各分圧を決定する頑強な分光計装置を提供する本発明の一実施の形態により達成できる。
本発明は、小型の呼吸気体分析計測器に使用する格子分光計を採用する。特に、本発明は、固定された検出器に対してスペクトルを走査し又は掃引する走査型分光計を使用する。光学的観点から本装置を修正エバート型走査モノクロメータと特徴付けることができる。
MEMS(マイクロ・エレクトロ・メカニカル・システム)製造法を使用して非常に小型かつ安価な揺動ミラーを作成できる。ミラー表面に付加される回折格子を有する本構造は、費用が大幅に低下し、小型化かつ軽量化すると共に、耐久性に優れた走査装置をインライン型赤外線気体分析計測器に設けることができる。
スペクトル分解能は、主に回折格子サイズ、開口径、線ピッチ、回折次数及び照準の関数である。本発明では、必要な格子幅は、既存のMEMS法に十分に適する1〜2mmの範囲である。必要な精度に対するその他のパラメータは、容易に得られ又は少なくとも十分に制御できる。
回折格子を「ミラー」表面上に分離して形成しかつ接着し、又はMEMS製造法の一部としてミラーの表面に回折格子を優先的に形成してもよい。ミラーの後部上に形成した平坦なコイルを有するミラー又は磁性材料で自身を形成したミラーを揺動させる装置は、磁気による駆動でもよく、又は別法としてミラーを静電的に駆動してもよい。必要な角度振幅が比較的小さいために、現在では静電駆動装置が好ましい。
また、いくつかの付加的方法により本発明の装置を形成してもよい。一例では、振動格子を除去し走査(揺動)ミラーに置換してもよい。この方法の実施の形態では、走査(揺動)ミラーは、スペクトルを分散させる固定格子上に入力光を走査する。前記の通り、ミラーによって、検出器平面上にスペクトルを集光する。この別法では、1つの付加的構成要素が必要であるが、MEMS揺動素子の表面に格子を形成する必要がないため、製造費用をより低減できる。
更に他の実施の形態では、気体試料セルに対して赤外線光源と同じ側に回折格子と検出器とを配置して、弱められた広帯域エネルギビームを気体試料セルを通じて戻る方向に指向するように揺動ミラーを配置してもよい。本装置の効果は、(セル内の気体を二重に通過するため)感度がより高く、幾分外囲体を狭く作れる点にある。別法として、二重通過の形態では、光源の反対側にミラーを固定して、揺動ミラー/固定格子(又は振動格子)及び検出器装置を光源側に配置してもよい。前記種々の実施の形態を単一の平面内に構成し、又は振動ミラー、走査格子又は集束ミラーを指向方向内で回転させて、異なる平面内でビームを指向させるので、別の外囲体内にこれらを容易に収容できる。
回折格子は、数次数の回折ビームを供給できる。通常、+1又は−1の第1の次数を使用し、格子の溝の形状は、選択される次数を強調するように設計される。しかしながら、より高次数で残留エネルギを供給してもよい。この結果、より短波長でスペクトル領域を一次スペクトルに重ねることができる。必要に応じて、目標となるスペクトル領域以外の全波長を遮蔽するブロッキングフィルタを必要に応じて使用して、本課題を解決できる。
本発明の装置のデータ処理電子装置は、走査素子の運動に同期される。1つの方法は、ミラー駆動装置からタイミング信号を抽出することである。別法として、コイル又は磁気センサ若しくは圧電センサをミラー上に取り付けてミラーの一部の実質的な瞬間位置を示す信号を同期化に使用してもよい。同期化に使用する他の検知法は、ミラーの前部又は後部から補助ビームを別体の検出器に向かって反射させることである。現行の好適な方法は、利用でき又は提供できる検出スペクトルの固有の特性を使用すべきである。ミラーが共鳴すると仮定すれば、検出器はいかなる信号も受信しない比較的長い期間が存在するであろう。これは、より線形に近似する走査部分にあれば、走査をより容易に判断するためであり、また目標となるスペクトル領域前又は後の全ての信号をブロッキングフィルタにより除去するためである。このように、信号の鋭い上昇区域に続く長いブランク期間を使用して、位相同期ループ同調器に最適な固有の標識信号を形成できる。また、ブランク期間は、検出器のゼロを設定できる背景光状態となる。吸収ピーク間のスペクトル領域又は既知のピークを除去した領域によって、フルスケールを示すことができる。
装置により発生するデータが連続するので、予め記憶された複数の既知の特定スペクトル線、即ち「離間する」個々の線を徐々に1つずつ除去できると考えられることに留意されたい。この処理は、分離を改善し又は特に弱い線の干渉を低減する。
種々の図面では同一の部分に同様の参照符号を付し、すべて本明細書の一部を構成する添付図面、下記の詳細な説明及び特許請求の範囲を考慮すれば、本発明の前記の目的及び他の目的、特徴並びに特性に加えて、操作方法、構造の関連要素及び組合せ部品の機能並びに製造の経済性は、明らかとなろう。しかしながら、図面は図示及び説明の目的に過ぎず、本発明の限界を定義するものとは意図されない点を明瞭に理解すべきである。
図1Aは、本発明の原理に従う分光計を図示する光学的配置図である。赤外線ビーム等の光線10形態のエネルギは、試料セルG(図1B)から発生して反射ミラー12に衝突する。次に、反射ミラー12は、走査ミラーとも指称する走査格子反射体14に向かって光線10を反射する。走査格子反射体14は、紙面に対して垂直な軸の周囲を揺動(回転)する(揺動を誇張する形態で示す)点に留意すべきである。走査格子反射体14から現在分散される光線10は、集束ミラー16に照射され、集束ミラー16は、適正な読出回路を備え又は読出回路に接続される検出器18に光線10を順次集光する。検出器18は、例えば公知のスリット型又はピンホール型の検出器を備えてもよい。
図1Bは、本発明の種々の光学的実施の形態に使用する分光計の完成した構造を略示する。図1Bに示すように、赤外線の光源Sから放射される赤外ビームは、光源光学部品又は図示する照準器Cを使用して視準される。その後、視準された赤外ビームは、気体試料セルGに入り、気体試料を励起して反射ミラー12に照射される。照準器C又は光源光学部品を必要とせずに赤外ビームを視準する優れた図5A〜図5Cの実施の形態を除き、本明細書に記載される実施の形態の全てに前記装置を使用できる。
図2に示す通り、走査格子反射体14は、走査格子反射体14上に取り付けられる回折格子線22を有する。マイクロ・エレクトロ・メカニカル・システム法(「MEMS法」という)を使用する反射ミラー表面に回折格子線22を接着若しくは機械加工し、又は他の公知技術により回折格子線22を反射ミラー表面に配置してもよい。本明細書の一部を構成するマッククレランド(McClelland)他名義の米国特許第6,201,269号は、走査格子反射体14の作成に適用できかつ揺動ミラーを形成する適切なMEMS法を開示する。走査格子反射体14は、回折線22に平行な撓み軸24を有し、撓み軸24と同軸の支持部材を介してフレーム26に取り付けられる。公知のように、適当な電力源Pと裏板28との間にリード20を接続して、複数の裏板28に通電すると、走査格子反射体14を静電駆動できる。勿論、単一の電力源Pを使用して複数の裏板28に電力を交互に供給してもよいが、図2では、単純に2つの電力源Pを示す。
図1Aの概略図では、走査と回折格子との両方を行う走査格子反射体14を使用する。しかしながら、走査装置上に回折格子を設ける必要はない。代わりにミラー走査器により回折格子を角度走査できる。図3に示すように、ミラー走査装置32を使用して、回折格子−ミラー組立体34上で気体試料セルからの入力ビーム30を走査する。回折格子−ミラー組立体34に使用するミラーは、ミラー走査装置32から分散エネルギを検出器36に指向しかつ集中する集束素子である。回折格子−ミラー組立体34により選択される波長では、定義入力開口の像が形成される。従来のエバートモノクロメータでは、モノクロメータへの入口に設けられるスリットは、結像すべき開口を形成する。本発明では、定義開口は光源でもよく、又は走査装置−検出器組立体の入口付近に設けられる別体の開口でもよい。反射ミラーは本発明の必須構成要素ではないため、図1Aの実施の形態の反射ミラー12は、図3の対応構成要素を含まないが、図3の対応構成要素は、従来から一般的な技術であり、その使用により他の多数の形態可能性を与えることに留意すべきである。
更に他の実施の形態として、ミラー−格子機能を分離して、平坦な格子ミラー、次に通常赤外線波長領域ではミラーである集束素子、更に検出器に走査を指向できる。ミラー−格子機能を分離する図1Aの前記代替実施の形態の利点は、ミラー上に格子を形成する技術が慣用技術でなくても、現在公知の方法により走査ミラー装置を直接製造できることである。対照的に、成型法により集束素子上に格子を形成することは公知である。ミラー−格子機能を分離する前記代替実施の形態は、(ビームが格子を横切って移動して角度を変更するので)格子を幾分大きくしてミラーを非球面状に形成する必要がある点で不利である。所望のように成型法又は注型法により格子−ミラーを形成できれば、前記欠点は重要ではない。
図1A及び図3に示す実施の形態では、1つのオクターブ波長帯上のスペクトルデータを収集するのに有効な方法を提供する。しかしながら、例えば3〜5ミクロン帯域の単一帯域を考慮してこれらの実施の形態が設計される。
多次数のために、格子分光計の範囲は、実際の感覚では1オクターブに制限される。即ち、特定の波長は、波長と、格子周期と、次数として公知の整数とに依存する特定の一連の角度で回折する。分散度は次数の関数であるため、多次数が検出器平面で重なると、スペクトルの解釈が困難となる。実際の格子分光計では、大部分の回折エネルギを特定の所望の次数に導くように格子が形成される。回折格子の各溝に表面を形成することによって、これを実行し、回折格子の先端に衝突する光は、所望の回折次数と同じ方向に反射される。この輪郭形成工程をブレージングと呼ぶ。また、ブロッキングフィルタを分光計入力部又は検出器に加えて、混同を生ずるおそれのある波長領域を遮蔽できる。
前記3〜5ミクロン帯域に加え、本発明では7〜10ミクロンの範囲を同時に測定できる点で有利である。長波長範囲での課題は、第1に高価な検出器を要する点、第2に(長波通過フィルタ又は長波通過の機能を回避できないが)ビーム操作用のレンズ等の透過用光学部品がより高価となる傾向がある点、第3に3〜5ミクロン帯域の第2の次数が7〜10ミクロン帯域と同一平面に位置する傾向がある点である。
図4A〜図4Fには、追加帯域を測定する光学装置への7つの方法例を示す。図4A〜図4Fに示す全ての場合に、入力ビームを光源光学部品又は他の従来の手段によって、既に視準したことに留意されたい。図面は略示であり、即ち図示するが回折角度は正確ではないことに留意されたい。
図4Aの実施の形態では、走査ミラー42は、入力ビーム40をダイクロイックビームスプリッタ44に偏向して、例えば3〜5ミクロンと7〜10ミクロンとの2つの帯域に入力ビーム40を各々分離する。離間する2つの走査回折格子46は、各帯域に最適化され複数の帯域に分散させる。分散後、各帯域のビームは、集束ミラー48により検出器Dの開口に偏向される。
図4Bの実施の形態では、走査型回折格子46を使用して得られる分散ビームは、ダイクロイックビームスプリッタ44によって、2つの帯域に分離される。この場合、走査回折格子46は、第1の次数では7〜10ミクロン帯域に対して最適化され、また第2の次数では3〜5ミクロン帯域に対して最適化された。
走査ミラー42と、次に例えば7〜10ミクロンの1つの帯域を反射すると同時に他の帯域を透過すように被覆されたコーティングを有するダイクロイック回折格子47とを含む実施の形態を図4Cに示す。他の場合と同様に、ダイクロイック回折格子47は、第1の次数7〜10ミクロン及び第2の次数3〜5ミクロンの反射と透過に調整される。別法として、反射回折格子(非透過型)を使用し、回折格子の背後に帯域スプリッタを配置してもよい。
図4Dの実施の形態は、両面で反射のみ行いかつ走査素子としても使用する背面組合せ走査回折格子46を用いる。走査回折格子46の前に配置されたダイクロイックビームスプリッタ44によって、帯域分離を実行する。本実施の形態では、特定帯域の最良の性能に個々に走査回折格子46を最適化できる。
図4Eの実施の形態は、3帯域の検出を行う装置を示す。走査ミラー42は、2つの反射/透過ダイクロイック回折格子47に直列に指向する。この装置は、波長帯域状態に若干の制限を受けるが、図4Fの装置より物理的に小型に製造できる。
図4Fの実施の形態は、(図示のように)6帯域及び拡張により更に多くの帯域を分離できるミラー−格子の三次元装置を含む。最初に入力ビーム50は、多数のダイクロイックフィルタ又は帯域通過フィルタ51を各々使用して2つの隣接するオクターブ帯域の3つの波長ブロックに分割して、その後、3つの波長ブロックは走査ミラー52により走査される。走査ミラー52の軸は、図の紙面の平面に配置される。波長ブロックは、ミラー回転軸を含む平面内の角度により幾何学的に分離される。走査後、波長ブロックは、図4Cとそれぞれ同様に、分離角度と一致するように最適に傾斜される3つの回折格子56に進行する。図4Fでは、説明の簡潔化及び明快化のために単一の格子56を示しかつ検出器を示さないが、実際には前記のように、検出器を含むことに留意されたい。
図5A〜図5Cは、前記と異なり、分光計に入射する光が発散し又は集束し、従ってそれを実施するために光学部品を変更した本発明の追加の実施の形態を示す。
光源Sからの光が気体試料セルGを通過し、格子により反射され分散されて、平面状走査格子ミラー60上で走査される装置を図5Aに略示する。得られる分散光ビームは、凹形ミラー62を使用して検出器D上に集光される。
図5Bは、平面状走査ミラー64を使用するシステムを略示し、平面状走査ミラー64から走査ビームを凹形格子ミラー66に反射し、凹形格子ミラー66は、光ビームを回折しかつ検出器Dに向けて集束させる。
図5Cは、回折格子を含みかつ光ビームを検出器D上に集束させる凹状の走査ミラー形態の単一素子68に、走査、分散及び集束の機能を一体化した装置を略示する。
走査素子に機能を付加すると、コストが増加するが、各実施の形態では、価格面で装置の別の素子数を減少し又は完全に素子を除去できることは当業者が理解し認識できよう。特に、図5A〜図5Cの実施の形態は、視準素子を必要とせず、図5Cの実施の形態は、別体の集束ミラーを必要としない。要求される構成要素数の減少は、構成要素の除去と組立時間の減少との両方によって、低価格の装置を作成できる。
また、目標となる複数帯域を測定する図4A〜図4Fの実施の形態にも図5A〜図5Cに図示する方法を適用できることは当業者に理解されかつ認識されよう。集束ミラーを省略する各実施の形態では、例えば、図5Aの構成要素及び装置を使用して、図4B及び図4Dの装置を有効に変更できると共に、図5Bの構成要素及び装置を使用して、図4Aの装置を有効に変更できる。また、反射と透過との両方の集光を必要とするため、集束ミラーと格子素子はより複雑となるが、図4C、図4E及び図4Fの装置に図5Bの構成要素及び装置を使用することもできる。第1の面又は反射面は凹形であるが、第2の面は凸形反射面である。
最も実施に適しかつ好適な実施の形態であると現在認められるものに基づき図示の目的で本発明の分光計を詳細に説明したが、詳細な説明は、単に説明の目的に過ぎず、本発明は開示した実施の形態に限定されないのみならず、発明の精神及び特許請求の範囲に包含される修正及び均等の構成を含むものと理解すべきである。
本発明の原理に従う揺動走査ミラーと回折格子とを組合わせた分光計光学装置を示す配置図 図1Aの光学装置を最適に使用する分光計の概略図 図1Aの光学装置の使用に適する揺動ミラー/格子組立体を示す斜視図 本発明による集束ミラーと回折格子とを組み合わせた分光計光学装置を示す配置図 本発明の原理による複数のスペクトル帯域を分析できる視準光線を使用する分光計の複数の配置例示図 本発明の原理による複数のスペクトル帯域を分析できる視準光線を使用する分光計の複数の配置例示図 本発明の原理による複数のスペクトル帯域を分析できる視準光線を使用する分光計の複数の配置例示図 本発明の原理による複数のスペクトル帯域を分析できる視準光線を使用する分光計の複数の配置例示図 本発明の原理による複数のスペクトル帯域を分析できる視準光線を使用する分光計の複数の配置例示図 本発明の原理による複数のスペクトル帯域を分析できる視準光線を使用する分光計の複数の配置例示図 本発明の原理に従い複数のスペクトル帯域を分析できる視準光線を使用する分光計の複数の配置例示図 本発明の原理に従い複数のスペクトル帯域を分析できる視準光線を使用する分光計の複数の配置例示図 本発明の原理に従い複数のスペクトル帯域を分析できる視準光線を使用する分光計の複数の配置例示図
符号の説明
(10,38,40,50)・・赤外ビーム、 (12)・・反射ミラー、 (14,32,42,46,52,60,64,68)・・走査ミラー、 (16,34,48,62,66,68)・・集束ミラー、 (18,36,D)・・検出器、 (22)・・回折格子線、 (44,47,51,81)・・ダイクロイックスプリッタ、 (S)・・赤外線光源、 (G)・・気体試料セル、

Claims (40)

  1. 赤外ビームを照射する赤外線光源と、
    赤外ビームの光路内に配置される気体試料セルと、
    気体試料セルを通過した後の赤外ビームの光路内に配置される走査ミラーと、
    走査ミラーを揺動させるミラー駆動装置と、
    複数の平行線を含む回折格子を支持し、走査ミラーから反射される赤外ビームの光路内に配置されかつ赤外ビームの目標となる帯域光を反射し、回折し及び集束する第1の集束ミラーと、
    目標となる帯域光の光路内に配置される第1の検出器と、
    第1の検出器に作動接続され、第1の検出器から信号を受信する第1の検出器読出回路と、
    ミラー駆動装置及び第1の検出器読出回路に作動接続され、第1の検出器読出回路の出力に走査ミラーの揺動を同期させる同期装置とを備えることを特徴とする分光計。
  2. ミラー駆動装置は、静電駆動装置又は磁気駆動装置である請求項1に記載の分光計。
  3. 同期装置は、第1の検出器読出回路の出力により、目標となる予め選択されたスペクトル領域を位置決めするようにプログラム制御される位相ロックループ同期装置である請求項1に記載の分光計。
  4. 同期装置は、ミラー駆動装置から受信する信号に応答する請求項1に記載の分光計。
  5. 走査ミラーに近接して取り付けられかつ走査ミラーの位置を決定し同期装置に入力信号を付与するセンサを備える請求項1に記載の分光計。
  6. 赤外ビームが気体試料セルを通過した後に、走査ミラーの方向に赤外ビームを反射する反射ミラーを備える請求項1に記載の分光計。
  7. 赤外ビームが走査ミラーに2度目に到達する前に、気体試料セルを通る赤外ビームを反射ミラーにより反射する請求項6に記載の分光計。
  8. 赤外線光源から照射された赤外ビームを受光し視準する照準器を含む請求項1に記載の分光計。
  9. 走査ミラーから反射された赤外ビームの光路内に配置されかつ赤外ビームを複数の目標となる帯域光に分離するダイクロイックスプリッタと、
    複数の線を含む回折格子を支持し、目標となる帯域光の光路内に配置されかつ目標となる各帯域光を反射し、回折し及び集束する第2の集束ミラーと、
    目標となる反射され、集束された帯域光を受光する第2の検出器と、
    第1の検出器及び第2の検出器に作動接続されて第1の検出器及び第2の検出器から信号を受信する第2の検出器読出回路とを備え、
    同期装置は、第1の検出器読出回路及び第2の検出器読出回路の少なくとも一方の出力に走査ミラーの揺動を同期させる請求項1に記載の分光計。
  10. ミラー駆動装置は、静電駆動装置又は磁気駆動装置である請求項9に記載の分光計。
  11. 同期装置は、第1の検出器読出回路又は第2の検出器読出回路の出力により、目標となる予め選択されたスペクトル領域を位置決めするようにプログラム制御される位相ロックループ同期装置である請求項9に記載の分光計。
  12. 同期装置は、ミラー駆動装置から受信する信号に応答する請求項9に記載の分光計。
  13. 走査ミラーに近接して取り付けられかつ走査ミラーの位置を決定し同期装置に入力信号を付与するセンサを備える請求項9に記載の分光計。
  14. 赤外ビームが気体試料セルを通過した後に、走査ミラーの方向に赤外ビームを反射する反射ミラーを備える請求項9に記載の分光計。
  15. 赤外ビームが走査ミラーに2度目に到達する前に、気体試料セルを通る赤外ビームを反射ミラーにより反射する請求項14に記載の分光計。
  16. 赤外線光源から照射された赤外ビームを受光し視準する照準器を含む請求項9に記載の分光計。
  17. 走査ミラーは、平面状走査ミラーである請求項1に記載の分光計。
  18. ミラー駆動装置は、静電駆動装置又は磁気駆動装置である請求項17に記載の分光計。
  19. 同期装置は、目標となる予め選択されたスペクトル領域を位置決めするようにプログラム制御される位相ロックループ同期装置である請求項17に記載の分光計。
  20. 同期装置は、ミラー駆動装置から受信する信号に応答する請求項17に記載の分光計。
  21. 平面状走査ミラーに近接して取り付けられ、平面状走査ミラーの位置を決定し同期装置に入力信号を付与するセンサを備える請求項17に記載の分光計。
  22. 赤外ビームが気体試料セルを通過した後に、平面状走査ミラーの方向に赤外ビームを反射する反射ミラーを備える請求項17に記載の分光計。
  23. 赤外ビームが平面状走査ミラーに2度目に到達する前に、気体試料セルを通る赤外ビームを反射ミラーにより反射する請求項22に記載の分光計。
  24. 赤外ビームを照射する赤外線光源と、
    赤外ビームの光路内に配置される気体試料セルと、
    気体試料セルを通過した後の赤外ビームの光路内に配置される走査ミラーと、
    走査ミラーを揺動するミラー駆動装置と、
    走査ミラーから反射された赤外ビームの光路内に配置されかつ赤外ビームを回折する第1の回折格子と、
    回折された赤外ビームの一部の光路内に配置されかつ目標となる帯域光を集束する第1の集束ミラーと、
    目標となる集束された帯域光を受光する第1の検出器と、
    第1の検出器に作動接続され、第1の検出器から信号を受信する第1の検出器読出回路と、
    ミラー駆動装置及び第1の検出器読出回路に作動接続され、第1の検出器読出回路の出力に走査ミラーの揺動を同期させる同期装置とを備えることを特徴とする分光計。
  25. ミラー駆動装置は、静電駆動装置又は磁気駆動装置である請求項24に記載の分光計。
  26. 同期装置は、第1の検出器読出回路の出力により、目標となる予め選択されたスペクトル領域を位置決めするようにプログラム制御される位相ロックループ同期装置である請求項24に記載の分光計。
  27. 同期装置は、ミラー駆動装置から受信する信号に応答する請求項24に記載の分光計。
  28. 走査ミラーに近接して取り付けられ、走査ミラーの位置を決定し同期装置に入力信号を付与するセンサを備える請求項24に記載の分光計。
  29. 赤外ビームが気体試料セルを通過した後に、走査ミラーの方向に赤外ビームを反射する反射ミラーを備える請求項24に記載の分光計。
  30. 赤外ビームが走査ミラーに2度目に到達する前に、気体試料セルを通る赤外ビームを反射ミラーにより反射する請求項29に記載の分光計。
  31. 赤外線光源から照射された赤外ビームを受光し視準する照準器を含む請求項24に記載の分光計。
  32. 走査ミラーから反射された赤外ビームを受光して、赤外ビームを複数の帯域光に分離する第1のダイクロイックスプリッタと、
    第1のダイクロイックスプリッタから目標となる少なくとも1つの帯域光を受光する第2の回折格子と、
    第2の回折格子により回折した後の目標となる少なくとも1つの帯域光の光路内に配置される第2の集束ミラーと、
    第2の集束ミラーにより集束された目標となる回折された少なくとも1つの帯域光の光路内に配置される第2の検出器と、
    第2の検出器読出回路とを備え、
    同期装置は、第1の検出器読出回路及び第2の検出器読出回路の少なくとも一方の出力に走査ミラーの揺動を同期させる請求項24に記載の分光計。
  33. ミラー駆動装置は、静電駆動装置又は磁気駆動装置である請求項32に記載の分光計。
  34. 同期装置は、第1の検出器読出回路又は第2の検出器読出回路の出力により、目標となる予め選択されたスペクトル領域を位置決めするようにプログラム制御される位相ロックループ同期装置である請求項32に記載の分光計。
  35. 同期装置は、ミラー駆動装置から受信する信号に応答する請求項32に記載の分光計。
  36. 走査ミラーに近接して取り付けられかつ走査ミラーの位置を決定し同期装置に入力信号を付与するセンサを備える請求項32に記載の分光計。
  37. 赤外ビームが気体試料セルを通過した後に、走査ミラーの方向に赤外ビームを反射する反射ミラー備える請求項32に記載の分光計。
  38. 赤外ビームが走査ミラーに2度目に到達する前に、気体試料セルを通る赤外ビームを反射ミラーにより反射する請求項37に記載の分光計。
  39. 赤外線光源から照射された赤外ビームを受光し視準する照準器を含む請求項32に記載の分光計。
  40. 第1のダイクロイックスプリッタ又は第2のダイクロイックスプリッタから目標となる少なくとも1つの帯域光を受光する第3の回折格子と、
    第3の回折格子により回折した後の目標となる少なくとも1つの帯域光の光路内に配置される第3の集束ミラーと、
    第1の集束ミラー、第2の集束ミラー又は第3の集束ミラーの1つにより集束された目標となる回折された帯域光の光路内に配置される第3の検出器と、
    第1の検出器、第2の検出器又は第3の検出器に作動接続されて第1の検出器、第2の検出器又は第3の検出器から信号を受信する第3の検出器読出回路とを備え、
    同期装置は、第1の検出器読出回路、第2の検出器読出回路及び第3の検出器読出回路の1つに走査ミラーの揺動を同期させる請求項32に記載の分光計。
JP2007313925A 2001-08-31 2007-12-04 顕微分光気体分析装置 Pending JP2008116469A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US31676301P 2001-08-31 2001-08-31
US10/227,135 US6791086B2 (en) 2001-08-31 2002-08-23 Microspectrometer gas analyzer

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003525244A Division JP2005518524A (ja) 2001-08-31 2002-08-27 顕微分光気体分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008116469A true JP2008116469A (ja) 2008-05-22
JP2008116469A5 JP2008116469A5 (ja) 2008-08-07

Family

ID=26921195

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003525244A Pending JP2005518524A (ja) 2001-08-31 2002-08-27 顕微分光気体分析装置
JP2007313925A Pending JP2008116469A (ja) 2001-08-31 2007-12-04 顕微分光気体分析装置

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003525244A Pending JP2005518524A (ja) 2001-08-31 2002-08-27 顕微分光気体分析装置

Country Status (5)

Country Link
US (2) US6791086B2 (ja)
EP (1) EP1430279A4 (ja)
JP (2) JP2005518524A (ja)
BR (1) BR0212115A (ja)
WO (1) WO2003021211A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009300236A (ja) * 2008-06-12 2009-12-24 Sony Corp 変位検出装置
JP2013513793A (ja) * 2009-12-09 2013-04-22 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ ガス測定モジュール
JP2013522633A (ja) * 2010-06-09 2013-06-13 エンパイア テクノロジー ディベロップメント エルエルシー ガス濃度モニタ

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2004224921B2 (en) * 1999-08-11 2004-12-23 Luckoff Display Corporation Diffractive Display
JP2003506753A (ja) * 1999-08-11 2003-02-18 ラックオフ ディスプレイ コーポレイション 回折ディスプレイ
US7630063B2 (en) * 2000-08-02 2009-12-08 Honeywell International Inc. Miniaturized cytometer for detecting multiple species in a sample
US7605370B2 (en) * 2001-08-31 2009-10-20 Ric Investments, Llc Microspectrometer gas analyzer
US6791086B2 (en) * 2001-08-31 2004-09-14 Respironics, Inc. Microspectrometer gas analyzer
AU2003299796A1 (en) * 2002-12-20 2004-07-22 University Of South Florida Variable exposure rotary spectrometer
DE102004026373B4 (de) * 2004-05-29 2008-04-17 Eads Astrium Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Detektierung optischer Spektren
US7265842B2 (en) * 2004-10-14 2007-09-04 Picarro, Inc. Method for detecting a gaseous analyte present as a minor constituent in an admixture
DE102005002106B3 (de) * 2005-01-14 2006-04-13 Drägerwerk AG Vorrichtung zur Analyse der qualitativen Zusammensetzung von Gasen
DE102005025675A1 (de) * 2005-06-03 2006-11-16 Siemens Ag Strahleranordnung für einen nichtdispersiven Infrarot-Gasanalysator
US7817274B2 (en) 2007-10-05 2010-10-19 Jingyun Zhang Compact spectrometer
WO2009070459A1 (en) 2007-11-30 2009-06-04 Jingyun Zhang Miniature spectrometers working with cellular phones and other portable electronic devices
US20100014296A1 (en) * 2008-07-16 2010-01-21 Chuang Ping Han Light distribution board having gratings with multiple focuses
US8422013B2 (en) * 2008-11-11 2013-04-16 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Optical multiplexer/demultiplexer
WO2010058311A2 (en) 2008-11-18 2010-05-27 Koninklijke Philips Electronics N.V. Filter wheel spectrometer
US8264689B1 (en) * 2008-12-22 2012-09-11 ISC8 Inc. Micro gas cell array device and method
JP2010169493A (ja) * 2009-01-22 2010-08-05 National Institute Of Advanced Industrial Science & Technology 分光放射計
US20110181885A1 (en) * 2010-01-22 2011-07-28 Irvine Sensors Corporation Large Displacement Micro-Lamellar Grating Interferometer
JP5803478B2 (ja) * 2011-09-20 2015-11-04 セイコーエプソン株式会社 描画装置、描画方法
CN102359949A (zh) * 2011-09-20 2012-02-22 重庆大学 一种基于mems扫描微镜的高分辨率微型红外光谱仪
US9291501B2 (en) * 2012-07-26 2016-03-22 Raytheon Company High efficiency multi-channel spectrometer
JP6166049B2 (ja) * 2013-01-25 2017-07-19 浜松ホトニクス株式会社 光検出装置および光検出方法
US20150369665A1 (en) * 2013-02-01 2015-12-24 Tornado Spectral Systems Inc. Multi backend ultra-broadband dispersive spectrometer
CN103344335B (zh) * 2013-06-18 2014-04-02 武汉大学 一种基于mems检测器的中红外光谱仪
CN105092516A (zh) * 2014-10-24 2015-11-25 深圳莱特光电有限公司 一种基于数字光处理技术的便携式液体食物近红外光谱分析仪
US10905836B2 (en) 2015-04-02 2021-02-02 Hill-Rom Services Pte. Ltd. Manifold for respiratory device
CN105136293B (zh) * 2015-06-09 2019-05-14 河南理工大学 一种基于透射光栅的mems微镜微型光谱仪
CN104880433B (zh) * 2015-06-09 2018-07-10 河南理工大学 基于离轴抛物反射镜的高分辨率mems微镜红外光谱仪
US9851255B2 (en) 2015-06-11 2017-12-26 The Aerospace Corporation Windowless microbolometer array
CN107942460B (zh) * 2017-12-14 2023-12-15 苏州康代智能科技股份有限公司 一种线性光源分光镜的调节机构
JP7159823B2 (ja) * 2018-11-29 2022-10-25 株式会社リコー 光学装置
JP7324619B2 (ja) * 2019-06-04 2023-08-10 スタンレー電気株式会社 光偏向器及び光走査装置
US11692934B2 (en) 2020-07-23 2023-07-04 Masimo Corporation Solid-state spectrometer
KR20230155182A (ko) * 2022-05-03 2023-11-10 국방과학연구소 분광 시스템

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62203023A (ja) * 1986-03-03 1987-09-07 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 分光器
JPH01197617A (ja) * 1987-12-18 1989-08-09 Hewlett Packard Co <Hp> 分光器
JPH01227043A (ja) * 1988-02-02 1989-09-11 Gretag Ag 光学的反射特性測定用マニュアル装置
JPH02113135A (ja) * 1988-10-21 1990-04-25 Tamagawa Seiki Co Ltd ブレーキ装置
JPH034130A (ja) * 1989-05-31 1991-01-10 Shimadzu Corp 分光光度計

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4060327A (en) * 1976-09-13 1977-11-29 International Business Machines Corporation Wide band grating spectrometer
US4320971A (en) * 1978-08-28 1982-03-23 Nippon Kogaku K.K. Spectrophotometer
EP0271602A1 (en) * 1986-12-19 1988-06-22 Shimadzu Corporation Spectroscopic measurement system
US5454787A (en) * 1991-02-15 1995-10-03 Lundquist; Ingemar H. Torquable tubular assembly and torquable catheter utilizing the same
US5451787A (en) * 1993-05-04 1995-09-19 Westinghouse Electric Corporation Hazardous air pollutants monitor
US5731874A (en) * 1995-01-24 1998-03-24 The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University Discrete wavelength spectrometer
US5807750A (en) * 1995-05-02 1998-09-15 Air Instruments And Measurements, Inc. Optical substance analyzer and data processor
US5905571A (en) * 1995-08-30 1999-05-18 Sandia Corporation Optical apparatus for forming correlation spectrometers and optical processors
US5880834A (en) * 1996-10-16 1999-03-09 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Convex diffraction grating imaging spectrometer
US5801826A (en) * 1997-02-18 1998-09-01 Williams Family Trust B Spectrometric device and method for recognizing atomic and molecular signatures
US5999319A (en) * 1997-05-02 1999-12-07 Interscience, Inc. Reconfigurable compound diffraction grating
US6201629B1 (en) * 1997-08-27 2001-03-13 Microoptical Corporation Torsional micro-mechanical mirror system
US6039697A (en) * 1998-03-20 2000-03-21 Datex-Ohmeda, Inc. Fiber optic based multicomponent infrared respiratory gas analyzer
US6249346B1 (en) * 1998-12-21 2001-06-19 Xerox Corporation Monolithic spectrophotometer
US6791086B2 (en) * 2001-08-31 2004-09-14 Respironics, Inc. Microspectrometer gas analyzer

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62203023A (ja) * 1986-03-03 1987-09-07 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 分光器
JPH01197617A (ja) * 1987-12-18 1989-08-09 Hewlett Packard Co <Hp> 分光器
JPH01227043A (ja) * 1988-02-02 1989-09-11 Gretag Ag 光学的反射特性測定用マニュアル装置
JPH02113135A (ja) * 1988-10-21 1990-04-25 Tamagawa Seiki Co Ltd ブレーキ装置
JPH034130A (ja) * 1989-05-31 1991-01-10 Shimadzu Corp 分光光度計

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009300236A (ja) * 2008-06-12 2009-12-24 Sony Corp 変位検出装置
JP2013513793A (ja) * 2009-12-09 2013-04-22 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ ガス測定モジュール
JP2013522633A (ja) * 2010-06-09 2013-06-13 エンパイア テクノロジー ディベロップメント エルエルシー ガス濃度モニタ
US8648731B2 (en) 2010-06-09 2014-02-11 Empire Technology Development Llc Gas concentration monitor

Also Published As

Publication number Publication date
EP1430279A1 (en) 2004-06-23
US6791086B2 (en) 2004-09-14
WO2003021211A1 (en) 2003-03-13
US7157711B1 (en) 2007-01-02
EP1430279A4 (en) 2008-01-23
BR0212115A (pt) 2005-12-13
US20030043373A1 (en) 2003-03-06
JP2005518524A (ja) 2005-06-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2008116469A (ja) 顕微分光気体分析装置
EP2100110B1 (en) Microspectrometer gas analyzer
US6486474B1 (en) Infrared spectrometer for the measurement of isotopic ratios
US4022529A (en) Feature extraction system for extracting a predetermined feature from a signal
JPS6331730B2 (ja)
JPH02236441A (ja) 複数のガスの同定装置および方法
EP0699898A2 (en) A dual beam tunable spectrometer
JPS58120135A (ja) 分光装置
CN206656801U (zh) 紧凑型ccd阵列光谱仪以及拉曼光谱检测系统
US20130063714A1 (en) Emission and Transmission Optical Spectrometer
US20080129991A1 (en) Alignment System for Spectroscopic Analysis
JPS591971B2 (ja) ブンコウコウドケイ
JP2002516994A (ja) 対象物検査用光学装置
CN104267015B (zh) 用于生理检测的光信号检测装置及分析样本成分的方法
US5963320A (en) Active spectrometer
USRE32598E (en) Feature extraction system for extracting a predetermined feature from a signal
US7149033B2 (en) UV visual light beam combiner
EP1447651B1 (en) Optical measuring device with wavelength-selective light source
JP5857499B2 (ja) 測定装置
JPS5919305B2 (ja) 螢光分光光度計
US20150208957A1 (en) Transmission-Reflectance Swappable Raman Probe for Physiological Detections
JPH05281041A (ja) 分光器
JP7486178B2 (ja) 分光分析装置
WO1997025915A1 (en) Methods and apparatus for non-invasive glucose sensing: spectrograph
US6414753B1 (en) Low stray light czerny-turner monochromator

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080620

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090825

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100622

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100921

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100927

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101222

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110322

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110722

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20110729

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20110819

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20111209

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111214