JPS5918792B2 - リフレツシユ読取り書込み制御方式 - Google Patents

リフレツシユ読取り書込み制御方式

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Publication number
JPS5918792B2
JPS5918792B2 JP54085329A JP8532979A JPS5918792B2 JP S5918792 B2 JPS5918792 B2 JP S5918792B2 JP 54085329 A JP54085329 A JP 54085329A JP 8532979 A JP8532979 A JP 8532979A JP S5918792 B2 JPS5918792 B2 JP S5918792B2
Authority
JP
Japan
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address
refresh
read
control method
write control
Prior art date
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Expired
Application number
JP54085329A
Other languages
English (en)
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JPS5611683A (en
Inventor
雅照 田上
浩 新川
直明 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd, Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP54085329A priority Critical patent/JPS5918792B2/ja
Publication of JPS5611683A publication Critical patent/JPS5611683A/ja
Publication of JPS5918792B2 publication Critical patent/JPS5918792B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/406Management or control of the refreshing or charge-regeneration cycles

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、ダイナミック型メモリのリフレッシュサイク
ルに於いて、読取り又は書込みを可能としたリフレッシ
ュ読取り書込み制御方式に関するものである。
ダイナミック型メモリは、消費電力が少なく、且つ構成
が簡単であることにより高集積化が容易である利点があ
る。
しかし、メモリセルに蓄積された電荷を記憶情報とする
ものであるから、所定時間内毎に、例えば2mS毎にリ
フレッシュしなければならないものである。従つてダイ
ナミック型メモリに於いては、メモリアクセスサイクル
に於いてのみ情報の読取り又は書込みが可能で、リフレ
ッシュサイクルに於いては、読取り又は書込みが禁止さ
れるものである。第1図は従来のダイナミック型メモリ
の制御部のブロック線図を示し、CCは中央制御装置、
MEMはダイナミック型メモリ、ADRRはアドレスレ
ジスタ、RFACはリフレッシュアドレスカウンタ、M
PXはマルチプレクサ、DECはアドレスデコーダ、C
NTLは制御回路、WDRは書込データレジスタ、RD
Rは読取データレジスタ、WDは書込データ、REFは
リフレッシュタイミング信号、ADRはアドレス、EN
はアクセスイネ−プル信号、RDは読取データである。
制御回路CNTLは、リフレッシュサイクルに於いてマ
ルチプレクサMPXによりリフレッシュアドレスカウン
タRFACの出力を行アドレスとしてメモリMEMに加
えることによつてリフレッシュ動作を行なうもので、こ
のときアドレスレジスタADRRに、メモリMEMのア
クセスアドレスADRがセットされていても、メモリM
EMには加えないように制御される。そしてリフレッシ
ュアドレスカウンタRFACは、リフレッシュサイクル
毎に歩進され、一定時間内でメモリMEMの全アドレス
のリフレッシュが行なわれることになる。本発明は、前
述の如きリフレッシュサイクルに於いて、メモリの読取
り又は書込みを可能とし、比較的低速の情報の処理を有
効に行なわせることを目的とするものである。
以下実施例について詳細に説明する。第2図は本発明の
実施例のプロツク線図であり、CCは中央制御装置、M
EMはダイナミツク型メモリ、ADRRl,ADRR2
はアドレスレジスタ、RFACはリフレツシユアドレス
カウンタ、MPXl,MPX2はマルチプレクサ、DE
Cはアドレスデコーダ、CNTLは制御回路、MATは
比較回路、RDRl,RDR2は読取データレジスタ、
WDRl,WDR2は書込データレジスタ、IOCは入
出力制御装置である。
通常のメモリアクセスサイクルに於いては、従来例と同
様にアクセスアドレスADRがアドレスレジスタADR
Rlにセツトされ、マルチプレクサMPXlを介してメ
モリMEMには行アドレスと列アドレスとアドレスデコ
ーダDECでデコードされたチツプ指定アドレスとが加
えられ、読取りの場合は読取データRDが読取データレ
ジスタRDRlにセツトされ、又書込みの場合は書込デ
ータレジスタWDRlにセツトされた書込データWDが
メモリMEMのアクセスアドレスADRで指定された番
地に書込まれる。
リフレツシユサイクルに於いては、リフレツシユアドレ
スカウンタRFACの出力が、制御回路CNTLにより
制御されるマルチプレクサMPXlを介してメモリME
Mに行アドレスとして加えられ、行単位のリフレツシユ
が行なわれる。
入出力制御装置10Cから例えば読取りの為のアドレス
がアドレスレジスタADRR2にセツトされると、この
行アドレスとリフレツシユアドレスカウンタRFACの
内容とが比較回路MATで比較され、比較一致すると制
御回路CNTLに一致信号を送る。
それによつて制御回路CNTLはアドレスレジスタAD
RR2にセツトされたアドレスをマルチプレクサMPX
lを介してメモリMEMに加え、その指定アドレスによ
つて読取られたデータは読取データレジスタRDR2に
セツトされ、次に入出力制御装置10Cに転送される。
又リフレツシユサイクルに於ける書込みに於いては、前
述と同様にアドレスレジスタADRR2にセツトされた
行アドレスとリフレツシユアドレスカウンタRFACの
内容とが一致したとき、アドレスレジスタADRR2に
セツトされたアドレスがマルチプレクサMPXlを介し
てメモリMEMに加えられ、且つ、入出力制御装置10
Cから書込データレジスタWDR2にセツトされた書込
データがマルチプレクサMPX2を介してメモリMEM
に加えられ、それによつて指定アドレス位置にデータの
書込みが行なわれる。リフレツシユは通常2mS周期で
行なわれるので、リフレツシユ動作時に於けるアクセス
平均時間は1mSとなる。
従つて平均1mSのアクセスで読取り又は書込みを行な
つても充分処理ができる場合、例えば記憶内容を表示表
置に表示する場合等に適用し、メモリMEMを有効に利
用できることができる。以上説明したように、本発明は
、ダイナミツク型メモリのリフレツシユサイクルに於い
て、リフレツシユアドレスと指定アドレスのリフレツシ
ユアドレス対応のビツトとが一致したとき、指定アドレ
スによつてアクセスし、読取指令又は書込指令に対応し
て情報の読取り又は書込みを行なうものであり、リフレ
ツシユサイクルを有効に利用してダイナミツク型メモリ
のアクセスが可能となる利点がある。
即ち従来はダイナミツク型メモリの記憶情報の減衰を補
償する為だけのリフレツシユサイクルに於いて、情報の
読取り又は書込みを行なうものであり、最大アクセスタ
イムがリフレツシユ周期の例えば2mSでも良いような
記憶内容のチエツク、表示データの読取り又は書込み等
に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来のダイナミツク型メモリの制御部のプロツ
ク線図、第2図は本発明の実施例のプロツク線図である
〇MEMはダイナミツク型メモリ、CCは中央制御装置
、RFACはリフレツシユアドレスカウンタ、MATは
比較回路、ADRRl,ADRR2はアドレスレジスタ
、MPXl,MPX2はマルチプレクサ、CNTLは制
御回路、IOCは入出力制御装置、RDRl,RDR2
は読取データレジスタ、WDRl,WDR2は書込デー
タレジスタである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 リフレッシュアドレスカウンタの内容と、指定アド
    レスのうちのリフレッシュアドレス対応の内容とを比較
    する比較手段と、該比較手段により比較一致を検出した
    ときにアドレスを前記指定アドレスに切換えて、ダイナ
    ミック型メモリのアクセスを行なう手段とを備え、前記
    ダイナミック型メモリのリフレッシュサイクルに於いて
    、前記指定アドレスによりアクセスして情報の読取り又
    は書込みを行なうことを特徴とするリフレッシュ読取り
    書込み制御方式。
JP54085329A 1979-07-05 1979-07-05 リフレツシユ読取り書込み制御方式 Expired JPS5918792B2 (ja)

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JPS5611683A JPS5611683A (en) 1981-02-05
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61202333U (ja) * 1985-06-07 1986-12-19
JPH0199897U (ja) * 1987-12-23 1989-07-04

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04372790A (ja) * 1991-06-21 1992-12-25 Sharp Corp 半導体記憶装置

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JPS61202333U (ja) * 1985-06-07 1986-12-19
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